GB T 18904.5-2003 半导体器件 第12-5部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带 不带尾纤的pin光电二极管空白详细规范.pdf

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1、GB/T 18904.5-2003月配60747-12-5，1997前吉同GB/T 18904.5是有关纤维光学系统或子系统用光电子器件的国家标准的一部分。下面列出了这些国家标准的预计结构E一-GB/T18904.1 (半导体器件第12-1部分光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范GB/T 18904. 2 (半导体器件第12-2部分2光电子器件纤维光学系统或子系统用带尾纤的激光二极管模块空白详细规范GB/T 18904.3 (半导体器件第12-3部分z光电子器件显示用发光二极管空白详细规范GB/T 18904.4 (半导体器件第12-4部分g光电子器

2、件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范GB/T 18904.5 (半导体器件第12-5部分z光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pm光电二极管空白详细规范GB/T 18904的本部分等同采用国际标准IEC60747-12-5 , 1997(QC 720105)(纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pm光电二极管空白详细规范)(英文版)。本部分和IEC60747-12-5的主要区别是2第4、5章中本部分是曲线最好在本规范的第10章给出J.IEC原文是曲线最好在IEC60747-12-4的第10章给出。第5章表注3)本部分是良只适用于器件的光端口。不适用于器

3、件的其他部分。否则会导致测量错误。在实际应用中，光端口这个术语由详细规范定义，同时也适用于发射器件。IEC原文是久只适用于器件的光端口。不适用于器件的其他部分。否则个别管壳上其他发射部分会导致测量错误，特别是当二极管有保护层或尾纤包层中不规则的电磁辐射已被用相应的方法去除的情况下。在实际应用中，光端口这个术语由详细规范定义，同时也适用于发射器件。C6分组引用标准栏本部分取消.IEC原文是四.7。一一第11章本部分取消，放在前言及首页中。本部分引用的国家标准及IEC标准如下:GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法(idtIEC 60749 ,1 984) GB/T 15651

4、-1995半导体器件分立器件和集成电路第五部分光电子器件。dtIEC 60747-5: 1992) IEC 60068-2-14 ,1 984 环境试验一一第2部分z试验一一试验N:温度变化IEC 60191-2 ,1 966 半导体器件机械标准化第2部分:尺寸一-IEC60747-10/QC 700000 ,1 991 半导体器件第10部分分立器件和集成电路总规范一-IEC60747-12/QC 720100，1991半导体器件第12部分光电子器件分规范本部分由中华人民共和国信息产业部提出。本部分由中国电子技术标准化研究所(CESD归口。本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所(CESD。本

5、部分主要起草人E赵英。GB/T 18904.5-2003/IEC 60747-12-5,1997 半导体器件引言第12-5部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的piD光电二极管空白详细规范IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用。IEC 60747-10(QC 700000) , 1991 半导体器件第10部分分立器件和集成电路总规范IEC 60747-

6、12(QC 720100)，1985半导体器件第12部分光电子器件分规范要求的资料本页及下面方括号内的数字与下列各项要求的资料相对应，这些资料应填人相应栏中。详细规范的识别IJ授权发布详细规范的国家标准化机构(NAI)名称。2J详细规范的IECQ编号。3J总规范、分规范的编号及版本号. 4J详细规范的国家编号、发布日期及国家标准体系要求的任何资料。器件的识别5J主要功能和型号。6J外形图、引线识别、标志和(或)引用有关的外形标准。7J典型结构(材料、主要工艺)和封装资料。如果一种器件有几种派生产品，则应指出其差异，例如，在对照表中列出特性差异。如果器件是静电敏感型，应在详细规范中给出注意事项。

7、8J按总规范的2.6质量评定的类别。本规范下页方括号给出的条款构成了详细规范的首页，那些条款仅供指导详细规范的编写，而不应纳入详细规范中回GB/T 18904.5-2003/IEC 60747-12-5,1997 国家标准化机构(和可能提供规范的团体的)名称(地址l，J评定电子元器件质量的依据2总规范，IEC60747-10/QC 700000 分规范，IEC60747-12/QC 720100 IJ I IECQ详细规范编号、版本号和(或)日期。3J I 详细规范的国家编号Jz 4J 如果国家编号与lECQ编号相同，则本栏可不填写。纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的ptn光电二极管空白详细

8、规范z有关器件的型号和适用时结构相似性器件的型号5J 订货资料见本规范第7章。1 机械说明外形标准或底座和管壳标准zlEC 60191-2 国家标准(如果没有lEC的外形)外形图和连接(引出端到管壳)L光端口的特性。输入光纤(尾纤)的资料(见第9章)，光纤类型、芯径和包层直径;一一数值孔径;被覆(一次/二次)，尾纤结构p一一尾纤长度s6J I 2 简要说明7J 纤维光学系统或子系统用带尾纤的ptn光电二极管半导体材料，Si、Ge, lnGaAs , . 封装2金属/玻璃/塑料/其他应用z数字信号、模拟信号可以增加某些重要参考数据。带连接器的尾纤端面的制备(适用时)。可转到本规范第9章给出详细资

9、料。标志2字母和图形或色码见本规范第6章。如采用特殊方法，需标明极性。3 质量评定类别8J 按总规范的2.6，JGB/T 18904.5-2003/IEC 60747-12-5 , 1997 4 极限值(绝对最大额定值体系除非另有规定，这些极限值适用于每个二极管的整个工作温度范围。只重复使用带有标题的条号。任何附加的值在适当的地方给出，但没有条号。曲线最好在本规范的第10章给出。1数值条号参数名称符号最小值最大值4.1 工作环境温度或管壳温度T=b 或T键4.2 贮存温度T. 4.3 焊接温度T s1d (应给出焊接时间和距管壳的最小距离)C可以在第10章给出推荐条件(温度、持续时间)J4.4

10、1) 尾纤的弯曲半径r (距管壳规定的距离处)4.5 冲击 4.6 振动 4. 7 加速度(适用时) 4.81) 沿尾纤轴线方向上的张力松套结构光纤的张力F 光缆的张力F 紧套结构光缆的张力F 4.9 反向电压V R 4.10 连续正向电流IF 4.11 人射功率5Vm.d检验条件在丰规范的第5章中给出.3) 适用时。GB/T 18904.5-2003/IEC 60747-12-5 ,1997 B组逐批试验LSL=规范的下限值1i根据A组USL=规范的上限值l只有标(凹的试验是破坏性的(3.6.6)。检验或试验引用标准条件GB/T 4937 除非另有规定，Tamb或T，=25CBla分组尺寸总

11、规范第4.2.2/附录BB1b分组与光学有关的尺寸按规定B3分组(0)引出端强度如适用力(见II，1的1.2) 包括尾纤B4分组(D)可焊性(适用时)II , 2.1 按规定B5分组(0)快速温度变化田，1按规定继之以:-一一湿热循环阻，4按规定终点测试z1.0) 按A2b分组S 按A2b分组一-R(2)按A2b分组或g密封(对空封器件)田，7按规定B8分组电耐久性168 h，瓦时，皿军或T白，maxP.=O;VR按规定终点测试一一-1.0)按A2b分组S 按A2b分组ESD分组(0)终点测试按规定1. CRRL分组提供B3，B4，B5和前的属性资料1) 适用时。2) .IVD为每一样品的初始

12、值。检验或试验要求/极限值最小值最大值见第1章第6J栏元损伤润湿良好USL LSL USL 1. 2USL 或2IVD2) LSL lOIVD GB/T 18904.5-2003/IEC 60747-12-5.1997 C组周期试验LSL=规范的下限值ii根据A组USL=规范的上限值j只有标(0)的试验是破坏性的(3.6.的。条件检验或试验引用标准除非另有规定，T，时或T四=25CGB/T 4937 (见总规范第4章Cl分组尺寸总规范第4.2.2/附录BC2a分组光电特性二-噪声电流(IN)按A3分组一一上升时间(t，)按A3分组一下降时间(t，)按A3分组或:一截止频率(/，)按A3分组继之

13、以一二总电容(C，)按A3分组一-回波损耗(RL)在考虑中C2b分组反向暗电流(2)代=O;VR按规定(l民(2) T=T叫叩或T也阻C3分组(0)引出端强度gII , 1 按规定一-电引出端强度:对特殊外形器件不要求，例如超拉力检验小型器件尾纤强度z)拉力检验终点测试一-5按A2b分组C4分组(D)耐焊接热II , 2.2 按规定终点测试:按规定一一日检按Al分组一-I.(1)按A2b分组一一S按A2b分组一一-IR(2) 按A2b分组检查或试验要求/极限值最小值最大值(见第1章第6J栏) 不损伤或按规定LSL USL LSL USL GB/T 18904.5-2003/IEC 60747-

14、12-5: 1997 C组(续条件检查或试验检验或试验引用标准除非另有规定.T，时或T呻25C要求/极限值GB/T 4937 (见总规范第4章)最小值最大值C5分组2)快速温度变化III.l 试验NbIEC 68-2-14 循环次数100终点测试1R(1) 按A2b分组OIV04)5) 5 按A2b分组.9IVD 1R (2) 3) 按A2b分组。IV04)5)C6分组(仅对空封器件)冲击或振动n.3或4按规定继之以恒定加速度n.5 按规定终点测试g一一一1R(1)按A2b分组。IV04)5)S 按A2b分组b.9IVO的1. (2) 3) 按A2b分组OIVO旧C7分组(0)(只适用于塑封器

15、件或非密封器件)稳态湿热皿.5A1R按规定，代0.56d 终点测试一-IR(1)按A2b分组。IV04)5)S 按A2b分组b.9IV04) 1R (2) 3) 按A2b分组OIVO的叫C8分组电耐久性至少1000 h T T.mb，. 仇=O，VR按规定(当适用时，间歇工作)终点测试1R (1) 按A2b分组OIVD的5)5 按A2b分组P.9IVD I民(2)3)按A2b分组OIVO份的GB/T 18904.5-2003/IEC 60747-12-5 ,1997 C组(续)条件检验或试验引用标准除非另有规定，T.mb或T叩=25CGB/T 4937 (见总规范第4章)C9分组(D)高温贮存

16、m, 2 在最高贮存温度几e下至少1 000 h 终点测试z一一-1. (1) 按A2b分组一一-5按A2b分组IR (2) 按A2b分组ESD分组终点测试按规定一一-I.提供C3、C4、C5、C6、C7和C9的CRRL分组属性资料，提供C8分组前、后的测试结果。1) 除非另有规定，VR对于所有特性可以是相同的.2) 对于带尾纤器件。3) 适用时。的IVD为每一样品的初始值。5) 除非在详细规范中另高规定。9 D组一一鉴定批准试验当要求时，这些试验应在详细规范中规定，且仅用于鉴定批准J10 附加资料(不作为检验用)10 只有规范和器件应用需要时给出，例如z二一与极限值有关的温度降额曲线;推荐的安装条件;总电容与频率的函数;二一指定的特性s-一一与波长相关的响应曲线;一一与温度相关的响应曲线;一一反向陪电流与VR在不同温度下的关系，测量电路或补充方法的完整说明;二一详细外形图。检查或试验要求/极限值最小值最大值OIVD 5) .9IVD 。IVD5)10IVD