GB T 27667-2011 光学系统像质评价.畸变的测定.pdf
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1、ICS 37.020 N 30 道B中国家标准国不H11: ./、民华人GB/T 27667-20门/ISO9039: 2008 光学系统像质评价畸变的测定Quality evaluation of optical systems-Determination of distortion CISO 9039: 2008 , Optics and photonics-Quality evaluation of optical systems一-Determinationof distortion, IDT) 2011-12-30发布2012-05-01实施数码防伪 中华人民共和国国家质量监督检验检
2、疫总局中国国家标准化管理委员会发布G/T 27667-20 11/ISO 9039: 2008 目次3333488899999014PU T-例u举法方的值统统统统UHHHUUHHHHA变系系系系HHU.原畸距距距距川uu算量何像像像像角计测几远远远远uu考的换像限限限限惨变图有元有无的或)类且且旦旦求裂n算达录录H分物物物物要学点择FG计表附附义的远远远远本光原选川队的的性性定统限限限限法述置基测标高量变果告料料和系元元有有方概装的被坐像U参畸结报喷tAI围语测123验量价量试A如刘言范术被LLnM试UU测UUU评UM测泪录录考前12345678附附参GB/T 27667-20 11/ISO
3、 9039: 2008 剧吕本标准按照GB/T1. 1-2009给出的规则起草。本标准使用翻译法等同采用ISO9039: 2008(光学和光子学光学系统像质评价畸变的测定。为便于使用,本标准还做了下列编辑性修改:一一本国际标准一词改为本标准气一一删除国际标准的前言。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会CSAC/TC103)归口。本标准负责起草单位:上海理工大学、华东师范大学、江南永新光学有限公司、宁波永新光学股份有限公司、南京东利来光电实业有限公司、宁波市教学仪器有限公司、宁波华光精密仪器有限公司、宁波舜宇仪器有限公司、梧州奥卡光学仪器公司、广州粤显光学仪器
4、有限责任公司、麦克奥迪实业集团有限公司、重庆光电仪器有限公司、贵阳新天光电科技有限公司、苏州一光仪器有限公司。本标准主要起草人:黄卫佳、章慧贤、王蔚生、李晴、曾丽珠、杨广烈、王国瑞、徐利明、胡森虎、张景华、黄文勇、肖倩、夏硕、胡清、顾洁。I GB/T 27667-20 11/ISO 9039: 2008 光学系统像质评价畸变的测定1 范围本标准规定了光学系统径向畸变的测量方法。本标准适用于光谱范围在100nm15 000 nm内,且具有旋转对称特性的光学系统。对于符合旋转对称特性的电子光学图像系统,亦可参照使用。本标准不适用于变形光学系统。2 术语和定义2. 1 2.2 2.3 2.4 2.5
5、 2.6 2. 7 下列术语和定义适用于本文件。畸变distortion 横向放大率随视场的增大而变化所引起的一种失去物像相似的一种像差。注:如果像面在元限远,像的位置用视场角的正切表示。参考平面reference plane 测量、校准的基准面,它与测量装置的物理特征相对应,例如安装法兰或其他专用的部件。绝对畸变absolute distortion V 被观测像点到理想像点之间的径向距离。单位用毫米或微米表示。相对畸变relative distortion V 用绝对畸变Va相对于理想像高川的百分比表示。物高object height h 物点到测试样本旋转对称光轴之间的距离。单位用毫米表
6、示。像高image height h 像点到测试样本旋转对称光轴之间的距离。单位用毫米表示。物方视场角object pupil field angle 也)p边缘物点的主光线与光轴夹角的两倍。1 GB/T 27667-20 11/ISO 9039 :2008 2.8 像方视场角image pupil field angle , Jp 边缘像点的主光线与光轴夹角的两倍。2.9 物距object distance a 自光学系统物方主点到轴上物点的距离。单位用毫米表示。2.10 像距image distance a 自光学系统像方主点到轴上像点的距离。单位用毫米表示。2. 11 物平面obj田tp
7、lane 过物点并垂直于光轴的平面。2. 12 像平面image plane 过像点并垂直于光轴的平面。2.13 理想像高ideal image beight h 由几何透视投影得到的元畸变的像高。单位用毫米表示。2. 14 理想视场角ideal image field angle Wo 由几何透视投影得到的无畸变的像方视场角。单位用弧度或度表示。2. 15 角放大率angular magnification r 通过轴上像点的光线与光轴夹角的正切和通过物点的共辄光线与光轴夹角的正切之比值。角放大率F按公式(1)计算:P-p 一阳m一伽m叫一一r ( 1 ) 2. 16 横向放大率latera
8、l magnification m 光学系统成像时,像的大小与物的大小之比值。横向放大率m按公式(2)计算:,. h m=Uffi h o n .( 2 ) 2 3 被测系统的分类3. 1 无限远物距、有限远像距系统参量是像距a,按公式(3)计算:绝对畸变V.按公式(4)计算:相对畸变Vr按公式(5)计算:a=limLpo tanF V. =h -atanp VvhF-丁atan!:X100%r =. , .uup X 100% a tanwp G/T 27667-2011/ISO 9039:2008 . ( 3 ) .( 4 ) . ( 5 ) 对于远心成像系统,像距aF用光阑到物方主点的距
9、离代替,该光阑位于主光线通过像方焦点处。如果像方焦点位于像面上,则像距ay与焦距等效。对于摄影测量镜头,用镜箱焦距代替像距aF来计算绝对畸变V.o镜箱焦距是用特定的方法,根据视场范围内畸变最小和分布均匀的原则确定的焦距值。3.2 无限远物距、无限远像距系统参量是角放大率F。相对畸变Vr按公式(6)计算:VJ(zt;一1)X 1 3.3 有限远物距、有限远像距系统参量是横向放大率m。绝对畸变V.按公式(7)计算:相对畸变Vr按公式(8)计算:3.4 有限远物距、无限远像距系统参量是物距,按公式(9)计算:相对畸变Vr按公式(10)计算:V. =h -hm V=(每一1)X 1 a=lim一立了h
10、 o tanp Vr=t叮p-X 100% . ( 6 ) . ( 7 ) .( 8 ) . ( 9 ) ( 10 ) 对于远心成像系统,物距a用光阑到像方主点的距离代替,该光阑位于主光线通过像方焦点处。4 试验方法4. 1 概述为了测定畸变,必须测量出物空间和像空间共辄关系的参数值。对于物空间有物方视场角p或物高h,像空间有像方视场角叫或像高h0对物空间和像空间的理解必须与镜头实际使用情况吻合。测量方向原则上应从物空间到像空间。测量方向的不同会改变畸变的形状,但为了测量的方便也3 G/T 27667-2011/ISO 9039 :2008 可以考虑反方向测量。通过对照明分划板或一组分离的照明
11、狭缝或单个照明狭缝的位置测量,来表述有限远物距系统,反方向测量则表述有限远像距系统。平行光管表述无限远物距系统,而望远镜则表述元限远像距系统(反方向测量也一样)。为了测量物方或像方视场角,被测平行光管或望远镜的像面或物面的相互位置应有利于对应角度的测量。为了使光线充满系统整个孔径,达到较大的视场角,旋转光轴应通过被测系统人睡或出踵的中心。为了测量有限远像距或物高,检测装置的位置应能测量,或在测量面上安装一把标尺。按第3章给出的公式,根据测量值计算畸变。注:反方向测量时,像方、物方必须分清,否则畸变的符号会颠倒。4.2 装置4.2. 1 通用要求对元限远物距或无限远像距系统,可采用自准直仪代替平
12、行光管或望远镜,其光轴应校正到垂直于被测系统的参考平面。参考平面、物平面和像平面三者应相互平行,此时的物方视场角p=OO,或像方视场角叫=00。测量装置的系统误差应不超过畸变值的十分之一到五分之一。对于畸变值很小的系统,实际测量准确度应在测试报告中予以规定。对测量装置的稳定性,尤其是旋转精度应进行误差评定。测量装置的照明系统、光谱特性、相干性能、光束限制以及主光线的取向应尽可能地与被测系统的实际使用情况相适应。对于测量光路中的附加光组,应具有良好的像质和足够大的通光孔径,以保证测量过程中不产生拦光现象,不影响测量值。测量中应精确调焦,保证测量的像平面精确地与实际使用的像平面相一致。如果测量精度
13、较高,应详细规定调焦过程,保证像面位置的正确。4.2.2 无限远物距、有限远像距系统4.2.2. 1 一般要求测量时尽可能做到物方视场角p和像高h成对测量。4.2.2.2 测量装置平行光管焦面上安置一非相干光照明的狭缝,其出射光模拟了无限远物距,经被测光学系统后成像于它的像面上,像面上安装有位移测量装置。平行光管和像面上装有位移测量装置的被测系统,这两个部件都可以转动,且转动角度均可测得。测量时哪个部件转动哪个部件固定都不重要,但转动轴必须垂直于平行光管的光轴,转动轴位置要通过被测系统的入睡中心,且与被测系统像面垂直的光轴相垂直。测量物方视场角时,用带角度分划的旋转平台或用经纬仪以替代不同角度
14、安置的若干平行光管。开始测量之前,应校正好像探测器的位移方向,使其平行于被测系统的参考平面。平行光管的出射光束垂直于参考平面,此时定物方视场角p=OO,以像平面上所瞄准的像点作为像高的测量原点。用自准直望远镜进行相应的校正后,采用带十字分划板的显微镜或光电显微镜对像点进行瞄准测量。在测量准确度要求不太高的情况下,可在像面上安装一已知格值的标尺进行测量见图la)J。如图lb)所示,在像平面上用照相干板拍摄目标像,经显影、定影处理后,对像高进行测量。干板在显影、定影过程中所引起的微小位移,应在测量允许误差范围内。4 说明:B像面zBZ-一一被测光学系统的参考平面;D一一检测装置;EP一人障;K-平
15、行光管;L一二照明系统;K GB/T 27667-2011/ISO 9039:2008 P D EP BZ B a) K Ph P b) P 被测光学系统zPh一一一照相干板;05-分划板或狭缝;a一一像距;h-一像高5p 物方视场角。图1测量装置5 GB/T 27667-2011/ISO 9039 :2008 图2所示的是物、像颠倒的一种安置,在被测光学系统的像平面上安置一十字分划板或一组照明狭缝或单个照明狭缝,在像方用带十字分划板的望远镜替代平行光管进行测量。或用自准直望远镜更为理想。D 说明:B 像面zBZ 被测光学系统的参考平面;D一一检测装置;EP 入膛zFO 望远物镜;4.2.2.
16、3 节点滑动法FO L一一照明系统pP一一被测光学系统;SP一一分划板;h一一像高;p一一物方视场角。图2物、像颠倒的测量装置SP B 如图3所示,在平行光管的焦面上安置一非相干照明狭缝,平行光管的孔径光阑应足够大,能充满被测系统视场的孔径光阑。被测光学系统安置在旋转工作台上,使其能绕垂直轴旋转。当平行光管的出射光束垂直于被测系统的参考平面时,定为物方视场角p=000被测光学系统沿光轴方向移动,使旋转轴通过系统后节点。在像平面上安置一测量装置例如带十字分划板的显微镜来测量像高。说明:D-一检测装置;K一一平行光管zL 照明系统;K N一一被测光学系统第二主面FP 被测光学系统;6 .s偏移量;
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- GB 27667 2011 光学系统 评价 畸变 测定
