GB T 18904.4-2002 半导体器件 第12-4部分;光电子器件 纤维光学系统或子系统用带 不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范.pdf

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1、ICS 31.260 L 54 华共五G/T 18904.4 2002/IEC 60747-12-4: 1997 QC 720104 、l导12-4部 辈峭帘pin-FET Semiconductor devices一Part 12-4: Optoelectronic devices Blank detail specification for pin-FET modules with/without pigtail for fiber optic systems or sub-systems CIEC 60747-12-4: 1997 ,IDT) 2002-12-04发布2003-05-01

2、实.饨 .-、J-Az-乞tlh)主毛，1.需云:7.: . , 中华人民共和国国家质量监督检验检菇总局发布二GB/T 18904. 4-2002/IEC 60747-12-4: 1997 GB/T 18904的本部分等同采用国际标准IEC60747-12-4:1997(QC 720104)(半导体器件第12-4部分z光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范)(英文版)。本部分同lEC60747-12-4的主要区别是2一-在第4章表下增加注归只适用于带尾纤器件。，一-在B1分组中针对耐焊接热补充了试验方法II,2. 2; 一-取消了第11章参考文件。本部分引

3、用的国家标准及IEC标准如下g一-GB/T4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法(idtIEC 60749:1984) 一-GB/T15651一1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分:光电子器件(idtIEC 言目UJ 60747-5:1992) 一一一!EC60191-2: 1966 一一一!EC60747-5:1992 件补充件1一-IEC60747-10/QC 700000: 1991 半导体器件第10部分分立器件和集成电路总规范一-IEC60747-12/QC 720100:1991半导体器件第12部分光电子器件分规范GB/T 18904. 1是有关纤维光学系统和子系统

4、用光电子器件的国家标准的一部分。下面列出了这些国家标准的预计结构z一-GB/T18904. 1(半导体器件第12-1部分2光电子器件尾纤的光发射或红外发射二极管空白详细规范一-GB/T18904. 2(半导体器件第12亿部分2光电子器件激光二极管模块空白详细规范一GB/T18904.3(半导体器件第12-3部分=光电子器件一GB/T 18904.4(半导体器件第12-4部分z光电子器件尾纤的pin-FET模块空白详细规范一-GB/T18904. 5(半导体器件第12-5部分:光电子器件尾纤的pm-光电二极管空白详细规范本部分由中华人民共和国信息产业部提出.本部分由中国电子技术标准化研究所(CE

5、S)归口。本部分起草单位z中国电子技术标准化研究所(CESD.本部分主要起草人z赵英。第5部分z光电子器纤维光学系统或子系统用带/不带显示用发光二极管空白详细规范纤维光学系统或子系统用带/不带纤维光学系统或子系统用带尾纤的纤维光学系统或子系统用带/不带I 半导体器件机械标准化第2部分s尺寸amendment 1半导体器件分立器件和集成电路G/T 18904. 4-2002月EC60747-12-4 ,1997 引言半导体器件12-4部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/不带pin-FET模块空白详细规范纤的IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质

6、量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进-步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列IEC标准一起使用.IEC 60747-10/QC 700000，1991半导体器件第10部分分立器件和集成电路总规范IEC 60747-12/QC 720100，1991半导体器件第12部分光电子器件分规范要求的资料本页及下面方括号内的数字与下列各项要求的资料相对应，这些资料应填人相应栏中。详细规范的识别1授权发布详细规范的国家标准化机构CNAI)名称。2详细规范的IECQ编号.3总规范、分规范的编号及版本号.4详细规范的国家

7、编号、发布日期及国家标准体系要求的任何资料。器件的识别5主要功能和型号。6外形图、引线识别、标志和(或)引用有关的外形标准。7典型结构(材料、主要工艺)和封装资料。如果一种器件有几种派生产品，则应指出其差异，例如，在对照表中列出特性差异。如果器件是静电敏感型，应在详细规范中给出注意事项。8按总规范的2.6质量评定的类别。本规范下页方括号给出的条款构成了详细规范的首页，那些条款仅供指导详细规范的编写，而不应纳入详细规范中。l 4 liiJ飞lu-Jill-llJIh-GB/T 18904. 4-2002/IEC 60747-12-4 ,1997 2J IECQ详细规范编号、版本号和IJ 国家标准

8、化机构(和可能提供规(或)日期.J范的团体的)名称(地址).J4J 详细规范的国家编号3J 评定电子元器件质量的依据g如果国家编号与IECQ编号相同，贝IJ本栏可不填写。总规范，IEC60747-10/QC 700000 分规范，IEC60747-12/QC 720100 5J 纤维光学系统和子系统用带/不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范g有关器件的型号和适用时结构相似性器件的型号订货资料见本规范第7章。7J 2 简要说明6J 1 机械说明纤维光学系统或子系统用带尾纤的pin-FET模块外形标准或底座和管壳标准gIEC 60191-2 半导体材料2光电二极管zSi、Ge、InGaAs、一

9、一国家标准(如果没有IEC的外形)外形图和连接gFET，GaAs、Si、InGaAs. 放大电路，GaAs.Si、InGaAs.封装2金属/玻璃/塑料/其他输入光纤(尾纤)的资料(见第9章), (引出端到管壳)f光端口的特性。光纤类型.被覆应用2数字信号、模拟信号、. 一一光纤类型、芯径和包层直径，数值孔径; 工作波长，0.85m、1.3m、可以增加某些重要参考数据。被覆(一次/二次); 一一-尾纤结构;尾纤长度;一一-带连接器的尾纤端面的和j备(适用时)。可转到本规范第9章给出详细资料。8J 3 质量评定类别按总规范的2.6.J 标志z字母和图形或色码见本规范第6章34如采用特殊方法，需标明

10、极性。2 4 5 GB/T 18904.4-2002月EC60747-12-4 ,1997 极限值(绝对最大额定值体系)除非另有规定，这些极限值适用于每个模块的整个工作温度范围.只重复使用带有标题的条号。任何附加的值在适当的地方给出，但没有条号J曲线最好在本规范的第10章给出J条号4. 1 4.2 4. 3 4. 4 4. 5 4.6 4. 7 4. 8 4. 9 4. 10 参数名称工作环境温度或管芫温度贮存温度焊接温度(应给出焊接时间和距管壳的最小距离)尾纤的弯曲半径a(距管壳规定的距离处冲击振动加速度(适用时S尾纤轴线方向上的张力a一一松套结构光纤的张力光缆的张力紧套结构光缆的张力电源电

11、压入射功率a 只适用于带尾纤器件。光电特性检验要求见本规范第8章。括号中标有适用时的相应特性有以下两种选择2符号Tamb 或TT.咱Tg1d r F F F v $UPP e 数值最小值最大值X X X X X X X X X X X X X X 单位 .C mm(cm) m/ S2 , 5 m/s2, Hz m/s N N N V mW(W) 一-那些标有适用时的特性在本章及有关检验的章节中或者省略，或者规定，如规定要进行测试;一-可以选择更适宜的等效特性进行替换，以便让不同的制造厂使用相同的详细规范J只重复使用带有标题的条号.任何附加的特性在适当的地方给出，但没有条号J 当在同一详细规范中

12、规定几种器件时，有关的值应以连续的方式给出，以避免相同值的重复J曲线最好在本规范的第10章给出J3 、一GB/T 18904. 4-2002月EC60747-12-4: 1997 条号5. 1. 1 5. 1. 2 5.2 5. 3. 1 5.3.2 5. 4 5. 6. 1 或5.6.2 5. 6. 2. 1 和5.6.2.2 5. 7 5. 8 特性和条件除非另有规定，T，时或T，=25C和VR规定的叮对数字信号最小可探测光功率在规定的S/N下(V，o怦、，、t.和BER按规定)对模拟信号最小可探视l光功率在规定的C/N下(V，町、，、1mb和B按规定)输出噪声功率密度pin-FET模块的

13、晌应度在规定的Vsupp、p、t.、f、RL和生下仅pin-光电二极管b的晌应度在规定的V叩、p、心、f、RL和e下对模拟信号pln-光电二极管的反向暗电流在规定的VR(也=0)下开关时间在规定的儿、t.、RL、输入辐射脉冲峰值功率也和偏置辐射功率也2下上升时间下降时间频率特性小信号截止频率在规定的V叫、凡、p、e下频率响应平坦度在规定的带宽、1，-1，下(Vupp、VL ，).p、t.、矶、1mb按规定)低频瞟声在规定的Vupp、RL./rnb、B下回波损耗在规定的条件下a 除非另有规定，VR对于所有特性都是相同的。b 适用时。4 数值符号最小值|最大值E四D) D( h) p恤X S(M)

14、 SPDJ IR X 1, 1, 1, t:. S/S X P nO. . LF X RL X 单位W /Hz! 或dBmW 1Hz! 或dBmW/Hz V/W A!W A(nA) ns ns MHz (GHz) pW/Hz dB 试验分组A2b A2b A2b A2b A2b A2b A2a A2a A2a A3 A3 A3 t 、人/ GB/T 18904. 4-2002/IEC 60747-12-4 ,1997 6 标志实际上要在器件上和内包装上标记的信息。除了前面第7J栏(第1章和(或)IEC747-10的2.5所给出的外，任何其他特殊信息应在这里规定J7 8 订货资料除非另有规定，订

15、购一种具体器件至少需要以下资料:准确的型号;当有关时，带版本号和(或日期的IECQ详细规范标准p按IEC60747-12规定的质量评定类别g其他细节试验条件和检验要求在下表中给出试验条件和检验要求，其中所有数值和确切的试验条件，应按照给定型号的要求和按GB/T15651的有关试验的要求规定。表中X表示在详细规范中应规定的数值。当在同-详细规范中包括几种规格的器件时，有关条件和(或)数值应以连续的方式给出，以尽可能避免相同条件和(或)数值的重复。编写详细规范时，应选定可供替换的试验或试验方法。在以下各表中除非另有规定，引用的条号对应于总规范IEC60747-10的条号，测试方法引自分规范的3.4

16、0J抽样要求，按照适用的质量评定类别，参照或重述分规范IEC60747-12的3.7的数值。1对于A组，在详细规范中选择AQL或LTPD方案。r d / G/T 18904. 4-2002/IEC 60747-12-4.1997 逐全部试验都是非破坏性的(3.6.6)引用标准检验或试验符号GB/T 15651 AO分组ESD检验(逐个品片上)A1分组外部目检A2a分组不能工作器件eA2b分组最小可探CIXD) IEC 60747-5 Amd1 测光功率或CD5VF=.; 检验条件在本规范的第5章中给出。d 适用时。验组试B 批逐/ 检验或试验引用标准条件检验或试验要求/极限值GB/T 4937

17、 除非另有规定，T时或T，=25C最小值最大值Bla分组尺寸总规范第4.2.2、附录B见第1章第6J栏B1b分组与光学有关的尺寸按规定B2b分组在详细规范在温度极限但下的测试z在Tamb最大值和最小值时中规定e B3分组(D)引出端和尾纤强度如果适用力(见II，1的1.2) 无损伤(弯曲和拉力)B4分组(D)可焊性(适用时)II , 2. 1 按规定(最好采用浸焊方法)润湿良好耐焊接热II , 2. 2 7 二-飞GB/T 18904. 4-2002月EC60747-12-4 ,1997 B组(续)检验或试验引用标准条件除非另有规定，T8mb或T，酬=25CGB/T 4937 B5分组(0)

18、快速温度变化阻，1 N按规定继之以湿热循环田，4按规定终点测试z按A2b分组r. 按A2b分组或密封(仅对空封器件)m, 7 按规定B8分组电耐久性168 h , Tarnb.mxY-x. Tcae阳军，=O;V、IR按规定终点测试24.(0) 按A2b分组S(PDl 按A2b分组1R 按A2b分组ESD分组(0)终点测试g按规定1M CRRL分组提供B3，剧，B5和民的属性资料a IVD为每一样品的初始值。组周期LSL=规范的下限值l根据A组USl.=规范的上限值C 只有标(D)的试验是破坏性的(3.6.6)条中引用标准检验或试验除非另有规定，T，叫或T町=25CGB/T 4937 (见总规

19、范第4章)Cl分组尺寸总规范4.2. 2、附录R8 检验或试验要求/极限值最小值最大值USL LSL USL . 2USL O. 8LSI. . 2USL 或2IVD lOlVD 检查或试验要求/极限值最小值最大值(见第1章第6J栏)一检验或试验C2a分组光电特性输出噪声功率密度(p.o. ,) 一一-低频噪声(PM.CLF)频率响应平坦度(t:.S/S) 回波损耗(RL)C3分组(0)引出端强度g电引出端强度拉力试验尾纤强度拉力试验终点测试gS(M) 或S(pm C4分组(0)耐焊接热终点测试z一一目检1. S(M)或S(PDC5分组快速温度变化终点测试IR S(M)或5(pDJGB/T 1

20、8904. 4-2002/IEC 60747-12-4: 1997 C组(续)引用标准GB/T 4937 IEC 60747-5 Amdl IEC 607475 Amd1 IEC 607475 Amdl 考虑中II ,1 II ,2. 2 皿，1IEC 68214 条件除非另有规定，T时或T=25C(见总规范第4章)按A3分组按A3分组按A3分组按规定对特殊外形器件不要求，例如超小型器件按A2b分组按A2b分组按规定按规定按Al分组按A2b分组试验Nb循环次数100T=T町，rnm和T时.max按A2b分组按A2b分组检查或试验要求/极限值最小值|最大值 无损伤或按规定L5L L5L U5L

21、L5L 1. 2IVD 0.8IVD 9 / / ?飞G/T 18904. 4-2002/IEC 60747-12-4: 1997 检验或试验C6分组(仅对空封器件冲击或振动继之以z恒定加速度终点测试g一一密封一一一c(D)一一-1.一-S(M)或S(PDlC7分组(0)仅对塑封器件或非密封器件)稳态湿热终点测试g一一一四一一1.S(M)或S，阳C8分组电耐久性终点测试2一一一(m1. 一-S(MJ或S(PDC9分组(0)高温贮存终点测试2，( D) -1. S(M)或S(PDJESO分组(0)终点测试g一一-1.10 引用标准GB/T 4937 II .3或4II.5 田.7III .5A

22、III .2 C组(续)条件除非另有规定.T时或T.=25C(见总规范第4章按规定按规定按A2b分组按A2b分组按A2b分组1.按规定，也=0.56d 按A2b分组按A2b分组按A2b分组至少1000h T=T.时，叩，=o，V按规定按A2b分组按A2b分组按A2b分组在最高Tstg下至少1000 h 按A2b分组按A2b分组按A2b分组按规定检查或试验要求/极限值最小值|最大值1. 2lVO 2lVO 0.8IVD 1. 2lVO 21VD 0.81VO 1. 2IVO 10IVD 0.81VO 10IVO 10IVD 0.8IVD囚10IVO 一GB/T 18904. 4-2002/IEC

23、 60747-12-4: 1997 C组续条件引用标准检验或试验除非另有规定，Tamb或T阳=25CGB/T 4937 (见总规范第4章提供C3、C4、C5、C6、C7和C9CRRL分组的属性资料，提供C8分组前、9 10 IVD为每一样品的初始值.D组一一鉴定批准试验当要求时，这些试验应在详细规范中规定J附加资料(不作检验用只有规定和器件应用需要时给出，例如g一一与极限值有关的温度降额曲线;一一推荐的安装条件p后的测试结果.一-BER规定时与带宽有关的最小可探测功率变化量，一一与波长有关的响应度p一一-与温度有关的pin光电二极管反向暗电流$一一与响应度有关的模块带宽P-一一测量电路或补充方

24、法的完整说明;一一详细的外形图g均衡比。检查或试验要求/极限值最小值最大值h户?N7h叮khoM嗣同NOON-a叮.叮。由FH白。华人民共国家标准半导体器件第12-4部分:光电子器件纤维光学系统或子系统用带/;不带尾纤的pin-FET模块空白详细规范GB/T 18904. 4-2002/IEC 60747-12-4 ,1997 国和中是中国标准出版社出版北京复兴门外三里同北街16号邮政编码，J口口045电话，68523946中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷新华书店北京发行所发行各地新华书店经售68517548 印张l字数25千字2003年5月第一次印刷开本880X 1230 1/16 2003年5月第一版印数1一1500 唔书号，155066. 1-19454 网址版权专有侵权必究举报电话，(010)685335334-2002