QJ 1556B-2008 元器件质量与可靠性信息采集卡填写规定.pdf
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1、中华人民共和国航天行业标准FL 1617 QJ 1556B2008代替 QJ 1556A1998元器件质量与可靠性信息 采集卡填写规定 Rules for filling in parts quality and reliability information collection card 20080317发布 20081001实施国防科学技术工业委员会 发 布 QJ 1556B2008 I目 次 前 言. 1 范围.1 2 规范性引用文件.1 3 术语和定义.1 4 一般要求.1 4.1 总则.1 4.2 采集卡的分类.1 4.3 元器件的类别.2 4.4 元器件的质量等级.2 4.5 航
2、天产品的代号.3 4.6 采集卡中必须填写和可选择填写的数据项.3 4.7 采集卡填写的质量要求.3 5 详细要求.3 5.1 元器件破坏性物理分析(DPA)信息采集卡(ZY01)填写要求.3 5.2 元器件装机前失效信息采集卡(ZY02)填写要求.5 5.3 元器件装机信息采集卡(ZY03)填写要求.6 5.4 元器件装机及装机后失效信息采集卡(ZY04)填写要求.7 附录A(资料性附录)元器件破坏性物理分析(DPA) 信息采集卡(ZY01)格式和数据库文件结构.9 附录B(资料性附录)元器件装机前失效信息采集卡(ZY02)格式和数据库文件结构.11 附录C(资料性附录)元器件装机信息采集卡
3、(ZY03)格式和数据库文件结构.13 附录D(资料性附录)元器件装机及装机后失效信息采集卡(ZY04)格式和数据库文件结构.15 QJ 1556B2008 II前言 本标准代替QJ 1556A1998电子元器件质量与可靠性信息采集卡填写规定。 本标准与QJ 1556A1998电子元器件质量与可靠性信息采集卡填写规定相比主要有以下变化: a) 电子元器件准确的定义为电气、电子和机电元器件; b) 元器件分类及失效分类的引用标准已进行了修订,本标准进行了相应的修订; c) 元器件破坏性物理分析(DPA)增加了试验项目。 本标准的附录A、附录B、附录C和附录D为资料性附录。 本标准由中国航天科技集
4、团公司提出。 本标准由中国航天标准化研究所归口。 本标准起草单位:中国航天标准化研究所。 本标准主要起草人:李兰英、余振醒、魏明明。 本标准于1988年4月首次发布,1998年2月第一次修订。 QJ 1556B2008 1元器件质量与可靠性信息采集卡填写规定 1 范围 本标准规定了航天用电气、电子和机电元器件(以下简称元器件)质量与可靠性信息采集卡的格式和填写要求。 本标准适用于元器件保证全过程主要质量与可靠性信息的采集。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包含勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据
5、本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。 GJB 33 半导体分立器件总规范 GJB 451 可靠性维修性术语 GJB 597 半导体集成电路总规范 GJB 2438 混合集成电路总规范 GJB/Z 299 电子设备可靠性预计手册 GJB/Z 9000A2001 质量管理体系 基础和术语 QJ 1193.1 人事系统数据源 航天工业单位代码 QJ 1317A2005 电子元器件失效分类及代码 QJ 2983 航天产品代号的编制规定 QJ 3057 航天用电气、电子和机电(EEE)元器件保证要求 MILPRF19500 半导体分立器件
6、总规范 MILM38510 微电路总规范 MILPRF38534 混合微电路总规范 MILPRF38535 集成电路(微电路)制造总规范 3 术语和定义 GJB 451、GJB/Z 9000A2001以及QJ 1317 A2005确立的术语和定义适用于本标准。 4 一般要求 4.1 总则 航天型号承制单位应明确元器件质量与可靠性信息的主管部门,必要时建立信息中心。按QJ 3057的规定,分类收集、处理和保管元器件的质量与可靠性信息。其中部分信息应按本标准的规定填写质量与可靠性信息采集卡,按有关规定上报上一级的质量与可靠性信息管理机构。 各级质量与可靠性信息管理机构对信息进行分类收集、处理和保管
7、,供有关单位使用。 4.2 采集卡的分类 QJ 1556B2008 24.2.1 元器件破坏性物理分析(DPA)信息采集卡(ZY01) 元器件破坏性物理分析(DPA)后,由负责DPA的单位填写本采集卡。 采集卡的格式及数据库文件结构参见附录A。 4.2.2 元器件装机前失效信息采集卡(ZY02) 元器件在装机前试验(主要指补充筛选、超期复验等,不包括DPA)过程中发生完全失效,应进行失效分析,并由负责试验的单位填写本采集卡。 采集卡的格式及数据库文件结构参见附录B。 4.2.3 元器件装机信息采集卡(ZY03) 整机单位按型号的不同研制阶段分别填写元器件装机信息采集卡。 采集卡的格式及数据库文
8、件结构参见附录C。 4.2.4 元器件装机及装机后失效信息采集卡(ZY04) 元器件在装机及装机后各阶段发生完全失效,应进行失效分析,并由元器件所属整机的负责单位填写本采集卡。 采集卡的格式及数据库文件结构参见附录D。 4.3 元器件的类别 填写采集卡时,元器件的类别参照GJB/Z 299的规定。 4.4 元器件的质量等级 4.4.1 国产元器件的质量等级 国产元器件的质量等级分为:国军标、行军标、企军标、“七专加严”、“七专”、军品、民品、其它共8个质量等级。其中,国军标的质量等级还可进一步细分,如表1所示。 表1 国军标元器件的质量等级 序号 元器件类别 依据的总规范 质量等级分级 1 半
9、导体分立器件 GJB 33 质量等级分为:宇航级(JY)、超特军级(JCT)、特军级(JT)、普军级(JP) 2 半导体集成电路 GJB 597 质量等级分为:宇航级(S)、B级、B1级 3 混合集成电路 GJB 2438 质量等级分为:宇航级(K)、H级、G级、D级 4 有可靠性指标的元件 相应的元件总规范 失效率等级分为:L(亚五级)、M(五级)、P(六级)、R(七级)、S(八级) 5 没有可靠性指标的元件 相应的元件总规范 不以失效率等级划分,均以J表示 4.4.2 进口元器件的质量等级 在国际市场采购到的进口元器件,质量等级以采购量较大的美国元器件为例,其质量等级可分为:MIL标准、准
10、军级(883或与之等效的元器件)、军品温度范围、民品(包括工业品和商业品)。其中MIL标准的质量等级还可进一步细分,如表2所示。 QJ 1556B2008 3表2 MIL标准元器件的质量等级 序号 元器件类别 依据的总规范 质量等级分级 1 半导体分立器件 MILPRF19500 质量等级分为:宇航级(JANS)、超特军级(JANTXV)、特军级(JANTX)、普军级(JAN) 2 微电路 MILM38510 质量等级分为:宇航级(S)、B级 3 集成电路 MILPRF38535 质量等级分为:宇航级(V)、Q级 4 混合集成电路 MILPRF38534 质量等级分为:宇航级(K)、H级、G级
11、、E级、D 级 5 有可靠性指标的元件 相应的元件总规范 失效率等级分为:L(亚五级)、M(五级)、P(六级)、R(七级)、S(八级) 6 没有可靠性指标的元件 相应的元件总规范 不以失效率等级划分,均以J表示 4.4.3 填写质量等级的优先顺序 填表时优先按元器件合格证或包装上标明的质量等级填写,当合格证或包装上未标明质量等级时,应按4.4.1和4.4.2的规定填写。 4.5 航天产品的代号 采集卡中需要填写的航天产品代号,应按QJ 2983的规定。 4.6 采集卡中必须填写和可选择填写的数据项 采集卡中的数据项分为必须填写和可选择填写两类。在采集卡填写要求中,必须填写的数据项用“”表示,可
12、选择填写的数据项用“”表示,具体要求按表3表6规定。 4.7 采集卡填写的质量要求 有关主管部门应建立制度,以保证采集卡填写内容完整、准确、规范。 5 详细要求 5.1 元器件破坏性物理分析(DPA)信息采集卡(ZY01)填写要求 元器件破坏性物理分析(DPA)信息采集卡(ZY01)填写要求按表3规定。 表3 元器件破坏性物理分析(DPA)信息采集卡(ZY01)填写要求 序号 数据项名称 填写要求 是否 可选 1 填卡单位代码或简称 单位代码按QJ 1193.1规定填写,或填写本单位的简称。 2 入档编号 入档编号按归档要求,在归档时由负责归档的单位填写。 3 录入日期 数据录入日期。日期格式
13、按年、月、日填写。年以4位数表示;月、日以2位数表示。 4 数据级别 按采集卡中填写的数据最终上报给集团公司、院(子公司)或厂(所)来选填(在适用的方框内画“”)。 5 数据上报日期 数据上报日期。日期格式要求同录入日期。 6 是否返回作修改的数据 采集卡首次上报选填“否”。采集卡中的数据首次上报后,经审查发现有错误,返回填卡单位修改后的数据,则选填“是”(在适用的方框内画“”)。 7 (元器件)名称 填写元器件生产单位产品目录规定的名称。 QJ 1556B2008 4表3(续) 序号 数据项名称 填写要求 是否 可选 8 类别 按4.3规定填写。 9 型号规格 按元器件生产单位产品目录规定的
14、型号规格填写。 10 质量等级 按4.4规定填写。 11 批次号 填写印在元器件上的批次号。若元器件上未印批次号,则填写元器件合格证或包装上的批次号。 12 生产日期 填写印在元器件上的日期。若元器件上未印日期,则填写合格证或包装上的日期。 必须选择其中之一 13 生产单位 填写元器件生产单位的代号或简称。对有代号的应填写代号,无代号的应填写厂(所)或公司的简称。 14 原产地(国家或地区) 进口元器件生产单位除在生产单位栏内填写制造公司的名称外,还应填写原产地或封装地的国名或地区名。 15 所属工程代号 指元器件所在的部件、整机、设备所属型号的工程代号。 16 所属工程任务号 指元器件所属型
15、号的工程任务号或批次号。 17 所属整机代号 指元器件所在整机的代号。按各型号产品的总体规定填写。 18 第一次抽样规定样本数 根据有关管理办法或标准规定的第一次抽样应交样本数。 19 第一次抽样实交样本数 第一次抽样实交样本数。 20 允许追加抽样规定样本数 根据有关管理办法或标准规定的允许追加抽样规定样本数。当第一次抽样实交样本数符合要求,且做DPA合格,就无需填写允许追加抽样规定样本数。 21 允许追加抽样实交样本数 允许追加抽样实交样本数。 22 DPA项目及结果 对合格的DPA项目应填写“合格”并写明合格数量;对不合格的项目应简单写明缺陷的模式,不合格样品相应的合格、不合格参数及样品
16、数量;对于未做的DPA项目应在相应的栏内填写 “NA”。 23 不合格样品数 DPA完成后,不合格的样品总数,以只计。 24 不合格DPA项目数 DPA完成后,不合格的项目总数,以项计。 25 缺陷类别及相应数量 根据DPA的结果在相应的栏填写数量。缺陷类别无法确定时在“待确定”栏内分别情况填写,对于需做进一步分析的元器件,应将其数量填入“继续分析”栏;不需要(或不可能)分析的元器件,应将其数量填入“不再分析”栏。 26 结论及相应数量 根据DPA的结果在相应的栏填写数量。其中“样品通过”系指实交样本数少于规定样本数,虽实交样本的DPA已合格,但仍不能作出合格的结论。 27 备注 说明被试样品
17、不合格情况。还应填写合格判据的更改、失效模式以及处理意见等有关情况。 28 委托单位 委托单位名称或代号。 29 DPA报告号 DPA报告的编号。 30 分析单位 分析单位的名称或代号。 31 分析人 主要分析人的姓名。 32 开始分析日期 填写开始分析日期。日期格式要求同录入日期。 33 完成分析日期 填写完成分析日期。日期格式要求同录入日期。 34 填卡单位 填报本采集卡的单位名称或代号。 35 填卡人 本采集卡填写人的姓名。 36 填卡日期 填写采集卡的日期。日期格式要求同录入日期。 37 批准人 填报本采集卡主管部门批准人的姓名。 38 批准日期 填写采集卡的批准日期。日期格式要求同录
18、入日期。 QJ 1556B2008 55.2 元器件装机前失效信息采集卡(ZY02)填写要求 元器件装机前失效信息采集卡(ZY02)填写要求按表4规定。 表4 元器件装机前失效信息采集卡(ZY02)填写要求 序号 数据项名称 填写要求 是否 可选 1 填卡单位代码或简称 单位代码按QJ 1193.1规定填写,或填写本单位的简称。 2 入档编号 入档编号按归档要求,在归档时由负责归档的单位填写。 3 录入日期 数据录入日期。日期格式按年、月、日填写。年以4位数表示;月、日以2位数表示。 4 数据级别 按采集卡中填写的数据最终上报给集团公司、院(子公司)或厂(所)来选填(在适用的方框内画“”)。
19、5 数据上报日期 数据上报日期。日期格式要求同录入日期。 6 是否返回作修改的数据 采集卡首次上报选填“否”。采集卡中的数据是首次上报后,经审查发现有错误,返回填卡单位修改后的数据,则选填“是”(在适用的方框内画“”)。 7 (元器件)名称 按元器件生产单位产品目录规定的名称填写。 8 类别 按4.3规定填写。 9 型号规格 按元器件生产单位产品目录规定的型号规格填写。 10 质量等级 按4.4规定填写。 11 批次号 填写印在元器件上的批次号。若元器件上未印批次号,则填写元器件合格证或包装上的批次号。 12 生产日期 填写印在元器件上的日期。若元器件上未印日期,则填写元器件合格证或包装上的日
20、期。 必须选择其中之一 13 生产单位 元器件生产单位的代号或简称。对有代号的生产单位应填写代号,无代号的生产单位应填写厂(所)或公司的简称。 14 原产地(国家或地区) 进口元器件生产单位除在生产单位栏内填写制造公司的名称外,还应填写原产地或封装地的国名或地区名。 15 试验开始日期 该批元器件试验的开始日期。日期格式要求同录入日期。 16 试验完成日期 该批元器件试验的完成日期。日期格式要求同录入日期。 17 试验总数 交付试验的相同批次、相同型号规格的元器件总数。 18 失效总数 交付试验的相同批次、相同型号规格的元器件,在试验过程中,发生失效数量的总和。 19 补充筛选及失效数量 元器
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