GB T 12604.1-2005 无损检测 术语 超声检测.pdf

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1、ICS 19. 100 J 04 道B中华人民共和国国家标准GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 代替GB/T12604.1-1990 无损检测术语超声检测2005-06-08发布Non-destructive testing-Terminology一Terms used in ultrasonic testing (lSO 5577: 2000 , Non-destructive testing Ultrasonic inspection-Vocabulary, IDT) 中华人民共和国国家质量监督检验检茂总局中国国家标准化管理委员会2005-12-01实施发布G

2、B/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 目次前言.田1 范围. 2 一般术语3 与波相关的术语4 与角相关的术语55 与脉冲和回波相关的术语56 与探头相关的术语7 与超声检测仪器相关的术语108 与试块相关的术语139 与检测技术(方法户相关的术语1310 与受检件相关的术语11 与桐合相关的术语1712 与定位相关的术语1713 与评价方法相关的术语MM 与显示方法相关的术语四中文索引英文索引GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 前言本标准等同采用ISO5577 :2000(无损检测超声检测词汇(英文版)。本标准等同翻译ISO5577 :

3、2000。为便于使用，本标准还做了下列编辑性修改:a) 本国际标准一词改为本标准;b) 删除国际标准的前言;c) 增加了中文索引以指导使用;d) 原国际标准的章条编号格式改为GB/T1. 1-2000规定的章条编号格式。本标准代替GB/T12604.1一1990(无损检测术语超声检测。本标准与GB/T12604.1-1990相比主要变化如下:一一修改了一般术语(见第2章); 一一修改了与波相关的术语(1990年版的第2章;本版的第3章); 修改了与角相关的术语(1990年版的第2章;本版的第4章); 一修改了与脉冲和回波相关的术语0990年版的第2章;本版的第5章); 一一修改了与探头相关的术

4、语(1990年版的第3章;本版的第6章); 一一修改了与超声检测仪器相关的术语(1990年版的第3章;本版的第7章); 一一修锁了与试块相关的术语0990年版的第3章;本版的第8章); 一-修改了与检测技术(方法)相关的术语(1990年版的第4章;本版的第9章); 一一修改了与受检件相关的术语(1990年版的第4章;本版的第10章); 修改了与搞合相关的术语(1990年版的第4章;本版的第11章); 修改了与定位相关的术语(1990年版的第4章;本版的第12章); 十修改了与评价方法相关的术语(1990年版的第4章;本版的第13章); 修改了与显示方法相关的术语(1990年版的第4章;本版的第

5、14章)。请注意本标准的某些内容有可能涉及专利。本标准的发布机构不应承担识别这些专利的责任。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)归口。本标准起草单位:中国航空工业第一集团公司北京航空材料研究院。本标准主要起草人:史亦韦、李家伟。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:GB/T 12604. 1-1990。III GB/T 12604. 1-2005/ ISO 5577 : 2000 无损检测术语超声检测1 范围本标准界定了用于超声无损检测方法的术语，作为标准和一般使用的共同基础。2 一般术语2.1 2. 3 2. 4 声影acou 不能抵达的区

6、域。见图6。2. 5 2. 6 2. 7 声束轴线beam axis 2. 8 声柬边缘beam edge 远场中超声束的边界，在与探头距离相同处测量，该边界处的声压己降至声束轴线上声压值的一给定比率。见图2。1) ISO 5577 :2000英文版由于印刷错误而缺失本条定义，现本条定义为参照了ISO5577 :2000法文版后重新编写。2) ISO 5577 :2000英文版的本条定义的前半句为给定材料中某一点的声压与声速的比值，存在明显技术错误。GB/T 12604. 1一2005/1S05577:2000 2.9 声束轮廓beam profile 由声柬边缘所确定的声束形状。2.10 声

7、束扩散beam spread 声披在材料中传播时声束的扩展。2. 11 分贝decibel dB 两个超声信号幅度的比值以10为底的对数的20倍。dB= 20 log!o (幅度比2. 12 不连续discontinuity 连续性的缺失。见图6、图10、图11、图13、图14、图16、图17a)、图17b)、图17c)、图18和图1902.13 边缘效应edge effect 超声波由反射体边缘衍射引起的现象。2. 14 远场far field 超过声束轴线上最后一个声压极大值而延伸的超声声束区域。见图2。2.15 缺陆f1 aw defect 认为应被记录的不连续。见图6、图10、图11、

8、图13、图14、图16、图17a)、图17b)、图17c)、图18和图1902. 16 界面interface 声阻抗不同的两种介质之间声接触的分界面。见图4。2.17 背反射损失loss of back reflection 底波损失受检件背面回波幅度的严重下降或消失。2.18 近场near field 菲涅耳区Fresnel zone 由于干涉的原因声压不随距离作单调变化的声束区域。2.19 离距他的吨间-K之M占川mM场盯近OLJHH习nu离主源度号长信3场声图近超见2 2.20 2.21 2.22 2.23 2.24 2.25 2.26 2.27 2.28 2.29 GB/T 1260

9、4.1-2005/ISO 5577 :2000 近场点near field point 超声声束中声压达到声束轴线上远场前最后一个极大值点的位置。见图3。传播时间propagation time 声时time of flight 发射的超声信号到达接收点所需时间。反射系数reflection coefficient 在反射面处总的反射声压与入射声压之比。反射体reflector 超声束遇到声阻抗变化的界面。散射scattering 由声束路径中的晶性结构和(或)小反射体引起的随机反射。声场sound field 发射声能所产生的三维声压图。见图3。声速sound velocity 传播速度ve

10、locity of propagation 在非频散介质中声波沿传播厅向行进的相速度或群速度。检测频率test frequency 用以检测试件的有效超声频率，通常在接收点处测量。超声声束uItrasonic beam 声束sound beam 在非频散介质中，超声能量主要部分集中分布的声场区域。见图2和图6。超声波uItrasonic wave 频率超过人耳可昕范围的声波，此频率的下限一般取为20kHz o 3 与波相关的术语3. 1 纵i皮longitudinalwave 压缩波compressional wave 在介质中传播时，介质质点的振动方向与波传播方向一致的声波波型。见图1a)。

11、3 GB/T 12604.1-2005/ ISO 5577 :2000 3.2 连续波continuous wave 与脉冲波相对的，时间上持续存在的声波。3.3 爬波creeping wave 在第一临界角产生的并以纵波沿表面传播的波。3.4 波型转换mode conversion mode transfomation wave co nverS lOn 在发生折射与反射时，一种守3.5 3.6 见图1b)。注:J1t:3. 7 球面波披阵面为球面3.8 表面波surface 瑞利波Rayleigh 沿传播介质表面J3.9 波前wavefront 波阵面波中3. 10 波长wavelengt

12、h 波经历一个完整周期所传播的距离。见图103. 11 波列wave train 由同一师、产生，具有相同的特征，沿相同路径传播，有确定数目的一系列声波。4 GB/ T 12604.1-2005/ ISO 5577 :2000 4 与角相关的术语4. 1 入射角angle of incidence 入射声柬轴线与界面法线之间的夹角。见图4和图9。4. 2 4. 3 角夹的同n之线配法d面h界刊十308#4 m轴束角声4射射图反反见折射角在两种不同介注:入射角大于利波)的角4. 5 扩散角div 指向角在远场中声见图2。5. 1 由垂直于声束轴线的边界面反前辆回波。见图17a)和图17b)。5.

13、2 延迟回波delayed echo 因路径不同或发生波型转换，以致比来自同一反射体的其他回波较迟到达同一接收点的回波。5.3 回波echo 反射refl ection 从反射体反射到探头的超声脉冲。5 GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 5.4 缺陆固波flawecho defect echo 一泪。指dy波盯川回型m圳剌nMM飞jm续山14连I不图波或回陷丁续缺VL连自图F不D来见5.5 幻影固波ghost echo phantom echo wrap-around 源于前一个周期所发射脉冲的回波。5.6 草状回波grass 组织回波structural ec

14、hoes 来自材料中的晶粒边界和(或)微小反射体的反射波所形成的空间随机信号。5. 7 界面回波interface echo 来自两种不同介质的界面的回波。5.8 多次回波multiple echo 多次反射multiple reflection 超声脉冲在两个或多个界面或不连续之间往复反射所形成的回波。5.9 脉冲pulse 持续时间短促的电或超声信号。5.10 侧面回波side wall echo w 来自除背面和检测面以外的表面的回波。见图17a)。5. 11 干扰回波spurious echo parasitic echo 与不连续不相关的显示。5.12 界面波surface echo

15、 s 表面回波从受检件第一个边界反射到探头的回波指示，通常用于液浸检测技术或使用带延迟块探头的接触检测技术。见图17b)。6 G/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 5. 13 发射脉冲指示transmission pulse indication T 始波发射脉冲在超声检测仪上的显示，通常用于A扫描显示。见图17a)、图17b)和图17c)。5. 14 发射脉冲transmitter pulse 超声检测仪的发射器产生的电脉冲，用以激发探头。6 与探头相关的术语6. 1 6.2 6.3 6.4 6.5 6.6 6. 7 斜射探头angle beam probe ang

16、le beam search unit 斜探头angle probe 声束入射角不是0。的探头。见图7b)、图9、图10、图11、图12、图13、图14、图15、图16和图17c)。中心频率centre frequency 幅度比峰值频率的幅度低3dB(穿透检测)或6dB(脉冲回波检测)时所对应的频率的算术平均值。会聚距离convergence distance 使用双晶探头时，受检件表面与会聚区间的距离。见图8。会聚区convergence zone 会聚点convergence point 双晶探头发射声束与接收声束的相交区称会聚区，而两轴线的相交点则称会聚点。见图8。延迟声程delay

17、path 换能器至检测面入射点之间的声程。场深depth of field 焦区长度focal zone focal range 聚焦探头超声束中的一段，其中声压均保持在相对于其最大值的某一水平之上。见图20。双换能器探头double transducer probe 双晶探头twin transducer probe 双探头dual search unit 由两个用隔声层隔开的换能器装在一个外壳中组成的探头，一个换能器用于发射超声波，另一个用7 GB!T 12604.1-2005/ ISO 5577 :2000 于接收。见图8。6. 8 6. 9 6. 10 6. 11 6.12 有效换能器

18、尺寸effective transducer size 由测得的近场长度和波长确定的小于其机械尺寸的换能器面积。电磁声换能器electro-magnetic transducer 电动换能器electrodynamic transducer 见图20。focus 见图20。聚焦探头通过使用特束或焦点的探头见图20。6. 13 6. 14 6. 16 6. 17 8 液浸探头特殊设计可导见图17b)。探头标称角换能器尺寸transduce r size 元件尺寸element size 换能器单元的物理尺寸。直探头normal probe 直射探头straight beam probe stra

19、ig ht beam search unit 波与检测面成90。传播(声束轴线垂直于人射面)的探头。会聚产生聚焦声GB/ T 12604.1-2005/ ISO 5577 :2000 见图2、图3、图6、图7a)和图17a)。6.18 峰值频率peak frequency 可被观测到最大幅度响应的频率。6.19 峰数peak number 在所接收信号的波形持续时间内，幅度超过最大幅度的20%(-14 dB)的周数，通常用以表示所接收回波信号的波形持续时间。6.20 6.25 6.26 6.27 见图5。屋顶角roof angle 双换能器探头两换能器面法线|见图8。偏向角squint ang

20、le 斜射声束探头探头几何轴与声束轴在检测面上投影之间的角度。见图9。偏向角squint angle 直射声束探头探头几何轴线与声束轴线之间的角度。见图9。9 GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 6.28 6.29 6.30 6.31 6. 32 6.33 表面波探头surface wave probe 产生和(或)接收表面波的探头。换能器transducer 晶片crystal 元件element 探头的有功元件，可将电能转换成超声能或相反。见图7a)、图7b)和图80换能器背衬transducer backing 衬在换能器背面以增加阻尼的材料。见图7a)、图

21、7b)和图8。可变角探头variable angle probe 折射角可以改变的探头。耐磨片wear plate diaphragm 作为探头组成部分的防护材料薄片，它使换能器与受检件隔开而不直接接触。见图7a)。斜模wedge 折射棱镜refracting prism 特殊的模形件(常用塑料制作)，将其放在换能器与受检件之间且与两者有声接触时，可使超声束以给定角度折射进入受检件。6.34 见图7b)。轮式探头wheel probe wheel search unit 将一个或多个换能器安装在注满液体的柔韧轮胎中，超声束通过轮胎的滚动接触面与检测面相稠合的一种探头。7 与超声检测仪器相关的术

22、语7. 1 幅度线性amplitude Iinearity 输入到超声检测仪接收器的信号幅度与其在超声检测仪显示器(或附加显示器)上所显示的幅度成正比关系的程度。7.2 盲区dead zone 靠近检测面下的一段区域，在此区域中有意义的反射体不能被显示。10 7.3 7.4 7.5 延迟扫描delayed time base sweep 零点校正correction of zero point G/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 以相对于发射脉冲或参考回波一固定或可调的延迟时间触发时基线。动态范围dynamic range 超声检测仪可运用的一段信号幅度范围，在此范

23、围内信号不过载或畸变，也不小至难以观测。电子距离，幅度补偿electronic distancamplitudcompensation (EDAC) 检测仪中一种装置的功能，用电子学方法改变来自不同距离的相同尺寸反射体的回波放大率使回波幅度相同。7.6 时基线扩展expanded timbase sweep scale expansion 时基线扫描速度的增加，可使来自受检件厚度或长度范围内选定区的回波在荧光屏上显示更多的细节。7.7 7.8 7.9 7. 10 7. 11 7.12 缺陆检测灵敏度f1 aw( defect) detection sensitivity 超声检测设备的性能，用

24、最小可检出反射体来确定。增益控制gain control dB控制dB control 增益调节gain adjustment 仪器的控制器，通常按分贝校准，可将信号调节到适当的高度。闸门gate 时间闸门time gate 用电子学方法选择时基线的一段，以监视其中的信号或作进一步处理。闸门水平gate level 闸门电平监视电平monitor level 监视水平规定的幅度水平，高于或低于此水平，在门中的回波信号可被选出作进一步处理。脉冲(回波)幅度pulse( echo) amplitude 信号幅度signal amplitude 脉冲(回披)信号的最大幅度，在采用A型显示时，通常指时

25、基线到最高峰的垂直高度。脉冲能量pulse energy 单个脉冲所包含的总能量。11 GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 7. 13 7. 14 7.15 7.17 脉冲(回波)长度pulse (echo) length 脉冲宽度在低于峰值幅度的一规定水平上所测得的脉冲(回波)前沿和后沿之间的时间间隔。脉冲重复频率pulse repetition frequency prf 脉冲重复率pulse repetition rate 分辨力resol 超声检测设注:需区别在声7.18 7.19 7.20 时基线性time base Iinearity 号位置之间成正比

26、关系的程度。7.21 7. 22 12 时基线范围time base range 检测范围test range 在一特定的时基线上能显示的声程长度。超声检测设备uItrasonic test equipment 由超声检测仪、探头、电缆及在检测时与仪器相连接的所有器件组成的设备。GB/ T 12604.1-2005/ ISO 5577 :2000 7.23 超声检测仪uItrasonic test instrument 与一个或多个探头一起使用，用以发射，接收，处理和显示超声信号进行无损检测的仪器。8 与试块相关的术语8. 1 校准试块calibration block 标准试块standar

27、d test block 料块，可用以评定和校准超声检测设备。8. 2 8. 3 参考试块对比试块与受检件或非和(或)时间分度，见图21。8. 4 参考缺陷参考反射体评估。8. 5 横孔SDH 平行于检测面的圆柱形钻孔。9 与检测技术(方法)相关的术语9.1 9. 2 斜射技术angle beam techniq ue 使用与受检件表面成一定角度而不是垂直于检测面入射的超声束进行检测的技术。见图17c)。自动扫查automatic scanning 探头在检测面上的机械化移动。13 GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 9. 3 9.4 9.5 9.6 9. 7 9

28、.8 接触检测技术contact testing technique 用一个(或多个)超声探头直接与受检件接触(用或不用桐合剂)进行扫查。见图17a)。直接扫查技术direct scan technique 一次波技术single traverse technique 超声束不经中间反射直接进入检测区进行检测。见图10。双探头技术double probe technique 一收一发技术pitch and catch technique 利用两个探头进行超声检测的技术，两探头均可分别用作发射器和接收器。二次波技术double traverse technique 入射超声束在受检件内经一次表面

29、反射进入某一区域进行检测。见图11。间隙检测技术gap testing technique 间隙扫描gap s.canning 探头与受检件表面不直接接触而是通过一厚度不大于数波长的液柱榈合。见图12。班漫技术immersion technique 液漫检测immersion testing 一种超声检测技术，受检件和探头均被浸入用作榈合剂和(或)折射棱镜的液体中。见图17b)。注2液浸可以是全部或局部的，也包括使用喷水器或轮式*头。9.9 9. 10 9. 11 闯接扫查技术indirect scan technique 间接扫查indirect scan 超声束经受检件的一个或多个表面反射

30、后进入检测区，进行检测。手动扫查manual scanning 在检测面上用于移动探头进行检测。多次回波技术multiple-echo technique 对来自背面或不连续处的多次反射波就幅度以及声程长度进行评定的技术。注1:多次回波的幅度可用以评价材质或连接质量。注2:为提高壁厚(声程长度)测量的准确度，可利用尽可能多的回波次数。9. 12 多次波技术multiple traverse technique 入射超声束在受检件内经多个面反射若干次后进入某一区域进行检测。14 GB/T 12604.1-2005/1805577 :2000 9.13 9.14 9. 15 9. 16 9. 17

31、 9.18 9.19 9.20 见图11。直射技术normal beam techniq ue straight beam technique 使用直探头检测的技术。环绕扫查orbital scanning 用于获得先前己确定好位置的反射体形状信息的一种技术，扫查围绕反射体进行。见图130脉冲回波技术pulse echo technique 脉冲反射技术reflection (pulse) technique 将超声脉冲在一个周期内发射并经反射后接收的技术。扫查scanning 声束与受检件之间所做的有计划的相对移动。单探头技术single probe technique 用同一探头发射和接收

32、超声波的检测技术。螺旋扫查spiral scanning 管子或探头纵向移动同时转动的扫查。旋转扫查swivel scanning 将斜射探头围绕通过其入射点并垂直受检件的轴线转动进行检测的技术。见图140串列扫查技术tandem (scanning) techniq ue 采用两个或多个具有相同折射角，面向同一方向，声束轴均在与检测面相垂直的同一平面内的斜射探头进行扫查的技术，其中的一个探头用于发射超声能，其余的用作检测超声能。见图16。注:此技术主要用于检测垂直于检测面的不连续。9.21 衍射声时技术time-of-flight diffraction technique TOFD 利用不

33、同入射角的斜射探头或将探头放置在不同的位置处，检测衍射波声程间的关系以主要对平面型不连续进行探测和尺寸测量的技术。9.22 穿透技术transmission technique 超声波由一个探头发射，穿过受检件进入另一探头，根据透射波强度的变化来对材料质量进行评定的检测技术。注:可用连续波或脉冲波。15 GB/T 12604. 1-2005/ISO 5577 :2000 9. 23 尖端回波技术tip echo technique 尖端衍射技术tip diffraction technique 对于不平行于检测面的不连续，通过测量来自其尖端和底缘的两最大回波距离及斜射探头的入射角，对其视在尺寸

34、进行评估的一种检测技术。注:这是尺寸测量的技术之一。10 与受检件相关的术语10. 1 10.3 10.4 10.5 10 . 6 10.7 10.8 16 背面back wall back s urface bottom 见图12。回波接收点在检测面上探头取向p 扫查时在扫见图15。扫查方向在检测面上探头检测面扫查面受检件表面探头在其上移-受检件test object examination object 被检测的物件。见图6、图8、图9、图10、图11、图12、图16、图17a)、图17b)、图17c)、图18和图19。检测体积test volume examination volume

35、受检件内为检测所覆盖的体积。GB/ T 12604.1-2005/ ISO 5577 :2000 11 与藕合相关的术语1 . 1 1 藕合荆couplant 搞合介质coupling medium 娟合薄膜coupling film 施加于探头和检测面之间以改善超声能量传递的介质，如水，甘油等。见图12。11. 2 藕合损失coupling losses 穿过探头和受检件之间的11. 3 见图12。11. 4 转移修正补偿传输修正将探头从校12 与定位相见图10。12.2 投影声程长度声程长度在受检件表面上阳见图10。12.3 跨距skip distance 在检测面上斜射探头声束入射点与声

36、束在背面一次反射后声束轴回射至该检测面的一点之间的距离。见图11012. 4 声程长度sound path length 声波在受检件中的路径长度。见图10。17 G/T 12604. 1-2005/ISO 5577 :2000 13 与评价方法相关的术语13. 1 13.2 DAC法DACmethod 按与DAC曲线的关系表示反射体回波高度的方法。见图21。DGS圈DGSdiagram AVG图AVGdiagram 表示沿声束的距离和对一无限反射体和不同尺寸平底孔的反射波所需增益(以dB为单位)之间的关系的一系列曲线。13.3 DGS法DGSmethod AVG法AVGmethod 利用DG

37、S图，以平底孔表示来自一反射体的回披高度，按圆盘形反射体的当量回被高度给出当量回波的方法。13.4 13.5 13.6 距离幅度校正曲线distance-amplitude correction curve DAC 建立在离探头距离不等但尺寸相同的反射体回波峰值幅度响应的基础上的参考曲线。见图21。参考试块法reference block method 将来自不连续处的回波与来自参考试块中已知反射体的回波进行比较，对不连续作出评估的方法。-6 dB法-6 d drop method 半波高度法half-amplitude method 反射体尺寸长度，高度和(或)宽度评定方法，将探头从获得最大

38、回波幅度位置移动至回波幅度降低至其一半(下降6dm，以此移动范围评定反射体尺寸。13. 7 一20d法-20 d drop method 反射体尺寸长度，高度和(或)宽度评定方法，将探头从获得最大回旋幅度位置移动至回波幅度降低至其1/10(下降20dB)，以此移动范围评定反射体尺寸。14 与显示方法相关的术语14. 1 18 A扫描显示A-scan display A-scan presentation 用X轴代表时间，Y轴代表幅度的超声信号显示方式。见图17a)、图17b)和图17c)。GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 14.2 B扫描显示B-scan dis

39、play B-scan presentation 以幅度在预置范围内的回波信号的声程长度与探头仅沿一个方向扫查时声束轴线位置之间的关系而绘制的受检件的横截面图。见图18。注:该显示方式通常用于显示反射体的深度和长度。14.3 C扫描显示C-scan display C-scan presentation 受检件的二维平面显示，按探头扫描位置，绘制幅度或声程在预置范围内的回波信号的存在。见图19。19 GB/T 12604. 1-2005/ISO 5577 :2000 tl1lllIta- - - - - - ! - - - - -LlIlli- 三2 3 一1一一波长(3.1 2一一质，点运动

40、3一一传播方向1一一-直探头(6.17);2 声柬边缘(2.8) ; 3一一扩散角(4.5) ; 4一一声束轴线(2.7);5一-一远场(2.14); 6 近场(2.18)。与声束(2.28)相关的术语图220 1 入射角(2 反射角(4.3一一界面(2.16 4 折射角(4.3tfi 4民飞呈GB/T 12604.1-2005/ ISO 5577 :2000 距离4 注:本例中峰数(6.19)为10，周期数为5。图5时域晌应、峰数(6.19)和周期数21 G/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 2 3 1一受检件(10.7); 2一声柬(2.28);3-一声影区(2.

41、4); 4一一不连续(2.12)/缺陷(2.15); v 直探头(6.17)。圈6声影区(2.4)2 3 4 5 a) 3 4 6 2 ) 1D I接头;2一二外壳;3一换能器背衬(6.30); 4一换能器(6.29);5一一耐磨片(6.32);圄7探头的组成22 9 8 1 接头;2一一换能器(6.29);3一外壳;4一隔声层;5一一会聚距离(6.3); 6 会聚区(6.4); 7 受检件(10.7); 8一一检测面(10.6); 9-一一屋顶角(6.25);10 换能器背衬(6.30)。GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 10 3 2 4 6 7 圄8双换能器

42、探头(6.7)的组成和声束23 GB/T 12504.1-2005/ ISO 5577 :2000 2 3 1一一斜探头(6.1) 9一一入射角(4.1)。图9与斜探头(5.1)相关的术语24 l一一-跨距(12.3); 2一一-检测面(10.6); 3一一受检件(10.7); 4一一一不连续(2.12)/缺陷(2.15); 5一一声束轴线(2.7) ; 6一一斜探头(6.1)。GB/ T 12604. 1-2005/ISO 5577 : 2000 图11二次波技术(9.6)和多次波技术(9.12 ) 25 GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 2 6 5 l一斜探

43、头(6.1) ; 2一探头入射点(6.23); 3-藕合剂01.1);4一-受检件(10.7); 5 声束轴线(2.7); 6-一-声束入射点(10.2); 7一一-搞合剂声程01.3) ; 8一检测面00.的。圄12间隙检测技术(9.7) 1/爪|/ / 2 1一-一不连续(2.12)/缺陷(2.15); 2-一一斜探头(6.1)。围13环绕扫查(9.14) 26 GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 -I-/ |/ |/ 2 1 不连续(2，12)/缺陷(2，15); 2一斜探头(6.1)。圈14旋转扫查(9.19) ). 寸|十|-TTl|L4 1 焊缝;2

44、探头取向(10.4); 3 扫查方向00.5); 4 斜探头(6.1)。固15与探头方向(10.4、10.5)高关的术语27 GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 b 6一一受检件(28 4 5 检测面(1TC5. 13卜一发射脉冲W(5.10)一侧面回波;(5. 1)一背面回波。GB/T 12604.1-2005/ ISO 5577 :2000 3 2 29 GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 4 5 3 2 ) 句，I FD ( c3 i l ) qo 1 . Fh ( Tl i 问:B(5. 1) F (5. 4) 1 不连续(2

45、.12)/缺陷(2.15); 2一背面(10.1) ; 3一受检件(10.7) ; 4一一-直探头(6.17); 5 检测面(10.6);T 5.13) 发射脉冲指示;5(5.12)一界面波;F(5.的一-缺陷/不连续回波;B(5. 1) 背面回波。b) 液浸检测技术(9.8)固17(续)30 GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 2 3 T (5.13) 1斜探头(6.1);2 探头人射点(6.23);3 检测面00.6) ; 4一不连续(2.12)/缺陷(2.15); 5 受检件(10.7); T(5.13) 发射脉冲指示pF(5.4) 缺陷/不连续回波。c)

46、斜射技术(9.1)固17(续)31 GB/ T 12604.1-2005/ ISO 5577: 2000 2一一检测面00.3 受检件00.5一一背面(10.S (5. 12) 表面回F(5.4)一一缺陷回B(5.1)一一背面回32 1一一缺陷面积指示;2一一荧光屏图像代表顶视图;3一一探头沿平行线扫描;4-受检件(10.7);5一一不连续(2.12)/缺陷(2.15)区域。4 5 图19C扫描显示(14.3)国卡也2 。2 3 4 5 6 l一一斜探头(6.1);2 参考试块(8.3); 3一一参考反射体(8.的，SDH(8.5); 4一一距离幅度校正曲线CDAC)03.4) ; 5一一-50%DAC;(、Y、Z一一-探头位置。GB/T 12604.1-2005/ISO 5577 :2000 4 5: 1997 , EQV)的图10，2 8 9 10 图21DAC(13.4)法(13.1) 33 GB/T 12604