GB T 12190-2006 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法.pdf

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1、ICS 33. 100 L 06 毒国中华人民共和国国家标准G/T 12190-2006 代替GB/T12190-1990 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法2006-03-06发布Method for measuring the shielding effectiveness of electromagnetic shielding enclosures 2006-11-01实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T 12190-2006 目次前言.皿1 范围.，.2 规范性引用文件-3 术语和定义4 初测程序4. 1 准备.24.2 测试计划24.3 校准.2

2、4.4 参考电平和动态范围.2 4.5 屏蔽的预先检查程序.2 4. 6 警告25 详细的测量方法.，5.1 背景25.2 推荐的典型测量频率.2 5.3 判定准则.3 5.4 屏蔽效能的计算.3 5.5 准备过程.4 5.6 低频段测量kHz20MHz) 4 5. 7 谐振频段测量(20MHz300 MHz) 6 5.8 高频段测量(300MHz18 GHz) 6 测试报告.15 附录A(资料性附录)基本原理MA.1 基础MA.2 一些考虑MA.3 腔体谐振.16 A.4 测量位置. . . ., . . . . .,. . . .,. . . . . . . . 18 A.5 测量设备.四

3、附录肌资料性附录)数学公式.19 B.1 专门的数学公式. U B. 2 低频段(50Hz20 MHz)的屏蔽效能B.3 谐振频段(20MHz300 MHz)的屏蔽效能19B.4 高频段(300MHz 100 GHz)的屏蔽效能.19 B.5 用非线性单位(对数)计算. 20 B.6 动态范围的考虑. 20 附录以资料性附录)其他的有关信息.21 C.1 环天线共面和共轴的比较. . . . 21 C.2 高磁导率铁磁性屏蔽室的非线性. 21 C.3 测试频率的选择GB/T 12190-2006 附录。(资料性附录)测量技术选择指南nD.l 屏蔽室的分类D.2 性能要求.23 D.3 仪器设备

4、的要求. 23 附录巨资料性附录)初测和改进.24 E.l 准备. 24 E.2 初测的频率.24 E.3 初测方法 M H GB/T 12190-2006 前言本标准自实施之日起代替GB/T12190-1990(高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法。本标准与GB/T12190-1990相比，主要变化如下:一一标准的编号和名称由GB/T12190-1990 (高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法改为GB/T 12190-2006(电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法h一一适用的最小屏蔽室尺寸从l.5 m改为2.0m; 一一适用的频率范围从100Hz12. 4 GHz改为50Hz 100 GHz; 规范性引用文件中

5、的引用文件改为GB/T4365一2003电工术语电磁兼容;一一增加了动态范围等五个术语;一一低频段(9kHz20 MHz)、谐振频段(20MHz300 MHz)和高频段(300MHz18 GHz) 取代了频段1(100Hz20 MHz)、频段n(300 MHzl 000 MHz)和频段田(1.7 GHz 12.4 GHz); 一一取消了平均屏蔽效能的内容;一一+增加了测试频点;一一取消了优先大环测试和备用大环测试;二用小环法测试时，增加了在门的四个角的测试和双扇门的测试;增加了在谐振频段的测量方法;一一在高频段300MHz18 GHz，发射天线可以用偶极子天线、双锥天线、对数周期天线、喇叭天线

6、或其他线性天线，而1990版本只能用偶极子天线(300MHz 1 000 MHz)和波导天线(l. 7 GHz12. 4 GHz)。在高频段，增加了O.96 GHz l. 46 GHz、l.12 GHzl. 7 GHz频段喇叭天线的尺寸;一一1GHz以上接收天线的布置不同;一一取消了多层板结构屏蔽室需要检查与双层间距尺寸有关的谐振特性测试。本标准的附录A、附录B、附录C、附录D、附录E为资料性附录。本标准由全国无线电干扰标准化技术委员会归口。本标准由信息产业部电子工业标准化研究所、东南大学负责起草。本标准主要起草人:陈世钢、蒋全兴、张戈、赵磊、周忠元。本标准于1990年首次发布。mu 电磁屏蔽

7、室屏蔽效能的测量方法1 范围本标准规定了各边尺寸不小于2.。2 规范性引用文件下列文件中的条茧的修改单(不包括勘语的3 术语和定义GB/ T 4365 3.1 电平之差。应按建成，在金属板接缝和门3.3 屏蔽效能(SE)shielding effe GB/T 12190-2006 |用文件，其随后所有成协议的各方研究没有屏蔽体时接收到的信号值与潘帮倒韭蚓:的得的比值，即发射天线与接收天线之间存在屏蔽体以后所造成的插入损耗。3.4 本地源local source 距离屏蔽室非常近的、电磁能量只照射在屏蔽室表面局部区域的发射源。3.5 所有者owner 提出最终屏蔽要求并将使用屏蔽室的个人、公司或

8、组织。3.6 测试机构testing agency 完成测试并出具报告的机构。GB/T 12190-2006 4 初测程序4. 1 准备在正式测试开始之前，需要先测试参考电平和动态范围。4.2 测试计划测量前应制定测试计划并得到屏蔽室的所有者或所有者代表的同意。测试时，应依照计划进行。测试计划应包括实际测试频点、判定准则、测试部位和推荐使用的仪器清单。4.3 校准在测试开始前，任何能影响屏蔽效能测量结果的仪器都必须经过校准。应提供可溯源到国家标准的、并在设备校准周期内的最新校准日期。4.4 参考电平和动态范围参考电平应按低频(磁场)、谐振频率、高频(平面波)测试条款中的描述确定。测试布置改变时

9、应重新确定参考电平。在每个频率测试结束后应重新测量参考电平。如果该测量值与先前的参考电平值发生了土3dB以上的变化，则应重新测试。应保证每个测试配置都有合适的动态范围，这可用以下的方法确定:用相关发射设备激励接收设备，证明设备对测试时所有可能遇到的各种发射、接收电平都仍保持在线性校准状态。在接收系统中，用校准过的衰减器改变接收机的输入，如果两者变化的分贝数相同，则表示系统工作在校准(线性)状态。这种验证在每个测试频点至少都应进行一次。动态范围至少应比被测屏蔽室的屏蔽效能大6dB。最好在测量参考电平时确定动态范围。并尽量降低周围环境(如墙，建筑物)的影响。4.5 屏蔽的预先检查程序参见附录Eo4

10、.6 警告发射源应该由有经验的测试人员操作。在依照本标准进行测试的过程中，应保护有关人员不会受到射频辐射的伤害，并避免对测试现场附近其他电子设备造成干扰。5 详细的测量方法5. 1 背景本章详细规定了屏蔽效能的测量方法。本标准只规定测量方法，不规定具体的测试频点和屏蔽效能最小值的要求。测试频点和屏蔽效能最小值的要求由所有者决定。本标准只推荐典型的测量频率供所有者参考。在典型测量频点上的测试结果可以代表9kHz18 GHz的屏蔽效能。详细的测量方法将测试频段分为低频段、谐振频段和高频段。在不同的频段上需使用不同的设备和测试方法。5.2 推荐的典型测量频率推荐的典型测量频率见表1，测试频点应由所有

11、者来选择。表1推荐的典型测量频率典型频率天线类型章条号9 kHz16 kHz 小环天线5.6 低频段a140 kHz 160 kHz 小环天线5.6 14 MHz16 MHz 小环天线5.6 2 GB/T 12190一2006，表1(续)典型频率天线类型章条号20 MHz100 MHz 双锥天线5.7 谐振频段a100 MHz300 MHz 偶极子天线5.7 O. 3 GHzO. 6 GHz 偶极子天线5.8 O. 6 GHz1. 0 GHz 偶极子天线5.8 1. 0 GHz2. 0 GHz 喇叭天线5.8 高频段b2. 0 GHz4. 0 GHz 喇叭天线5.8 4. 0 GHz8. 0

12、GHz 喇叭天线5.8 8. 0 GHz18 GHz 喇叭天线5.8 a 实际测试频点以测试计划为准。b 推荐在每一频段选择一个频点，但实际测试频点以测试计划为准。测试频段可以向高端或低端扩展。表2为包含扩展范围的典型测量频率范围。表2扩展范围的典型测量频率范围频率范围天线类型章条号50 Hz110 Hz 小环天线5.6 O. 9 kHz 1. 1 kHz 小环天线5. 6 35 GHz45 GHz 喇叭天线5.8 90 GHz 100 GHz 喇叭天线5.8 5. 3 判定准则最低可接受的通过/不通过判定准则由所有者确定。5.4 屏蔽效能的计算屏蔽效能的计算公式见表3和附录B。表3屏蔽效能的

13、数学表达式频率范围测量值单位屏蔽效能，/dB 线性单位HH, A/m 9 kHz20 MHz T lll: SH =201g H, (可向下扩展到50Hz) VV, V SH=叫:;20 MHz300 MHz EE2 V/m E, SE=201g E2 1. 7 GHz18 GHz lll: P, ,P, w Sp = 101g一(可向上扩展到100GHz) p v.， P, 对数单位SE=巳-E，上栏内所有频段上栏中的各个测量值，SE=H,-H, dB 用dB表示SE=V,-V, SE=P, -P, a 参见附录B，3 GB/T 12190-2006 5.5 准备过程在正式测试开始前，应确认

14、测试仪器符合4.3的校准要求;参考电平和动态范围应按4.4确定。5.6 低频段测量。kHz-20MHz) 在低频段，使用具有静电屏蔽的小环来评价屏蔽室对附近磁场源的屏蔽效能。5.6.1 频率范围和频段推荐在以下三个频段内各选择一个频点进行测试:9 kHz 16 kHz、140kHz 160 kHz和14 MHz16 MHz。实际的测试频点应由所有者来决定。当频率向低端扩展到50Hz时，小环法同样适用。在较低频率，可能需要使用不同的设备以获得足够的动态范围。例如，可以增加接收环天线和/或发射环天线的臣数。5.6.2 测量设备和布置信号源、测量设备和布置应满足本5.6.2.1 磁场、磁场由直径加上

15、放大器就可5.6.2.2 接收天接收天线是连5.6. 3. 1 屏蔽缺陪屏蔽室外表面因为在14MHz16 M 测试，并确定有问题的区域。5.6.4 参考场强的测量场强测量设备屏蔽室内表面在没有屏蔽室时，将接收环天线与发射环天线相距:0.6m与屏蔽室壁厚度之和(这是实际测量时两个环天线间的真实距离);并且使两个环天线处于同一平面(共面法)。此时测得的场强即为参考场强。与此同时，按4.4和5.6.3确定动态范围是否合适。5. 6. 5 测量方法5.6.5.1 设备的布置和设置测试布置如图l和图2所示。发射环与接收环离屏蔽室壁的距离均为0.3m，两者应共面并垂直4 GB/T 12190-2006 于

16、屏蔽墙、天花板或其他待测平面。在每一个频点和测试位置，信号源的输出值为5.6.4中测量参考场强值时的输出值。在测试过程中，通常使发射环天线固定不动，而将接收环天线升高或降低(至少在共平面上移动接缝总长的1/的，以保证测得最坏的情况。应使用检测仪器的最大读数来确定屏蔽效能。在寻找最坏的情况时允许发射环和接收环近似共面，但最终测量时应保证两者共面。5. 6.5.2 测量位置对单扇门，应在图2a)和图2b)所示的14个位置上进行小环测试。环面应垂直于门缝。对于水平门缝，要求环位于拐角和门缝的中间;对垂直门缝，要求环分别位于拐角、距门顶部和门底部的1/3处。垂直接缝的上端和下端应按图2b)进行测试。对

17、多扇门，上述的测试位置分别应用于每扇门，见图2b)和图2c)。对尺寸超过1.5mX2.5m的.- 采用板材构件的屏蔽室，时不论水平还是垂直接缝，环c)双扇门的测量d)接缝的测量图2低频测试中环天线的标准位置5 GB/T 12190一2006e)拐角接缝局部可接近时的测量f)拐角接缝完全可接近时的测量注:D为环天线的直径。图2(续)如果从外观上看不到构件板缝的位置，应借助结构的设计图纸或其他文件来试着确定接缝的位置或板材的尺寸。如果插入的非屏蔽材料离屏蔽壁足够近，仍能满足环天线和屏蔽室之间规定的搞合距离，则图2所示的测试位置应尽量用于可接近的区域。可接近的拐角缝隙应按照图2f)进行测试，不能完全

18、接近的拐角测试布置见图2e)。每个可以接近的构件板都要进行测试。通风孔、接口板或连接器板的屏蔽性能测试与接缝的测试方法相似。以通风孔为例，环的平面应垂直于:装有通风孔的板以及该板和通风孔所形成的各接缝，延伸的环平面应通过或尽量通过缝的中心点。环的边缘应离开所测平板0.3m。测试时，屏蔽室正常使用时需要的辅助设备(例如风机或风扇等)应正常就位;不是屏蔽室正常工作所需的部分则应在测试前移出屏蔽室。对单个或少量的几个同轴穿墙式连接器，只需在一个位置上测试。在电源线、信号线和控制线滤波器处的屏蔽性能也要测试。对滤波器的外壳进行测试时，应在每个滤披器的穿入点处测试，以及在未经过轩焊或熔焊处理的缝隙(如果

19、适用)处测试。5.6.6 低频段屏蔽效能的计算如果测量值用线性单位表示，则屏蔽效能按照公式(B.1)和公式(B.2)计算;如果使用对数单位，则屏蔽效能按照公式(B.5 b)和公式也.5c)计算。5. 7 谐振频段测量(20MHz-300 MHz) 本方法直接测量电磁发射源在屏蔽室所有可以接近表面的影响。入射场可能不是平面波，尤其在该频率范围的低端。屏蔽室的几何形状和物理尺寸对测试结果可能有明显的影响。5.7.1 频率范围和频段本条规定了20MHz300 MHz频率范围内的标准测试程序。因为大多数屏蔽室的最低谐振频率都在该频段内，所以在测试时要尽量避开这些频率点。屏蔽室的所有者如果出于某种目的或

20、其他原因，要求获得屏蔽室在本频段的性能时，则不管潜在谐振是否有影响，测试都必须进行。测试应该在所有者规定的、并列入测试计划的频点上进行。应尽可能避免在5.7.5.3中确定的屏蔽室谐振频率上或接近谐振频率的频点上进行测试。5.7.2 测量设备和布置信号源、测量设备和布置见5.7.2.1-5.7.2.3及图3、图4。5.7.2.1 电磁场源在20MHz-100 MHz频率范围内，给双锥天线施加功率激励电磁场;在高于100MHz时，给半波偶极子天线施加功率激励电磁场。加给天线的功率应足够大以产生所需的测量动态范围。6 GB/T 12190-2006 场强检测仪衰减器信号源Cl二三0.3m，双锥接收夭

21、线接收天线与C2=2 m , 屏蔽壁的距离双锥发射天线接收天线与发射天线之间的距离a)谐振范围参考测量布置(水平极化)，20 MHz 100 MHz 场强检测仪衰减棒信号源平衡/不平衡变换器Cl0.3 m , 双锥接收天线/ 双锥发射天线接收天线与/ 屏蔽壁的距离C2=2 m , 接收天线与发射夭线之间的距离b)谐振范围参考测量布置(垂直极化), 20 MHz100 MHz 接收天线发射天线接收夭线发射天线llJMMvr民川rll-tet川Uw-nH-EEE，-7uu一/缸离m十置阳+与距3一布。与之一线的nh一重om线线离一天间二则2天天距-tI【=射收的-41:llil-lJ考ftG发接间

22、一翩一路阳F胁，但唱-F仨nuHM-范。Mv川川:m山与间振化川吨有门3线之-谐极lnh天壁离-d平-L收蔽距k飞G接屏的一艾C2 =2 m , 发射天线与接收天线之间的距离叶l f天线高度|天线与地C J 03 ;之间的距l;:V.Jm , .!离二O.3 m 接收天线与气屏蔽壁之间! 的距离 一_t一-一J一_-d)谐振范围参考测量布置垂直极化，20MHz 100 MHz 固3谐振范围参考电平测试配置示意固7 GB/T 12190-2006 5.7.2.2 接收天线接收天线与发射天线应为同类型天线。如果用偶极子天线，应选/2(是与测试频率对应的波长)偶极子天线。将天线的输出通过平衡/不平衡

23、变换器、同轴电缆连接到场强测量设备。上述电缆应与天线的轴向垂直并至少保持1m距离。应使用带连续铁氧体护套的电缆，或者使用在电缆两端和中间都套有磁环的电缆。由于互连电缆可能无意谐振(参见附录A.3. 3)，必要时可以更换电缆。测量结果中应记录电缆的长度和类型。5.7. 2.3 场强测量设备场强测量设备可以是接收机、频谱分5.7.4 参考电平的测量8 将发射天线和接收/JJJF /声d/、害了-于L-LEfJJJJ: | 双锥接收天线双锥发射天线C1 ;O . 3 m , 有的位置和极化方接收天线与屏蔽向上进行扫描C2=发射天线与测试壁之间的距离表面之间的距离见5.1.5.1b)谐振范围测量布置(

24、发射天线垂直极化),20 MHz100 MHz 图4谐振范围测试配置示意图GB/T 12190-2006 屏蔽窒垂直部分 BET-? ,414a-4A-1- ,fl- 一c线中垂直部分中线一-rC3 : 发射天线布置(垂直极化)，20、盐每天线之间的距离至少为2m。如果受到物理尺寸的限制而不能实现，则应使天线间距尽可能大(不能小于1m)，并在测试报告中注明。除非电缆紧邻屏蔽室，否则接收天线的连接电缆应与天线的轴向垂直井至少保持1m。该电缆最好通过屏蔽壁上的穿墙式同轴电缆连接器通过屏蔽室墙壁。如果没有这种连接器，也可以把门稍开一点，让电缆从门缝通过。此时要考虑直接搞合的影响:用一个模拟负载取代接

25、收天线，井检查接收到的任何信号比参考电平至少小10dB以上。当天线为水平极化时，接收天线在垂直方向上至少移动土0.5m;而当天线为垂直极化时，接收天线至少横向移动士0.5m。尽可能把周围人和物体的影响减到最小，记录下最大读数作为参考电平值。5.7.5 详细的测试方法确定屏蔽室外发射天线和屏蔽室内接收天线的位置;测量接收信号的最大幅值。9 GB/T 12190-2006 5.7.5.1 发射天线位置按图4的布置，以测试计划(见4.2)为依据选取一些不同的点作为发射天线的位置。应分别在水平极化和垂直极化方向上测试。测试点间的水平距离应不大于2.6m。如果测参考电平时两天线间的距离不足2m，则选择的

26、测试点间距应不大于1.3m。如果屏蔽墙壁的高度小于3m，则将天线的几何中心放在屏蔽墙壁高度的一半位置上。如果高度超过了3m，那么在垂直方向上要选取几个测试点，测试点间距离应不大于2.0m，且天线应定位于每个垂直分段的中心。如果测参考电平时两天线间距小于2m，则垂直方向上选取的测试点间距应不大于1m。发射天线距离屏蔽壁测试表面至少为1.7m(不包括屏蔽室壁厚度);并保证至少离地0.3m。如果因为物理尺寸的局限而使两天线的间距不足2 m，则发射天线距离屏蔽壁的距离为参考距离与0.3m的差值。测试时，馈给发射天线的功率应等于测量参考电平的发射功率。5.7.5.2 接收天线的位置和数据记录接收天线应在

27、屏蔽室内的所有位置和极化方向上寻找最大的响应。用记录下的最大值计算屏蔽室的最小屏蔽效能。接收天线离屏蔽壁距离至少O.3 m。5.7.5.3 屏蔽室最低谐振频率的确定用图5或公式(1)确定最低固有谐振频率元，记录该值。应在记录中说明规定测试频点和最低谐振频率之间的关系，并用J，(参见A.3.1)的小数倍数表示。7 4 a/m 、-。7 图5最低固有谐振频率图对于最大尺寸分别为a(单位:m)和b(单位:m)的屏蔽室，其最低谐振频率J，(单位:MHz)的计算公式如公式(1)所示:J, = 15。在丐( 1 ) 5.7.5.4 测试点用测试计划中规定的方法(参见A.的，在所有发射天线位置、测试频率、屏

28、蔽室的各表面重复5.7.5.2。建议测试人员按照测试参数(频率、天线位置)的顺序进行测试，以缩短测试时间。5.7.6 谐振频段屏蔽效能的计算测量值如果使用线性单位，则屏蔽效能按照公式(B.2)、公式(B.3)或公式(B.4)计算;如果使用对数单位，则按照公式也.5a)、公式CB.5c)或公式(B.5d)计算。GBjT 12190-2006 下面的注释应包含在测试报告中z该频段内单频点测试时得到的屏蔽效能测试结果并不能代表整个频段内其他频率点的屏蔽效能。由于谐振或反射的影响，测试结果可能有明显的差异。5.8 高频段测量(300MHz-18 GHz) 高频段的测试方法是在所有可接近的屏蔽壁上直接测

29、出高频源的影响。当相关的波长和周围的结构允许时，入射到屏蔽体的场应是平面波。5.8. 1 频率范围和频段本条规定300MHz 18 GHz频率范围内的标准测试方法。实际测试频点应该由所有者决定并写在测试计划中。在任何情况下，最低测试频率点应至少是屏蔽室最低固有谐振频率J，的3倍。用5.7.5.3图5或公式(1)确定最低固有谐振频率元。建议在下列频段内各只选一个频点进行测试:300 MHz 600 MHz、600MHz 1 GHz, 1 GHz 2 GHz、2GHz4 GHzA GHz8 GHz和8GHz18 GHz。如果有合适的测量设备，该方法的频率范围可以扩展到100GHz。5.8.2 测量

30、设备和布置信号源、测量设备与布置见以下条文和图6、图7、图80Cj=/2 a) 俯视图一叫dl注2m-id=O.3 m(至少移动士，V4)e=h/2(至少移动土/4)b) 侧视图场强检测仪通过屏蔽壁上的同轴连接器或者是通过徽开的门固6参考测量配置(频率低于1000 MHz) 11 GB/T 12190-2006 绝缘带12 1111Illi-ll -J -, -, -图7屏蔽效能测量配置(频率低于1000 MHz) 警告标注区域内的功率密度等级可能引a)大面积微波穿透图8参考和测量配置(频率高于1GHz ) 场强检测仪5.8.2. 1 模拟电用偶极子天线JIlXl生的危害。在任何情况下都在30

31、0MHz 1 GHz频率范过平衡/不平衡变换器连接至场强检测主以上。己校准/定向糯合器GB/T 12190-2006 的传输电缆部分至少子的长度应为./2。其输出应通频率高于1GHz以上时，应采用标准增益喇叭天线。本标准使用的是无脊矩形波导喇叭天线，其典型尺寸见表4。表4喇叭天线的尺寸和频率范围频率范围A(最小值)B(近似值)C(近似值GHz 1盯1盯1口1口1盯1O. 961. 46 1 033 632 475 1.121.7 883 534 402 1.72.6 416 340 260 13 GB/T 12190-2006 表4(续)频率范围A(最小值)B(近似值)C(近似值)GHz 口1

32、口1口1口1口1m2. 63. 95 400 235 175 3. 955. 85 264 157 116 5. 858. 2 200 116 86 8. 212. 4 126 76 58 5.8.3 初测正式测试前，为探测屏蔽室的缺陷(目的是进行修复)，可以参照附录E对屏蔽室进行初测。在本标准中，初测不是必须的。5.8.4 参考电平的测量参考电平的测量应按5.8.4.1、5.8.4.2、图6和图8进行。5.8.4.1 偶极子天线的参考电平测量(300MHz-1 GHz) 天线之间的距离至少为2m。如果因物理尺寸的限制而达不到，则应保证天线间距尽可能大(不能小于1m)，同时在测试报告中加以注明

33、。除非电缆紧邻屏蔽室，否则接收天线的连接电缆应与天线的轴向垂直并至少保持1m。该电缆最好通过屏蔽壁上的穿墙式同轴电缆连接器通过屏蔽室墙壁。如果没有这种连接器，也可以把门稍开一点，让电缆从门缝通过;此时要考虑直接捐合的影响:用一个模拟负载取代接收天线，并检查接收到的任何信号比参考电平应至少小10dB以上。当两个天线为水平极化时，接收天线在垂直方向上至少上下各移动屏蔽室高度h的1/4，并且应该再朝向或离开发射源的方向移动。/4);当天线为垂直极化时，接收天线至少左右各横向移动屏蔽室被测屏蔽壁宽度的1/4;并且应该再朝向或离开发射源移动0/4)。将记录下的最大读数作为参考电平值。5.8.4.2 喇叭

34、天钱的参考电平测量(1GHz以上)参考电平的测量见图8b)。如果测量时使用到与场强仪相连的衰减器和N型适配器，则应将其放置在屏蔽室内。接收天线放置的位置应离屏蔽壁有一定的距离。发射天线与接收天线应该共轴，口径面相距2m;当两天线之间的间距限制了动态范围，可以适当减小两个天线的间距，但不能小于1m，并在报告中注明此时的间距。在屏蔽室壁上安装穿墙式插座，使定向藕合器的输出通过传输线连到场强仪。两天线的高度应和测量过程中的两天线高度近似相同。应选择合适的电缆与接收天线的输出端连接。测量时，接收天线应在各个方向上移动大致0/4川的距离;记录最大的读数。5.8.5 详细的测试方法确定发射天线和接收天线距

35、离屏蔽壁的相对位置后，测量最大信号的幅值。无论用偶极子天线测量还是用喇叭天线测量，方法均相同。5.8.5.1 发射天线位置按照图7和图8，根据测试计划选取一些测试点，选取的发射天线位置和极化应能分别覆盖屏蔽室的各表面。测量分别在水平极化和垂直极化方向上进行。相邻测试点间的水平间距应不大于2.6m。但如果测量参考电平时发射天线和接收天线间的距离不足2m，则相邻测试点间水平间距应不大于1.3m。如果屏蔽墙体高度不大于3m，则将天线中心放在屏蔽墙体高度的一半位置上。如果屏蔽墙体高度超过3m，则在垂直方向上要增加测试点。垂直方向测试点间距不应大于2m，天线应位于每个垂直分段的中心。但如果测量参考电平时

36、发射天线和接收天线间的距离不足2m，则相邻测试点间垂直间距应14 GB/T 12190一2006不大于1m。发射天线距离屏蔽壁测试表面至少为1.7 m(不包括屏蔽室壁厚度)，并保证至少离地0.3 m。如果因为物理尺寸的限制而使两天线的间距不足2m，则发射天线到屏蔽壁的距离为参考距离与0.3m的差值。测试时，馈给发射天线的功率应等于5.8.4中测量参考电平时使用的功率。5.8.5.2 接收天线的位置和数据记录接收天线应在屏蔽室内的各个位置、各个极化方向上来寻找最大的响应。用记录下的最大值来计算屏蔽室的最小屏蔽效能。接收天线到屏蔽壁的最近距离应不小于0.3m。5.8.5.3 测试点用测试计划中规定

37、的方法(参见A.4)，在所有发射天线位置、测试频率，对屏蔽室的各表面重复5.8.5.2。建议测试人员按照测试参数(频率、天线位置)的顺序进行测试，以便缩短测试时间。5.8.6 屏蔽效能的计算如果测量值用线性单位表示，则屏蔽效能按照公式(B.2)、公式(B.3)或公式(B.的计算;如果用对数单位表示，则屏蔽效能按公式(B.5a)、公式(B.5c)或公式(B.5d)计算。6 测试报告测试报告中至少应包含以下内容za) 客户名称;b) 测试机构名称;c) 屏蔽室名称及简单描述;d) 测试地点;e) 测试人员;f) 测试日期;g) 测试频率点;h) 具体的测试位置;i) 使用的测量仪器:包括制造商、型

38、号、序号、校准有效日期;j) 测试方法和试验配置;k) 屏蔽效能的计算方法，以及与标准测试方法的差异;1) 屏蔽效能结果。15 GB/T 12190一2006附录A(资料性附录)基本原理A.1 基础本标准规定的测试方法保证了技术的可靠性，简化了测试过程，可以避免财力和物力的浪费。这些明确规定的测试方法构成了本标准的基础。A.2 一些考虑、，1D C提供了在规定A. 2.1 标准测量a) 在标准频率范围内b) A.2.2 A.2.3 非线性在强发射情照射范围内界定A.2.4 扩展的按照下面推辈的低频段:谐振频A.3 腔体谐振、在屏蔽室谐振频率是指屏蔽室的最低谐振频孟其最低固有谐振频率可能在ZA.

39、 3.1 腔体谐振的考虑由于屏蔽室壁面呈电连续性，因高唱吨蝉斟定条件下，当电磁波注入到屏蔽室内时，在高于其最低固有谐振频率J，的频段内将产生驻波。由于驻波的影响，屏蔽室内部的电磁场不再均匀，出现了与该激励频率相关的极大值和极小值。谐振频率和模式取决于屏蔽室的几何尺寸和形状。几乎任何形状的屏蔽室都可以产生谐振，但通常只对相对简单的长方体、圆柱体和球体屏蔽室的谐振频率进行数学分析。大部分屏蔽室是六面长方体结构6这种形状的屏蔽室的谐振频率用公式(A.l)计算:J ;jk =一1Jc土)2+ C手)2+ C主)2(MHz) . . . . ( A.l ) 2飞/Va 0 16 式中:一一屏蔽室内部的磁

40、导率;E一一屏蔽室内部的介电常数;G一一屏蔽室的长度，单位为米(m); b一一屏蔽室的宽度，单位为米(m); C一一屏蔽室的高度，单位为米(m)。G/T 12190-2006 z、j、k-O、1、2.等整数，但i、j，k三者中每次最多只能有一个数取0值。上式中ahc。在理想条件下，谐振频率为:当频率高于J，时兔对长、宽、高都为J, = J110 = 106 MH 腔体内能量蔽室内，能量损同的测量值，影日I如果怀疑谐振该相关频点左右选可参考图A.l。(主)2(MHz) ( A.2 ) . ( A. 3 ) EJOJ)有同样的谐振频率算出的固有谐振频率J，的在复杂的腔体内，例如高频激励的屏古需引方

41、向性不明;再加上因腔体品质因数Q而使场强增加的影响，这些将导致错误的测试结果。本标准对屏蔽效能的定义不包括复杂场强的情况。作为一种替代措施，本标准推荐使用标准增益天线以得到一致的测量方法，进而得出可比较的屏蔽室屏蔽效能。如果想对这方面的影响进行修正，就用公式(A.4)和公式(A.5)计算参考场强EJ和屏蔽室内测量场强E2并代入表3中的公式中。E1 = j377X4P，I).2G (V 1m) . . . .( A. 4 ) 17 GB/T 12190-2006 E2 = /豆77X豆云JX2(V/m) . ( A.5 ) 式中:Pr一一接收的功率，单位为瓦(W);A一一波长，单位为米(m);

42、G一一接收天线增益。C C C C=O.3 m 固A.1天线到屏蔽墙体的最小距离A.4 测量位置通常，建筑物内的屏蔽室除了地板和顶棚外还有一到两个面是测试过程中不易接近的，因此对所有的面都进行测试是不切实际的，只能对那些可以接近的表面进行测试。但在较高频段的现场测试表明，外部反射的射频能量可以通过不易接近的屏蔽面的缝隙或接缝，造成屏蔽效能的下降。因此对这一部分也必须要用不直接照射的方式来验证有无明显的泄漏。对大部分屏蔽室，所有人口所在的墙面都是可接近的，应在本标准规定的部位测试。对人口所在屏蔽室墙面有部分或全部装饰处理(包括但不限于:元浆砌墙和/或无金属衬底的绝缘、声音吸被材料、木制或金属龙骨

43、材料)的屏蔽室，设置发射天线与接收天线之间的间距时应将装饰结构作为屏蔽室的-部分，同时应根据频率范围选用合适的测量方法。由于入口所在墙体不会包含所有的穿墙口，因此在该墙体进行的测量不能用于推测出屏蔽室所有的屏蔽效能。因此在所有紧邻可接近穿墙口的墙面上都应进行测量。对不能接近的穿墙口，应用间接、反射检查的概念来检查从外部不能接近的穿墙口处有无泄漏。A.2. 1. b)汇总了标准的测量位置。A.5 测量设备测试过程已经阐明:a) 在非理想情况下(例如在容纳屏蔽室的典型环境里)使用现有商品化设备进行测试;b) 尽量减小天线固有阻抗的变化(由于临近屏蔽体造成)对测量数据的影响。18 GB/T 12190-2006 附录B(资料性附录)数学公式B. 1 专门的鼓学公式通常，穿透屏蔽室的场强来自入射在屏蔽壁上电磁波的电场分量和磁场分量。如果分别对磁场