GB T 12162.2-2004 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的 X和γ参考辐射 第2部分;辐射防护用的能量范围为 8keV～1.3MeV 和 4MeV～9MeV 的参考辐射的剂量测定.pdf

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1、f ICS 17.240 F 85 - 一骨A定其能2 =lI工-、8 keV .1. 3 MeV GB/T 王12162.2 2004/ISO 4037-2: 1997 代替GB/T14053-1993 X A 目已4 MeV. .9 MeV X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and for determining their response as a function of photon energy-Part 2: Dosimetry for radiation

2、protection over the energy ranges 8 keVto 1. 3 MeV and 4 MeV to 9 MeV CISO 4037-2:1997 ,IDT) 2004-02-04发布中华人民共和国国中国国家标日中检验检痊总局化管理委员会2004-06-01实发布7 吉目士目前引1 2 3 4 4. 1 4.2 4.3 4.4 5 5. 1 5. 2 5.3 5. 4 5. 5 5. 6 5.7 5. 8 5. 9 6 6. 1 6. 2 6.3 6.4 6.5 6. 6 6. 7 7 7. 1 7.2 7.3 7.4 7.5 8 8. 1 8.2 8.3 GB/T

3、12162.2-2004/1S0 4037-2: 1997 目次. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . E . . . . . . . . . . . . . . . . .,. . . . . . . ., . . H 范围规范性引用文件. . 术语和定义. 设备.概述.， . . . . .,. . . . 3 校准. . . . . . . . . . . . . 3 仪器的能量响应. . . . . . . . . . . ., . . . . . . . . ., . . . 3 稳定性检验装置. . . . . .电电.

4、. . . . . . 3 一般程序. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . ., . 4 标准仪器的使用. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4 稳定性检验. . . . . . . . . . . . ., . . . . . . . 4 预热时间和响应时间. . ., . ., . . 4 调零. . . . . . . . . . . . . . . .

5、 . . . . . . . . . ., . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4 读数次数. . . . . .,. . . . . . . . . .,. . . . . ., . 4 标准仪器的能量响应. . . . . ., . . . . ., . 4 仪器标度和量程的非线性. . . . . 4 快门过渡时间. . . . . . . ., . . . . . . . . 4 从被测量的量到所需的量的转换. . . . . . . . 4 适用于电离室的程序. . ., . . . 4 电离室与测量装置分离校准. .

6、. . . 4 辐射的入射角度对电离室响应的影响. . . 4 漏电效应的测量. 标准电离室的定位和取向. 5 几何条件. . . . . . . . . . . . . . . 5 电离窒支撑物和杆的散射. . . . . 5 测量修正使用放射性核素源进行7辐射剂量测定特有的附加程序和注意事项. . . 6 有证源的使用平衡帽的使用. . . . . 6 放射源衰变修正放射性核素杂质. . . . . . . . . . . . 6 校准位置间的内插. . . . . . . . . . . . . . . . 6 X辐射剂量测定的附加程序和注意事项.X辐射输出量的变化. . . . . .

7、 ., . . . ., . 7 监测仪. . . . . 7 限束光阑. . ., . 8 I G/T 12162.2-2004/ISO 4037-2: 1997 8.4 8.5 快门., . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8 比释动能率的调整. . . . . 8 9 荧光X辐射特有的程序和注意事项一一射束中外部辐射的限制. . . . . . . . . 8 光子能量为4MeV9 MeV的参考辐射剂量测定810 10.1 剂量学量. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . .

8、 . . . . . . . . 8 10.2 剂量学量的测量. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8 10.3 测量的几何条件. . . . . . . . 9 10.4 监测仪. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 10. 5 无受体条件下空气比释动能(率)的确定. . . . . . . . . . . . . . . 9 10.6 有受体条件下组织吸收剂量(率)的确定. 14 11 测量不确定度. . . . . . . . . . . . . . . . 15 11. 1 概述. . . . . . . .

9、 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15 11. 2 不确定度的成分. . . . . . . . . . . . . . 16 11. 3 不确定度的报告. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16 附录A(资料性附录)用电离室测量方法确定无受体条件下空气比释动能和有受体条件下组织(水)吸收剂量. . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 17

10、 A.1 A.2 A.3 A.4 A.5 概述公式无受体条件下用电离室测量空气比释动能有受体条件下用电离室测量水吸收剂量17 17 17 18 关于计算(K.)，和(英文版)。本部分与1504037-2的一致性程度为等问采用.本部分代替GB/T14053一1993(辐射防护用的能量为8keV-1. 3 MeV X和参考辐射的剂量测量儿本部分与GB/T14053-1993(辐射防护用的能量为8keV-1. 3 MeV X和参考辐射的剂量测量在技术内容上主要差异是增加了4MeV-9 MeV光子参考辐射剂量测定。本部分的附录A为资料性附录.本部分由中国核工业集团公司提出并归口。本部分起草单位s中国原

11、子能科学研究院。本部分主要起草人g郭文、魏可新、李景云。本部分所代替标准的历次版本为:GB/T14053-1993. 皿、GB/T 12162.2-2004/ISO 4037-2 ,1997 召|-= F司为了使辐射防护剂量仪和剂量率仪的校准有章可循和实现可比性，国际标准化组织(lSO)于1988年颁布了国际标准ISO8963Dosimetry of X and reference radiation for radiation protection QV盯theen盯gyfrom 8 keV to 1. 3 MeV.我国采用该国际标准编制了GB14053-1993(辐射防护用的能量为8 ke

12、V1. 3 MeV X和参考辐射的剂量测量。由于ISO已将ISO4037修订成为一系列标准，其中ISO 4037-1是参考辐射.ISO4037-2和ISO40373分别为参考辐射剂量测定和场所及个人剂量仪表校准.也就是用ISO40372取代了ISO8963.而且在技术内容上也有较大修改。据此，我国以ISO 4037-1为基础已对国标GB12162-1990进行相应修订。本标准是以ISO40372为基础对GB 14053-1993进行的修订。本标准是基于ICRUI.2)定义的实用量(周围剂量当量、定向剂量当量、个人剂量当量)对仪表进行校准的。本部分中的剂量测定(Dosimetry)是指使用经校准

13、过的仪器对X和Y参考辐射中一点的自由空气比挥动能(airkerma free-in-air)或组织(水)吸收剂量进行测量的方法，这是对辐射防护仪表进行校准的基础。/ lV GB/T12162.2-2004/IS040377221997 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量晌应的X和参考辐射第2部分:辐射防护用的能量范围为8 keV 1. 3 MeV和4MeV9 MeV的参考辐射的剂量测定1 范围GB/T 12162的本部分规定了用于校准辐射防护仪器的能量范围为8keVl. 3 MeV和4MeV 9 MeV的X和参考辐射的剂量测定程序，给出了不确定度分析的指导。这些参考辐射的产生方法和由这些参考

14、辐射得到的标称比释动能率在GB/T12162.1中给出。本部分适用于辐射防护用的参考辐射的剂量测定。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T12162的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本.凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。，GB/T 4960(所有部分)核科学技术术语GB/T 12162. 1 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和参考辐射第1部分g辐射特性和产生方法(GB/T12162. 1-2000, idt IS

15、O 4037-1.1996) GB/T 12162.3 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的X和参考辐射第3部分s场所剂量仪和个人剂量计的校准及其能量响应和角响应的确定(GB/T12162. 3-2004 , ISO 4037-3. 1999 , IDT) 3 术语和定义3. 1 3.2 下列术语和定义适用于GB/T12162的本部分。参考条件reference conditions 规定用于测量仪器性能试验的条件，亦即保证测量结果比对有效性的条件。注z参考条件通常规定测量仪器影响量的参考值或参考值的范围.本部分中，规定环境温度、大气压强和相对湿度的参考值如下s-一环境温度，293.15

16、K, 一-大气压强，JOI.3凹的相对湿度:65%0 标准试验条件slandard !esl conditions 规定用于辐射场剂量测定或进行校准和确定仪表响应时的一组影响量或仪器参量的值或取值范围。注E环境温度、大气压强和相对湿度的值的范围如下:环挠温度，291.15K-295.15 K, 一-大气压强，86kPa-I06 kPa , -一相对湿度，30%-75%.在此范围外二E作时可能导致准确度降低。1 GB/T 12162.2-2004/ISO 4037-2: 1997 3.3 量的约定真值conventional true value of a quantity 由初级或次级标准确定

17、，或者由用初级或次级标准校准过的参考仪器确定的被测量量的最佳估计值。注z对于给定目的约定真值与真值的差别认为不重要，通常认为约定真值足够接近真值.3. 4 电商室ionization chamber 由充满某种适当气体的空腔组成的电离探测器，在空腔内施以不足以引起气体放大町的适当电场，以便在其收集电极上收集电离辐射在探测器灵敏体积中产生的离子和电子。3.5 3.6 3.7 3.8 3.9 注，电离室包括灵敏体积、收集电极和极化电极、保护电极(需要时、电离室壁、紧接灵敏体积的绝缘体部分以及为保证电于平衡所必需的平衡帽。电离室组件ionization chamber assembly 除测量装置外

18、，电离室以及与电离室永久连接的所有其他部分。注z对于连有电缆的电离室，电离室纽件包括仔，电接插件和可能永久连接的电缆或前置放大器.对于薄窗电离室，还包括电离室嵌入其中的永久性底衬。测量装置measuring assembly 用于测量来自电离室的电流或电荷并将其转换为适于显示、控制或存储形式的装置。电离室的参考点reference point of the ionization chamber 电离室上的一点，用于确定从辐射源到指定取向电离室的距离。注:参考点应由仪器的制造商标记在电离室组件上。如果不能够这样做，参考点应在随仪器提供的相关文件中说明，检验点point of test 校准时电离

19、室的参考点放置在参考辐射场中的位置，该点的比释动能率约定真值已知。电离室取向效应chamber orientation effect 参考辐射入射方向的改变对电离室电离电流的影响。3. 10 校准因子calibration factor 配有测量装置的电离室组件校准因子是仪器测量的量的约定真值与仪器的指示值的比值，仪器的指示值应修正到规定的参考条件。3. 11 校准因子calibration factor 无确定测量装置的电离室自身的校准因子是将已修正到参考条件的电离电流或电荷转换为电离室参考点处的剂量学量的约定真值的转换因子.3. 12 2 晌应response 测量装置的指示值与检验点被测

20、量量的约定真值的比。注2响应通常随入射辐射的i昔分布和方向分布变化.GBjT 12162.2-2004jISO 4037-2: 1997 3. 13 3. 14 晌应时间response time 引起规定突然变化的激励时刻到响应达到并保持在最终稳定值的规定限值内时的时间间隔。线性偏差deviation of Iinearity s 线性偏差由下式给出:式中gB=100%X(-1) M和Q一一一分别表示在选定检验点的指示值和输入值，m一一其他输入信号为q时所观察的指示值。注g对于多量程仪器，上述定义适用于每个量程.3. 15 漏电流leakage current 在没有辐射场的情况下，加有工作

21、偏压的探测器的总电流。3. 16 零点漂移zero drift 输入短路时测量装置指示值随时间的慢变化.3. 17 零点移动zero shift 将电离室接到测量装置的输入端，在没有电离辐射而只有环境辐射的条件下，当设备的控制开关由调零状态转变到测量状态时，测量装置表盘读数在任一极性上的突然改变。3. 1$ 初级标准primastandard 在指定领域，具有最高计量特性的某个量的标准。3.19 次级标准secondary standard 其值通过与初级标准直接或间接比对确定的标准。4 设备4. 1 概述用于参考辐射测量的仪器应是次级标准仪器或其他适当的仪器。次级标准仪器通常由电离室组件和测

22、量装置组成。在某些场合可使用其他仪器，如测定低空气比释动能率时使用闪烁剂量仪。对于4 MeV-g MeV的高能情况(见10.2和10.6.3)，也使用热释光(TLD)剂量计和硫酸亚铁(Fricke)剂量计等其他类型的剂量计。4.2 校准标准仪器应在所使用的能量和量值范围内进行校准。4.3 仪器的能量响应对于平均能量在30keV以上(见GB/T12162.1)标准仪器所使用的能量范围内，标准仪器的最大与最小响应之比应不超过1.1，在8keV-30 keV之间其比值应不超过1.2, 应尽可能使用与校准次级标准仪器的参考辐射相同的参考辐射校准辐射防护仪器。4.4 稳定性检验装置只要可能，仪器使用之前

23、宜用放射性检验源检验仪器符合要求的工作。3 GB/T 12162.2-2004/ISO 4037-2: 1997 5 一般程序本章所描述的程序适用于X和参考辐射的测定。5. 1 标准仪器的使用标准仪器的使用应与其检定/校准证书和使用说明书一致;检定/校准周期和稳定性检验的时间间隔，应遵守国家有关规程的规定。5.2 稳定性检验仪器的稳定性检验应使用适当的放射性检验源或经校准的辐射场进行测量，仪器的复现性应好于士2%。检验时应对放射性衰变以及大气压强和温度与参考条件的偏离进行修正。注:对于多量程仪器，检验源可以只检验仪器的一个特定量程如果检验源可用于检验一个以上量程，应选用能给出指示值最大读数精度

24、的量程.5.3 预热时间和晌应时间在进行任何测景之前，应有足够的预热时间使仪器稳定。为使测量结果不依赖于仪器的响应时间，各次测量之间应有足够的时间间隔。测量比释动能率时，相邻两次读数间的时间间隔应不小于所使用仪器量程的响应时间值的五倍。制造商应说明仪器的预热时间和呐应时间。5.4 调零如果有调零控制，应在连有探测器的情况下，在仪器的使用量程上进行调节。5.5 读数次数使用标准仪器应至少连续读取四个读数。但是为保证读数的平均值具有足够的精度，应根据情况确定读数次数.5.6、标准仪器的能量晌应标准仪器的校准因子对应于特定的谱分布.如果标准电离室的响应与能量有关，当辐射的谱统布与用于校准标准仪器的谱

25、分布有显著差别时，要进行适当修正。5.7 仪器标度和量程的非线性应对标准仪器的指示值标度和量程非线性进行修正。5.8 快门过渡时间如果标准仪器是通过快门操作来确定照射时间的积分型仪器，可能需要对照射时间进行修正(见GB/T12162. 1)。快门过渡时间f!，t可用多次照射技术来确定.这时需要确定一个标称照射时间z和两个表观比释功能K和凡，这里K是指具有标称时间t(单位为s)的单次照射得到的比释动能.Ko是指n次照射的比释动能总和，每次照射的标称时间为t/n(单位为s)。快门过渡时间f!，t.由下式给出:t(Ko - K) t=一一一一一. . . .,. . . .( 1 ) (nK- Ko

26、) 对于稳定输出源，这种方法给出的结果很好，否则通过重复测量来得到平均值。5.9 从被测量的置到所需的量的转换当校准标准仪器的量与所需要的量不同时，应使用适当的转换系数对测得的值进行转换。6 适用于电离室的程序6. 1 电离窒与测量装置分离校准当电离窒组件从整个测量系统中分离出来单独进行校准时，相关的电荷或电流测量装置的校准应追溯到电学标准。6.2辐射的入射角度对电离室晌应的影响平通常，电离室相对于人射辐射的取向将对测量结果产生影响。取向不准确引人的误差应不超过4 CB;T 12162.2-2004月SO4037-2: 1997 士2%(2的，电离室的参考取向应在检定证书中说明。参考取向应尽可

27、能与制造商的说明一致.6.3 漏电效应的测量对于测量比释动能率的仪器，在仅有环境辐射情况下仪器的漏电流应小于最灵敏量程的最大示值的2%.对于测量比释动能的仪器，在测量时间间隔内累计漏电指示值应小于在相同测量时间间隔内由参考辐射产生的相应读数的2%。如果漏电流显著，应对其进行修正.注1，漏电流来源的几个例于自a) 照射后漏电g这种效应由电离室中绝缘于及一部分杆或者电缆在射束中受照射引起.在照射停止后，这种效应继续存在并且一般随时间指数衰减.不存在辐射时绝缘子的漏电s构成电离室、电缆、接头以及静电计和/或前置放大器的高阻抗输入元件的绝缘材料的表面或内部产生的漏电.数字显示仪器g电离室信号由数字化仪

28、器显示时，通常不能指示与电离室中电离产生的电流极性相反的漏电流.在这种情况下，漏电流的大小不能确定，除非使用己知比释动能率或已知比释动能率的比率的适当辐射于以确定.注2，与漏电流效应相似的误差源项的几个例子:的电缆微颤噪声z同轴电缆当被弯曲或者变形时会产生电于噪声.宜使用低噪声、无微颤噪声电缆，并且为了使机械诱发的电流消失，应经过足够的时间再测量。前置放大器感应信号前置放大器宜尽可能放在辐射束区域之外，以消除诱发的漏电流，如果不可能这样做，那么前置放大器应进行足够的屏蔽固6.4 标准电离室的定位和取向标准电离室应按照校准实验室的规定固定在参考辐射束的轴线上，并按需要选取电离室参考点与源的距离.

29、电离室相对于射束的取向应为参考取向，并与制造商说明的一致。6.5 几何条件参考辐射束的截面宜足以照射被校准的标准电离室或装置.整个有用射束截面上比释动能率的变化应小于5%.并且散射辐射对总比释动能率的贡献应小于5%(见GB;T12162.1)。必要时应进行修正.由于电离室有一定尺寸，当源至电离室的距离较小时电离室的大小会影响辐射的测量山。6.6 电商室支撑物和杆的散射在射束中支撑电离室的结构的设计应使其对散射辐射的贡献尽可能小。由于标准仪器的校准因子中包括校准条件下杆散射以及杆中辐射诱发电流的效应，所以当射束面积与用于校准标准仪器的射束面积没有显著不同时，不宜对这些效应进行修正.可以在适当几何

30、条件下通过使用和不使用复制轩进行测量来得到杆散射效应。注z忏散射是参考辐射质和射束面积的函数.散射辐射对随后使用射束校准仪器的影响将依赖于仪器类型及它的支撑方法，除非标准仪器与被校准仪器相同.6. 7 测量修正标准仪器的读数在必要时需对在5.6和5.7条中所述效应进行修正以确定测量的结果.6.7. 1 零点移动这种效应在较灵敏的测量量程中会非常显著，如不能消除，在必要时应通过适当的测量技术进行修正.6.7.2 电气漏电及辐射(包括环境辐射诱发漏电的修正适当时，应对6.3条所述漏电效应进行修正。6.7.3 空气温度、应强和湿度偏离参考条件的修正对非密封标准电离室，应对测量期间的条件与参考校准条件

31、之间的任何差别进行下述的理想气体修正。) b c) ) 1 5 G/T 12162.2-2004/ISO 4037-2 ,1997 M=M，XC￥.P X Ch ( 2 ) 式中=M-修正到下面参考条件的值一一参考空气压强，Po=101.3凹的一一参考空气温度，T，=293.15 K, 参考空气相对湿度，ho=65%。M，一-一在下述测量条件P、Lh下得到的值P一一测量时的空气压强;T 测量时的空气温度，h一一测量时的相对湿度。CT，P一一空气温度和气压修正因子，由式(3)给出-CTP = (P, X T)/(P X T,) . .( 3 ) Ch一一参考条件与测量条件之间相对湿度差别的修正因

32、子。Ch的值由电离室的响应作为相对湿度函数的一个经验公式确定日。这个修正通常是很小的，因此对于一般所能达到的相对湿度范围，假定Ch=l. 一些类型仪器具有自动温度和/或气压补偿。如果是补偿到参考条件，则不需要进行修正。注z把温度和湿度调整到标准试验条件给定的范围值之内是可能的，气压情况则不同。在本部分给出的范围值以外工作会导致不确定度增加，此时可能需要对修正因子进行特殊处理g6.7.4 离子的不完全收集当标准仪器在高量程使用时，可能需要对电离室组件的离子收集不完全进行修正.注1，如果可能，最好避免使用电信号来进行仪器较高量程的修正.如果使用电信号，那么就可能必须对电离室的不完全离于收集进行修j

33、L注2，建议照射整个探测器组件，因为这种方法可以检验完整的测量系统。6.7.5 射束的不均匀性应使用小面积的探测器扫描射束截面或用照相乳胶来确定整个射束截面的比释动能率变化。7 使用放射性核素源进行辐射剂量测定特有的附加程序和注意事项7. 1 有证源的使用有证源的输出不应用来提供辐射场的校准。所有参考辐射的剂量测定应使用经校准的标准仪器来进行，以避免由于有证源输出的初始测量和随后使用时几何条件的差别而引人的误差。但是对于小于10Gy/h的环境比释动能率的测量，使用适当的经校准的放射源和l技术是可接受的。用测量环境比释动能或比释动能率的仪器进行准确的剂量测定及这类仪器的校准存在很多问题。解决这些

34、问题的详细考虑和推荐的校准技术可参阅参考文献6J。7.2 平衡帽的使用为保证标准仪器的校准因子有效，用标准仪器进行测量时所使用的平衡帽应与其校准过程中各能量点使用的一致。7.3 放射源衰变修正需要时，应对放射源的衰变进行修正，放射性核素的半衰期见GB/T12162.1. 7.4 放射性核素杂质由于新制作的川Cs源可能会含相当数量的山Cs，基于纯137Cs同位素进行衰变修正会产生错误。放射源制造商应给出放射源杂质的详细说明(见GB/T12162.1)。7.5 校准位置间的内插在偏离距离反平方率不大于土5%的距离范围内，可以使用距离内插法来确定未进行测量的距离上6 GB/T 12162.2-200

35、4/IS0 4037-2: 1997 的比释动能率(见GB/T12162.口。8 X辐射剂量测定的附加程序和注意事项8.1 X辐射输出量的变化X射线发生器辐射输出量有可能随时间变化，应使用监视tl电离室对发生器的输出量进行监测。 注，由于GB/T12162. 1规定的参考辐射应用了大量的附加过滤，所以球小的管电压变化也会引起输出量大的变化，如对于低比释动能系列，X射线管电压1%的变化引起的过滤束输出量的变化会达到15%.除此以外，即使平均电压是常数，整个电压周期内的任何纹波也会产生X辐射的瞬时比释动能率的实质性变化(见GB/T12162.1给出的电压纹波的限值规定8.2监i!JJ仪8.2. 1

36、 监测仪宜为带有测量装置的非密封透射型电离室组件。8.2.2 监测电离室中射束穿过的部分应是均质结构。监测电离室应放在附加过滤的后边并靠近附加过滤，监测电离室的壁宜足够薄，以便不对射束增加不适当的过滤。图1是一个典型的X射线装置的例子。6 1 校准距离，2 限束铅光阑83一一监测电离室g一一附加过滤g5 快门，6一X射线管事1 3 2 -9 7一一位置A:8一一位置B;9一一位置C;-一一一一-10-无过滤(位置灿的谱g11-有固有过滤(位置Bl的谱$12一一有附加过滤(位置。的谱.图1典型的X射线装置示例-工一-一卢-8.2.3 对于所有要用到的比释动能率，监测电离室的电离电荷收集效率应不小

37、于99% 8.2.4 对于给定的辐射质，如果监测仪的指示值与标准仪器的指示值的比率在规定的期间内稳定，变化不超过0.5%，则在这段时间内该监测仪可用作传递仪器。8.2.5 监测电离室的漏电流应小于最灵敏电流量程最大值的2%，必要时应进行修正。8.2.6 对于比释动能率的测量，监测电离室测量系统的时间常数应与标准仪器的时间常数相当，监测 GB/T 12162.2-24/ISO 4037-2: 1997 电离室测量系统的时间常数宜不大于标准仪器的时间常数。8: 2. 7 当温度和气压偏离参考条件时，应对监测电离室测量系统的读数进行修正(见6.7.3)，8.2 8 监测电离室组件及其测量装置的性能要

38、求应与标准仪器相似。8.3 限束光阑限束光阑应放置在所有附加过滤的后面并靠近附加过滤器，以便将射束截面限制在所需的大小。限束光阂的设计宜使它在检验点引人的散射贡献最小.射束截面应足够大，保证它能够完全照射标准电离室和被校准仪器或设备，但同时又要保证电离室杆和它的支撑物的受照部分最小.在校准过程中射束大小应保持不变。8.4 快门快门应位于X射线管和监测电离室之间。快门的厚度应使校准用到的最高能量参考辐射(见5.们的透射比释动能率减小到原来的0.1%。对于比释动能测量，要在照射完毕后尽快读数，以减少透射比释动能的影响。8.5 比释动能率的调整对每一参考辐射，既可以通过改变X射线管电流也可以通过改变

39、到靶的距离得到不同的比释动能率。工作条件的选择，是对散射、束均匀性、输出稳定性、电压纹波及空气衰减这些彼此可能矛盾的要求的折中考虑。9 荧光X辐射特有的程序和注意事项-一射束中外部辐射的限制9. 1 不论实用性还是与要求的比释动能率的一致性方面.X射线机的电压都宜调整到使得辐射体产生的非所需特征辐射最小.9.2 在这些辐射的应用中，应考虑杂质谱分布的显著性，这对于较低能量K荧光辐射特别重要。9.3 对于铀的K荧光X辐射，辐射体和牡过滤器都是放射性物质，因此会在监测电离室中产生相当显著的假电流，必要时应对这个电流进行修正。10 光子能量为4MeV-9 MeV的参考辐射剂量测定10. 1 剂量学量

40、用于表征4MeV9 MeV参考辐射检验点的量应是空气中，即无受体条件下测量的空气比释动能(率)I或者是在参考体模中一定深度处测量的规定的组织等效材料或水中，有受体条件下的吸收剂量率。然后，再由这个量导出相关的辐射防护量(参见ICRU39号、ICRU43号、ICRU47号、ICRU51 号报告和ICRP74号出版物。10.2 剂量学量的测量空气比释动能(率)和吸收剂量(率可以用选定的量校准过的仪器进行直接测量确定，也可以间接测量其他量并使用转换系数来确定。10.2.1和10.2.2中给出了直接和间接确定的示例。10. 2. 1 无受体条件下空气比释动能(率)的确定za) 直接法2使用以空气比释动

41、能(率)校准的电离室来测量。b) 间接法g一一白光子注量(率)苦的测量得到g-一一对于19F句，)150反应在质子能量接近反应阔且束流接近1mA时产生的辐射场.由伴随粒子发射的测量得到.10. 2. 2 有受体条件下吸收剂量(率的确定2a) 直接法2用以组织吸收剂量率)校准的电离室测量组织吸收剂量(率。b) 间接法:一一由无受体条件下光子注量(率)谱的测量得到UI 一一由空气中或者体模中空气比释动能(率的测量得到.B GB/T 12162.2-2004/ISO 4037-2,1997 10.3 测量的几何条件探测器的参考点应置于检验点上.从源中心jj1J检验点的距离应使下列截面上光子注量的均匀性好于5%，一一无受体条件下，在用于校准参考辐射场的整个探测器组件的截面上E一一有受体条件下，在用于校准参考辐射场的整个探测器和体模的组件截面上.射束发散对测量结果的影响不应超过3%.当检验点的射束截面比被照射的组件截面小时，应以适当的方式进行扫描测量。10.4 监测仪在检验点进行的所有测量都应与监测l仪测量同