GB T 12128.2-1999 用于校准表面污染监测仪的参考源 第2部分;能量低于0.15MeV的电子和能量低于1.5MeV的光子.pdf
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1、ICS 17.240 F 74 华11: ./、G/T 12128. 2 1999 eqv ISO 8769-2:1996 zn 生口 :目 MeV .5 MeV Reference sources for the calibration of surface contamination monitors Part 2:Electrons of energy less than 0.15 MeV and photons of energy less than 1.5 MeV 1999-12-30发布20-08-01实施国家质技术监督局发布, GB/T 12128. 2-1999 目次前言. .
2、 . . . . . ISO前言. . . . . . . . . . . . E 1 范围 . . . 60. . . . . . . . . 1 2 引用标准 . . . . . . . . 1 3 定义 . . . . 1 4 参考源的溯源性 .60.&0. 2 5 参考源的技术要求. . . . . .060 . . . . . . 2 6 传递仪器. . . . . . . . . . 4 附录A(提示的附录电子能量低于O.15 MeV和光子能量低于1. 5MeV的参考辐射源的补充说明. . . . . . . . 5 附录B(提示的附录)参考文献目录. 6 , 一G/T 12128
3、.2-1999 本标准等效采用国际标准ISO8769-2: 1996O.15 MeV的自发射体参考源作出了规定和推荐,但尚无能量低于0.15MeV的电子(或自粒子和能量低于1.5 MeV光子的参考源标准。本标准对除H以外的出射能量低于0.15MeV的电子(或R粒子)和能量低于1.5MeV的光子的参考辐射作出了规定oISO 8769-1对H参考辐射源作了专门的规定.和低能R表面污染的监测和监测仪表的校准存在着不可忽视的困难问题,本标准的制定有助于解决这一问题.本标准在等效采用ISO8769-2时,下列章节略有改变g-1,简化了原标准中第一章的内容3一-2,删去原标准中的第二章的内容,改为2引用标
4、准;一-3,对溯源性和均匀性的定义作了适当修改;一-4,在不改变原意的情况下,对该章叙述方式略加修改;一-5.2. 1. 1,将第二段和第三段互换;本标准的附录A、附录B都是提示的附录。本标准由中国核工业集团公司提出,本标准由中国核能标准化技术委员会归口。本标准起草单位z中国辐射防护研究院第一研究所.本标准主要起草人张延生、杨俊武、陈慧莉。第二部分s能量的参考源吉前I , L GB/T 12128.2-1999 ISO前言150 (国际标准化组织是由各国标准化团体(150成员团体)组成的世界性的联合会。制定国际标准的工作通常由150的技术委员会完成。各成员团体若对某技术委员会确立的项目感兴趣,
5、均有权参加该委员会的工作.与150保持联系的各国际组织(官方的或非官方的)也可参加有关工作.在电工技术标准化方面.150与国际电工委员会(lEC)保持密切合作关系。由技术委员会通过的国际标准草案提交各成员团体表决,需取得至少75%参加表决的成员团体的同意,才能作为国际标准正式出版。E 国际标准1508769也是由150/TC85/SC Z核能技术委员会辐射防护分委员会制定的。1508769在同一总标题用于校准表面污染监测仪的参考源下,包含以下两部分内容:第一部分.:1IrC源第二部分s能量低于Q.15 MeV的电子和能量低于1.5 MeV的光子附录A和附录B仅供参考 范围中华人民共和国国家标准
6、用于校准表面污染监测仪的参考第二部分:能量低于0.15MeV的电子和.5 MeV的光子Reference sources for the calibration 。fsurface contamination monitors Part 2: Electrons of energy less than O. 15 Me V and photons of energy less than 1. 5 MeV GB/T 12128.2-1999 eqv ISO 8769-2: 1996 本标准规定了用于校准放射性表面污染监视l仪的低能R和参考源的核素、结构形式、特性及技术要求。本标准适用于校准表面污
7、染监测仪的能量低于0.15MeV的R粒子和能量低于).5 MeV的光子的参考源(除H以外)。所涉及的参考源主要用于校准可测量具有电子俘获或同质异能跃迁衰变核素的表面污染监测仪的仪器效率。2 引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文.本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性.GB/T 12128一1989用于校准表面污染监测仪的参考源F发射体和发射体3 定义本标准采用以下定义。3. 1 (源的)表面发射率surface emission rate(of a source) 单位时间内从源表面或源窗射出的特定
8、类型和能量的粒子数.3.2 (参考传递仪器的)仪器效率nstrument efficiency(of a transfer nstrument) 在仪器和参考源特定的几何条件下,仪器的净计数率与源表面发射率之比以百分数表示).3.3 源效率source efficiency 源的某种粒子的表面发射率与源内单位时间产生或释放的同种粒子数之比以百分数表示).3.4 (源的臼吸收self-absorption(of a source) 源材料对其自身发射的辐射的吸收。3.5 溯源性traceability通过逐级与较高级标准相比较的方法,对测量仪器或测量标准进行有效的校准,使之与国家法定的计量标准建
9、立联系的概念。3-6均匀性uniformity 源表面以单位面积上某一测得量来表示的某一特性的均匀性是在整个源表面上该特性的再现性.国家质量技术监督局1999-12-30批准2000- 08-01实施, 7 L一GB/T 12128.2-1999 注B为了表述某一源以单位面积发射率表示的均匀性,可把源视为由若干相等面积的部分组成。均匀性为各部分测量值的标准偏差与整个面积上各测量值的平均值之比(用百分数表示单个部分的面积应小于或等于1 000 mm 0源的均匀性可以用在源和计数器之间放置带孔板的方法测量,板上孔的面积等于或小于1 000 rnmZ,板的厚度要能足以吸收该源发射的最大能量的粒子和光
10、子,测量时用探测器的同一部位以减少探头不均匀响应所造成的影响.4 参考源的溯源性用于校准表团污染监测仪的标准源应按照明确规定的采用各级参考源或参考传递仪器的传递体系溯源到国家的计量标准.参考源分为一级参考源和二级参考源,参考源和工作源均应按照国家规定的量值传递体系和周期进行检定.4. 1 一级参考源4. 1. 1 一级参考源的表面发射率应该在国家标准实验室用绝对测量法或者使用经过绝对测量的标准源校准过的仪器直接进行校准.4.1.2 一级参考源的活度由制造者按国家标准实验室认可的方法测出。4.2 二级参考源二级参考源的表面发射率应该在经国家标准实验室认可的某一实验室用参考传递仪器校准。参考传递仪
11、器的效率应该用与二级参考源具有相同放射性核素和结构的一级参考源在相同的几何条件下测定。4.3 工作源提供表面污染监测仪日常校准用工作源的单位应采用参考传递仪器对工作源的表面发射率进行测定,参考传递仪器应该用一级或二级参考源校准过.用参考传递仪器测定工作源表面发射率的几何条件应该与用参考源校准参考传递仪器的几何条件一致。若只有少量监测仪需要校准或者要求的精度很高,可将一级或二级参考源作为工作源。4.4 源的使用需要对表面污染监测仪进行定型检验的单位应使用适宜的一级或二级参考源进行检验;需要对表面污染监视l仪进行常规校准的单位应该使用同样的参考源或工作源。工作源用于现场校准表面污染监测仪,它们与检
12、查源不同,检查源仅用于检查监测仪能否正常工作.5 参考源的技术要求5. 1 总则参考源是由特定的放射性核素沉积在或结合到背衬材料的一个面上而构成的平面源。光子参考源要按本标准表2的要求加过滤器。5.2 一级参考源5. 2. 1 基本要求5. 2. 1. 1 一级参考源应该是平板面源,放射性物质以自吸收最小的方式沉积或结合到具有导屯性的背衬材料的一个面上.活性区面积至少104mmZ,推荐的尺寸为100mmX100 mmo 参考源的背衬材料应尽量减少对光子辐射的反散射.本标准推荐使用3mm厚的铝片作为背衬材料,其质量厚度与标称值的偏差应小于土10%.质量厚度的均匀性应好于3%.背衬材料的面积应大于
13、源的活性区面积,其边缘与活性区边缘的距离至少为10mm. 发射光子的参考源要带有表2所规定的过滤器,一般情况下过滤器是整个源不可分割的一部分,不能任意拆卸。过滤器的边缘与活性区边缘的距离至少为10mm,其质量厚,度与表2给出的数值的偏差应小于土10%.质量厚度的均匀性应好于3%。2 J GB/T 12128. 2一19995.2.1.2 一级参考源应该附有国家标准实验室出具的校准证书.校准证书要包括下列内容2a)放射性核素及其半衰期gb)源的结构,包括过滤器和背衬材料的材质及厚度g。在测定源的表面发射率时,源的衬托物的厚度和特性,以及中间空气层的厚度,d)表面发射率及其不确定度和均匀性以及校准
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