QB T 1135-2006 首饰 金 银覆盖层厚度的测定 X射线荧光光谱法.pdf

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1、ICS 39.060 分类号：Y88备案号：18368-2006中华人民共和国轻工行业标准首饰QB/T 1135一2006代替QB/T1135一1991金、银覆盖层厚度的测定X射线荧光光谱法Jewellery-Measurement of gold and silver coating tickness - X-ray fluorescence spectrometric methods 2006-08一叩发布2006-12-01实施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布QB/T 1135一2006目lj昌本标准是对QB/T1135一1991首饰金、银覆盖层厚度的测定方法X射线荧光光谱法的修订

2、。本标准参照ISO3497:2000金属覆盖层覆盖层厚度的测定X射线荧光光谱法英文版）编写。本标准与QB/T11351991相比，主要变化如下：一一依据GB/T1.1-2000的有关规定，对标准的表述方式和名称格式进行了修改：一一增加了第2章规范性引用文件。本标准由中国轻工业联合会提出。本标准由全国首饰标准化技术委员会（SAC/TC256）归口。本标准起草单位：国家首饰质量监督检验中心。本标准主要起草人：范积芳、李素青、李玉阔、李武军。本标准自实施之日起，代替原轻工业部发布的轻工行业标准QBIT1135-1991首饰金、银覆盖层厚度的测定方法X射线荧光光谱法。本标准于1991年6月第一次发布，

3、本次为第一次修订。1 范围首饰金、银覆盖层厚度的测定X射线荧光光谱法本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金、银覆盖层厚度的方法。QB/T 1135-2006 本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定（覆盖层与基体为非相同材质。注：本方法测定的覆盖层厚度相当子足金或足银的厚度，可根据实际金、银覆盖层含量进行折算。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。

4、QB 1131 首饰金覆盖层厚度的规定（ISO10713:1992, MOD) QB 1132首饰银覆盖层厚度的规定3 方法原理采用X射线荧光光谱法测量金、银覆盖层厚度是通过检测和分析X射线荧光而确定覆盖层厚度的。每种元素的原子都具有其本身独有的电子排列，对于给定的特征X射线，其能量取决于该原子的原子序数，因此，不同的材料将产生不同能量的X射线荧光。通过X射线荧光测厚仪对不同材料发出的特征X射线荧光进行能量分辨和强度的检测，可以确定材料的特性，从而测定覆盖层厚度。4 仪器设备4. 1 X射线荧光光谱仪。4.2 采用不同基体的覆盖金、银镀层的标准样块。4. 3 仪器自检的参考标样。5 仪器的校准

5、校准是仪器测量的先决条件，校准的目的是使被测样品覆盖层厚度对X射线荧光发射强度之间建立准确的关系。. 5. 1 校准模式的选择各类型的X射线荧光测厚仪都具有若干种校准模式，应按覆盖层和基材的类型选用适当的校准模式。5. 2 校准模式的输入选定相应的校准模式后，将采用相应的存储器按规程输入校准模式。当采用标准进行校准时甸，应采用与测试样品完全一致的条件（包括检测孔尺寸，相同覆盖层和基材及测量时间等）。在校准程序结束时，将自动进入测量模式。QB/T 1135-2006 6. 1 结构银r利7. 4 7. 5 视l测量面2 进入测试防式。测确性。50.8 ,.J击产/ 3参照标样进行自巾量不一定相同

6、，l二限m7.6 进行的，若不可避免地要在曲面上测毛选择尺寸！为O.lmm的测量去。因此可据南、密度修正模式输入。测试完毕可按照相应的程序，将密叫“以及氧化物等保护层，否则将影响覆盖8 准确度QB/T 1135- 2006 乒阳、/ 3 CONBFF H筒。中华人民共和国轻工行业标准首饰金、银覆盖层厚度的测定X射线荧光光谱法QBff 1135-2006 + 中国轻工业出版社出版发行地址：北京东长安街6号邮政编码：100740发行电话：（010)65241695 网址：http:/ Email: 轻工业标准化编辑出版委员会编辑地址：北京西城区月坛北小街6号邮政编码：100037电话：（010)6049923 定价：8.00元骨版权所有侵权必究书号：1550192887印数：1-200册