GB T 12085.10-2010 光学和光学仪器 环境试验方法 第10部分：振动(正弦)与高温、低温综合试验.pdf

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1、ICS 37.020 N 30 道昌中华人民=l:I工-、和国国家标准GB/T 12085. 10-2010 代替GB/T12085. 10-1989 光学和光学仪器环境试验方法第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验Optics and optical instruments-Environmental test methods Part 10: Combined sinusoidal vibration and dry heat or cold CISO 9022-10: 1998 , MOD) 2011-01-14发布2011-05-01实施数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检夜

2、总局中国国家标准化管理委员会发布中华人民共和国国家标准光学和光学仪器环境试验方法第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验GB/T 12085.10-2010 中国标准出版社出版发行北京复兴门外三里河北街16号邮政编码:100045网址电话:6852394668517548 中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销 开本880X 1230 1/16 印张0.5字数9千字2011年6月第一版2011年6月第一次印刷* 书号:155066 1-42752定价14.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68533533GB/T 12085.10-2010 剧

3、吕GB/T 12085(光学和光学仪器环境试验方法分为以下16个部分:第l部分:术语、试验范围;一一第2部分:低温、高温、湿热;第3部分z机械作用力;一一第4部分:盐雾;一一第5部分z低温、低气压综合试验;一一第6部分z砂尘;第7部分:滴水、淋雨;一一第8部分z高压、低压、浸没;一一一第9部分:太阳辐射;第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验;一一一第11部分:长霉;一一第12部分:污染;一一第13部分:冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温综合试验;第14部分:露、霜、冰;一一第15部分:宽带随机振动(数字控制)与高温、低温综合试验;一一第16部分:弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验。本部分

4、为GB/T12085的第10部分。本部分修改采用ISO9022-10: 1998(光学和光学仪器环境试验方法第10部分:振动(正弦)与高温、低温综合试验。本部分与ISO9022-10:1998的主要差异如下:一一删除国际标准的序言和前言;根据ISO9022-10第1章及我国标准用语习惯作了重新编写;国际标准本部分一词改为本部分。本部分代替GB/T12085. 10-1989(光学和光学仪器环境试验方法综合振动(正弦)与高温、低温)，与GB/T12085. 10-1989的主要差异为:一一修改了标准名称;一-修改了变量温差的计量单位;合并了范围与试验目的;一一-增加了试验条件中的引用标准依据z一

5、一条件试验中悬置段加编号，合并原版本表1、表2，将附录A放入标准正文;一-修改、增加了条件试验方法的工作状态和严酷等级，修改相应的参数;增加了试验程序的总则;-一一增加了环境试验的标记名称，修改了相应标准号的编写。本部分由中国机械工业联合会提出。本部分由全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口。本部分起草单位:上海理工大学、宁波永新光学股份有限公司。I GB/T 12085.10-2010 E 本部分主要起草人:冯琼辉、章慧贤、曾丽珠、叶慧。本部分所代替标准的历次版本发布情况为z一一-GB/T12085. 10-19890 1 范围光学和光学仪器环境试验方法第10部分:振动(

6、正弦)与高温、低温综合试验GB/T 12085. 10-2010 本部分规定了振动(正弦)与高温、低温综合试验的试验条件、条件试验、试验程序及环境试验标记。本部分适用于光学仪器、装有光学零部件的仪器和光学零部件。本试验目的是研究试样的光学、热学、化学和电气等性能受振动(正弦)与高温、低温的影响时的变化程度。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GB/T12085的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。

7、GB/T 2423. 35 电工电子产品环境试验第2部分z试验方法试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验CGB/T 2423. 35-2005 , IEC 60068-2-50 :1 983 , IDT) GB/T 2423.36 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验CGB/T2423.36-2005 , IEC 60068-2-51: 1983 , IDT) GB/T 2423. 43 电工电子产品环境试验第2部分:试验方法振动、冲击和类似动力学试验样品的安装CGB/T2423. 43-2008 ,

8、IEC 60068-2-47 :2005 , IDT) GB/T 2424. 22 电工电子产品基本环境试验规程温度(低温、高温)和振动(正弦)综合试验导则CGB/T 2424.22-1986 ,eqv IEC 60068-2-曰:1984)GB/T 12085. 1光学和光学仪器环境试验方法第1部分:术语、试验范围CGB/T12085.1-2010 ,ISO 9022-1: 1994 , MOD) GB/T 12085. 2 光学和光学仪器环境试验方法第2部分:低温、高温、湿热(GB/T12085.2-2010 ,ISO 9022-2:2002 ,MOD) GB/T 12085. 3 光学和

9、光学仪器环境试验方法第3部分z机械作用力(GB/T12085. 3-2010 ,ISO 9022-3:1998 ,MOD) 3 试验条件在综合作用力条件下对暴露的试样进行的测试，要比任何一种单一环境条件试验更为严酷。表1与表3中规定的温度值选自GB/T12085. 2，条件试验方法10和110试验应按GB/T12085.3的要求进行。固定试样的装置应符合GB/T2423. 43的要求，且应隔热。若试样装在缓冲器上，则应考虑缓冲器元件恒温的时间。4 条件试验4. 1 总则试样各部分都应达到试验箱(室)温度3K以内才开始试验。对于散热型试样，在温度稳定的试验GBjT 12085.10-2010 箱

10、(室)内试样的温度变化在每小时不超过1K时作为开始(或终止)暴露周期的时间，试样温度达到稳定的最后1h作为暴露周期的最初1h。4.2 条件试验方法61:振动(正弦)与高温综合试验条件试验方法61振动(正弦)与高温综合试验的严酷等级按表1和表20表1严酷等级01 02 03 04 05 06 07 08 09 试验箱(室)温度/C40士255土2相对湿度/%40 位移/mm0.035 0.15 0.075 o. 15 o. 15 0.15 0.35 0.35 0.15 m/s2 5 20 10 20 20 50 50 20 加速度g的倍数0.5 2 1 2 2 5 5 2 频率周期10 Hz-5

11、5 Hz 5 数a用于10 Hz-150 Hz 20 5 20 每个频带的10 Hz-500 Hz 2 10 每根轴线上10 Hz-2 000 Hz 2 10 10 工作状态0或1或2a频率周期数的扫描速率应为每分钟1个倍频程。表2严酷等级21 22 23 24 25 26 27 28 29 按表1的严酷等级01 01 02 02 03 03 04 04 05 特性频率试验时间/min10 30 10 30 10 30 10 30 10 工作状态0或1或2严酷等级34 35 36 37 38 39 40 41 42 按表1的严酷等级07 08 08 09 09 10 10 11 11 特性频率

12、试验时间/min30 10 30 10 30 10 30 10 30 工作状态0或1或24.3 条件试验方法62:振动(正弦)与低温综合试验条件试验方法62振动(正弦)与低温综合试验的严酷等级按表3和表4。表3严酷等级01 02 03 04 05 06 07 08 09 10 11 12 13 试验箱(窒)温度/C10士2-20土3一25士2-35土3相对湿度/%40 位移/mm0.035 0.15 0.035 0.15 0.075 0.15 0.15 0.35 0.075 0.15 0.35 0.35 0.15 m/s2 5 20 5 20 10 20 50 10 20 20 50 20 加

13、速度g的倍数0.5 2 0.5 2 1 2 5 1 2 2 5 2 频率周10 Hz-55 Hz 5 期数a用10 Hz-150 Hz 20 20 20 5 20 于每个频睹的每根10 Hz-500 Hz 2 2 10 轴线上10 Hz-2 000 Hz 2 2 10 10 工作状态。或1或2a频率周期数的扫描速率应为每分钟1个倍频程。2 10 11 12 13 63土20.15 0.35 0.35 1. 0 20 50 50 2 5 5 20 5 10 10 30 31 32 33 05 06 06 07 30 10 30 10 43 44 45 46 12 12 13 13 10 30 1

14、0 30 14 15 16 17 -55土365士30.15 0.35 1. 0 0.15 20 50 20 2 5 2 20 10 10 10 GB/T 12085.10-2010 表4严酷等级|21|22|23|24|25|26 I 27 I 28 I 29 I 30 I 31 I 32 I 33 I 34 I 35 I 36 I 37 按表3的严酷等级I 01 I 01 I 02 I 02 I 03 I 03 I 04 I 04 I 05 I 05 I 06 I 06 I 07 I 07 I 08 I 08 I 09 特性频率试验时间/minI 10 I 30 I 10 I 30 I 1

15、0 I 30 I 10 I 30 I 10 I 30 I 10 I 30 I 10 I 30 I 10 I 30 I 10 工作状态。或1或2严酷等级|38|39i40|41|42|43|44|45|46|47 I 48 I 49 I 50 I 51 I 52 I 53 I 54 按表3的严酷等级I 09 I 10 I 10 I 11 I 11 I 12 I 12 I 13 I 13 I 14 I 14 I 15 I 15 I 16 I 16 I 17 I 17 特性频率试验时间/min10 30 I 10 I 30 I 10 I 30 I 10 I 30 I 10 I 30 工作状态。或1或

16、24.4 示例条件试验方法61与62的应用示例见表50条件试验方法一5 试验程序5. 1 总则61 62 61 62 61 62 61 62 61 61 62 62 61 62 严酷等级01 01 03 03 04 08 05 05 08 12 10 13 21-46 21-50 表5仪器天文仪器一般工业用仪器一般工业用和地面车辆用仪器海军舰艇上的仪器飞船和导弹以及特殊运输工具(如气垫船)的仪器在操作时对特殊频率产生共振的仪器试验应按GB/T12085相关部分及GB/T2423、GB/T2424中所列的相关规定进行。5.2 试验顺序试验温度的暴露时间取决于试样的热性能和振动所规定的时间。为了沿

17、另一轴线振动，试样可在外界环境和试验温度之间的任意温度上重新安置，但不得出现凝露、霜或冰。6 环境试验标记环境试验标记应符合GB/T12085. 1的规定。示例g光学仪器抗振动(正弦)与低温综合试验，条件试验方法62、严酷等级03、工作状态1的标记为z环境试验GB/T12085-62-03-1 7 有关标准应包括的内容a) 环境试验标记;OFON|2.的ONFH团。GB/T 12085.10-2010 试样的数量;机械振动所沿的轴线;温度测量的点的位置和数量;预处理z初始检测的内容和范围;工作状态2工作周期的确定;工作状态2中间检测的内容和范围;恢复;最后检测的内容和范围;评价判据;试验报告的内容和范围。g) h) UD 、jLU c) d) e) f) 侵权必究归一一兀。，-nUA哇-nut-aa寸nu-号一价书一定版权专有GB/T 12085.10-2010 打印日期:2011年6月29日F002