SJ 2721-1986 2CZ305型硅块开关整流二极管详细规范.pdf

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1、中华人民共和国电子工业标2CZ305型硅快开关二极细规范SJ 2721 86 中华人民共和国电子工业部件质量评定是根据sGB 4936.1 85 8J 2721 86 半导体分立器件总规范2CZ305型硅快开关整流二极管详细规范订货资料g见本规范第7章1 2 外形符合GB7581-87中D2loA 的要求.(见本规范第10.2条半导体材料:N型硅单晶化封装应用g在彩色电视机及其它无线电电子设!1i中作快速开关或整流用-二5 E类一一-一参考数据s型号YUK !IF(AY) YFK! trr (V) I (A) ( V)! (s) nU AHW A, 一一一一2CZ30SC 2CZ30sE ,(

2、00 2CZ30sG I 600 101 绿中附A天红色表示反向恢复时间小于A(见本规范第0.2间和电流标志在负极标志旁绕管体标三个色点，负极标志颜色相同，表示正向平均电流为1.08.1.2 1.0SJ色点条。8.2 包辑盒篇上的a. 制造厂商标，b 器件名称、型号质类别标志，正向电压正向峰所加正向峰值电流为叫吉最大芷向平均电流.1m-. 反向电梳在VRRII下的最犬反向峰电流正弦半波.50 Hz) T .b =25 0.无E向提散i 11Ml T= 150 0.无正向艳散I1.a 恢复反向测试时Ip=50 mA V. =10 V R r. =75 g 脉冲前沿小子0.1热阻引线长度I10mm

3、散热铜锚面积I5 mmX 5 mm 一_ 3 7 C. 检验批识别代碍，d. 其它。8 试验条件和检SJ 2721-86 本章中，除非另有规定，引用的条款号对应于总规范GB4936.1 85的条款号测试方法引自GB4936.1-85的6.1.1所有试验都是非破坏性的(3.6.6)A1分组外观检查A2a分组不tVpy 1RY1 A2b分组Vpy 1RYl A ttt 条件引用标准除非另有规定T.b =25 t 见总规5. 1.1 D 041 !PY =3.0 A. t,= lmS, & = 2% D 042 I V 1W = V RlW CiE弦半波，50 Hz) D 041 1py =3.0

4、A D一042VRY =VRIW(正弦半波.50日z)D-004 1 p = 50 mA, = 1 mS, & = 2 % Va =10 V RL=75 (. 脉冲前沿小于0.1s最小值极性颠倒18 1000 1.8 10 1.0 单位V A v A s _4 E类LTPD 5 0.7 3 7 SJ 2721-86 B组一只有标明(D)的试验是破坏性的(3.6.6)l条件检验或试验1引用标准1除非另有规定，几皿b=2 5 t 见总规范第4章B1分组尺寸5.2 rD G i B3分组| l 引线弯曲(D)GB 4937 85 I试验采用方法1l 2.1.2 l 受试引线t2 i i外加力:5 N

5、 B4分组可GB 4937 85 优先采用煤槽法2.2.1 | 受试引线数t2 i 具它要求见本规范附录AB5分主ai | 变化l GB4927-85! TAZO TB=100 3.1.2 j 循环次数:10次! 严格度，ll 之以采用方式2i 交变温热(D)IEC 68一2-30 严格度I55 t 循环次数I2次同A2b分组B8分组久性GB 4刚一85I 工作寿命1 P(AV) = 1.0 A VIUI = VltRM 最后测试Vl7l4 1IUU一一一CRRL分组5一时间I168 h 试验时，夹具夹在gE营体1015 mm的引线上.D 041 I 1p)I. =3.0 A. tp -= 1

6、ms &=2% D-042 I V剧，;V ltR)I. (正弦半波.50Hz)B3、B4、B5和B8分组的属性资料一一检验要求极限值1I 1I类I 单位最小值最LTPD I 15 3.5 I mm !雪Imm 无损坏润湿良好1.98 20 15 l l一15! 20 10 A I SJ 2721-86 只有标明(D)的试验是破坏性的(3.6.6) E类LTPD 求单位要与f验检牛条最大值极Ta匾b= 25 c 见总规范第4章|除非另有规定，引用标注检验或试验30 mm 0.87 0.75 5.2 mm 25 组寸分地尺山WLC2b分组15 A 100 T-abz150i Y剧=VRRM(正业

7、半波，50HUlD 042 IRMl C2c分组-F气J1 T.b =40 c IFSM=35A 周旋数和浪涌数均为1范B录附lFSM 采用方法1A GB 4937 85, 2.2.2 最后测试同A2b分组l|20 且Di试如一组和测仙一份接后A-nU焊最同7飞酌次 au g数次I?c AHV 工作寿命时间不少于1000h 其它条件同B8分组GB4m-d 最后测试同B8分组C9分组高温贮存(D) 最后测试回P些理一!一Cl1分组j 久性( 最后测试同B8分组C8分组电耐久性iIo GB 4937 851 试验采用方法24.2 : 溶液:100%= C4、C5，C7, C8、C915 T.ea

8、= 1币5c 时间不少于1000h GB 4937 85 3.2 乙烯一-6 SJ 2721-81 t D组撞瞌不适用10 10.1电1时A.V)(A) Lt 、.ili . 40. 150 Tamh (t:) 图1电流i每额曲线10.2 回L G L 2、L , Ll 喝、r E 恢复时间和电流标志Lz 31扳手i1电lji怀;市最小值标称最大值4 bs 0.72 0.87 tD 3.5 G 5.0 L 25 L , 1.5 -一Ls 12.5 图2外形图_ 7 A .1 老化SJ 2721-86 A 的补充补充件对于在器件制成后，又进行沾锡或100t水蒸汽中置放1小时。的器件，A.2 试验

9、方法a. 优先采用焊槽法。加速老化.其条件是，b. 必要时，可采用润湿称量法。按国家标准GB2423.32-85(电工电子产品基末.环境试验规程润湿称量法的可焊性试验方法进行润湿过程，按使用非活性焊剂肘，在3秒钟内达到理论润湿力的35%。B.1 f目的附B 正归不重复浪滴电.测试方补充件在规定条件下，验证二极管正向8.2 电路田正向不重复浪涌电复浪涌电流的额定佳。Gl B .8 电路说明和要求B.3.1 电路说明Pl F二电原理图如下=S D R3 图Bl电路图Pl 为测试通过被测二极管正向平均电梳的仪表P2 为峰值读数仪表或示波器等D 为被测二极管.R2 G 8 R3 为取梓电|丑。Rl 为

10、正向平均电流调定电阻。RZ 为波涌电流的调定电阻。S 为控制SJ 2721-86 一一一一Gl 为向被测管提供正向平均电流的电源.G2 为向被测管提供正向浪涌电流的电源。8.3.2 电路要求流过被测营的E向平均电流应与正向浪涌电流相立一致见图B2) I(人IrSM IFM 1 FSM -iE向槐涌电流1 FM一正向峰值电流一一一t (U) 图B2IFSM与IFM的榈位示意图8.4 测试步将Gl和G2两电源部调至零。将被测管按其极性标插入测试台的管座，并检查环境温度.调节Gl和阳，使Pl上测得的正向平均电流达到规定调节G2和R2，使P2上测得的峰值电压达到规定值，此时正向液涌电流也达到规定值，此时正向液涌电流也达到规定值。开启控制器，接B!.5规定的条件对被测管施加正向浪涌电流.根据测验盾的测试来验证被测营承受正向拽涌电流额定值的能力.8.5 E向浪涌的电流数每次浪涌的周波数、拽涌次数和重反勾画环境温度，试验后测试项目、极限值、测试条件。9 附加说明s国内型号2CZ305C 2CZ305E 2CZ305G SJ 2721-86 c 内外型号参考对照襄补克件本标准由中国电子技术标准化研究所提出.本标准由天津第三半导体器件广负责起午.0国外型号V09C V09E V09G 本标准主要起草人E平、孙志昌、黄宗芬、李新华。、-10