GB T 25965-2010 材料法向发射比与全玻璃真空太阳集热管半球发射比试验方法.pdf
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1、ICS 27.160 F 01 GB 和国国家标准11: /、中华人民GB/T 25965-2010 材料法向发射比与全玻璃真空太阳集热管半球发射比试验方法Test methods of normal emittance of materials and hemispherical emittance of all-glass evacuated collector tubes 2011-01-10发布2011-05-01实施数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T 25965-2010 目。吕本标准由全国能源基础与管理标准化技术委员会、全国太阳能标准
2、化技术委员会提出。本标准由全国太阳能标准化技术委员会(SAC/TC402)归口。本标准负责起草单位:北京卫星制造厂、北京清华阳光能源开发有限责任公司、国家太阳能热水器质量监督检验中心(北京)、中国标准化研究院、深圳市嘉普通太阳能有限公司、清华大学、中国计量科学研究院、北京太阳能研究所有限公司、北京九阳实业公司、皇明太阳能集团有限公司、山东力诺新材料有限公司、江苏太阳雨太阳能有限公司、湖北华扬太阳能集团有限公司。本标准主要起草人:那鸿悦、黄哲林、贾铁鹰、殷志强、王煌、韩建功、刘学真、周小雯、杨德山、陈革、冯爱荣、刘希杰、李旭光、王万忠、黄永定。I 1 范围材料法向发射比与全玻璃真空太阳集热管半球
3、发射比试验方法GB/T 25965-2010 本标准规定了测量光谱选择性吸收涂层法向发射比与全玻璃真空太阳集热管吸收涂层半球发射比的设备、装置及要求、试样尺寸及要求、测试条件、测试程序及测试方法。本标准适用于材料及光谱选择性吸收涂层在研制和生产过程中工艺规范筛选以及试样的法向发射比与全玻璃真空太阳集热管半球发射比的测量。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/
4、T 12936 太阳能热利用术语GB/T 17049 全玻璃真空太阳集热管3 术语、符号及单位3.1 3.2 3.3 3.4 GB/T 12936确立的以及下列术语和定义适用于本标准。辐射出射度radiant exitance Me,W/m2 离开表面一点处的面元辐射能通量,除以该面元面积。发射比emittance e:,元量纲相同温度下辐射体的辐射出射度与全辐射体(黑体)的辐射出射度之比。半球发射比hemispherical emittance e:h元量纲相同温度下,在2立体角内辐射体的辐射出射度与黑体的辐射出射度之比。法向发射比normal emittance e:n,无量纲辐射体表面在
5、某一温度法向上的发射比。4 法向发射比测量方法4. 1 测量装置及要求法向发射比测量装置,由黑体腔、试样腔、零点校正腔、热敏元件腔和恒温水浴等组成。黑体腔和试GB/T 25965-2010 样腔以热水为工质,零点校正腔和热敏元件腔以冷水为工质的法向发射比测量装置的结构示意见图101一一黑体腔;2一一零点校正腔;3一一试样腔;4一一待测试样55一一一热敏元件;6 热敏元件腔;7一一恒温水浴;8一一一二次仪表。2 3 -守6 5 圄1法向发射比测量装置示意图4. 1. 1 黑体腔和零点校正腔完全一致,腔深与腔径之比应不小于3,腔内表面喷涂元光黑漆,其半球发射比不小于0.90。4.1.2 热敏元件腔
6、:腔深与腔径(腔径一般取pOmm左右)之比不小于10,腔内表面喷涂元光黑漆,其半球发射比不小于0.90。4.1.3 试样腔:在装上试样后不能漏水,夹持试样的零件外表面应镀金并抛光。4.2 测量装置辅助设备及二次仪表4.2.1 恒温水浴=测量温度范围为室温(低于30OC)95 oC可调,在80oC,恒温波动度土0.2oC。G/T 25965-2010 4.2.2 低阻检流计:分度值不大于1.1X10-8A/mm,内阻不大于200,临界电阻不大于1000。或数字万用表:分辨率应优于1V。4.3 试样及要求4.3.1 试样表面应平整、均匀、无污染和裂纹。4.3.2 采用非金属材料或以非金属材料为基材
7、的涂层试样,其材料厚度不大于1.5mm。4.3.3 试样为正方形,边长40mm士0.5mm,厚度不大于2mm士0.2mmo 4.3.4 试样的制备4.3.4.1 以金属为基体材料的试样可以在成品上剪裁下作为试样。如果成品不易剪裁也可以采用挂片的方法。4.3.4.2 全玻璃真空太阳集热管吸收涂层测试试样采用挂片方法。镀集热管吸收涂层时,在集热管的中间和两端挂三片玻璃片或载披片,试样厚度S1.5 mm,三片吸璃试样测试结果的平均值表示该集热管或此工艺膜系的法向发射比。4.4 测试4.4.1 测试前准备4. 4. 1. 1 首先将待测试样按要求放入试样腔内。4.4. 1. 2 试样的测试植度应调整在
8、80.C :I: 5 .C的范围内。4.4.2 测试程序4.4.2. 1 开启恒温水浴循环水泵,使80.C士0.2.C的热水在试样腔和黑体腔中循环流动。零点校正腔和热敏元件腔通入低于30.C的循环水或自来水。4.4.2.2 当试样温度达到恒定温度时(80.C)且在5min斗omin内,温度波动不大于0.2.C,方可开始进行测试。4.4.2.3 将零点校正腔置于热敏元件腔上方,二次仪表马上显示零点校正腔热辐射输出电信号指示值0 4.4.2.4 取下零点校正腔,将试样腔和黑体腔分别依次置于热敏元件腔上方,从二次仪表分别显示试样和黑体腔热辐射输出电信号指示值和弘,此过程4.4.2.3和4.4.2.4
9、至少进行3次,每次间隔不小于90S. 4.5 测试数据处理4.5. 1 法向发射比计算公式根据法向发射比的定义,热辐射体表面法向辐射出射度与在同一温度下黑体的法向辐射出射度之比值,为法向发射比,待测试样表面法向发射比为:式中zEsn -Ebn半b 一一待测试样在温度To时辐射输出电信号示值;如黑体在温度To时辐射输出电信号示值;e:,n一一待测试样的法向发射比;e:bn一一黑体的法向发射比。取黑体的法向发射比e:bn=1时,则式(1)简化为:. ( 1 ) Esn =生.(2 ) +、在实际测试中,零点校正腔也有辐射输出信号示值仇,所以在操作时应将测得的弘和弘同时减去0 ,即:3 GB/T 2
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