GB T 17626.24-2012 电磁兼容.试验和测量技术.HEMP传导骚扰保护装置的试验方法.pdf

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1、道BICS 33.100 L 06 国家标准国春日主t./、中华人民GB/T 17626. 24-20 12/IEC 61000-4-24: 1997 电磁兼容试验和测量技术HEMP传导骚扰保护装置的试验方法Electromagnetic compatibility-Testing and measurement techniques Test methods for protective devices for HEMP conducted disturbance CIEC 61000-4-24: 1997 ,IDT) 2013-02-01实施2012-11-05发布发布中华人民共和国国家质

2、量监督检验检茂总局中国国家标准化管理委员会由HMOE/份子fE/础士阳-dr川白码轧机EAJGBjT 17626.24-2012jIEC 61000斗24:1997前言GBjT 17626(电磁兼容试验和测量技术分为以下几个部分:GBjT 17626. 1-2006 电磁兼容试验和测量技术抗扰度试验总论GBjT 17626.2-2006 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验GBjT 17626.3-2006 电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验GBjT 17626.4-2008 电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验GBjT 17626.5-2008 电磁兼容试验和测量

3、技术浪涌(冲击)抗扰度试验GBjT 17626. 6-2008 电磁兼容试验和测量技术射频场感应的传导骚扰抗扰度GBjT 17626. 7-2008 电磁兼容试验和测量技术供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则GBjT 17626.8-2006 电磁兼容试验和测量技术工频磁场抗扰度试验GBjT 17626.9-2011 电磁兼容试验和测量技术脉冲磁场抗扰度试验GBjT 17626.10-1998 电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡磁场抗扰度试验GBjT 17626.11-2008 电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验GBjT 17626.12-1998 电磁兼

4、容试验和测量技术振荡波抗扰度试验GBjT 17626. 13-2006 电磁兼容试验和测量技术交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验GBjT 17626. 14-2005 电磁兼容试验和测量技术电压波动抗扰度试验GBjT 17626. 15-2011 电磁兼容试验和测量技术闪烁仪功能和设计规范GBjT 17626.16-2007 电磁兼容试验和测量技术OHz150kHz共模传导骚扰抗扰度试验GBjT 17626. 17-2005 电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口纹波抗扰度试验GBjT 17626.24-2012 电磁兼容试验和测量技术HEMP传导骚扰保护装置的试验方法GBjT

5、 17626.27-2006 电磁兼容试验和测量技术三相电压不平衡抗扰度试验GBjT 17626.28-2006 电磁兼容试验和测量技术工频频率变化抗扰度试验GBjT 17626.29一2006电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验GBjT 17626.30-2012 电磁兼容试验和测量技术电能质量测量方法本部分为GBjT17626的第24部分。本部分按照GBjT1. 1-2009给出的规则起草。本部分等同采用国际标准IEC61000-4-24: 1997(电磁兼容(EMC)试验和测量技术第4-24部分:HEMP传导骚扰保护装置的试验方法。本部分由全国电

6、磁兼容标准化技术委员会(SACjTC246)归口。本部分负责起草单位z中国电力科学研究院。本部分参与起草单位:国网电力科学研究院。本部分主要起草人:邬雄、万保权、张建功、张广洲、李妮、张泽平。I G/T 17626.24-2012/IEC 61000斗24:1997 电磁兼容试验和测量技术HEMP传导骚扰保护装置的试验方法1 范围GB/T 17626的本部分规定了高空电磁脉冲(HEMP)传导骚扰保护装置的试验方法。它主要包括电压击穿和电压限制特性的试验，以及在HEMP条件下，电压(u)和电流(i)作为时间函数快速变化时的残余电压的测量方法。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的

7、。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T 4365-2003 电工术语电磁兼容(IEC60050 (161) :1990 ,IDT) 3 术语和定义下列术语和定义适用于本文件。3. 1 DUT 受试装置。3.2 气体放电管gas discharge tube 由两个或三个金属电极形成的一个或几个密封的间隙，其内气体混合物和气压可以控制，用来保护设备或操作人员免受高暂态电压伤害。3.3 初级保护元件primary protection element 从保护措施的非保护侧看，分流大部分浪涌电流的第一组保护元件

8、。3.4 保护侧protected side 保护措施中，被保护设备所在的侧。3.5 非保护侧unprotected side 保护措施中，会出现浪涌的一侧。4 传导骚扰保护装置的试验方法4.1 概述在HEMP的条件下，保护装置的实际性能很大程度上取决于它在使用场合的连接方式，以及附近G/T 17626.24-20 12/IEC 61000-4-24: 1997 的环境状况(例如保护元件的保护侧和非保护侧之间的屏蔽质量)，下面的试验方法考虑了上述因素。所规定的试验方法使得到的结果尽可能与受试装置(DUT)的质量有关，且试验布置又与实际保护时的布置元太大差异。为了使本部分简单并尽可能通用，允许试

9、验人员在一定限度内优化试验布置，但不能脱离实际保护布置的范围。4.2 试验配置试验配置包括脉冲发生器(G)、传输线、DUT的试验夹具、负载、连接线以及示波器，见图1。整个试验配置的特征阻抗应相同，如果阻抗不等于50n，则应进行说明。为防止脉冲发生器与示波器之间的寄生藕合，试验配置的保护侧和非保护侧都应完全屏蔽。推荐用多层编织屏蔽或实体屏蔽的电缆。确保使用质量高、特征阻抗正确且能耐受高压脉冲的同轴连接器，避免形成接地回路。/二三飞毛之子三/二飞二、气、l 非保护侧飞 . 图1测试保护装置的试验配置4.3 脉冲发生器脉冲发生器的特征阻抗应等于50n或规定值，能够产生一个标准的矩形电压脉冲进人匹配的

10、负载。在DUT初级保护元件的放电电压或限制电压的波前上升率至少要达到1kV/ns。输出电压(进入到匹配负载)应可调整到高于DUT期望限制电压的2倍，且两种极性的脉冲均可产生。脉冲宽度至少要有20ns。4.4 传输线传输线采用特征阻抗等于50n或规定值的同轴电缆。脉冲发生器和DUT之间的电缆应足够长，2 G/T 17626.24-20 12/IEC 61000斗24:1997 以使在脉冲波前期间从DUT来的反射不会到达脉冲发生器。为了满足这一条件，沿电缆单向传播时间必须大于脉冲波前时间的一半。由于电缆衰减随着频率变化，这可能降低脉冲波前的陡度，因此，要通过增长传输线来调整脉冲波前的陡度，以达到期

11、望值。4.5 试验夹具4.5.1 概述试验夹具是非保护侧和保护侧两端都带有同轴连接器的机械装置，它们的作用是固定受试装置。有两种不同类型的夹具可以使用，分别为A类和B类，如下所述。4.5.2 A类夹具-一一一螺栓一一一飞f一-一飞r-非保护壳保护壳图2非馈通配置的两端口DUT的B类试验夹具示例3 GB/T 17626.24-2012月EC61000-4-24: 1997 一一一螺栓-一一一螺栓一一-飞r一一一一-v一非保护壳保护壳图3非馈通配置的四端口DUT的B类试验夹具示例保护壳:保护壳是起到与保护连接器的过技作用。保护壳应做得尽可能短，已点与保护连接器间的连接长度也应尽可能短。4.6 负载

12、在示波器3dB的带宽内，负载应与试验设备的特征阻抗相匹配。负载应该是馈通型的，后面连接一个高阻抗的示波器分压探头，或负载是示技器前的衰减器第一级的一部分。试验夹具与负载之间连接线的阻抗应与终端的阻抗相等，连接线应尽可能短。它在示波器的3dB高端截止频率处的衰减应小于0.5dB，并应确保负载能够经受住试验脉冲而不降低性能。4. 7 示波器示波器和试验装置其他部件的带宽都应足够宽，以便由带宽限制和其他系统误差引起的u和du/dt峰值的总不确定度不超过士20%。4.8 试验程序4.8.1 脉冲发生器的调节传输线(见图1)首先直接连接到与终端相连的连接线上。按以下方法调节脉冲发生器:a) 如果DUT或

13、者四端DUT的初级保护元件是气体放电管，则对气体放电管试验时，预期脉冲在脉冲闪络电压时的前沿陡度至少为1kV /ns。b) 如果DUT或四端DUT的初级保护元件是电压限制器件(如保护二极管或压敏电阻)，预期脉冲前沿的最大切向陡度应为:式中:Zc 一一-特征阻抗Fdi/dt一一给定值。1)du/ dt= (1/2) X Zc X di/ dt . ( 1 ) 4.8.2 验证程序4 传输线(见图1)连接到试验夹具上。1) 给定的di/dt与DUT试验时的实际di/dt应相符，当DUT的阻抗比50n或规定的阻抗小很多时，在试验时，电流z以及di/dt也因此会加倍。 GB/T 17626.24-20

14、12月EC61000-4-24: 1997 如果用的是B型试验夹具，要对保护与非保护连接器间的内部连接进行传输特性试验。验证时，去掉DUT，并调节脉冲发生器，施加与4.8.1中相同的脉冲。测得的信号与4.8.1测到的信号相差不应超过10%。如果超过10%，应加大连接线的直径(较高的对地电容将会降低特征阻抗，和改进脉冲发生器与负载的匹配)。为了确保避免在试验装置保护侧和非保护侧之间出现非期望的藕合，验证试验时，试验装置应做如下改变:如果DUT是两根引线的装置，它应该用一根长度和形式与到DUT的电流路径相同的短路连接来代替。Pz与保护连接器中央引脚的连接(见图2所示)应该去掉。一次试验应该在保护连

15、接器中央引脚断开做，另一次试验是将这个引脚接地(在保护壳内)时做。如果DUT是馈通装置，它应被同样尺寸的模拟DUT代替，模拟DUT完全由良导电金属制成，因此它可以代表一个理想的短路电路。保护连接器的中央引脚应连接到模拟DUT的输出引脚上。在这种条件下测得的残余电压峰值应小于最终试验测得峰值电压的5%。4.8.3 试验用DUT代替模拟DUT，测出残余电压值。4.8.4 DUT的最后检查试验后，应检查DUT是否有可见的破坏，进而检查其功能指标以及与HEMP相关的指标，如未出现明显变化，则试验结果有效。4.9 本部分的参考信息凡提及本部分时，应给出下述相关信息。标准程序:一对于气体放电管=所用试验夹

16、具的类型(4.5)一对于用B型夹具的两端元件的测量:连接线的长度，见焊点之间的DUT总长度(4.5.3)标准程序的更改:一一特征阻抗=如果不等于50.0. (4.2) 预期脉冲陡度du/dt:实际di/dt:DUT的更改zDUT的附加元件:如果高于1kV /ns(4. 3) 如果高于40A/ns(4. 8. 1) 如果在A型夹具试验时，断开气体放电管的连接线带有规定元件的电路图夹具内引线长度(如果引线长于正常长度)5 G/T 17626.24-20 12/IEC 61000-4-24: 1997 附录A(资料性附录)参考文献lJ IEC 61000-5-5: 1996 , Electromag

17、netic compatibility CEMC)-Part 5: Installation and mitigation guidelines-Section 5: Specification of protective devices for HEMP conducted disturbance. Basic EMC publication. 6 h户击，?coo-hVM嗣同NFRia-CNh-H阁。华人民共和国家标准电磁兼容试验和测量技术HEMP传导骚扰保护装置的试验方法GB/T 17626. 24-2012/IEC 61000-4-24: 1997 国中* 中国标准出版社出版发行北京市朝阳区和平里西街甲2号(100013)北京市西城区三里河北街16号(100045)网址总编室:(010)64275323发行中心:(010)51780235读者服务部:(010)68523946中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷各地新华书店经销导印张0.75字数13千字2013年2月第一次印刷开本880X 1230 1/16 2013年2月第一版9降书号:155066. 1-46217 16.00元如有印装差错由本社发行中心调换版权专有侵权必究举报电话:(010)68510107定价GB/T 17626.24-2012 打印日期:2013年3月18日F002A