GB T 17554.7-2010 识别卡 测试方法 第7部分:邻近式卡.pdf
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1、ICS 35.240.15 L 64 GB 中华人民共和国国家标准GB/T 17554.7-2010 识别卡测试方法第7部分:邻近式卡Identification cards-Test methods一Part 7: Vicinity cards CISO/IEC 10373-7: 2008 , MOD) 2010-12-01发布数码防伪中华人民共和国国家质量监督检验检茂总局中国国家标准化管理委员会2011-04-01实施发布G/T 17554.7-2010 目次前言.1 1 范围2 规范性引用文件3 术语和定义、缩略语和符号4 适用于测试方法的默认条款25 静电测试.26 测试装置和测试电路
2、37 VICC的功能测试8 VCD的功能测试79 VICC的工作场强测试8附录A(规范性附录)测试VCD天线附录B(资料性附录)测试VCD天线调谐附录C(规范性附录)传感线圈13附录D(规范性附录)用于VCD功率测试的参考VICC附录E(资料性附录)用于负载调制测试的参考VICC17附录F(资料性附录)频谱计算程序.四GB/T 17554.7-2010 目Ij1=1 GB/T 17554在识别卡测试方法总标题下,目前分为如下7个部分:一一第1部分:一般特性测试;一一第2部分:磁条卡;一一第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备;一一第4部分:元触点集成电路卡;第5部分:光记忆卡;第6部分:
3、接近式卡;第7部分=邻近式卡。本部分为GB/T17554的第7部分。本部分使用重新起草法,修改采用国际标准ISO/IEC10373-7: 2008(识别卡测试方法第7部分=邻近式卡)(英文版)。本部分与ISO/IEC10373-7 :2008相比,增加和修改了下列内容,并在相应条款的外侧页边空白处用单垂线标示:a) 为了使标准更加清晰易懂,增加了缩略语PCB;b) 为了便于引用,8.1.2做了编辑性修改;c) 为了避免实际应用中可能出现在规定的工作区域内VICC不能正常工作的情况,增加第9章工作场强测试。本部分的附录A、附录C和附录D是规范性附录。本部分的附录B、附录E和附录F是资料性附录。本
4、部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出并归口。本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所、东信和平智能卡股份有限公司。本部分主要起草人:冯敬、高林、袁理、金倩、黄小鹏、耿力、赵子渊。I GB/T 17554.7-2010 1 范围识别卡测试方法第7部分:邻近式卡GB/T 17554规定了符合GB/T14916识别卡特性的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多个基础标准,这些基础标准可以是GB/T14916或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。注1:接收准则不包含在本部分中,而是在以上提及的国家标准中。注2:GB/T 17554描述的若干测试方法可单独实施。
5、规定的卡不要求顺序地通过所有测试。GB/T 17554的本部分规定了元触点集成电路卡技术(邻近式卡)的测试方法。第1部分规定了为一种或多种卡技术所共用的测试方法;其他部分则规定了各个专项技术的测试方法。除非另有规定,本部分中的测试仅适用于GB/T2235 1. 1和GB/T22351. 2中定义的邻近式卡。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过GBjT17554的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
6、GBjT 14916识别卡物理特性CGB/T14916一2006,1SOj1EC7810: 2003 , IDT) GBjT 17626.2 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验CGBjT17626.2-2006 , IEC 61000-4-2: 2001 , IDT) GBjT 22351. 1识别卡元触点集成电路卡邻近式卡第1部分:物理特性CGBjT 2235 1. 1 2008 ,1SOj1EC 15693-1: 2000 , IDT) GBjT 22351. 2-2010识别卡元触点集成电路卡邻近式卡第2部分:空中接口和初始化CISOjIEC 15693-2: 2000 , IDT
7、) GBjT 22351. 3 识别卡元触点集成电路卡邻近式卡第3部分:防冲突和传输协议CGBjT 22351. 3-2008 , 1SOj1EC 15693-3: 2001 ,IDT) 1SBN 92-67-10188-9 对度量不确定性表达的指南,1SO,1993版3 术语和定义、缩晴语和符号3. 1 术语和定义下列术语和定义适用于本部分。3. 1. 1 基础标准base standard 利用测试方法验证所要符合的标准。3. 1.2 预期操作operate as intended 经受了某些潜在破坏性影响作用后,卡上的任何集成电路仍然继续保持了符合GBjT2235 1. 3基础标准的操作
8、和响应1。注:若同一张卡上存在其他的技术,则这些技术根据各自的标准也应具有可预期的操作。1 本部分并不定义集成电路卡的完整功能测试。这些测试方法仅要求验证最小功能。在适合的情况下,可以进一步补充应用特定功能准则,这些准则在一般情况下是用不到的。1 GB/T 17554.7-2010 3.1.3 测试方法test method 为了验证识别卡符合标准而对其特征进行测试的方法。3.2 缩略语和符号DUT 被测设备ESD 静电放电fc 工作场频率fl ,f2 副载波频率Hmax 最大VCD场强Hmin 最小VCD场强VCD 邻近式搞合设备VICC 邻近式卡PCB 印制电路板4 适用于测试方法的默认条
9、款4.1 测试环境除非另有规定,测试应在温度为23C士3C和相对湿度为40%60%的环境下进行。4.2 预处理若测试方法要求预处理,在测试前应将待测试的识别卡在测试环境中放置24h。4.3 默认容差除非另有规定,默认容差为士5%应适用于所给出的量值,以规定测试设备的特性(例如,线性尺寸)和测试方法规程(例如,测试设备校准)。4.4 寄生电感电阻器和电容器具有可以忽略的电感。4.5 总度量的不确足牲测试方法所决定的每个量的总度量不确定性应在测试报告中予以说明。ISBN 92-67-10188-9 , rso , 1993版中给出了对度量不确定性表达的基本信息。5 静电测试本测试的目的是检验经过E
10、SD(静电放电)测试后VICC的行为。被测VICC经受模拟的ESD(人体模型),基本操作如图1所示。ESD检2 470 kO 470 kO VICC /0.5mm厚的绝缘衬垫、-木桌上水平放置稿合导电平板,木桌高度为0.8m,并与地面平行图1ESD测试电路GB/T 17554.7-2010 5. 1 仪器见GB/T17626.2。a) ESD发生器的主要规格:一一-储能电容器:150 pF士10%;放电电阻器:330n士10%;一一充电电阻器:50Mn100 Mn之间;上升时间:0.7 nsl ns。b) 选定任选项的规范:设备的类型z台式设备;一一放电方法:直接空气放电到被测设备;一-ESD
11、发生器放电极:直径8mm的圆头探针(避免弄破卡的表面标记层)。5.2 规程按照GB/T17626. 2的规定连接测试装置。将仪器的接地插针连接到放置VICC的导电平板上。以正极性对如图2所示的20个测试区的各个区依次放电。再以相反的极性重复此过程。允许至少10s的连续脉冲间的冷却周期。警告:如果VICC带有触点,则该触点的正面朝上并且触点所在的区应不被放电。测试结束后检验VICC能否按预期操作。顶部基准边 I 2 I 3 4 I 5 -一一一-l一一一一-l一一一一一卡-一斗一一一一-6 I 7 8 I 9 10 一一一一一一一一一一一一-卜一一卜一一一11l12l13|14115 一一一-一
12、一一一一一-一-一一一一一一-一一一16 I 17 I 18 I 19 I 20 图2VICC上ESD测试区5.3 测试报告测试报告应说明VICC是否可以按预期操作。6 测试装置和测试电路6.0 综述本章定义了测试装置和测试电路,以便按照GB/T2235 1. 2验证VICC或者VCD的操作。测试装置包括:a) 校准线圈(见6.1);3 G/T 17554.7-2010 b) 测试VCD装置(见6.2); c) 参考VICC(见6.3); d) 数字示波器(见6.4)。6.1 校准线圈本条定义了校准线圈的尺寸、厚度和特性。6. 1. 1 校准线圈卡的尺寸校准线圈卡应由具有GB/T14916定义
13、的ID-1型卡高度和宽度构成的一个区域组成,并包含了与卡轮廓线同轴的单匣线圈(见图3)。6. 1. 2 校准线圈卡的厚度和材料GB/T 14916 ID-l型轮廓线线阔72mmX42 mm l fi 图3校准线圈连接校准线圈卡的厚度应为0.76mm士10%,它应采用一种适合的绝缘材料。6. 1.3 线圈特性校准线圈卡上的线圈应有1臣。线圆的外尺寸应为72mmX42 mm,转角半径为5mm。相对尺寸容差应为土2%。注1:线罔面积大约3000mm. 该线圈在PCB上制作成印制线圈,铜钱厚度为3Smo印制线宽度应为5001h,相对容差为士20%。连接焊点尺寸应为1.5mtnX 1. 5 mm。注2:
14、在13.56MHz条件下,电感近似为200nH,电阻近似为0.25!l. 高阻抗示波器探针(如:1MO , # include 拌include G/T 17554.7-2010 # include 种defineMAX_SAMPLES 5000 # define N_FSUB 32. OF / * sidebands: 13.9838 MHz / 13.1363阻z六/士#defineN_FSUB 28. OF /* sidebands: 14.0443 MHz / 13.0757 MHz六/float pi; /士pi=3.14.女/六Arrayfor time and sense coi
15、l vol tage vd古/float vtimeMAX_SAMPLES; /士time缸ray女/float vdMAX_SAMP皿S;/六Arrayfor different coil voltage士/女士女女士女女士女士六六六女士女士士六六六六女六六女士士女士女士女士士古士六古古女士女士六六六六六六女士六六六六女士六女士士女/六古古ReadCSV File Function女士士/士士女女士六/女士士Description:六六六/女士女Thisfunction reads the table of time and senseil六六六/古士士voltagefrom a Eile
16、in CSV Eormat女士士/士女士古六古/女六六Input:filename女女士/士古古古士六/女士女Return:Number of samples (sample Count)士六六/女女士oif an error occurred六六六/古六六古六六/古六六DisplaysStatistics: 六六六/六六古六古古/女士士Filename,SampleCount. Sample rate, Max/Min Volt呵巳六六六/六六古女士士士士大女六六六古六六六六求六六六六六六六女士士六士六六六女女士六六六六六士六士士女女士古六古女士女女士女女士士古古/int readcsv(
17、char * fname) float a ,b; float max_vd,min_vd; int i; F工LE六百a皿ple_file;/六六六六六古讲古肯食六六OpenFile六六六六六六古六古女女士女士女士士六六六六六六六六古六六古古女士食女士/if (! strchr(fname, ,.,) strcat(fname. .csv); if (sample_file口fopen(fname.r) = = NULL) printf(Cannot op四inputfile屯s.口,fname)I return 0; /士六六古古古六六士女士古六肯六六女士肯六女士女士古女士六古女士六六女士
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