GB T 17554.2-2015 识别卡 测试方法 第2部分 带磁条的卡.pdf

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1、ICS 35.240.15 L 64 昌中华人民共和国国家标准GB/T 17554.2一2015/ISO/IEC10373-2: 2006 识别卡测试方法第2部分:带磁条的卡Identification cards-Test methods-Part 2: Card with magnetic stripes (ISO/IEC 10373-2: 2006 , IDT) 2015-05-15发布2016-01-01实施飞吁俨夕阳晴到mhJ扩酣睡EH户、叩闹得dfYJJm自14Feb-6酣J中华人民共和国国家质量监督检验检瘦总局俗世中国国家标准化管理委员会a叩一一-GB/T 17554.2-201

2、5/ISO/IEC 10373-2 :2006 目次前言. . . . . . . . . . . 1 1 范围2 规范性引用文件. . 3 术语和定义. . 4 测试方法的默认条款. . . . . . . . . . 4 4.1 测试环境.44.2 预处理. . . . . . . . 4 4.3 测试方法的选择. . . . . 4 4.4 默认容差. . . . . . . 4 4.5 总度量的不确定度.4 5 测试方法.4 5.1 磁条区域的翘曲.45.2 磁条的高度和表面轮廓.6 5.3 磁条的表面粗糙度. . . . . . . . 9 5.4 磁条的耐磨性测试. . . 10

3、5.5 幅度测量.5.6 磁通翻转间距变化. . . . . . . . . . . . . . . . . . . 18 5.7 磁条秸合力. . . 18 5.8 静磁特性. . . . 19 5.9 波形Ui6 . . 21 5.10 高矫顽力高密度覆写.附录A(资料性附录)测试头磨损的影响和抗磨损测试头的使用. . 23 GB/T 17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2 :2006 前GB/T 17554(识别卡测试方法拟分为如下部分2-第1部分z一般特性测试s-第2部分E带磁条的卡;-第3部分z带触点的集成电路卡及其相关接口设备z-第5部分z光记忆卡p一第6部分E接

4、近式卡F一第7部分z邻近式卡。本部分为GB/T17554的第2部分。本部分按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。本部分使用翻译法等同采用ISO/IEC10373-2: 2006识别卡测试方法第2部分t带磁条的卡。与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下z二GB/T131-2006 产品几何技术规范(GPS)技术产品文件中表面结构的表示法(lSO 1302: 2002 , IDT) ; -GB/T 9286-1998 色漆和清漆漆膜的划格试验(eqvISO 2409:1992)。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。本部分由中华人

5、民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)归口。本部分起草单位z中国电子技术标准化研究院、云南南天电子信息产业股份有限公司、山东省标准化研究院。本部分主要起草人:夏蝉娜、段霞、冯敬、金倩、杨扬、耿力、乔申杰、袁理、王文峰。I GB/T 17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2: 2006 范围识别卡测试方法第2部分:带磁条的卡GB/T 17554的本部分规定了符合GB/T14916-2006所定义识别卡特性的一些测试方法。每一个测试方法交叉引用一个或多个基本标准，这些基本标准可以是GBjT14916-2006，也可以是一个或多个定义了在

6、识别卡应用中使用的信息存储技术的补充标准。本部分定义了特别针对磁条技术的测试方法。注1，可接受的准则不包含在本部分中，而是在以上提及的国家标准中。注2，本部分描述的若干测试方法可单独进行。对一张指定的卡不要求按顺序地通过所有测试。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GBjT 14916-2006识别卡物理特性(lSOjlEC7810: 2003 , IDT) IS0 1302 产品几何技术规范CGPS)技术产品文件中表面结构的表示法CGeometrical

7、prod uct specifications C GPS)一lndicationof surface texture in technical product documentation) IS0 2409: 1992 色潦和清漆襟膜的划格试验CPaintsand varnishes一Cross-cuttest) IS0 3274 产品几何技术产品规范CGPS)表面纹理z割面方法接触设备的标准特性(Geometrical product specifications (GPS )-Surface texture: Profile method-Nominalcharacteristics o

8、f contact (stylus) instruments) IS0 4288产品几何技术产品规范(GPS)表面纹理z割面方法表面纹理评估的规则和程序(Geometrical product specifications CGPS)-Surface texture: Profile method-Rules and procedures for the assessment of surface texture) IS0jlEC 7811-2识别卡记录技术第2部分:矫顽力磁条(ldentificationcards-Recording technique-Part 2: l1agnetic

9、stripe-Low coercivity) IS0 jIEC 7811-6识别卡记录技术第6部分z高矫顽力磁条(ldentificationcards-Recording technique-Part 6, Magnetic stripe二Highcoercivity) IS0jlEC 7811-7识别卡记录技术第7部分:高矫顽力高密度磁条Identificationcards Recording technique-Part 7: Magnetic stripe High coercivity, high density) lEC 454-2 电气用途的压敏胶带规范第2部分E测试方法CSp

10、ecification for pressure-sensitive adhesive tapes for electrical purposes-Part 2: Methods of test) 3 术语和定义下列术语和定义适用于本文件。1 GB/T 17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2: 2006 3.1 测试方法t四tmethod 为了确认识别卡符合若干国家或国际标准而对其特性进行测试的方法。3.2 可测试功能testahly functional 经受了某些可能的破坏性作用后，仍有以下功能:a) 卡上的任何磁条都给出了根据基本标准进行暴露前后信号幅度间的关系;b)

11、卡上的任何集成电路仍然给出了符合基本标准的复位应答响应;c) 与卡上的任何集成电路相关的任何触点仍然结出了符合基本标准的电阻和阻抗zd) 卡上的任何光存储器仍然结出了符合基本标准的光特性;e) 卡上的任何非接触集成电路仍然可按其用途进行操作。3.3 3.4 翘曲warpage 与平面的偏差。磁通翻转每毫米flux transitions per millimelre ft/mm 应用于磁条磁道上的线性记录密度。3.5 记录recording 用所有规定适用的测试参数，根据本部分规定的测试方法建立一个磁通翻转的磁道。3.6 编码enooding 根据一种编码规则，建立一个修正间距的磁通翻转的磁道

12、，以表示数据。3.7 表面粗糙度snrface roughness 表面区域的分布结构，在国家或国际标准中参照不同的分辨率和计算方法进行的规定。3.8 幅度测量amplitude meru;urements 用所有规定可用的测试参数值，根据本部分给出的洒试方法测量磁条的读出信号幅度。3.9 磁通翻转间距变化flux transition spacing variation 沿着平行于编码磁道的中心线的方向，测量到的相邻磁通翻转间距与标称间距的偏差。3.10 3.11 3.12 2 磁条黠合力m吨neticstripe adh四ion磁条和卡片间蒙古合的强度。正常使用normal use 涉及对

13、卡技术而言是适当的设备处理的识别卡使用，以及设备操作之间个人文件的存储。GB/T 14916-2006，定义4.4J静态饱和M(H)回钱static saturation M(H) loop 磁场强度以足够慢的速率在极限值-Hmax和十Hmax之间循环变化时，回线不再改变，此时的正常GB/T 17554.2-2015月SO/IEC10373-2: 2006 磁滞回线就是静态饱和M(H)回线。(见IEC50(221) 3.13 矫顽力coercivity H=H乌持续作用的磁场从先前的饱和磁化状态，沿相反方向把磁化减小到零时，在与磁条纵轴平行的方向测量到的磁场强度。(见IEC50(221) 3.

14、14 剩余矫顽力remanent coercivity Hr 作用的磁场把材料从先前的饱和磁化状态沿相反方向减小到零时，在与磁条纵轴平行的方向测量到的磁场强度。3.15 3.16 奥斯特oersted Oe 磁场强度高斯CGS制的单位，通常用在磁记录行业，约等于79.578A/mo 静态消磁static demagnetisation S160 在相反磁场强度的作用下，磁化的减小;以(Mr-M+(-160)Mr描述F磁场强度值在H=O和H=-160 kA/m之间的静态饱和M(H)回线的消磁象限的平均斜率。3.17 3.18 3.19 矩形比吨uaren四SSQ 零磁场强度(H=O)下的磁化值M

15、r与静态饱和回线上Hmax处的磁化值M(Hmax)的比值。注:SQ=Mr/M(H.) 纵向矩形比longitndinal squ町enessSQII 平行于磁条的纵轴方向测量到的介质矩形比。垂直矩形比perpendicular squareness SQ j_ 垂直于磁条平面测量到的介质矩形比。3.20 3.21 开关场分布switching field by derivative SFo 静态磁化曲线M(H)的微分曲线的半高宽度除以同一静态磁化曲线上矫顽力的值。开关场斜率switching field by slope SFs 在静态磁化M(H)回线上截取M(H)=0.5Mr和M(H)=一0

16、.5Mr时的磁场强度的差值，除以矫顽力。注:SFs=(IH21一IHl i)/H.M其中M(一IH11)=O.5MM(一IH2i)=一O.5M，.3 GB/T 17554.2-2015月SO/IEC10373-2 :2006 3.22 3.23 最大矩形角angle of maximum叫uareness(SQmu) 矩形比取最大值时的方向和磁条纵轴方向间的夹角。分辨率resolution 一些规定的较高记录密度的平均信号幅度除以一些较低记录密度的平均信号幅度，再乘以100，以百分比的形式表示。3.24 UFI 在磁条整个披形的傅立叶频谱上规定频率下的基波的幅值。4 测试方法的默认条款4.1

17、测试环境除非另有规定，测试应在温度为23.C士3.C和相对湿度为40%60%的环境下进行。4.2 预处理若测试方法要求预处理，在测试前应将被测卡在测试环境中放置24ho 4.3 测试方法的选择测试应与在相关基本标准中定义的被测卡的属性要求相符合。4.4 默认害羞除非另有规定，士5%的默认容差应适用于已给出的量值，以规定测试设备的特性(例如z线性尺寸和测试方法步骤(例如:测试设备校准)。4.5 总度量的不确定度这些测试方法所确定的每个量的总度量的不确定度应在测试报告中予以说明。5 测试方法5.1 磁条区域的翘曲本测试的目的是测量被测样品卡磁条区域的翘曲程度(见ISO/IEC7811-2 , IS

18、O/IEC 7811-6，和ISO/IEC 7811-7)。本测试适用于凸印卡和非凸印卡。5.1.1 副试装置4 测量装置如图1所示，包括za) 一块符合ISO1302要求，表面粗糙度不大于3.2m的水平刚性板。该平台应含有一个使千分尺的探头能通过的小孔;GB/T 17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2: 2006 b) 一个精度为2.5m的千分尺，上面有探头，探头的接触区是一个直径为3mm-8 mm范围的半圆球，探头的外压力应为F=0.6N土0.3N; c) 在相对于磁条区域的卡片正面均匀施加F=2.2N的力。无比例关系F斗f基准面千分尺精度2.51JItI) 圄1测量装置

19、5.1.2 步骤将样品卡正面向上放在水平刚性板上。将要测量的磁条区域置于小孔之上。在2.2N的负载力之外应增加一个外力J，用以补偿千分尺探头在相反方向上施加的力。将这个力F(+f)直接施加于磁条区域对应的卡的正面。在进行任何测量前等待1min. 如图2所示，沿着磁条上的9个位置点测量卡片磁条区域的翘曲。如果磁条其他区域的翘曲出现大于这9个指定区域的翘曲，则其他区域也应被测量。+ + + + + + + 注:X的数值在表1中给出。图2卡片的测量区域单位为毫米无比例关系5 G/T 17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2:2006 表1线性测量点的位置测试磁条区域X/mm 第1磁道

20、和第2磁道8.00 第1磁道、第2磁道和第3磁道10.70 5. 1.3 测试报告测试报告应给出从这9个测量点上得到的最大值。5.2 磁条的高度和表面轮廓本测试的目的是确定被测样品卡的磁条高度和平坦度(见ISO/IEC7811-2 , ISO/IEC 7811-6和ISO/IEC 7811-7)。磁条的高度由卡的基准面和磁条的表面轮廓决定。5.2.1 测试装置6 要求的条款如下za) 一个轮廓曲线仪(见图3); b) 一个有凹口的刚性金属板如图4所示。任何一种刚性金属都可以用来制作成此金属板，但是它的厚度要根据此种金属的密度加以调整，以使其重量为2.2N土0.1N。此金属板的整体尺寸偏差范围应

21、在0.5mm之内。无比例关系到盐和记录工具传感器圄3磁条高度和表面轮廓的测量装置GB/T 17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2:2006 单位为毫米元比例关系15.00 10.00-15.0。15.00 M叫-00NN-00 10.00-15.0。10.00-15.0。42.00 84.00 卡片固定摄(接触区域图4步骤将被测卡固定在如图4所示的有凹口的刚性金属板下方。使用测量记录工具测量磁条的高度和表面轮廓以及卡表面的周围区域。用半径为0.38mm2.54 mm，力度为0.5mN6 mN的探针，以最大1mm/s的速度测量轮廓。穿过每个样品的磁条宽度做3次测试。3个位置V、

22、X、Y被定义为距离卡的各端15mm土2mm, X位于卡的中心线上(见图5)。如果卡片其他区域的高度或表面轮廓的偏离超出了以上3个区域的偏离，则其他区域也应被测量。沿着V、X、Y各条线的测量开始于磁介质上边缘以上最小1mm处，结束于磁介质下边缘以下最小1mm处。注s在准备对卡进行表面轮廓测量肘，用锋利的小刀在卡表面轻轻地划一条平行于卡的上基准边缘的线，对于在轮廓记录上定位磁条的最小宽度W是有用的。5.2.2 单位为毫米无比例关系二是小。-il -g 15.00土2.0015. 00 :t2. 0。L一一一一7 磁条轮廓的测量位置圄5GB/T 17554.2-2015月SO/IEC10373-2

23、:2006 5.2.3 结果的表示5.2.3.1 磁条的表面轮廓沿着V、X和、Y线进行测量见图日，把定义磁条最小宽度边缘的顶端点和底端点相连接形成的第一条基本测量线(见图6和图7)。这条基本测量线应位于记录方向图10。以内。最大的垂直偏差(a)是基本测量线和距离基本测量线最远的磁介质上的点之间的距离。应垂直于记录方向图进行测量。说明za一一最大垂直偏差zb=l mm(最小); 川w 基本测量线W一一相关基本标准规定的最小磁条宽度。说明za一一最大垂直偏差zb=l mm(最小); b 圄6凹下的磁条轮廓W 基本测量线W 相关基本标准规定的最小磁条宽度。图7凸起的磁条轮廓5.2.3.2 磁条的高度

24、什b 沿着V、X、Y3条线测量，连接起点和终点形成一条基本测量线(见图8和图的。这条基本测量线应位于记录方向图10。以内。GB/T 17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2: 2006 最大的垂直偏差(h)是基本测量线和距离基本测量线最远的磁介质上的点之间的距离。应垂直于记录方向图进行测量。广磁条区域丁丁说明:b=l mm(最小); h一相关标准规定的最大垂直偏差。图8凹下的磁条轮廓b 磁条区域b 7/用说明zb=l mm(最小); h 相关基本标准规定的最大垂直偏差。圄9凸起的磁条轮廓5.2.4 测试报告5.2.4.1 磁条的表面轮廓测试报告应该给出沿V、X、Y线测量到的3个

25、最大垂直偏差(a)的值。5.2.4.2 磁条的高度测试报告应该给出沿V、X、Y线测量到的3个最大垂直偏差(h)的值。5.3 磁条的表面粗糙度本测试的目的是确定被测卡的磁条表面粗糙度(见ISO/IEC7811-2和ISO/IEC7811-6)。9 GB/T 17554.2-2015月SO/IEC10373-2: 2006 5.3.1 步骤卡的磁条表面粗糙度应使用如图3所示的测量记录工具进行测量。经过磁条表面最粗糙的区域，在每个方向上至少要测量3次。所有的测试条件已在5.2中规定，除了z一一探针半径为2m或者5m;一一根据IS03274和IS04288，选择截止波长和粗糙度评估长度;一一在磁条上进

26、行纵向和横向的测量。5.3.2 测试报告测试报告应给出在纵向和横向两个方向上测量到的磁条瞿糙度的中心线平均值乱。5.4 磁条的耐磨性副试/本测试的目的是确定在受控磨损以后被测样品卡上磁条的信号幅度。见恼。/IEC7811-2和IS0/IEC 7811-6) 5.4.1 测试装置一个硬度在110HV130 HV(维氏单位)或相等同的洛氏单位之间的金属仿真头。尺寸要求见图10。一个能够固定卡片的刚性板 圄10仿真头接触区域的尺寸、5.4.2 步骤/ / / 斜面/ 单位为毫米无比例关系使用测试记录电流lmin以20ftll / mm (500 ftpi)密度进行记录，读出并且记下信号幅度。测量按基

27、本标准的规定进行。磁条面朝上，把卡在平台上扣牢以让仿真头可以在卡上来回移动磁条的长度，或者也可以让卡在仿真头底下移动(见图11)。在把卡固定到刚性板上时要小心，以确保卡在测试过程中保持平坦和固定。在仿真头上施加一个1.5N:!:0.2 N的力，并且允许仿真头以200mm/ S 500 mm/ s的速度来回移动2000次循环，(一次循环相当于一次向前和向后的运动)。在同一个仪器上读取信号幅度并与测试开始时得到的信号幅度相比较。读、写头的位置应完全包含在由仿真头磨损的带状区域内。1) 1 ft=3.048XIO-1 m. 10 GB/T 17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2:

28、2006 元比例关系Hm-OOZ忡。-MOZ仿真头/二剧性版卡片宽度移动距离仿真头和磕条圈11测试报告5.4.3 测试报告应给出磨损前和磨损后在基本标准中定义的信号幅度值。幅度测量本测量的目的是测量被测样品卡磁条的信号幅度、分辨率、擦除、消磁和被形特性，以检查其与适当的基本标准的一致性，诸如:一一检查当磁条矫顽力达到大约48kA/m时，其与1SO/IEC7811-2的一致性;一一检查当磁条矫顽力高于80kA/m时，其与1SO/1EC7811-6的一致性;一一检查当磁条矫顽力高于80kA/m.并且记录密度为40ft/ mm (1 016 ftpi)时，其与1SO/1EC 7811平的一致性。注2

29、消磁和波形特性仅在ISO/IEC7811-6中要求，5.5 11 GB/T 17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2: 2006 校准基准校准基准卡应该根据基本标准进行选择，其一致性将与基本标准相对应z当基本标准是ISO/IEC7811-2时，使用基准卡的类型为RM7811-2; 当基本标准是ISO/IEC7811-6时，使用基准卡的类型为RM7811-6; 当基本标准是ISO/IEC7811-7时，使用基准卡的类型为RM7811-7o 注1:基准卡可从美国Q-card公司订购。给出此信息是为本部分的使用者提供方便，并不组成标准的本部分对指定产品的背书。注2:清洗剂会造成对被鉴

30、定过的卡片属性的破坏。任何被清洗剂处理过的基准卡都不再被认为是被鉴定过的，而且应该被销毁。5.5.1 测试装置5.5.2 在5.5.2.1、5.5.2.2、5.5.2.3和5.5.2.4中给出的条款和特性，对记录/读出系统作出了要求。机械驱动卡在测量期间应保持平整。驱动系统应具有变化量不超出士0.5%的平均传送速度和稳定的仿真头压力。注z速度和测试头压力的变化会降低测量的精确性。特别应注意的是，瞬时速度变化会影响到单个信号幅度测量的精确性。如果使用的驱动速度变化超出土0.5%，则实际的速度变化应记录在测试结果中。5.5.2.1 测试头测试头应包括独立的写头和读头，头体由非磁性材料构成，如黄铜或

31、铝。为了确保适当的频率响应，读测试头应该由最大厚度为0.18mm的金属薄片构成。写头铁芯应由图12所示的金属叠片构成。前端间隙的填充材料应为镀铜，不含铁磁杂质。抗磨损涂层不应被使用(参见附录A)。5.5.2.2 单位为毫米无比例关系 0.38-0.76 写伺隙2.D材UH-H0.12-0.16 1. 52士0.13固1212 GB/T 17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2:2006 缠绕在写头铁芯每条引脚上的100圈线固不能超过两层，全部4条引线都应终止在磁头外部，如图13所示。此麦丽的永久识到标记一一一一-(T) -绕线端绕线端标记一一一-N S 黑(-)红。圄13副棋写

32、头线圈连接无比例关系间朦宽度和磁道宽度等在表2中给出。表中所有的数值都应光学测量。表2测试头参数测试头功能读写基本标准ISO/IEC 7811-2 ISO/IEC 7811-7 ISO/IEC 7811-2 ISO/IEC 7811-6 ISO/IEC 7811-7 ISO/IEC 7811-6 叠片厚度最大0.18mm 见图12曲率半径新头为19mm士10%。间隙的平坦区域是允许的与磁条接触的宽度2.8 mm-3.5 mm 磁芯宽度1.4 mm土10%0.5 mm土10.%最小2.79mm 最小1.0mm 间隙宽度12.7m土10%6m土10%0.025 mm士10%0.051 mm士10%

33、0.025 mm士10%饱和磁通密度最小0.8T最小2.3T注2测试头平坦区域的尺寸对维持与磁条的良好接触有影响。测试头磨损后有必要进行再校准。测试头安装时应使它们在机械上彼此独立，并且方位角误差小于10。它们在排列时应使读磁道的中心线位于写磁道中心线的土0.15mm范围以内。作用在测试头上的力在校准时应调整为从基准卡上获得最大输出时的最小值，但不应超过7N。注2典型的测试头作用力为3N. 5.5.2.3 写头驱动在标称记录密度为8ft/mm(200 ftpi)和20ft/mm(500 ftpi)时，记录电流I的波形如图14a)所示。此图不符合ISO/IEC7811-7的要求，符合ISO/IE

34、C7811-7要求的记录电流波形如图14b)所示。17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2: 2006 G/T 0.15盯+T.)I: 2 飞、 、，4i矗,1 . . t 咀，1. II 11 I、，r , I 11 I I 1. I . l , 1 , I , 11 ,. -. . .自，疆t注，:电流波形应保持在虚线显示的限制内。注2:波形的脉冲间隔比应为T，=T，土5%。默认记录电流波形圄14a仁一一0.35T，+马_=1_1_.trof l Lid O. lT,+T.) ; ，|,ft111141114-J : : : ; -喃-啕-Et-P - 卢国、-飞、-飞、-

35、飞、-、-E、.、i、1、1id咀咱阉J川JUt，aaetILT 2 T, 几=T2土0.02T注，:电流波形应保持在虚线显示的限制内。注2:波形的脉冲间隔比应为T，=T，士5%。符合ISO/IEC7811-7测试时的记录电流波形圄14b14 GB/T 17554.2-2015月SO/IEC10373-2: 2006 5.5.2.4 读出子系统连接到读出子系统中的读头的有效剩磁，在基准卡经过了5次成功的只读操作后，不应使基准卡的平均信号幅度衰减超过5%。当使用测试记录电流1m皿(见5.5.3.3)和如下测试记录密度在基准卡上进行测试时，读出子系统的分辨率应在85%100%:一一当测试符合ISO

36、/IEC7811-2和ISO/IEC7811-6时，使用的记录密度为8ft/ mm (200 ftpi)和20 ft/ mm (500 ftpi) ; 一一一当测试符合ISO月EC7811-7时，使用的记录密度为20ft/mm(500 ftpi)和40ft/mm (1 016 ftpi)。读出子系统还应包含za) 一个线性放大器E此放大器应无自动增益控制，噪声小于UR的0.5%(见5.5.3.2)，并且其频率响应在如图15所示的位置2和位置3相对应的频率范围内是平坦的，且增益波动在:1:0.2CIB内。此范围对应的滤波器的带通特性在c)中描述。在此范围以外，响应不可上升。b) 显示和测量的方法

37、:用诸如存储示波器的设备来确定信号峰值的幅度。c) 一个带通滤披器:l比滤波器用于除了擦除信号(UA4)和额外脉冲信号(Ui4)之外的所有测量中。滤波器的上下边缘带应呈现二次响应(斜率为12dB/octave). 在对应于0.25cycles/mm10.5 cycles/mm频率范围之间的带通响应是平坦的，容限在0.2dB 内。特性要求如图15所示。在频带边缘之后滤波器响应应继续下降至少10倍，并且在此10倍的范围以外不能高于一40dB。10倍范围以外的其他滤披功能也是可用的。增益/dB2 3 0.2 dB -3 dB 4 测试记录密度或测试磁通翻转密度位置测试记录密度测试磁通翻转密度cycl

38、es/ mm (cycles/in) ft/皿m(ft/in)ISO/IEC 7811-2 IS ISO/IEC 7811-7 ISO/IEC 7811-6 ISO/IEC 7811-6 1 0.009 (0.23) 0.018 (0.46) 2 0.25 (0.63) 0.05 (1.27) 3 10.5 (267) I 2811) 21 (533) I 56 (1 422) 4 30 (762) I 80 (2阳60 (1 524) 圄15谑波器特性15 GB/T 17554.2-2015/ISO/IEC 10373-2:2006 5.5.3 步骤所有的测量序列都应在同样的设备和同样的条件

39、下进行。所有测量的磁条信号读出方向应与记录方向一致，测量数据应在磁条经过磁头相同次数后获得。5.5.3.1 确定测试用写头的磁逼/电流特性用以下方法描述写头的特性，以得到磁通输出和写电流的关系。对于每个电流幅度(1)，使用如图16描述的设备，记录相应的磁通幅度(F)。1 000 Hz 正弦波发生器 电流测量装直写线圄示波器测试头+ + + 放大器狈分器注1:电流源的电压/电流线性关系应优于土2%。注2:积分器损耗=2000XRC坦6283XRC应至少为200.固16典型的头特性测试装备5.5.3.2 通过基准卡确定Umax和Ia使用基准卡和适合的基本标准规定的校准测试记录密度，画出饱和曲线以确

40、定最大信号幅度(Um皿和基准电流(1R)。基本标准ISO/IEC7811-2和ISO/IEC7811-6规定的校准测试记录密度为8 ft/mm(200 ftpi),ISO /IEC 7811-7规定的是20ft/mm(500 ftpi)。对于每一个电流幅度，记录基准卡上相应的平均信号幅度的数值。在使用每个电流幅度进行记录之前，先用高频交变电流擦除卡片。擦除的程度要充分，以确保平均残留信号小于0.05URo 进行本校准过程(用以通过基准卡确定UR的值)，应保证在基准卡上的记录(写)操作通过后，紧接16 GB/T 17554.2-2015/囚/IEC10373-2: 2006 着进行读操作。注1:

41、在读操作进行之前，记录通过以后的任何读和写的接触都会影响UR的结果值。校准过程至少要进行3次。如果输出的变化大于2%(即士1%)，应重复校准过程。注2:建议用户定期地通过比较5个鉴定过的基准卡的信号输出来检查基准卡的精确性。5.5.3.3 导出基准值如下所示计算基准信号幅度(UR)、测试记录电流(1富宵min宫nU UR=二工二a 式中a是基准卡的校准因子，定义如下z度一度幅一幅卡一准准一标基一主a 导出下列基准量的值2a) 1R=当U等于0.8XUR的基准电流。b) FR=当电流为1R时的基准磁通。c) 按符合ISO/IEC1811-2的要求进行测试，Imn=当磁通为3.5XFR时的电流4按

42、符合ISO/IEC7811-6的要求进行测试，lmin=当磁通为2.8XFR时的电流p按符合ISO/IEC7811-7的要求进行测试，lnn=当磁通为2.2XFR时的电流。d) 按特合ISO/IEC7811-2的要求进行测试，1，x=当磁通为5.0XFR时的电流z按符合ISO/IEC7811-6的要求进行测试，lmax=当磁通为3.5XFR时的电流z按符合lSO/IEC7811平的要求进行测试，1叫=当磁通为2.5XFR时的电流。注2仅当雄查符合IS0月EC7811-2，1995的一致性时，需保证符合以下准则:一-(A2 0.95U R 一-0.91皿5.01R1.1I叩仅当检查符合ISO/I

43、EC7811-6: 1996的一致性时，需保证符合以下准则:一-UA20.95VR0.81 m, 3.51 R 1.2I mAX 5.5.3.4 测量被测卡在基本标准规定的各种测试条件下记录和读取被测卡。除了擦除性和额外脉冲测试之外，在测试前和每个单强的测试前，都要使用高频交变电流对被测卡进行擦除。擦除的程度要充分，以确保平均残留信号小于0.05VR 0 在覆写测试的两次记录之间不能对卡片进行擦除处理，因为此测试特别要求对覆写前和覆写后的信号幅度进行比对。为了进行擦除性和额外脉冲测试，在对测试卡擦除之前，要对它用记录电流1max以测试记录密度1进行记录。在按照ISO/IEC 7811-6的要求

44、进行消磁测试前，要用适合的基本标准规定的1min的电流值进行记录，记录密度在基本标准为ISO/IEC7811-2或ISO/IEC7811-6时是20ft/ mm (500 ftpi);在基本标准为ISO/IEC7811-7时是40ft/mmO 016 ftpi)。5.5.4 测试报告测试报告应该给出由基本标准定义的量的测量数值。除了与每个量相关联的总度量的不确定度之外，还应该说明测量的驱动速度变化是否大于土0.5%，以及测试头是否包含抗磨损涂层。17 GB/T 17554.2-2015月SO/IEC10373-2: 2006 5.6 磁通翻转间距变化本测试的目的是确定已编码被测样品卡的磁通翻转位