GB T 17360-1998 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法.pdf
《GB T 17360-1998 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《GB T 17360-1998 钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法.pdf(8页珍藏版)》请在麦多课文档分享上搜索。
1、ICS 37.020 N 33 f且主-.-. 共GB/T 17360 1998 Si、MnMethod of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and岛1nin steels 1998- 05 -08发布1998 -12 - 01 国家质技术监督局发布GBjT 17360-1998 去一口本标准尚无相应的国际标准,为首次制定的我国国家标准。本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。本标准由全国微束分析标准化技术委员会负责解释。本标准起草单位.中国科学院金属研究所。本标准起草人z尚玉华、徐乐英.
2、注2本工作得到了国家自然科学基金(59471067)号的资助.前, 一干吗一2 范围中华人民共和国国家标准钢中低Si、Mn的电子探针Method of quantitative electron probe microanalysis on low contents of Si and Mn in steels G/T 17360-1998 本标准规定了低合金钢和碳钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法一一-标定曲线法。本标准适用于带波谱仪的扫描电镜.引用标准下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本均为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应
3、探讨使用下列标准最新版本的可能性。3 GB/T 4930-93 电子探针分析标准样品通用技术条件GB/T 15074-94 电子探针定量分析方法通则方法原理在低含量范围内,元素发射的特征X射线的强度比与含量之间近似线性关系。根据这一特点,采用至少五种不同Si含量、不同Mn含量的Fe-Si和Fe-Mn系列组合标佯各)套。在常规实验条件下,分别绘制出组合标样中SiMn的含量C;(Si)、C;(Mn)与测定的Si和Mn的X射线强度比K;(Si)、K;(Mn)的关系曲线称为标定曲线,见图Al),利用标定曲线便可由测量强度比,在标定曲线上获得待测钢样中低含量Si、Mn的含量。在一定实验条件下,元素Si、
4、Mn的X射线强度比K;(Si)、K;(Mn)由下式给出gK;(Si) = I;(Si)/I,(Si) K;(Mn) = 1;(Mn)/I, (Mn) 上述两式中的1;(Si)、1;(Mn)分别为Fe-Si、Fe-Mn组合标祥SiK、MnK线的强度.I,(Si)、1,(Mn)分别为纯Si、纯Mn标样中SiK、MnK线的强度.1为组合标样中单个标样的序号。4 4. 1 4.2 4.3 5 仪器与辅助设备电子探针分析仪。制备样品装置和金相显微镜.超声波清洗装置。标样5. 1 推荐国家标准样品:Fe-51组合标样,编号为6S8A70107-70114-96.其中Si的标准成分分别是20.42% , 0
5、.63% .0.71% .0. 87%. 1. 65% .2.92% , 3.53% .4. 51%.余最为Fe;Fe-Mn组合标样,编号为国家质量技术监督局1998-05-08批准1998-12-01实施l 一GB/T 17360-1998 GSBA 70043 -70050-89,其中Mn的标准成分分别是0.18%,o. 25% , o. 32% , 0: 53% , o. 85% , 1. 76% , 2. 34% ,3.45%,余量为Fe.6 6. 1 6.2 6.3 6.4 7 试样制备按金相试样制备方法将试样研磨抛光。在200-500倍金相显微镜下观察样品表面,达到分析部位无污染及
6、其他缺陷。将试样与标样同时浸泡在无水酒精中,用超声波装置清洗约10min,取出后立即用吹风机吹干。根据需要可将试样与标样表面作同样轻度腐蚀处理或者均不腐蚀。绘制标定曲线7.1 实验条件7. 1. 1 仪器处于定量分析所要求的稳定状态,见GB/T15074. 7. 1. 2 采用微分测量方式,选择合适的波高分析器参数,以排除高次线的干扰。7.3 Si和Mn的测量线均为Ka,测量SiKa时可选用TAP或RAP晶体,MnK的测量可选用L1F晶体。7.1. 4 Hl: SiK时加速电压选为15kV,MnK的加速电压为20kV。7. 1. 5 电子束流为10-3X 10- A。7.1.6 电子束斑直径采
7、用1m和50m两种;束斑1m用于测量钢材中的元素偏析,50m用于测量钢材的平均成分。7. ,. 7 计数时间2峰值计数时间T,=10-605,使累积计数达5000以上,即标准偏差小于(5OOO)t / 5000X100%=1.41%,背景计数时间Tb=T,/2。7.2 测量步骤7.2. 1 测量标样的X射线强度比(1)用波谱仪定点测垦Fe-Si组合标样中单个标样的SiK之峰值强度I,(Si)和背景强度Ib(Si), 分别得到单个标样的强度zI;(Si) = I ,(Si) - Ib(Si) 用同样步骤得到Fe-Mn系列组合标样中单个标样的强度gI;(Mn) = I ,(Mn) - h(Mn)
- 1.请仔细阅读文档,确保文档完整性,对于不预览、不比对内容而直接下载带来的问题本站不予受理。
- 2.下载的文档,不会出现我们的网址水印。
- 3、该文档所得收入(下载+内容+预览)归上传者、原创作者;如果您是本文档原作者,请点此认领!既往收益都归您。
下载文档到电脑,查找使用更方便
5000 积分 0人已下载
下载 | 加入VIP,交流精品资源 |
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- GB 17360 1998 钢中低 含量 Si Mn 电子探针 定量分析 方法
