GB T 13179-1991 硅(锂)X射线探测器系统.pdf
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1、UDC 539. 12. 074. 2 F 88 -f -.-. , 1991-04-11发布共GB/T 13179 91 )X 器Si (Li) X-ray detector system 1992-05-01实施国家技术监督局发布v、中华人民共和国国家标准GB/T 13179-91 器系统射线探)X 硅(Si (Li) X-ray detector system 主题内容与适用范围本标准规定了硅铿)X射线探测器系统的产品分类、技术要求、试验方法和检测规则等.本标准适用于带有液氮贮存容器的室内用硅(钮)X射线探测器系统,但不适用于扫描电镜的、便携式或非液氮冷却硅(铿)X射线探测器系统。引用标
2、准2 GB 8992 硅惺)X射线探测器系统测试方法GB 10257 核仪器与核辐射探测器质量检验规则术语、符号3 3.1 峰尾比Papeak-to-tail ratio 钮的X射线谱线中K.峰最高计数道计数与对应能量为1keV处附近平均计数的比值.3.2 R:能量分辨率.产品分类4 4.1 产品的标记产品标记由产品型号及特征代号组成。产品型号为GL 2 xx 顺序号半导体X射线探测器系统表示冷室和端帽形式表示灵敏面积表示能量分辨率4.2 产品规格产品规格按灵敏面积及能量分辨率划分见表1.1992-05-01实施国家技术监督局1991-04-11批准1 为义含及序顺型其移E嘿缸铿字胆础三由号m
3、一特的后号型13179-91 GB/T 硅(铿)X射线探测器系统产品规格表表1标i己灵敏面积能量分辨率mm eV GL2X X-160-012-X X 12 R ;160 GL2X X-IG5-012-X X 12 160 1401 50与801201 701 5.6 系统的8h峰位漂移应小子。.5%。5.7 液氮消耗量应不大于1.2 kg/d。5.8 系统的能量刻度积分非线性应不大于0.1%。5. 9 系统的温度效应引起的脉冲高度变化应不大于0.05%/:。5. 10其它要求g铁窗直径必须大于探测器灵敏顶直径,镀窗表面不得涂有其它材料或留有胶丝;各连接处螺钉必须齐全、回紧,前置放大器上各插座
4、必须安装牢固并标有用途ge. 应配有温度传感器,以便与液氮水平监测器连接使用.当探测器升温时,能自动切断俯压,保护探测器不致损坏。200 C. d. b. a. 试验方法E 各项指标的测试除另有规定外,一般应在表5所列基准条件下进行.无异议时,可在室温条件下进行.6. 1 能量分辨率测量按照GB8992中5.2规定的仪器和方法进行测量.6.2 噪声测量按照GB8992中5.1规定的仪器及方法进行测量。表5基准条件影响量主主准值偏差或范围环挠温度20C 士2C相对湿度65% 55%-75% 大气压强101.3 kPa 86-106 kPa 电压频率50 Hz :!:0.5Hz 电压波形正弦波波形
5、总畸变5%4 GB!T 13179-91 续表5影响量基准值偏差或范围环境辐射0.2Gy/h 0.25Gy/h 交流电压220 V 士2.2V 外磁场干扰可忽略小于引起干扰的最低值外界电磁感应可忽略小于地磁场引起干扰的2倍放射性沾染可忽略可忽略振动可忽略小于引起干扰的最低值6.3 峰尾比的测量按照GB8992中5.3.2规定的仪器和方法测量P,值。6.4 峰谷比的测量按照GB8992中5.3. 1规定的仪器和方法测量。6.5 长时间漂按照GB8992中8.2规定的仪器和方法测量系统的8h漂移B6.6 液氮消耗量测量利用磅秤称量系统的液氮消耗量.每隔24h测量一次系统总重量.以相邻的两次测量值之
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