GB T 2424.19-1984 电工电子产品基本环境试验规程 模拟贮存影响的环境试验导则.pdf
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1、中华人民共和国国家标准电工电子产品基本环境试验规程模拟贮存影响的环境试验导则Basic environmental testing procedures for electric and electronic products Guidance for the environmental tests simulating the effects of storage 本标准适用于电工电子产品。制订本标准的日的是指导选挣合适的贮存试验方法及试验严酷等级。UDC 621.3:620.1 GB 2424 .19-84 本标准寄放采用国际标准IEC 68 2 48 (I EC 68号标准的试验方法用于
2、模拟贮存影响的导则(1982年第一版)。1 贮存的定义本导则巾,贮存是指元件、设备或其他产品在非时乍状态下(如下到三种条件之一)保存比较长的时间(几J!l.期至若干年)。a. 在五、IV.仓库、商业零售库等环境条件下。b. 备用、应急用的设备或成套装置。例如2火灾报警器、辅助电动机、备用发电机等。由于受周围设备E作的影响,可能经受严酷的环境应力。c. 需长时间才能安装完的成套设备。例如:大型电话交换机、大型计算机装置、电站等,其初始环境比五作环境严酷得多。ft 应参与k述条件有关的环境数据的专业标准。2 贮存试验的定义和目的贮存试验是指产品在规定的贮存寿命期内,模拟一种或多种环境应力对产品的影
3、响。当疲劳积累存在时,贮存试验可以用来确定下列问题:a. 贮存是否影响产品在其预定应用中的使用。例如2兀件引线或印刷电路板的可焊性是否变坏,是伴越过规定的电参数漂移值,是否造成开路或短路sb. 贮存以后,产品r作时主要性能或可靠性是否降低,c. 对于应急设备,在长期不工作之后,其准确可靠的运行能力是否受到破坏。,为确定贮存l1产品的可靠性或产品贮作后运行的oJ鲁忻,应参考电1电f户,可靠科和维修件际础。3 贮存条件下的劣化机理和失效类型举例3. 1 由于氧化或基体材料和镀层之间的扩散过程,能降低兀件引线和印刷电路板的ilJ焊性。高温加速了这些过和,并形成一个叮焊1哇大为降低的表面。潮湿腐蚀现象
4、也口Jf史可焊性降低,这种腐蚀常由l .大气中的污染物质而加速。3.2 湿度变化引起失效机理举例。3. 2. 1 即使在较低温度下,长期低温作用也口I以使某些理tIF燥。这些材料经过贮存之后使用时,真也性能和l机械性能都会下降,随之而损坏戎失烛。国家标准后198412-24发布1985 07 01实施币i 1 GB 2424 .19-84 3.2.2 由于缺少任何的自然效应,贮存期间的高温作用比王作期间的高湿作用更危险。2sl而在相对湿度高于80%的条件下,长期贮存会对产品的性能和可靠性产生有害的影响。3.2.3 在反复出现蜂值的高相对湿度条件下,或在温度交变的一般高湿条件下贮存时,不完全密封
5、的容器内部的湿度会逐渐增高。因此,长期贮存之后,由于温度突然降低,容器内部就会产生凝露。3.2.4 在高温和高湿条件下贮存的产品,特别是有机材料会受到霉菌生长的影响。高温和高湿还可以加速盐雾和工业气体之类的化学作用。3.3 其他失效机理举例3. 3. 1 在高温环境条件下长期暴露,可使电解电容器和电池组的电解液干洒g热塑性材料的刚性降低,防护胶和浸横蜡变软或蠕变。一般来说,在这种条件F,可加速材料的老化。3.3.2 在低温环境条件下长期暴露,可使橡胶、塑料甚至金属件变脆、产生裂纹和断裂。一些密封件会由于收缩或破裂而损坏。3.3.8 在多尘的大气中长期暴露,可使导体间积聚灰尘。在潮湿的加速作用下
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