GB T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z BM 高温 低气压综合试验.pdf

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1、中华人民共和国国藏标准电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM:高温/低气压综合试验GB/T 2423.26-92 Basic environmental testing procedures for electric and electronic products 代替GB2423. 26-81 Test Z/BM , combined dry heat/low air pressure tests 本标准参照采用国际标准IEC68-2-41 (1976)基本环境试验规程第二部分试验试验Z/BM高温/低气压试验及其1983年的修改件。1 主题内容与适用范围1. 1 主题内容本标准规定了散热和

2、非散热试验样品高温(温度渐变和突变)稍低气压综合试验的试验目的、试验设备、严酷度等级和试验程序。1.2 适用范围1. 2. 1 本标准规定的综合试验通常只有在试验样品进行单一环境试验不能得出综合环境影响时使用。1.2.2 本标准规定的试验方法只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。1.2.3 本标准规定的试验方法一次只能试验一个散热试验样品，散热试验样晶一般应按GB2423.2 的规定在无强迫空气循环的试验箱中进行。1.2.4 本标准仅适用于气压大于1kPa的压力试验。1. 2. 5 有关高度、压力和温度的关系见GB1920. 1.2.6 GB 2423.2中有关非散热试验样品试验和散热

3、试验祥晶试验应用对比的指南也适用于本标准。注2非散热试验样品的定义按GB2422中的规定，不应在低气压下测量其最热点的温度.2 引用标准GB 1920 标准大气(30公里以下月GB 2421 电工电子产品基本环境试验规程总则GB 2422 电工电子产品基本环境试验规程名词术语GB 2423.2 电工电子产品基本环竣试验规程试验B，高温试验方法GB 2423. 21 电工电子产品基本环填试验规程试验M，低气压试验方法GB 2423.22 电工电子产品基本环境试验规程试验N，温度变化试验方法GB 2424.1 电工电子产品基本环填试验规程高温低温试验导则GB 2424.15 电工电子产品基本环境试

4、验规程温度/低气压综合试验导则3 试验目的和一般说明3. 1 试验目的本试验的目的是确定元件、设备和其他产品对其使用和(或)贮存中遇到的高温和低气压综合环境国家技术监督局1992-07-01批准1993-03-01实施276 GB/T 2423.26 92 的适应性。3.2 一般说明3.2.1 本试验是GB2423.2试验Bb或Bd和GB2423.21试验M的综合。3.2.2 试验中，试验样品首先应经受有关标准中规定的严酷度等级的高温试验。如果试验过程中试验样品要工作，则要对其进行检测，以保证试验样品能够正常工作。而后在温度保持在规定值的情况下，将试验箱压力降到有关标准规定的试验压力。将此混度

5、、压力条件保持规定的时间。图1和图2表明f这一程序的剖面。*草成分最歉7. 2. 8.2.5. 8. 矗件试验量持幢测韧蛤桂圆8.2.8 恢直1.温度规直的试验温度试验箱温度一-试且样品握度试盘室温度2.气压试撞室气压试瞌筒阻力规定的试验气压罩时间h 3.试验样品通电4.础能检测私试磕样品可以断电(lil)外现幢查图l非散热试验样品的试验剖面图277 矗草草分矗草.温度理富的试验温度试验室温度2.气压试验室气压现直的试验气/i;.4.嘀幢幢测和班外观植童4 试验设备4. , 试验箱7. 韧始撞酣11 中间幢阑GB/T 2423.26-92 11.2.1, 8.2.5. 8. Z. 6, 8.

6、i!. 7 8.2.2. 8.2.1 最件试瞌8.2.3 j斗_-_-试瞌糖温度试验样品温度试磕箱压力.露时间图2散热试验样品的试验剖面图8.2. !:I 、10 恢量 、且lb| 最终检酬4. ,. , 试验箱应能产生和保持GB2423.2试验Bb或试验Bd和GB2423. 21试验M中规定的试验条件。但在温度和压力变化期间，对箱瘦的温度要求不适用。4. ,. 2 恢复压力时，应避免试验箱的辅助设备、装置和引入的空气对试验箱内的空气产生污染。4.2 安装散热试验样品进行试验时，其安装应符合GB2423.2试验田中规定的要求。5 严酷度等级5. , 一般要求5. ,. , 严酷度用温度、气压和

7、暴露持续时间表示，有关标准中应规定试验选用的严酷度等级。5. ,. 2 温度、低气压值及其容差和持续时间一般应符舍GB2423.2试验Bb或试验Bd和GB2423.21 试验M中的规定。对于这一综合试验，不管试验箱大小如何，温度(T)的容差允许更大些。即:T 100C时为士3C100C T 200C时为士5C5. ,. 3 暴露持续时间应从试验样品在低气压条件下达到j温度稳定时算起(见图1和图2)。5.2 温度、气压和持续时间的优先等级。应优先从下表中选取一组温度、气压和持续时间值。278 GB/2423.26-92 表1温度气压对应离度持续时间 kPa 臼1h 155 4 22 100 2

8、85 4 22 100 2 155 15 13 600 2 85 15 13 600 2 55 15 13 600 2 55 25 10 400 2 55 40 7 150 2 55 55 4850 2.16 40 55 4 850 2 55 70 3000 2.16 6 预处理有关标准可要求进行预处理，并规定预处理大气条件和时间。萝7 初始检测按有关标准规定对试验样品进行外观检查及电气和机械性能检测。8 件试验8.1 一般规定8. 1. 1 散热试验样品应按GB2423.2试验Bd规定优先在无强迫空气循环的试验箱中进行试验。如果用于试验的试驳箱体积足够大，能够满足GB2423. 2试验Bd规

9、定的条件，则可使用GB2423.2试验旧的方法A进行试验。8.1.2 非散热试验样晶可以在有或无强迫空气循环的试验箱中进行试验。8.2 无人工冷却的散热试验样品和非散热试验样品的试验程序8.2. 1 将处于不包装、不通电和准备使用状态的试验样品按其正常工作位置，或按有关标准规定装入试验箱.此时试验样品和试验箱的温度均为试验室环境温度。散热试验样品应通电或加电负载。8.2.2 以不超过lC/min的速率(不大于5min的平均值)将试验箱内温度调到规定的试验温度，并使试验样品在此温度下达到温度稳定。试验温度应按GB2422的2.7条规定进衍测量。注，lC/min这一最大变化速率不适用于能经受热冲击

10、的试验样品，例如通常能经受GB2423 , 22中的试珑Na或试验Nc规定的快速温变的试验样品.8.2.3 本条仅适用于试验过程中要求工作的试验样品.检验试验样品，看其能否按有关标准要求工作。而后按有关标准规定使试验样品保持此工作状态或断开电源。有关标准可以规定高温常压下进行的其他检测程序。注E非散热试验样品可以运行或加负裁.非散热试验样晶的知j景。按GB2422中L16条的规定。8.2.4 以不超过10kPa/min速率将试验箱内压力降到规定的试验值。8.2.5 本条仅适用于试验过程中要求工作的试验样品。17 GB/T 2423.26-92 对试验样品进行检测，看其是否能按有关标准要求工作(

11、如果此时试验样晶已不处F工作状态，则此检测前应先通电或施加负载)。检测后，散热试验样品应保持工作状态$非散热试验样品则应按有关标准规定保持此工作状态，或切断电源。如果有关标准有规定，可按本标准第9条进行中间检测，进行此中间检测前，散热试验样品应先达到温度稳定。8.2.6 保持此温度和压力条件达到规定的时间。B.2.7 本条仅适用于试验过程中要求工作的试验样品。在低气压时间的最后1h期间，按有关标准要求进行中间检测，而后切断电源或卸去负载。8.2.8 使试验箱内压力以不超过10kPa/rnin的速率恢复到正常压力，同时试验箱温度以不超过1 t: /rnin的速率(不大于5rnin的平均值慢慢F降

12、到试验室标准大气条件的温度范围。注，1.C/min这一最大变化速率不适用于能经受热忡击的试验样品，例如，通常能经受试验Na或Nc规定的快速温变的试验样品。8.2.9 使试验样品在试验箱内，或按有关标准规定进行恢复。B.3 带入工冷却的试验样品进行试验时的注意事项。见GB2423. 2试验Bd9.7.2条。9 中闽检测见GB2423.2试验Bb和剧。10恢复见GB2423. 2试验Bb和国。11 最终检测按有关标准规定，对试验样品进行外观检查及电气和机械性能检测。12 有关标准中应给定的资料有关标准应用本试验方法时，应给出下列适用的细节ga 预处理;b. 初始检测gc. 安装架或支撑件详细要求适用于散热试验样品)I d. 试验样品状态(包括冷却系统)I e. 严酷度等级温度、压力和暴露持续时间).沮度变化是突变还是渐变，f. 降压前高温下应进行的检测项目，g. 高温/低气压条件试验期间检查，测量和加载要求zb. 恢复期间载荷状况gi 最终检测。附加说明z本标准由全国电工电子产品环坡条件与环境试验标准技术委员会提出并归口。本标准由航空航天工业部第三。一研究所和机械电子部广州电器科学研究所负责起草。本标准主要起草人祝耀昌、盖越美、徐国碟。2RIl