GB T 7167-1996 锗γ射线探测器测试方法.pdf

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1、、ICS 17.240 F 80 GB/T 7167 1996 器-Test procedures for germanium gamma-ray detectors 1996-11-06发布1997-08-01实施国技术监督发布GB/T 7167 1996 目次1 主题内容与适用范围. 1 2 术语和符号., . . 1 3 错探测器分类. . . . 3 4 测试的一般要求. . . 3 5 能谱性能测量. . . . . . . . 3 6 探测效率. . . . . . . ., 7 7 定时性能. . . 11 8 入射窗厚度测量. 13 9 错探测器的温度循环能力. 14 一一一一

2、一一一一一一一一一一一一一一准中华人民共和7167一1996GB/T 代替GB7167-87 试方法器射线Y Test procedures for germanium gamma-ray detectors 本标准等效采用IEC9730989年版)。主题内容与适用范围本标准规定了错射线探测器分类、性能测试方法和温度循环能力等。本标准适用于高纯绪和错(铿)射线探测器的性能测试，也适用于高纯错低能光子探测器的主要性能测试。术语和符号2 、L中2.1 术语2. 1. 1 高纯铐high-purity germanium 在室温下，它的电活性杂质是稳定的，杂质含量小于3X 1010 Icm由其单晶制

3、成的探测器在适当的偏压下可达到全能尽(或全灵敏)。2. 1. 2 平面型半导体探测器planar semiconductor detector 其灵敏体积为平板型的半导体探测器。2. 1. 3 同轴型半导体探测器coaxial semiconductor detector 其灵敏体积与中心轴同心的半导体探测器。中心电极的一端是封闭电极的两端都是开放的称为双开端同轴探测器。2. ,. 4 普通电极错同轴探测器conventional-electrode germanium coaxial detector 用P型高纯错为材料，外电极为N十接触，内电极为F接触，正偏压加在外电极上的同轴半导体探测器

4、。2. 1. 5 反电极错同轴探测器reverse-electrode germanium coaxial detector 用N型高纯错为材料，外电极为p+接触，内电极为N接触，正偏压加在内电极上的同轴半导体探测器。2. 1. 6 井型同轴探测器well-type coaxial detector 在探测器灵敏体积中有个与电极同轴的井形中心孔，待测样品放入井内，测量的立体角近似于收。2. 1. 7 (半导体探测器的)偏压bias (of a semiconductor detector) 半导体探测器两电极间所施加的反向工作电压。此电压在探测器灵敏体内形成一定的电场强度，使射线所产生的电荷被

5、收集到两电极处形成电信号。2. ,. 8 (半导体探测器的耗尽区depletion region(of a semiconductor detector) 半导体探测器灵敏体积中的一个层，粒子在该层内损失的能量的绝大部分都贡献给了形成的信号。2.1.9 (半导体探测器的)电荷收集时间charge collection time (of a semiconductor detector) 电离粒子通过半导体探测器后，由电荷收集而形成积分电流所需要的时间间隔。通常以从其最终值的10%上升到U90%所需的时间来表示。1997-08-01实施国家技术监督局1996-11-06批准1 一一一一.-._.

6、- GB/T 7167-1996 2.1.10 能量分辨率energy resolution 对于某一给定的能量，探测器能分辨的两个粒子能量之间最小差值的量度。以能量单位表示。2. 1. 11 半高宽(FWHM)full width at half maximum 在单峰构成的分布曲线上，峰值一半处，曲线上两点横坐标间的距离。注2如果曲线包含几个峰，则每个峰都有一个半高宽。2.1.12 十分之一高度(FWTM)full width at 0.1 maximum 单能峰峰值十分之一处全宽度。2. 1. 13 恒比定时I别器constant-fraction discrimnator 一种脉冲瓢别

7、器。当它的输出信号被延迟并倒相后与没有延迟的、按恒定比例衰减的输入信号叠加后为零时给出一输出信号。叠加后为零的瞬间是不随输入信号幅度变化的。适当地选取恒比和延迟时间，可把定时幌动减到最小。2.1.14 峰康比peak to compton ratio 单能谱全能峰的峰道计数与康普顿连续谱平坦部分的平均每道计数之比。2. 1. 15 探测效率detectonefficiency 在一定的探测条件下，探测器测得的粒子数与在同一2.1.16 定时时间分辨率timingresolution 定时时间谱峰的半高宽，以时间单位表示。2. 1. 17 凹杯(marinellibeaker) Reentran

8、t beaker 内辐射源发射的该种粒子数之比值。倒井形的杯子称为凹杯，也称为marinelli杯。在杯内装有放射性样品，并覆盖在探测器的端帽上，探测器基本上被样品所包围。2. 1. 18 凹杯标准源(RBSS)Reentrant Beaker Standard Source 盛有已检定过或已校定过的放射性核素及其载体的凹杯称为凹杯标准源。2.2 符号2 A一一峰面积PAb-峰本底面积多ANaHTD一-;76mmX76 mm 典化纳(铠)闪烁体全吸收峰面积9A.一一峰总面积pB(x)一-x道本底计数;C，-检验电容sCo-稿直流电容;E，、E，-两个已知射线的能量(keV); E. 全能峰绝对

9、探测效率(25cm处); Erel 相对于;76mm X 76 mll殃化销(铠的探测效率1!;Eo-除电噪声外，探测器贡献的半高宽，以能量单位表示;!;E, 单能谱峰半高宽，以能量单位表示$MT一一检验脉冲谱峰的半高宽，以能量单位表示;t;j-经恒比定时班别器衰减后的信号与衰减前信号的幅度比，简称恒比gN，一一康谱顿连续谱平坦部分计数的平均值gN，-在计数活时间内，放射源发射的单能光子总数s!;N. 单能谱峰半高宽，以道为单位表示，N(x)一-x道的计数;N(:)一一峰道计数(可为插入值); (一一一一一一一二二7167-1996 GB/T td 恒比定时或别器中延迟电路的延迟时间(ns)，

10、1、马一一与能量E，、E，相对应的峰位，以道数表示;To.s一一放大器输出脉冲半高宽(s); r一一放大器脉冲成形时间常数(s)。3 铝端帽lIll-llil-一薄窗错探测器包括错(铿)探测器及高纯错探测器。常用错探测器按含杂质类型及几何形状可分为以下五种类型。其结构如图1所示。一一r-一一一广I 一一一气iHi (a) (d) (c) (b) 厚窗(e) (a)平面型，(b)普通电极同轴型，(c)反电极同轴型e(dJ错(铿)同铀型;(e)井形同轴型图1错探测器几种典型形状和结构3- 1 平面型探测器如图l(a)所示。它可做成薄窗、高分辨率。主要用于低能射线和X射线，也称为低能光子探测器。3-

11、 2 普通电极同轴探测器其结构如图l(b)所示。它可做成大体积、高能量分辨率的探测器。3.3 反电极同轴探测器其结构如图1(c)所示。它有较强的耐中子损伤能力，并可做成薄窗。3.4 错(铿)同轴探测器其结构如图l(d)所示。其中心核是错死区。3.5 井型同轴探测器其结构如图1(.)所示。放射性样品被探测器灵敏体积所包围，因此有较高的探测效率。测试的一般要求4 下面要求对本标准的全部测量都适用。4. 1 探测器的工作偏压、冷却时间、环境温度及其他工作条件均不得超过厂家规定的范围。4.2 探测器测试系统中的高压电源、放大器、多道分析器及其他相关仪器的不稳定性、非线性及其他性能缺陷都不得明显地影响探

12、测器的性能测试。4.3 一些重要参数，例如计数率、放大器输出脉冲半高宽TO5(或放大器脉冲成形时间常数。等，应按厂家要求执行。4.4 任一测量结果应在给定的测试精度内能重复。能谱性能测量5 5. 1 基本要求谱峰的半高宽至少为6道;半高宽内总计数至少为50X10 , 全谱的积分计数率为2X 10s- 3 X 10s -, (低能光子探测器除外), 所用的标准源应放在探测器端帽中心辅、距端帽25.0cm处(井型同轴探测器除外)。a. 3 b. c. d. -一-牛咱-7167-1996 GB/T 推荐的能谱性能测试标准源5.2 推荐的放射源推荐的放射性标准源如表1所示。表1放射性核素半衰期能量，

13、keV55Fe 2.7. 5. 9 241Am 433. 26.36 ,59.5 l09Cd 453d 22.1 ,87.8 51CO 270d 122. 1,136. 5 l31Cs 30. 661.6 22Na 2.60. 1 274. 5 60Co 5.24. 1173.2,1332.5 208Tl 1. 91. 2614.5(Thl 在测量能量分辨率时，要用两个单能线刻度系统，以keV/道表示。如无特殊规定，用C。源的1332.5 keV射线单能峰的半高宽表示能量分辨率;用此源的1173.2keV和1332.5 keV的射线刻度系统。5.3 测试系统将探测器、前置放大器、主放大器、多道

14、幅度分析器按图2所示方法连接。选择适当的放大器输出脉冲半高宽T，.5(或脉冲成形时间常数。通过观察示波器调放大器的极/零补偿，以使放大器输出脉冲没有下击，也没有上冲。脉冲产生器的脉冲上升时间不得大于放大器的微分时间常数的20%，在与放大器微分时间相等的时间内，产生器脉冲幅度下降不得超过2%。脉冲成形方法及脉冲半高宽应当说明。高压电源错探测器错探测器高压电源敢射摞A口搁班交llloJIC t/直流ir1 检验脉冲产生器前置放大器电荷灵敏)C 成形放大器基线恢复多道幅度分析器铐Y射线探测器测试系统方块图图25.4 峰面积和谱本底以计数N(x)作为道数z的函数，画出半对数能谱曲线。将峰下面近似本底分

15、布的直线拟合到该峰每一侧脉冲幅度分布曲线的基部，如图3中的直线a-d和e-h线。通过峰的数据点画一条光滑曲线，如4 GB/T 7167-1996 图3中的曲线E-F和G-H，将二曲线延伸并与本底相切。两切点连成的直线，如图3中的E-H，直线下面的面积为峰下本底。峰总面积A，为2峰本底面积Ab为:峰面积A为g5.5 峰位额lO1工10 02 6吧。图3900 H A , = 2:; N(x) X=E H Ab = 2:;B X=E A=A宦-Ab 1173. 2 A 940 D e 60Co射线谱峰面积和本底1332. 5 d F 980 G h 1000 道数. ( 1 ) . ( 2 ) .

16、 ( 3 ) 以扣除本底后的汁数N(x)-B(x)作为z的函数，画出半对数能谱曲线如图4所示。确定以道址表示的单能峰峰位时，采用在峰的对称部分(半高宽以上)对N(x)-B(x)值的加权平均方法。其峰位z为:i: = 1:xN(x) - B(x)/1:N(x) - B(x) .(4) 5 性旦旦旦旦-一一一一一生一7167-1996 G/T 毒面10 ._ 4 60Co x=2180.7 .r. , |-rFWHMJO -H 12. 3. FWTM L .13. 6 HILo. 904 J02 . . . _. - . . . 10 8 8 -1 2 2198 道数2178 2158 图46OC

17、O 1 332.5 keV全能峰峰位及峰的不对称性5.6 峰的半高宽及十分之一高度以扣除本底后的计数N(x)-B(x)作为道数z的函数，在线性坐标上画出能谱曲线，用内插方法确定峰的半高宽及十分之一高宽。用FWTM/FWHM来表示峰形质量，其最小比值为高斯分布之比值(1.82)。5. 7 能量分辨率5. 7. 1 普通型探测器能量分辨率按5.6确定以道数表示的半高宽.No设对应于60Co源1173.2 keV(E，)和1332.5 keV(E2)峰的峰位道址分别为1和句，则能量分辨率M，为gAE Ez-E1 2一一一一 .N Xz - X1 . ( 5 ) 5.7.2 井型同轴探测器能量分辨率由

18、于井型同轴探测器结构特殊，测量能量分辨率时，应把标准的点放射源放在孔内中心轴上、距底部1.0 cm处，其他同5.7. 1。5.7.3 低能光子探测器能量分辨率能量分辨率测量所用的放射源为55Fe(实际上是Mn的K.线)和57Coo所用的单能线为5.9keV (E，)和122.1 ke V (E2)。此两单能峰的半高宽为能量分辨率，以eV为单位。能量分辨率测量中，系统积分计数率为1X 103s-l，其他同5.7. 1。5.8 总噪声线宽度和探测器对能量分辨率的贡献6 GB/T 7167-1996 在同一能谱测量中，获取射线谱及检验脉冲谱。分别确定单能谱峰及检验脉神峰的半高宽分别为E，和EToET

19、称为总噪声线宽度。除了电噪声外，探测器对能量分辨率的贡献E。可表示为2.Eo = (Ei -.E号)tHHH-. . ( 6 ) Eo主要是由于探测器的电荷产生统计涨落及电荷收集不完全的涨落引起的，它是探测器性能好坏的重要标志。5.9峰的不对称性以扣除本底后的计数CN(x)-B(x)作为道数z的函数，画出半对数曲线。自峰位画一条直线垂直于横轴，称为峰的中线。过峰的十分之一高度处画一直线平行横轴。该直线与中线及峰的低能侧、高能侧相交。从中线的交点到峰的低能侧交点及高能侧交点间的距离分别为L和H，如图4所示。H/L表示峰的不对称性。Co1 332. 5 ke V单能峰的H/L值定为探测器峰的不对称

20、性指标。5.10 峰康比(P/C)以计数N(x)作为道数z的函数画出半对数能谱图，用内插方法确定峰位所在道的计数N(i:)。6OCo源1332.5keV的康普顿连续分布的平坦部分为1040 keVl 096 keV，确定平坦部分的平均值为万，则峰康比P/C为zN(i:) P/C=一万7-137CS源661.6keV射线的康普顿连续分布的平坦部分为358keV 382 keV 0 6 探J效率6.1 全能峰绝对探测效率. ( 7 ) 用已知活度的60Co点源放在探测器端帽中心轴上、距端帽25.0cm，用图2所示的系统，在计数活时间内测得的1332.5keV全能峰净面积A，在同一时间内源发射的此种

21、能量光子数为凡，则全能峰绝对探测效率E，为:式中:A一一按5.4求出的峰面积。6.2 全能峰相对探测效率E.=走.( 8 ) 源和探测器顶帽相距25.0cm，错探测器相对手76mmX76 mm殃化销(钝闪烁晶体的探测效率E时为.式中:A按5.4求出的峰面积9ANd(TI) =1. 2X 10-N，(理论值)。6.3 井型同轴探测器绝对探测效率E.A ul - .J1NaICTl) ( 9 ) 由于井型同轴探测器结构特殊，被测样品放入探测器中心孔的凹腔内。另一方面，Co源两条瞬发级联射线(1173.2keV和1332.5 keV)在2505.7keV处相加峰汁数是不可忽略的。60Co点源放在井内

22、中心轴线上、距底部1.0cm处。按5.4测量1332.5 keV峰面积A及2505.7 keV峰面积A. 井型同轴探测器全能峰绝对探测效率W为:w 生土生N 式中:N，一一同样计数活时间内，源所发射的1332.5 keV光子总数。6.4 凹杯标准源的绝对探测效率.( 10 ) 7 GB/T 7167-1996 6.4.1 概述对于低放射性水平的大体积样品，常常采用标准凹杯也称Marinelli杯结构，使样品覆盖探测器的灵敏体积，以便提高探测效率。凹杯有许多种结构，本标准仅规定两种结构。由于探测器被密封在真空室内，无法知道其结构和尺寸。因此，只好参照探测器的端帽尺寸来选择标准凹杯。在标准凹杯条件

23、下，探测器无法用于符合或康普顿抑制测量。按5章连接和刻度系统。6.4.2 凹杯标准源凹杯标准源可以是检定凹杯标准源，也可以是校定凹杯标准源，可以是检定溶液凹杯标准源，也可是校定溶液凹杯标准源。除了另作说明，凹杯标准源的光子发射率不确定度不应大于3%(1)。6. 4. 2. 1 标准凹杯本标准规定450型和1000型凹杯为标准凹杯，其结构和尺寸如图5所示。此标准凹杯具有最佳几何条件、造价低、通用性及方便性优点。探测器端帽直径不大于76.5mm时，必须选用450型凹杯g大于76.5mm时，必须选用1000型凹杯。两种标准凹杯的容积分别为450cm士2cm3; 1 000 cm3:!: 2 cm30

24、 8 6 w l -1 I -斗-A-A剖面Z I a 1 图5标准凹型杯结构和尺寸 f一呵.-.，_.-一GB/T 7167-1996 型号450型1000型尺寸，mmH , 104.1士1.3150.0士1.3H , 68.33+0.15 100.00土0.1577.40-0.00& 120.00-0口0&I 士0.10平均士O.1平均土0.25最大:1: 0. 25最大14.83+0.0081 14.83+0.0081 w 土0.10平均:1:0.10平均+0.25最大士0.25最大注s塑料的密度为(1.1士O.l)g cm-3 Q 5(完6.4.2.2 放射性载体放射性载体可以是液体的

25、，也可以是固体的。载体的有效原子序数为4.01:0.7。固体载体的平均密度为(1.15士o.02)g cm3，液体载体的平均密度为(1.06土O.Ol)g cm3 0对于载体的密度要说明，以便于对衰减做出修正。源的活度不能超过探测器系统的计数率容量。常用的放射性核素如表2所示。表2凹杯标准源中应用的具有代表性的放射性核素放射性核素能量，keV半衰期RBSS-450初始发射率，光子数1，l09Cd 87.8 453d 200 S1CO 122. 1 270d 250 139Ce 165.9 137.7d 200 203Hg 279.2 46.6d 600 1I3Sn 391.7 115.1d 1

26、 000 137Cs 661.6 30.0. 500 Y 898.0 106.6d 3500 例Co1 173. 2 5.24. 1500 60Co 1 332. 5 5.24. 1 500 Y 1 836. 0 106.6d 3800 6.4. 2. 3 检定溶液放射性液体载体(含放射性物质)的光子发射率是由被授权的国家放射性测量标准实验室检定和认9 、一zGB!T 7167-1996 可的，称为检定溶液。6.4.2.4 检定凹杯标准源凹杯标准源的光子发射率是由被授权的国家放射性测量标准实验室检定和认可的，称为检定凹杯标准源。6.4.2.5 校定凹杯标准源凹杯标准源的光子发射率是由检定凹杯标

27、准源校定的，称为校定凹杯标准源。6.4.2.6 检定溶液凹杯标准源标准凹杯内盛有检定溶液作为其放射性载体，称为检定溶液凹杯标准源。6.4. 2. 7 校定溶液凹杯标准源标准凹杯内液体放射性载体的光子发射率是由检定溶液来校定的，称为校定溶液凹杯标准源。6.4.3 凹杯标准源的全能峰绝对效率测量6方式把凹杯标准源放在探测器端帽上，按5.4的要求进行测量。凹杯的全能峰绝对探测效率M为zM = A!N, . . H .( 11 ) 式中，A在计数的活时间内.60CO1 332.5 keV Y射线的全能峰净面积$N，一一在同样活时间间隔内，此能量的光子发射数量。在确定标准凹杯结构的探测器绝对探测效率时，

28、仍采用6OCO1 332. 5 ke V射线为标准源。用户可根据实际应用要求，选用其他的放射性核素作为多核素凹杯标准源，按照上述方法可测出每种核素(或每种能量的绝对探测效率。也可给出各种能量的绝对探测效率曲线。标准凹杯结构的绝对效率测量中，应注意到6OCO1 173.2 keV和1332.5 keV两射线为瞬发级联，两者可能在2505.7keV处形成相加峰，因此上述测量可能造成5%左右的误差。凡具有瞬发级联的核素，在凹杯结构条件下都存在类似情况。凹杯主架直定位杜瓦瓶图6凹杯标准源与错探测器匹配图6.4.4 凹杯标准源文件凹杯标准源必须带有一证书。对检定溶液凹杯标准源和校定溶液凹杯标准源，还必须

29、提供一个填充10 卡、一GB/T 7167-1996 溶液的证书。证书必须包括下列内容=6. 4. 4. 1 给出所用放射性核素的有关内容8. .光子能量和放射性核素的半衰期pb. 检定光子发射率的日期; 说明光子发射率的不确定度。对校定凹杯标准源必须给出检定凹杯标准源的误差，还应给出二者之间的比较误差。对于一个校定溶液凹杯标准源来说，应给出其检定榕液凹杯标准源的误差，还应给出二者之间的比较误差sd. 载体的密度在规定值2%以内。6.4.4.2 检定日期对于校定凹杯标准源必须给出校定日期，同时应给出所采用的检定凹杯标准源的检定日期。对于校定溶液凹杯标准源必须给出校定日期，同时应给出所采用的检定

30、溶液凹杯标准源的检定日期。6.4.4.3 对校定凹杯标准源和校定溶液凹杯标准源，要给出全部来源关系，包括检定凹杯标准源和检定溶液凹杯标准源的检定情况。6.4.4.4 检定的实验室或机构。7 定时性能采用22Na涅没源同时发射的两条511keV 1射线，分两路测量其定时信号来确定错探测器(实际上是错探测器定时系统)的定时性能。错探测器给出起始信号，被延迟的停止信号来源于另一个快探测器。通过时间-幅度变换器来测量起始和停止信号之间时间差的分布。由时间差分布给出的时间谱可确定错探测器系统的定时时间分辨率。停止路定时系统的定时性能应足够好于错探测器定时系统的定时性能。7.1 定时系统图7给出错探测器定

31、时系统方块图。停止道(时间参考道)由快塑料闪烁体与较快的光电倍增管(上升时间不大于5ns)组成。光电倍增管的输出信号经恒比定时到别器、延迟线送到时间-幅度变换器的停止输入端。错探测器的输出信号经前置放大器后分成两路，即时间输出信号和能量输出信号。其时间输出信号经快成形放大器、恒比定时到别器送到时间幅度变换器的起始输入端。选择快成形放大器的微分时间常数近似等于前置放大器输出的最快脉冲上升时间，恒比定时瓢别器的恒比f多选为20%，而延迟时间td选为探测器输出最快脉冲上升时间的一半。前放的能量输出信号经放大器脉冲成形和定时单道脉冲幅度分析器后用来控制多道幅度分析器的门，以便选择能区。将定时单道脉冲幅

32、度分析器的中心道设置在511keV处，窗宽为10%。11 恒比定时噩别器延迟线 光电倍增管7.2 定时时间分辨率确定GB/T 7167-1996 塑料闪烁体 川a停止错探测器时间幅度变换器$:道幅度分析器起始前置放大器定时单道幅度分析器图7定时性能测试系统方框图快成形放大器恒比定时蕴别器成形放大器应用图7给出的错探测器定时系统，得到符合Y射线定时时间谱如图8所示，时间谱峰的半高宽定为定时时间分辨率。时间谱峰半高宽至少应有6道，半高宽内计数至少为4X10。若使用计算机处理数据，且算得的半高宽误差在土5%(置信度为90%)之内，则半高宽内总it数可低于4X10。至少使用两条校准过的延迟线校准时间轴

33、，以ns为单位表示半高宽。12 同时也应给出定时时间谱峰的十分之一高宽。以下参数必须说明sa. b. C. d. 探测器所加的偏压s快成形放大器的成形时间常数;延迟时间tH恒比f之值。7167-1996 GB/T 探测器灵敏体积:42cm3 工作偏压d900 V 微分时间常数:100 ns 延迟时间td:15ns恒比j，0.3. . FWHM4.3由-一-唁 10 FWTM8.8ns 22Na 一 JO IO 援土 140 150 时间(ns)错(铿探测器定时分辨率测量结果人射窗8 8.1 入射窗的构成错探测器被密封在真空室内，通常存在如下三个窗=探测器真空室端帽。用于保持室内高真空，通常由铝

34、或镀金属构成，厚度为O.02 mml mm; 探测器热屏蔽罩。用于屏蔽热光子，通常由铝膜或镀膜构成，厚度为0.01mm-O. 2 mm; C. 探测器外电极所形成的死层。此电极由错材料构成，其厚度随探测器类型而变。对普通电极同轴探测器、错(铿同轴探测器及井型同轴探测器，死层为0.3mm-O. 7 mm.对反电极同轴及平面探测器，死层为0.3m。通常借助于测量低能射线或X射线的吸收确定窗厚度。应注意=在测量中要保证源和源盒的自吸收不得改变入射谱线的相对强度。8.2 用于入射窗厚度测量的放射源表3给出用于入射窗厚度测量的放射源。表3用于入射窗厚度测量的放射源8. b. 130 120 110 10

35、0 图890 80 70 13 同位素射入能量.keV射线衰变率.%51CO 122. 1 86.59+0.19 14. 4 9.54土0.13?一一一-一一一GB/T 7167-1996 表3(完)同位素射入能量，keV射线衰变率，%l09Cd 87.8 3. 73:t0. 06 22. 1 84.2士2.8 注，1)避免利用同位素133&161. 0 keV能谱线作为参考峰，因为它受到叠加峰的干扰。8.3 测量方法入射窗，调节放大器的增益，使得所感兴趣的单能峰的半高宽至少为6道，峰的中心道累积计数至少为2XIO。设所探测到的两个峰的相对强度之比R;为:式中，A，-一较低能峰的面积3A，-较

36、高能峰的面积。Ri = A ,/A, . . . . . . . . . . ( 12 ) 按5.4确定峰面积。由峰面积之比，射线衰变率及射线吸收系数，可估算窗厚度。9 下述四种探测器性能测试按5、6、7、8所描述的方法进行。9. 1 温度可循环探测器温度可循环探测器必须在保证期内，能承受由低温到室温，再回到低温的反复循环和长期的室温贮存，探测器性能仍能达到规定值。9.2 可退火探测器I11肆1冒亭摇射菌常为快中子损伤后，能在低温致冷器内进行退火，以恢复其原来性能。探测器的装架及致冷装置必须能经受退火工艺(例如120C、24h)而不影响探测器性能。在退火过程中，必须有一个清洁的真空系统对探测器

37、真空窒进行抽空。9. 3 密封探测器密封探测器装在密封盒内作为一个独立元件。它能在规定期限内贮存在室温下。在使用时，把它装入致冷器内，性能仍能达到规定值。9.4 表面钝化探测器表面钝化探测器可储存在温度变化不大的室内空气中(通常放在干燥器内。使用时，可把探测器装入致冷器中抽真空，然后冷却和使用。它可返回到室内空气中保存。这种循环和保存应按厂家所规定的条件进行。14 附加说明s本标准由核工业总公司提出。本标准由中国原子能科学研究院和核工业标准化研究所负责起草。本标准主要起草人:高德喜、范葱君、马呈德。去FiEEH筒。华人民共和国家标准错Y射线探测器测试方法GB/T 国7167-1996 中是中国标准出版社出版北京复兴门外三里河北街16号邮政编码0100045电话，68522112中国标准出版社秦皇岛印刷厂印刷新华书店北京发行所发行各地新华书店经售版权专有不得翻印印张17;字数29千字1997年9月第一次印刷唔1/16 开本880X1230 1997年9月第一版印数1-400陪书号，155066 1-14039 316-23 标目 L一