GB T 20521-2006 半导体器件 第14-1部分 半导体传感器 总则和分类.pdf
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1、ICS 31. 080. 01 L 40 B 中华人民共和国国家标准GB/T 205212006/IEC 60747斗牛1:2000 半导体器件第14唰1部分:半导体传感器一总则和分类2006-08-23发布Semiconductor devices Part 14” 1 : Semiconductor sensors General and classification CIEC 607 4 714-1: 2000, IDT) 2007-02”。1实施中华人民共和国国家质量监督检验检班总局也世中国国家标准化管理委员会也叩前百首院司GB/T 205212006/IEC 60747斗中1:200
2、0 半导体将件第14部分:半导体传感器分为以下兰部分:第1部分z总则和分类g第2部分2革墨尔元件;3部分3压力传感器标准为第1部分,等问采用!EC60747-141,2000半导体吉普件第14-1部分:半导体传感器总则和分类(英文版) !EC 60747-14-1中对于FSS和FSO有些混用。本标猴明确所有测f轰然巢均是相对于FSS的百分比,这样也与目前国内的情况统一,这是本你准与IEC6074714-1的主姿区别。本标准由中华人民共和国俗息产业部提出。本书前准由余国半导体器件标准化技术姿员会归口。本标准起卫在单位:中国电子技术标准化研究所(CESil本标准主要起尊人z张秋、陈勤。本标准酋次发
3、布。GB/T 205212006/IEC 607471牛1,2000半导体器件第14”1部分:半导体传感揣一一总则和分提1 范围本标准描述丁有关传感器规范的基本条款,这些条款运用于自半导体材料制造的传感器,t且适用于自其他材料(例如绝缘成铁电材料)所制造的传感器。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改lj!(不包括勘误的内容)lOC修订版均不适用于本标礁,然而,鼓励根掠本标准达成协议的各方研究是资盯使用这些是文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。!EC 60721 2-1, 1982环境条件分类第2
4、1部分z自然环榄条件温度和混度!EC 60721-3 0, 1984环境条件分类第3-0部分z环境参数组及其严酷程度的分类分级导育第1次修改(1987年)GB丁17573半导体器件分立器件和集成电路第1部分3总则3 术语和定义、文学符号下列确定的传感榕的术语和定义、文字符号适用于本标准3. 1 环境条件ambient conditions allowed 对传感器的工作有严重影响的环境条件,如温度、加速度、振动、冲击、环境压力(例如在商海拔处)、湿皮、腐蚀性介质以及电磁场等。注1,.具体规定传感根允许的环城提件,以使传感器t规定的偏毅跑回内正常工作。i主2,番见!EC60721-2-1和!EC
5、60721-3-0, 3田2满量程full scale span(FSS) 传感器输出上自主和下限之间的代数恙。11传J鲁若曾在测量在Iii:图内输出的上限叫做满刻!lt输出(FSQ),它是零点输出信号与满激程输出信号的总和(见朗1)。3.3 迟滞hysteresis 传感糠的测最范朗内,被测最扇小变大,再由大变小的过粮中,对I.ill低一被测麓,附:ix输出之间的戴大浆倪(Al,自幻。3.4 i主e以在个校准周期中,最大整值与满刻度(FSO输出的百分比褒示“线性TiJin崎rity传1镶着苦的校准曲线与规定11:线之间的接近泼皮。注,计算线性If有附种基卒方法2端点直线法和最小二三乘法郎最小
6、二乘讼的谈整较小,但计算繁琐u相对地,端点1i绒讼的设羡较大,似Ii:挥简单,其结果叫做端点线做度。GB/T 205212006/IEC 60747斗牛1,2000 3.5 3自ua自阁measuring range 被测最值的步提合在这个聚合范围内,传感器的谈;!15;不超出规定的极限范围,见图l,技I规定的测最m阔的上限和节目且有时分别被称为“最大能力”和“最小能力”。ti 2在一些其他领域,范围”叫诩被用来褒ff-最大和最小值之间的楚。满涮庶输刷(FSOl山山输满凰瓢税明白植测量(如压力)测量植囹有零点输出的线性输出传感榻的输出与被自由之闷的关系3.6 零点输出offset 除非另有规定
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