GB T 16927.3-2010 高电压试验技术 第3部分:现场试验的定义及要求.pdf
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1、ICS 29.240.01 K 40 道昌中华人民-=H工./、和国国家标准GB/T 16927.3-2010 高电压试验技术第3部分:现场试验的定义及要求High voltage test techniques一Part 3: Definitions and requirements for on-site testing (IEC 60060-3: 2006 , MOD) 2010-11-10发布2011-05-01实施数码防伪f中华人民共和国国家质量监督检验检夜总局中国国家标准化管理委员会发布GB/T 16927.3-2010 目次前言.I引言.II l 范围2 规范性引用文件3 术语和
2、定义.4 正常和特殊使用条件5 测量系统的一般试验和校核.5 6 直流电压试验.6 7 交流电压试验.8 8 雷电冲击电压试验.10 9 操作冲击电压试验.14 10 超低频(VLF)电压试验1811 衰减型交流电压试验.20 G/T 16927.3一2010前言本部分是根据IEC60060-3: 2006(高电压试验技术第3部分:现场试验的定义和要求进行制定的。本部分与IEC60060-3: 2006的一致性程度为修改采用。本部分与IEC60060-3: 2006的主要差异:一一按GB/T1. 1-2009的规定,对标准的语言表述和格式作了修改;一一一适用的电压范围,由最高电压Um大于1kV
3、的设备改为标称电压3kV及以上的系统中的设备;在5.3. 2中,根据中国标准,不推荐使用内部校准器,故删除了内部或;一一在6.4.3注2中,将可能要求在额定电压下的测量电流高达0.5mA改为要求在额定电压下的测量电流尽可能地大,应不小于0.1mA; 在7.3.1和10.3.1中的注中出现-12士5%飞与上下文不符,改为-12士15%;一一删除了8.6.2和9.6.2中的注对于性能递降的绝缘或者非自恢复绝缘的试验推荐使用此程序5分别将图1、图2中a)图中的T1/T2=0.8/50改为T1/T2=0.8/40。本部分中各章、条的编排顺序与IEC60060-3: 2006基本一致,大部分条文的内容与
4、IEC60060-3: 2006相同,不同之处在主要差异中己给予说明。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国高电压试验技术和绝缘配合标准化技术委员会(SACjTC163)归口。本部分负责起草单位z国网电力科学研究院、西安高压电器研究院有限责任公司。本部分参加单位:河南平高电气股份有限公司、保定天威保变电气股份有限公司、山东电力研究院、陕西电力科学研究院、国家绝缘子避雷器质量监督检验中心、南方电网技术研究中心、江西省电力科学研究院、湖北省电力试验研究院、北京华泰变压器有限公司、库柏耐吉(宁波)电气有限公司、西安西电变压器有限责任公司、河北省电力研究院。本部分负责起草人z杨迎建、王建生、雷民、
5、崔东、王亭。本部分参加人z田恩文、吴义华、潘瑾、尹盈盈、郑素梅、郭建贞、陈玉峰、蒲路、罗旭如、程正、许中、罗维、罗伟、刘成学、沈红、危鹏、吕金壮、蔡汉生。I GB/T 16927.3-2010 百l由于现场试验不同于制造厂和试验室试验,会受到诸如外部电场和磁场、气候条件等多种外部因素的影响,所以,通常在现场试验过程中不能达到GB/T16927.1和GB/T16927.2中规定的要求。E 现场高电压试验适用于:一一作为设备现场交接程序的一部分的耐受试验,目的是证明设备从制造厂到现场的运输以及现场的安装符合制造厂的技术要求;一一现场检修后的耐受试验,目的是证明设备已经修好,且说明设备状态已经适合恢
6、复运行;一一出于诊断目的的试验,如局部放电测量,目的是证明设备绝缘不存在危险的缺陷,并作为预期寿命的指征。GB/T 16927.3-2010 高电压试验技术第3部分:现场试验的定义及要求1 范围GB/T 16927的本部分适用于下列电压的现场试验和运行状态下的试验,且与GB/T16927. 1 有关:一一直流电压;一一交流电压;非振荡或振荡型雷电冲击电压;一一非振荡或振荡型操作冲击电压。对于特殊试验,采用下述电压z一一超低频电压;一一衰减型交流电压。本部分适用于标称电压3kV及以上的系统中的设备。由相关的技术委员会负责选取电器、设备和设施的现场试验电压、试验程序和试验电压水平。对与本部分所描述
7、的现场试验电压不同的特殊情况,可以由相关的技术委员会进行规定。注1:上面列出的不同电压波形对试品(绝缘提供的作用效果是不相同的。注2:试验电压水平的选择宜考虑到较大的容许偏差和测量的不确定度。2 规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB 31 1. 1-1997 高压输配电设备的绝缘配合CneqIEC 60071-1:1993) GB/T 2900.19一1994电工术语高电压试验技术和绝缘配合Cneq IEC 60071-1: 1993) GB/T 16927
8、.1-1997 高电压试验技术第一部分:一般试验要求Ceqv IEC 60060-1: 1989) GB/T 16927.2-1997 高电压试验技术第二部分:测量系统CeqvIEC 60060-2: 1994) 3 术语和定义下列术语和定义适用于本文件。所有与试验程序有关的其他定义见GB/T16927. 1和GB/T 16927.2。3. 1 现场试验on-site test 在待试电器、设备和设施使用地点进行的试验,同时应尽可能使设备与运行状态一致。3.2 冲击电压impulse voltage 刻意施加的非振荡或振荡型瞬态电压,该电压通常快速上升到电压峰值,然后其包络线较缓慢降至零点。1
9、 GB/T 16927.3一2010CGB/T 2900.19-1994中的4.12,修改过)3.3 雷电和操作冲击电压Iightning and switching impulse voltage 雷电冲击和操作冲击的基本区别在于波前持续时间。波前持续时间不大于20的冲击电压称为雷电冲击电压,其他较长波前持续时间的冲击电压称为操作冲击电压。3.4 3.5 3.6 3. 7 3.8 通常,操作冲击电压也可以通过远大于雷电冲击电压的总持续时间来表征。CGB/T 2900.19-1994中的3.32、4.13、4.25,修改过)试验电压的特性characteristics of the test
10、voltage 本部分中为确定试验电压而标称不同类型电压变化范围时所规定的特性。试验电压的预期特性pro叩四tivecharacteristics of a test voltage 不发生破坏性放电所能得到的特性。当使用预期特性时,应予以规定。试验电压的实际特性actual characteristics of a test voltage 试验期间试品端子上所呈现的特性。试验电压值value of the test voltage 现行标准有关条款中规定的试验电压值。试晶绝缘的分类c1assification of insulation in test objects 设备高压结构的绝缘系
11、统基本上分为自恢复和非自恢复绝缘,可以由外绝缘和/或内绝缘构成。3.8. 1 外绝缘external inllulation 空气间隙及设备固体绝缘外露在大气中的表面,它们承受作用电压并受大气和其他外部条件,例如污秽、湿度、虫害等的影响。CGB/T 2900.19-1994中的3.24)3.8.2 肉绝缘internal insulation 不受大气和其他外部条件影响的设备内部的固体、液体或气体绝缘。CGB/T 2900.19-1994中的3.25)3.8.3 自恢复绝缘self-restoring insulation 在外施电压下引起破坏性放电之后的一定时间间隔内其绝缘性能可完全恢复的绝
12、缘。CGB/T 2900.19-1994中的3.28,修改过)3.8.4 2 非自恢复绝缘non-self-restoring insulation 在外施电压下引起破坏性放电之后,丧失绝缘性能或者不能完全恢复其绝缘性能的绝缘。CGB/T 2900.19-1994中的3.29,修改过)注:在高E电器中,自恢复绝缘部件和非自恢复绝缘部件经常组合在一起使用,一些部件的绝缘可能会由于反复或持续的加压造成劣化。当规定要采用的试验程序时,在该方面的绝缘性能应由相关的技术委员会考虑。G/T 16927.3-2010 3.9 测量系统及其组件measuring system and their compon
13、ents 3.9.1 测量系统measuring system 适合于进行高电压测量的整套装置。(GB/T 16927.2-1997中的3.1.1,修改过)注1:测量系统通常由下述组件构成z转换装置,包括从此装置连接到试晶和地的引线、从转换装置的输出端连接到指示或记录仪器(带有衰减阻抗、终端阻抗和匹配阻抗或网络)的传输系统,以及指示或记录仪器和到高压电源的连接线。这些组件可与高压电源组成一个紧凑的单元。这种情况通常适用于中压电器的便携式试验设备。注2:如果能达到本部分规定的准确度要求,非传统原理的测量系统也是可以接受的。注3:测量系统工作的环境,其距带电体和接地构架的净距以及存在的电场或磁场都
14、会显著影响其准确度。3.9.2 测量系统的性能记录r四ordof performance of a me囚uringsystem 由使用者建立描述测量系统的详细记录,并包括系统满足标准要求的证明文件。文件中应包括初始验收试验结果和历次性能试验、性能校核一览表及其结果。(GB/T 16927.2-1997中的3.1. 2) 3.9.3 认可的测量系统approved measuring system 由下述各项表明能满足本部分要求的测量系统:一一初始性能试验;一一历次性能校核和性能试验;性能记录中这些试验结果的内容。仅认可性能记录中所描述的布置和使用条件下的测量系统。(GB/T 16927.2-
15、1997中的3.1.3,修改过)3.9.4 标准测量系统reference measuring system 具有足够的准确度和稳定性的测量系统,在进行特定波形和范围内的电压或电流同时比对测量中,它被用来认可(校准)其他测量系统。(GB/T 16927.2-1997中的3.1.的注:标准测量系统(按GB/T16927.2的要求维护的能作为认可测量系统使用,反之,认可测量系统不能作为标准测量系统使用。3.9.5 转换装置converting device 将被测量的高电压转换成适合于指示或记录仪器的其他量的装置。通常采用分压器或高电压测量阻抗。(GB/T 16927.2-1997中的3.2.1,
16、修改过)注:其他形式的转换装置有电压互感器、光学传感器和电场探头。3.9.6 传输系统transmission system 把转换装置的输出信号传送到指示和/或记录仪器的成套装置。注:传输系统通常由带有终端阻抗的同轴电缆组成,但它可能包括接在转换装置和仪器间的衰减器或其他装置。例如,光传输系统包括光发射器,光缆和光接收器以及相应的放大器,(GB/T 16927.2-1997中的3.3,修改过)3 GB/T 16927.3-2010 3.9.7 指示或记录仪器indicating or recording instrument 用来显示或记录测量值或相关值的装置。CGB/T 16927.2-1
17、997中的3.4)3.9.8 测量系统的刻度因数scale factor of a measuring system 乘以仪器的读数就可以得到输入量的值的系数。给出的刻度因数由最近一次性能试验确定。注1:许多测量系统可直接显示输入量的数值也就是说测量系统的刻度因数为1)。注2:一个测量系统可以具有一个以上的刻度因数,例如,对于不同频率范围或不同冲击波形可具有不同的刻度因数。CGB/T 16927.2-1997中的3.5.1,修改过)3.9.9 测量系统的动态特性dynamic behaviour of a measuring system 当输入量发生瞬态变化时测量系统的特性,通过该系统阶跃响
18、应或幅-频响应来描述。3.9.10 测量的不确定度uncertainty of a measurement 一个与测量结果关联的参数,其表征了测量值的分散性,这些测量值可合理地趋向于被测量。3.9.11 容许偏差tolerance 测量值与规定值之间的允许偏差应区别于测量误差,测量误差为测量值与真值之间的差异。注1:测得的试验电压要求在规定试验电压水平的规定容许偏差范围内。试验电压水平由相关的技术委员会规定。不能确切知道真值,可以利用具有规定的涵盖概率的测量不确定度范围进行估计。真值还是不能确定,该值可能超出容许偏差的范围,特别是当测量值接近容许偏差限值且部分超出不确定度时。注2:测量值为显示
19、值乘以刻度因数。真值是未知的,但可以用无穷多个采用相同测量方法得到的数据的平均值表述。3.9.12 额定测量电压rated measuring voltage 在本部分中给出的不确定度限值范围内,测量系统能够在规定频率或被形下使用的的最高电压。CGB/T 16927.2-1991中的3.9.1,修改过)3.9. 13 工作电压或电流范围operating审oltageor current range 在本部分中给出的不确定度限值范围内,测量系统能够在规定频率或波形下使用的电压或电流范围。CGB/T 16927.2-1997中的3.10,修改过)注2工作范围的限值由用户选择,并经GB/T1692
20、7.2中规定的性能试验验证。3.9.14 工作时间(对直流或交流电压)operating time Cfor direct or alternating voltages) 在本部分中给出的不确定度限值范围内,在其额定测量电压下,测量系统能够持续工作的时间。CGB/T 16927.2-1997中的3.9.2,修改过)3.9. 15 最大施加次数(冲击)maximum rate of application 在本部分中给出的不确定度限值范围内,在规定的时间内,对规定的冲击波形,在其额定测量电压或额定测量电流下能够施加冲击的最多次数。CGB/T 16927.2-1997中的3.9.3,修改过)4
21、GB/T 16927.3-2010 3.9. 16 验收试验acceptance test 测量系统或装置在使用前进行的试验。验收试验包括型式试验(在相同设计的一台装置上进行)和例行试验(在每台装置上进行),是为了评价其特定的特性,例如,元件的温度效应系数的测量,耐受试验等。此外,测量系统的验收试验还包括首次性能试验。CGB/T 16927.2一1997中的3.11.1) 3.9.17 性能试验performance test 为检验整套测量系统在现场条件下工作的特性而进行的试验。CGB/T 16927.2-1997中的3.11.2) 3.9. 18 性能校核performance check
22、 为了确认最近一次性能试验仍然有效的程序。性能校核应在现场进行。CGB/T 16927.2-1997中的3.11.3,修改过)3.9. 19 参考记录(仅对冲击电压测量)reference record C for impulse voltage measurement only) 在规定的条件下性能试验中得到的记录,并保留此记录以便与将来在相同条件下的性能试验或性能校核中所得的记录相比较。CGB/T 16927.2-1997中的3.11.4,修改过)4 正常和特殊使用条件GB 31 1. 1-1997中的第3章适用。5 测量系统的一艘试验和校核5. 1 验收试验测量系统组件的验收试验,应按照
23、GB/T16927.2的规定进行。5.2 性能试验现场测量系统的性能试验,应按照GB/T16927.2的规定进行。只要有证据证明测量系统在现场条件下可以正常运行,试验可以在现场条件下进行。如果性能校核显示标定的刻度因数发生了显著变化,应进行性能试验。在进行试验前应阐明变化原因。建议性能试验每年重复一次,但任何情况下,性能试验至少每5年重复一次。5.3 性能技核5.3. 1 概述对于在现场安装的测量系统,在试验前应在试验现场对系统刻度因数进行性能校核,以证明测量系统的性能未受到运输的影响并安装正确。对于其他已证明可靠性的测量系统,至少每年一次的性能试验能够替代现场的性能校核。注2这里主要是指用于
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