GB T 12507-1990 光纤光缆连接器 第1部分 总规范.pdf

《GB T 12507-1990 光纤光缆连接器 第1部分 总规范.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《GB T 12507-1990 光纤光缆连接器 第1部分 总规范.pdf（48页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、中华人民共和国国家标准光纤光缆连接器第1部分:总规范Connectors for optical fibres and cabl Part 1 : Generic specifition (可供认证用)GB 12507-90 IEC 874-1-1987 Q 210000 ，IEC 874-1(1987) 本标准等同采用国际电工委员会标准QC2iov， IO Po (n) 27.1.2.3 方法7本方法用于测量光缆连接器组件或由这些组件改变成的带尾纤的连接器。按照制造厂的说明书制备并测量光缆连接器组件，然后截断光缆形成两只带尾纤的连接器在本方法中采用一只标准的参照连接器(SR)，其光学和机械性

2、能应在分规范和(或详细规范中规定。GB 12507二90本方法消除了因光纤末端制备和具有未知损耗分布的临时接点造成的测量的不确定性。测量程序Jtm( 激励IJl; tvuhDAMW酌v-amc 检测垠凡;国14a光晾(S)、激励单元(E)、包层模消除器(CMS)、检测单元(D)及光纤参数均应在有关分规范和(或)详细规范中加以规定。a. 将标准的试验连接器(SR)接至检测单元(D)。测量并记录初始功率PoC见图14a)。b. 由检测单元(D)取出标准的试验连接器并插进被测的光缆连接器组件CA-Cs(见图14的。激励埠元也层模消除器检测单t(.因14bC. 测量井记录功率凡。d. 将光缆连接器组件

3、反向(见图14c)t 包层憔激励消除器(二百且单J:.CMS v A SR 检测咱JC图14ce. 测量并记录功率凡。f. 对插入损耗的计算取决于予定的应用场合。光缆连接器组件总插入损耗m由下列公式计算:I101oglo去-10logIOE-X侧.( 7 ) 注，X值代表连接器对的平均反射损耗。当规定此方法时应在有关分规范和(或)详细规范中规定X值。如果要制作带尾纤的连接器，则应按图14d所示截断光缆连接器组件。GB 12507-90 巴2日巴国14d相应于每半边连接器的插入损耗可按下列公式计算:曰PA 第一半边cf一10log1o一. . . . . . . . . . . (8 ) Po

4、PB 第二半边飞=-101og1o : . (9) 如果配接随机选择的半边连接器Cn和Cm，则组合件的最大插入损耗由下列公式计算2Cmn =Cm +-X 按下列公式计算最可能有的插入损耗值z. (1 0) 街=4(传十价-X). . . . ., ( 1 ) m 垃，X值代表两个半边连接器的平均反射损耗.当阐明此方法时应在有关分规范和或详细规范中规定X值。27.2.4 方法8正在考虑中。27.2 串扰概述在多路连接器的藕合界面处，存在着光从一个光路藕合进另一个光路的可能性。在多芯光缆中，同样可发生光沿光缆由一根光纤搁合进其他光纤中去的情况。本测量方法考虑了任何两个光路间因上述两个因素造成的串扰

5、，并且给出了对由连接器引起的那部分串扰的测量。当然，对大多数连接器设计而言，预计串扰藕合并不很大。因此本试验仅在当可能存在高串扰的场合下作为-项定型试验加以考虑。27.2.1 测量方法下图表示当忽略光纤损耗时串扰测量方法的原理。护;!J. I克缆尤纤lPb I 价测吁I.L.:图15a未装连接器的光缆检测吁3儿GB 12507二90快:1号:价掏jYJl; 图15b装有连接器的光缆/(;.纤l位测吁1.JC本方法包括测量无连接器时由光缆引起的串扰(见图15a)，也包括测量由连接器和光缆两者引起的串扰(见图15的。对前向散射串扰和后向散射串扰两种情况均可进行测量。图15a和图15b表示双光纤连接

6、器。在一个连接器含有两个以上光纤通路的情况下，应测量一路光纤相对于全部其他光路的串扰。光源(S)、激励单元(E)、检测单元(0)和端接(T)均应在有关分规范中加以规定。27.2.1.1 功率(P)符号PO-带有连接器的光缆里光纤1中的输入光功率P!一一带有连接器的光纤2的前向输出功率凡-一带有连接器的光纤2的后向输出功率P01 -不带连接器的光缆里光纤1中的输入光功率PfI一一不带连接器的光纤2的前向输出功率Pb1 不带连接器的光纤2的后向输出功率Pn/POl一一给出不带连接器的光缆的前向串扰比Pb1/P01-给出不带连接器的光缆的后向串扰比27.2.1.2 测量程序准备光纤的自由端应平滑、为

7、一完整平面，并与光纤轴线相垂直。应清洁光纤端面。应注意保证环境光对测量无影响。因串扰引起的作为包层模的精合光应不被散失。串扰测量选择光缆的一根光纤(见图15a)作为注入光纤，并按有关分规范和(或)详细规范的规定由光源(S)和激励单元(E)通光。测量第2根光纤自由端的光功率PIl和Pb1。在距注入激励端约20cm处截断注入光纤，然后测量输入光功率P01。由此可确定光缆固有的前向串扰和后向串扰。在光缆中接进连接器，以同样方法测量PhPb和P(见图15的。利用下列公式计算连接器的前向串扰和后向串扰zr Pf P(J 前向串扰=- 101og1o I 一一一I(dB) .(12) lPo P01 J

8、r Pb Pb1 后向串扰=1OlOglO I ，.:一一I(dB) .(13) lPo P01 J 在串扰桐合光功率低于检测系统的检测范围的情况下(即连接器优良)，则说明串扰优于某一确定值。27. 5 对环境光藕合的敏感性GB , 2507 -90 删量连接器对环境光搞合的敏感性旨在给出从外部光源在配接连接器处能够藕合进光纤的光功率值。由于在实际光学系统中环境光对连接器的照射方向是不确定的，因此规定标准测量程序是很重要的。它使得当环境光从各个方向上均匀地照射配接连接器时能评定光搞合。借助采用一个积分球能获得这样的条件。直接方法是光从各个方向上照射连接器(方法1)。方法2给出个替代的间接测量方

9、法，该方法采用大功率激光器光源以增大动态范围，但可能检测不到全部锢合进的环境光。在这些测量中，假设由连接器处通过引出部位光缆本身的环境光锢合忽略不计。27.3. , 测量方法1(外部光摞)( s 图16在分规范中应对光源(S)、光散射板(F)、积分球(IS)、窗口(W)处的检测器(Do)和检测器(Dr)力日以规定。27.3. ,. , 斩波器(C)采用一个频率为313Hz或939Hz或频率不为50Hz、60Hz整数倍的方披斩波器27.3. .2 测量程序8. 试验装置的准备接通设备电源，约经1h使达到稳态。当只有光缆在积分球中时，确保没有能被检测到的光。b. 如图16所示，将连接器置于积分球中

10、。测量积分球中的光功率POo测量来自被测连接器光纤中的光功率Pr。连接器对外部光不敏感性按下列公式计算zlL=一101鸣10去倒(1 4) 27.3.2 测量方法2(内部光源)之二C 轿波2也GB 12507 90 农减B 锁栩放大桦因17a日PMt乒0端口1L透镜f, 锁柿i般u*阁17b在分规缸中应对光漉(S)、帜分球(附)、检测榴(Df)、窗口(W)、衰减器(ATT)、分光镜(M)、功率监视器(PM)、通镜(L)及塞子(B)加以规定。27.3.2. 1 斩性器(C)采用一个颇率为313Hz或939日z或频率不为50阳、60Hz整数倍的方波斩披器。27.3.2.2 测量程序3. 如四17a

11、所承构成测量装置，并使设备通电1h或足够长的时间以达到稳定状态。b. 把衰减器(ATT)调整到xx础。C. 测量并记录功率P，0 d. 除去寨子(B)。e. 加l到17h附未装由于i制态器GB 12507-90 f. 将衰减器(ATT)调整到创Bog. 测量并记录功率PZo连接器光漏泄不敏感性按下列公式计算:IL=XX一1山01问鸣占侧H.川.川.川.川. .川. . . .叫.27.4 回波损耗概述回波损耗是对由诸如连接器等光器件引起的、输入光功率中沿输入路径返回部分的量度。光纤连接器引起的回波损耗或反射功率可由任何邻近零件间的折射率差产生。它还与其他因素有关，例如光源的谱线宽度或相干长度，

12、器件的相互靠近程度及其表面光洁程度等。本测量方法规定了对由光纤连接器造成的回波损耗的测量。27.4.1 测量方法概述在详细规范中应对光源(S)、激励单元(町、定向藕合器(DC)、临时接点(TJ)、检测器(D)以及全部光纤的长度和参数作出规定。为了保证测量回波损耗的重复性所要求的技术亦应在有关详细规范中加以规定。27.4.2 测量程序a. 按照详细规范选择定向捐合器(DC)，并接lEC875-1第17.1. 1条测量图18a的2端与3端之间的传输系数凹，30榈合器测量所采用的光摞、激励单元应与测量连接器回披损耗所采用的光源和激励单元相同。DC 走向铜合器图18a按照图1缸，直接有关的传输系数是T

13、Z，3。注:定向辈离合器可具有尾纤或连接器端口。b. 采用在有关详细规范中规定的器件，按照图18b构成测量装置。光源激励单元叩门l川只|P定稿Mr咀十一一曰L主用1民hGB 12507-90 当组成测量装置时应注意全部光纤器件和端口部分的互连，使来自这些界面的回被损耗具有重复性。所采用的测量程序应使来自检测单元(D)和临时接点(TJ)的反射功率降低到容许程度，并应在有关详细规范中加以规定。测量装置的回波损耗RL应按下列公式计算zRL=一脚glO去+10log1侧.(16)式中叭.3是特寇的定向搞合器(见图18的先前测量的传输系数。C. 按照有关详细规范的规定，在保证测量装置的稳定性和重复性之后

14、，记录光功率Po和矶。d. 从测量装置上取下光纤段L3代之以带有尾纤的连接器(见图18c)。光纤段L3的长度、连接器及附带光纤均应符合有关详细规范的规定。连接器对也应按照详细规范和(或)制造厂说明书装配。应当特别重视清洁处理方面的说明和对所要求的折射率匹配液、匹配胶的选择和使用。光源激励单元图18c庄:当取下先纤段(La)、插入带尾纤的被测连接器时，应注意不影响检测单元(D)和走向桐合器(DC)处光纤末端的对中状态。e. 在保证临时接点和连接器对的质量之后，记录光功率Po和P1.临时接点和连接器对的质量可以用比较Po与Po来测量。算:由连接器对和新临时接点导致的允许的附加损提ac应在详细规范中

15、加以规定并接下列公式计D_ ac =一1闷。古(dB).刊的f. 则光纤连接器的回波损耗RL可接下列公式计算tRL = -101og1o旦云旦+10log1oT23 (dB) . . . 注:这里假定沿光纤段La(见图1Bb)传输的光功率由Po给出。假定由临时接点(TJz)产生的损耗可以忽略。应注意当存在小间隙、折射率匹配不完善时会有多次反射。在这种情况下，可能有必要在不止一个彼伏下测量回波损耗。27. 5 模式分布正在考虑中。27.6 频谱损耗概述频谱损耗是对在段光纤光缆中插入的连接器造成的以分贝表示的连接器插入损耗对波长依赖关系的量度。光纤连接器的频谱损耗系由波导或路径中光折射率不连续性依

16、赖于波长所致。频谱损耗还GB 12507-90 与其他因素有关，例如光糠的谱线宽度或相干程度，光纤端面间的间隙，准直透镜以及光学表面光洁程度等。本方法适用于测量光纤连接器对引起的频谱损耗。27.6. , 测量方法概述在详细规范中应对光源(S)、激励单元(E)、单色仪(MC)、斩波器(C)、分光器(BS)、临时接点(TJ)、检测器(D)和全部光纤的长度及参数加以规定。这里叙述的方法参考了插入损耗测量方法(第27.1条)，也可类似地采用各其他方法。为保证频谱损耗测量的重复性所要求的任何技术也应在有关详细规范中给出。27.6. 测量程序光纤段末端应制备得平滑、为一完整平面，并与光纤轴线垂直。应清洁光

17、纤末端。光纤的个端面应适当地与光源(S)、单色仪(MC)、激励单元(E)对中并固定。另一光纤端面应同样地与相应的检测单元(D)对中。分光器(BS)应适当的在单色仪与激励单元间对中。监视用检测单元(Dm)应相对于监视光束轴线固定。单色仪(MC)的谱线宽度应按照有关详细规范的规定设定。a. 在保证系统的稳定性之后，测量并记录光功率Po和监视光功率儿。b. 然后改变单色仪(MC)的波长，测量并记录作为波长函数的Po与凡的比值R() 0 C. 应记录测量中的谱线宽度。分):3激励申-JI主图19Pm L P. 锁相放大指d. 按照有关分规范和或)详细规范的规定将光纤段L截为LI和乌两段。检测器e. 按

18、照制造厂的说明书插入被测连接器。为了避免引入测量误差，应注意避免改变各光纤相对于激励单元和检测单元的准直状态。然后按照制造厂的说明书插入被测连接器。f. 改变单色仪(MC)的波长，测量并记录光功率Po和Pm0 g. 计算作为波长函数的光功率比R2() ，这里R2=PO/Pm。应记录测量中的谱线宽度，并保证与测量R1()时采用的谱线宽度相同。GB 12507 90 B:tOG20 力的作用持续时间应为2min。28. 13. 2 要求轴向压缩力(N)10 20 50 100 200 试验过程中和试验后插入损耗的变化应不超过详细规范规定的性能要求。光缆与连接器罩壳间应无过量的立移。光纤、光缆护套、

19、光缆夹持件或光缆密封应无损坏。28.13.3 规定的细节当要求进行此项试验时，在有关分规范和(或)详细规范中应规定下列细节:a. 压缩力的作用点;b. 施加力的速率;C. 样本数;d. 所采用的合适的光缆;e. 与标准试验程序的任何差别。28.13.4 最后测量然后配接的连接器对应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求:a. 外观检查;b. 插入损耗的变化。28.14 撞击28.14.1 概述本试验旨在确定光纤连接器(配接的或未配接的，带或不带保护盖帽)承受局部撞击或硬物撞击的能力。28.14.2 装置试验设备举例见图22，包括一个可以安放被试连接器或连接器对

20、的帖子，一个重量可以调节的跌落锤。在所示装置中跌落锤的提升及落下是由一个驱动凸轮借助滑轮和缆绳连接到锤上实现的。试样(连接器或连接器对)应按照规定的位置和方向安放在帖子上。锤子的重量JN.靠改变刚性地固紧在锤组合件上适用的锤块来调节。在达到撞击规定次数的持续时间里，试验装置应在稳定的速率下运转。28.14.3 规京的细节GB 12507-90 当要求进行本项试验时，在有关分规范和(或)详细规范中应规定下列细节:8. 半圆柱形跌落锤锤面的半径优先从下列数值中选择:5mm , 10 mm , 20 mm; b. 锤重由下列数值中选择:100 g , 250 g ,500 g , l 000 g;

21、C. 础子和锤面的硬度应优先为Rb90(Rkwell) ; d. 锤子至帖子表面的高度。此值如非优先值150mm，应作出规定;e. 试样的构成，例如:活动连接器，连接器对，有防尘盖帽，等等;f. 撞击次数;g. 在连接器或连接器对上的撞击点ph. 试样放置的方向pi. 与标准试验程序的任何差别。28.14.4 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求:8. 外观检查;b. 连接和分离力。28.15 加速度跌落锤F的试/tr占-图22t.恻柱形撞.ld是由GB 12507-90 28. 15. 1 概述连接器对应承受IEC68-2-7中的试验Ga

22、。面板安装式连接器应借助刚性的金属安装夹具以螺栓圄定在试验设备上。活动连接器应按分规范和(或)详细规范的规定夹持住，靠夹持连接器本体，或者靠夹持引出光缆。在后一种情况下连接器支承在光缆段之间。注g处于安全考虑，应注意避免被试样品因安装件断裂而被甩出来;但采用的任何安全装置在试验过程中均不应带来附加约束。28.15.2 规定的细节当要求进行本项试验时，在分规范和(或)详细规范中应规定下列细节za. 试验设备的型号;b. 试样的安装方法;C. 选自下列优先值的加速度值1表2m/s 等效的g.值49 5 98 10 196 20 490 50 980 100 1 960 200 4 900 500

23、9800 1 000 19 600 2000 49000 5000 98000 10 000 196 000 20000 294 000 30000 d. 试验持续时间;e. 加速度的座标与方向;f. 所采用的合适的光缆和光缆支承、固定件(夹持装置)的细节;g. 与标准试验程序的任何差别。28.15.3 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求:8. 外观检查pb. 插入损耗的变化。28.16 保存时效(衰变和存贮)待将来考虑。28.17 光纤光缆/连接器自由跌落试验28.17.1 概述本试验的目的在于评定光纤光缆连接器承受当跌蔼到一个坚硬平

24、面上可产生的撞击的能力。如果通常提供使用的连接器带有不同型号的光缆，则除非在有关分规范或详细规范中另有规定，应当采用最细和(或)最柔软的光缆型号。连接器应按照制造厂的说明书装配光缆。28. 17.2 试验方法应以适当的方式将试样固定在与器件后部距离为t之处，这样试样可以从水平位置自由地悬挂到垂育的仲普aGB 12507-90 注g一个合适的方法是与个旋转件固定。在所有的情况下简单的把试样拴在一个挂钓上就足够了。试样被悬挂在距水平放置的平板高度为h处，这样试验过程中试样就跌落在这平板上。该平板的长、宽、厚度、材料及其表面处理情况均应在有关分规范或详细规范中加以规定。悬挂在规定高度上的试样应在规定

25、高度上无张力的处于水平位置并跌落到平板上。按照有关分规范或详细规范的规定，跌落应按规定次数重复进行，并且在跌落时试样可以装有或不装保护盖帽。28.17.3 要求试验后插入损耗的偏差应不超过详细规范规定的性能要求。28.17.4 规定的细节当要求进行本项试验时，在有关分规范或详细规范中应规定下列细节:a. 样本大小$b. 所采用的合适的光缆;C. 自由光缆长度l;d. 跌落高度h;e. 承接试样的平板(长、宽、厚和材料ht 与标准试验程序的任何差别。28. 17. 5 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求:a. 外观检查;b. 插入损糙的变化

26、;C. 连接和分离力。29 气候试验和测量程序29. 1 概述光纤连接器的气候类别与其他器件相同，应以本规范第7.3条所示的格式表示。为完成在给定气候类别范围内连接器性能鉴定所需要的最少的试验程序应为za. 低温(2位数): IEC 68-2-1 试验Ab寒冷(低温b. 高温(3位数);IEC 68-2-2 试验Bb干热(高温C. 稳态温热持续时间(2位数): IEC 68-2-3 试验ca稳态湿热在分规范和(或)详细规范中应规定气候严酷度的限定范围。严酷度的限定范围应从下列优先值中选择。表3低温CC)士3高温CC)士2稳态温玛持续时间(d)士5十四4 10 十4010 一25+55 21 4

27、0 十7056 一55+85 -65 +100 +125 +155 十175十20029. 1. 1 试验程序GB 12507 90 数量相等的未配接的连接器和配接的连接器对及与这些连接器一起提供的防护件，应经受条件循环和此后的恢复期。应按照制造厂的说明书把合适的光缆接到光缆连接器上，并对每一光缆的自由端加以处理;以防止潮气侵入。应按详细规范的说明固定连接器，当适用时，固定连接器面板部分的背面应加以防护，以防潮气侵入。29.1.2 试验过程中的测量除非在分规范和(或)详细规范中另有规定，在试验过程中应对插入损耗的变化进行测量。29.1.3 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规范的要

28、求经受下列检验，并应符合规范规定的要求ta. 外观检查;b. 光学性能的稳定性;c. 插入损耗的变化;d. 串音。29.2 低温正在考虑中。29. 3 高温正在考虑中。29.4 稳态温热正在考虑中。29. 5 气候顺序一般程序根据IEC68-1标准气候顺序，本气候顺序适用于温热为4、10、21和56d气候类别的连接器。应按照有关规范中规定的下列程序和严酷度进行试验:目的提供标准气候试验程序，包括高温、潮湿、低温、低气压和进步温热循环的顺序应用。试验顺序概要本规范阐明的此项试验是一顺序的气候程序，在程序中元器件按固定的次序进行若干项气候条件试验。除非在分规范和(或)详细规范中另有规定，试样首先置

29、于上限类别温度下，然后在55C下进行湿热循环。紧接着温热试验的是低温试验，这样，如果在试样密封件的表面裂纹中进入的水份将会冻结，并将引起进一步损坏。低气压试验完成了对试样的密封检查。方法2给出了一个更严酷的条件试验，它在每一湿热循环之间插入项低温试验。在机械性能试验，例如端接强度、振动试验和碰撞试验之后常常采用本试验顺序，以证明机械试验没有使试样的密封开裂或损坏。初始程序和测量按照有关分规范和(或)详细规范的规定，应对被试样品进行于先条件处理，即按照方法1、方法2或方法3。按照有关规范的规定，应对试样进行外观检查，然后进行光学和机械性能检查。条件试验程序29.5.1 方法1a. 试样应在上限类

30、别温度或有关规范中规定的温度下经受IEC68-2-2中的试验Ba。注3当有关规范中有规定时，可在高温下对试样进行测量。b. 对试样进行外观检查。c. 在试验程序的本阶段中，允许有不超过72h的一次间断。在此间断时间里，试梓应保持在正常试验室环境条件下，15C至35C 0 GB 12507-90 d. 对于气候类别为一/一/04或-/一/10或-/一/21或一/一/56的试样应经受IEC68-2-30中的试验Db的24h的一个循环，接着恢复1.5-2 h。e. 继d.项循环温热之后，试样应立即在下限类别温度或有关规范规定的温度下经受IEC681 试验Aa，时间为2h。注:当有关规范中有规定时可在

31、低温下对试样进行测量。f. 在试验程序的本阶段中，允许有不超过72h的一次间断，在此间断时间里，试样应保持在正常的试验室环境条件下，15C至35C。g. 然后试样应经受IEC68-2-13中的试验M.采用有关规范中规定的严酷度等级。除非在有关规范中另有规定，应在lSC至35C下进行低气压条件试验1h。h. 在试验程序的本阶段中，允许有不超过72h的一次间断。在此间断时间里，试样应保持在正常的试验室环境条件下，1SC至3SC。i. 然后试样应经受IEC68-2-30中的试验Db，循环次数如下:气候类别循环次数一/一/56一/一/21-/-一/10一/一1045 1 j. 当在有关规范中有规定时，

32、在规定的循环次数完成后，应把试样从试验箱中取出，甩去水滴，并在15min之内进行规定的光学和机械性能试验。k. 应允许试样在标准恢复条件下恢复1.5-2 h. l. 应对试样进行外观检查，并按有关规范的规定进行光学和机械性能检验。m. 当在有关规范中规定远长恢复时间时，则试样应在标准恢复大气条件下再保留24扎在延长恢复期结束时，应对试样进行外观检查并按有关分规范和(或)详细规范的规定进行插入损起测量，并应符合规范要求。29.5.2 方法28. 当有关规范有要求时，本方法适用于气候类别为一/一切的试样。b. 试样应经受包括第29.5.1条方法l)a.至h.项要求的试验。C. 然后试样应经受IEC

33、68-2-30的试验Db的24h的一个循环，接着恢复1.5-2h。d. 继C.项循环湿热之后，试样应立即在下限类别温度或有关规范规定的温度下经受IEC68-2-1 试验Aa，时间为2h。e. 试样应再经受三次本条C.项和d.项试验程序，然后再进行本条C.项程序。当因这一系列循环试验用的时间太长而有必要中断此项试验程序时，则在此程序中间允许有不超过72h的一次间断。任何此类中断都必须发生在低温循环和此后的循环湿热之间。f. 然后当在有关分规范和或)详细规范中有规定时，应把试样从试验箱中取出，甩去水滴，并在15 min之内进行规定的电气、光学和机械试验。g. 应允许试样在标准恢复条件下恢复1.5-

34、2h。h. 应对试样进行外观检查，并按有关分规范和(或)详细规范的规定进行电气、光学和机械性能检验。i. 当在有关规范中规定延长恢复时间时，则试样应在标准恢复大气条件下再恢复24h。在延长恢复期结束时，应对试样进行外观检查并按有关分规范和(或详细规范的规定进行插入损耗测量，并应符合规范要求。GB 12507-90 29.5.3 方法3应按照IEC68-2-30进行。本方法旨在提供一种用于逐批验收试验的短期气候顺序，当在有关规范中有规定时，适用于光器件。如有需要，本试验顺序能在一星期内完成。本试验程序除下列内容外与方法1相同za. 在第29.5.1条a.项高咀条件试验之后，对外观检查没有要求;b

35、. 只有当有关规范有规定时才采用第29.5.1条g.项的低气压条件试验M。C. 当按照IEC68-2-30中的试验Db第二次做循环湿热条件试验(第29.5.1条i项)时，试样应仅经受一个循环的试验。29.5.3. 1 规定的细节a. 按照29.5.1、29.5.2或29.5.3条的气候试验程序。b. 预处理程序(如适用)。C. 在气候条件试验之前要进行的机械性能检查。d. 不同于第29.5.1条a.项的上限类别温度的高温温度。e. 不同于第29.5.2条e.项的下限类别温度的低温温度。f. 与标准试验程序的任何差别。29.5.3.2 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受

36、下列检验，并应符合规范规定的要求:a. 外观检查zb. 插入损耗的变化。29.6 冷凝(温度/温度组合循环试验)29.6.1 概述本试验应按照IEC邸-2-38中试验Z/AD的规定进行。本试验的目的在于揭示光纤连接器中因呼吸而不是因吸潮引起的缺陷。试验包括产品纹路和断裂处所吸水份的冰冻效应和冷凝效应。冷凝的程度随连接器尺寸和热容量的不同而变化。本试验与其他循环湿热试验相比的不同之处是下列因素增加了本试验的严酷度:a. 在给定时间里有更多次的温度变化或抽吸作用;b. 有较大的温度循环范围;C. 有较大的温度变化率;d. 包括若干次达到零下温度。本试验类型对含有多种不同材料的器件、特别是对含有玻璃

37、连接点的器件特别重要。29.6.2 规定的细节当要求进行本项试验时，在分规范和(或)详细规范中应规定下列细节:所采用的合适的光纤和(或)光缆;b. 与标准试验程序的任何差别。29.6.3 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求:a. 外观检查;b. 插入损艳的变化。29. 7 温度快速变化29.7.1 概述本试验应按照IEC68-2-14中的试验Na或Nb进行。在本试验过程中，应按照有关分规范和(或)详细规范的规定测量光学性能。GB 12507 - 9 0 29.7.2 规定的细节当要求进行本项试验时，应在有关规范和(或)详细规范中规定下列

38、细节za. 所采用的合适的光纤或光缆;b. 与标准试验程序的任何差别。29.7.3 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求:a. 外观检查;b. 插入损耗的变化。29.8 密封29.8.1 面板密封和阻挡层密封连接器29.8.1.1 概述本试验应按照IEC68-2-17试验Qa(密封)进行。对固定连接器和活动连接器应分别进行试验。面板密封式连接器应以正常的方式安装在适当的试验夹具上。装有阻挡层密封和配接面密封币活动连接器应将其与适当的辅助件相配接进行试验，并应与试验夹具稳固的密封。这可用压缩一个尺寸合适的密封套固紧连接器罩体的方法来实现。2

39、9.8.1.2 规定的细节当要求进行此项试验时，在有关分规范和(或详细规范中应规定下列细节:a. 所采用的合适的光纤和(或)光缆型号;b. 与标准试验程序的任何差别。29.8. ,. 3 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求za. 插入损耗的变化。29.8.2 密封式连接器29.8.2. , 概述本试验应按照IEC68-2-17中的试验Qk(示踪气体法和(或试验Qf(浸液)进行。配接的连接器对应装有合适的光缆，光缆远离连接器的一端应加以密封。29.8.2.2 规定的细节当要求进行此项试验时，在有关分规范和(或)详细规范中应规定下列细节:a

40、. 所采用的合适的光纤和(或光缆;b. 与标准试验程序的任何差别。29.8.2.3 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求:a. 外观检查;b. 插入损艳的变化。29.9 盐雾29. 9. 1 概述本试验应按照IEC68-2-11中的试验Ka进行，严酷度根据分规范和(或)详细规范的规定。29.9.2 规定的细节当要求进行本试验时，在有关分规范和(或)详细规范中应规定下列细节za. 所采用的光纤和或)光缆的型号;b. 与标准试验程序的任何差别。29.9.3 最后测量GB 12507-90 然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下

41、列检验，并应符合规范规定的要求:a. 外观检查;b. 插入损耗的变化;C. 连接和分离力。29.10 尘埃29. 10. 1 概述在关于尘埃的IEC规范发布之前，使用下述的程序和试验方法。应将被试连接器分为两组。在暴露于尘埃的试验过程中，一组连接器应配接好;另一组连接器应使其防护罩到位。固定连接器面板部分的背面应加以适当防护以隔绝尘埃。在附录B(补充件)中给出了斗种合适的试验设备实例。29.10.2 规定的细节当要求进行此项试验时，在有关分规范和(或)详细规范中应规定下列细节ia. 所采用的合适的光纤和(或)光缆的型号;b. 有关温度和相对湿度;C. 暴露时间;d. 与标准试验程序的任何差别。

42、29.10.3 最后测量在把试样从条件试验箱中取出后、在去掉配接件或护罩前，应仅靠摆动或用小毛刷去除表面上的;7埃。然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求:a. 外观检查;b. 连接和分离力。29. l 工业大气29.11.1 概述本试验应按照IEC68-2-42中的试验Kc进行。本试验的目的在于确定含有二氧化硫的大气对连接器光学性能的影响。此外，本试验也将确定含有二氧化硫的大气对海装式纤维光学/电气连接器接触性能的影响。后者仅适用于含有贵金属触点或贵金属护层触点的连接器，但不包括含有银或某些银合金触点的连接器。29. 11.2 规定的细节当要求进

43、行本试验时，在有关分规范和(或)详细规范中应规定下列细节:所采用的合适的光纤和(或)光缆的型号sb. 与标准试验程序的任何差别。29.11.3 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求:a. 外观检查。29.12 阻燃性29.12.1 概述本试验应按照IEC695-2-2进行。除非在分规范和(或)详细规范中另有规定，应对含有非金属苓件的配接的连接器的所有部分进行本试验。火焰轴线应与垂直平面成45。角。连接器轴线及火焰的接触点应按照分规范和(或)详细规范的说明。29.12.2 规定的细节GB 12507-90 除非在有关分规范和(或)详细规范中

44、另有规定，对标称外径为12.5mm或12.5mm以下的连接器，火焰作用时间应规定为15S;对所有其他尺寸的连接器火焰作用引起着火的时间应规定为60s或小于60s的某时间。29. 12. 3 最后测量着火持续时间应符合有关分规范和(或)详细规范的要求。29.13 长霉29. 13. 1 概述本试验应按照IEC68-2-10中的试验J进行。本试验的目的在于确定长霉对连接器光学性能的影响.未配接的连接器和配接的连接器对均应经受本试验并在条件试验箱中的喷雾过程和恢复期内保持其未配接或配接状态。(合适的光缆应按照制造厂的说明书接到连接器对上，对每一光缆的自由端应加以处理以防止潮气侵入。除非在分规范和(或

45、)详细规范中另有规定，本试验的持续时间应为84d;如果由各个材料规范中能得到这方面资料，则应不规定试验的持续时间。警告:伴随着本试验有对健康的潜在危害，注意事项在IEC68-2-10附录A和附录C中给出。29.13.2 规定的细节当要求进行本项试验时，在分规范或详细规范中应规定下列细节z所采用的合适的光纤或光缆:b. 与标准试验程序的任何差别。29.13.3 最后测量在恢复期结束时，连接器应按照有关分规范和(或详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求:a. 连接和分离力;b. 外观检查;29.14 低气压29.14.1 模述本试验应按照IEC68-2-13的试验M进行。本试验的目的在

46、于确定降低气压对连接器对光学性能的影响，这种情况在诸如高空中可遇到。未配接的连接器和配接的连接器对均应经受本试验条件。试验箱中的压力应调整到分规范和(或)详细规范中所规定的试验压力值，并保持分规范和(或详细规范中所规定的持续时间。一合适的光缆段应与试验箱中连接器的自由端相配接。在密封连接器情况下，光缆两端均应端接，或将其自由端密封。29.14.2 规定的细节当要求进行此项试验时，在分规范和(或)详细规范中应规定下列细节:a. 所采用的合适的光纤或光缆Fb. 与标准试验程序的任何差别。29. 14. 3 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规程的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求

47、:a. 外观检查pb. 连接和分离力;C. 插入损耗的变化。29.15 辐照29.15.1 太阳辐射GB 12507-90 29. 15. 1. 1 概述本试验的目的在于评定太阳辐射对连接器材料的影响，从而引起连接器的光学性能或机械性能的任何恶化。仅在当构成连接器的各种材料或霉件受太阳辐射方面的资料不适用时，或者当不能预测太阳辐射对连接器性能的综合影响时，才应在分规范和(或)详细规范中规定本试验。警告:应提醒试验人员注意与本试验性质有关的对健康的危害，因此应特别注意IEC68-2-9(导则)第9条中关于这方面的内容。29.15. 1. 2 规定的细节当要求进行此项试验时，应在分规范和(或)详细规范中规定下列细节:a. 所采用的合适的光纤和(或)光缆;b. 与标准试验程序的任何差别。29. 15. 1. 3 最后测量然后连接器应按照有关分规范和(或)详细规范的要求经受下列检验，并应符合规范规定的要求。a. 外观检查;b. 插入损耗的变化;C. 串音。29.15.2 核辐照待将来考虑。30 机械耐久性30.1 概述连接器应经受机械耐久性试验，当有要求时，此试验可分成两部分，中间插入其他试验。对于本试验，应首先将合适的连接器对连接起来，然后再分离，这被认为是一次操作。在有关规范中应规定操作次数以及连续操作之间的最短时间。在每次连接中，应将诸如卡口配件或连