QJ 1528-1988 半导体集成电路时基器测试方法.pdf
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1、Q.I 中华人民共和国航天工业部部标准QJ 1528 88 半导体集成电路时基器测试方法1988-04-25发布1988 口31实施中华人民共和国航天工业部发布中华人民共和国航天工业部部标准半导体集成电路时基器测试方法本标准规定了半导体集成电路时基器(以下简称器件)电参数测试方法EI总的要求QJI528-88 1. 1 若无特殊说明,测试期间,环境温度或参考点温度偏离规定值的范隅应符合被测器件详细规范的规定。1 2测试期间应避免外界下扰对测试精度的影响。测试设备引起的测量i是并应在器件详细规范中规定.1.3 测试期间,施于被测器件的电糠内阻在器件频率下应基本为零内流电源也1石波动不得超过百分之
2、纹波电压小于或等TIO毫伏。1.4被测器件与测试革统连接或断开时,不应超过器件的使用极限条件。1.5若有要求时,应按器件详细规范的规定连接辅助电路及补偿网络e1.6测试期间,被测器件应避免出现白激现象。1 7测试装置的寄生参量(指分布电容,分布电感等),不应对测iA结果产生明报的影响。1 8若有要求时,应按器件详细规范规定的顺序接通电糖a2 电参鼓测试2.1 阉值电压、FH2. 1. 1 定义当时基电路输出完成111高咆平llfRtll平转换肘,其阀值端所需的电/f,.即为离值电用。2.1.2 测试原理国闽值也压Vrn测试原理同如同l所马.Vrr 飞rvn VREf 罔l航天工业部1988-0
3、4-25批准1988-12-31实施QJ 1528-88 2.1.3测试每件在测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定a环境温度,b 电源电压,c补偿网络及辅助电路;d负载电阻.2.1.4测试程序2.1.4.1 按规定环境条件,将被测器件接人测试系统中.2.1.4.2按规定条件接人补偿网络及辅助电路。2.1.4.3施加规定的电源电压。2.1.4.4 触发端输入低电平脉冲,置输出端V为高电平.2.1.45 改变V陋,当输出端电平开始由高电平向低电平转换时,读出此时间值端上的电压ftP为阔值电压Vrn2.1.5注意事项a遵守总的要求。b测量用的指示设备不影响测试结果的精度。2.2 姆值电流1
4、,2.2.1定义阂值端拖加规定的阐值电压时,阔值端所需的电流即为阀值电流。2.2.2 测试原理圈阔值电流1,利测试原理阁如同2所示a可ccr lr 复f止咆i原发DUT IIR, 。V,控制l到值飞之/寸一咱Vn;地阳22.2.3 测试条件2 在测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a环境温度;h 电源电压,c补偿网络及辅助电路;d负载电阻。2.2.4 测试程序QJ 1528-88 2.2.4.1 按规定环境条件,将被测器件接人测试系统中n2.2.4.2 按规定条件接人补偿网络及辅助电路。2.2.4.3 施加规定的电源电照2.2.4.4触发端输入低电平脉冲,雷输出端飞为高电平。2.2
5、.45 阔值端施加V凹,此时由电流表i卖出闯值咆流I霄,值62.2.5注意事项遵守总的要求E2.3 触发电压Vn2.3.1 定义当时基电路输出完成由低电平!hJ高电平转换时此时触发端所需的电fF即为触发也用。2.3.2 测试原理固触发电压V测试原理因如罔3所尽aVR tiI-2.33 测试条件复位触发DUT 地图3Vcc 电源输出在测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定2a环榄温度;b 电源电fF:C补偿网络及辅助电路;d 负载电阻四2.34 测试程序2.34.1 按规定环境条件,将被测器件接人测试系统中。R, 可3 QJ 1528-88 2.3.4.2按规定条件.接人补偿网络及辅助电
6、路。2.3.43施加规定的电源电压.2.3.44改变V,霄,当输出端电平开始由低电平向高电平转换时,渎出触发端上的电压即为触发电压Vrr 2.3.5注意事项遵守总的要求-2.4触发电流I2.4.1定义触发端施加规定的触发电压时,触发端的电流即为触发电流2.4.2测试原理固触2主电流I啊涮试原理罔如图4所示.控制2.4.3测试条件V cc DUT放咆圈4在测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定aa环境温度;b 电ll!电压c补偿网络及辅助电路;d负载电阻.2.4.4测试程序2.4 4.1 按规定环境条件,将被测器件接人测试系统中。2.4.4.2 按规定条件接人补偿网络辅助电路.2.44.
7、3 施加规定的电源电ff.R, V, 2.44.4 触发端施加IV啊,此时由触发端上电流表读出触发电流In.flL 2.45注意事项a遵守总的要求;b 电流表内阻不影响测量结果的精度a4 2.5 复位电压V.2.5.1 定义QJ 1528-88 维持时基电路输出低电平电照状态时,复位端上所需的电压即为复位电If.2.5.2 测试原理圈复位电压V.测试原理图如阁5所示。2 lf1 R, 复位也濒触发VRD | DUT |走l控制地罔52.5.3测试条件在测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的规定。a环境温度,b 电糠电压,c补偿网络及辅助电路,d负载电阻a2.5.4 测试程序2.5.4.1
8、按规定环境条件将被测试器件接人测试系统中。2.5.4.2按规定条件接人补偿网络及辅助电路。2.5.4.3施加规定的电源电/f. 。可n2.5.4.4 改变VJU1F当时基电路维持输出电斥低电平时(非触发状态),读出此时复位端上的归辰,即为复位电压V.2.5.5 注意事项遵守总的要求。2.6复位电流I胃2.6 1 定义当时基电路复位端施加规定的复位电压时,复位端的电流即为复位电流e2.6.2盟Olt原理圈复位电i!l1,测试原理因如附6所乐a5 r 囚一、觅一5-IE W一Y , 因62.6.3测试条件在测试期间,下列测试条件符合器件详细规范的规定。a环绕温度;b 电源电压;c补偿网络及辅助电路
9、,d负载电阻.2.6.4测试程序2.6.4.1 按规定环境条件,将被测器件接人测试系统中。2.6.4.2 按规定条件接人补偿网络及辅助电路。2.6.4.3施加规定的电源电压.2.6.4.4复位端施加规定的复位电压,由电流表读出1,值。2.6.5 注意事项遵守总的要求。2.7控制电压电平VF2.7.1定义时基电甩在施加额定电源电压时,控制端上的电斥即为控制咆ffi电平E2.7.2测试原理圈控制电压电平Vc测试原理图如阳7所示。Vcc VP 图76 QJ 1528-88 2.7.3 睡试条件在测试期泻,下3月j浓试条件应符合器件详缀规范始窥定ea环凌温度;h电源电压,e补偿网络及辅助电路;垂负载电
10、卖主.2.7.4漉试程序27.4.1 按烧定环境条件,将被翻器件接人擦边系统中-2.74.2按饺定条件袭人补偿网络及帮助电路a2.7.4.3 施主主规定!J电源电压.2.7-4.4 自电压衰渎监控越电压飞2.7.S 注意事项遵守总豹要求-2.8 f茸电-lJ鳝出电压V-2.8.1 定义王宝器件输出端为压电子对,在额定负载电滚条件下,输出端的电!王l!ll为输出电压低电平坐2.8.2 章程试原理噩绘出2起f1i1崔咆于vo!_ im试原理因妇自H8A厅示5Vcc 熙82.8.3罩!J试条绊在测试期间,下列测试条件应符合器件详细规范的妓定金a环境温度,b 电源电皮,c补偿网络及黎助电路;d灌入电流
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