QB T 1135-1991 首饰金银覆盖层厚度的测定方法.X射线荧光光谱法.pdf

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1、中华人民共和国轻工行业标准首饰金银覆盖层厚度的测定方法X射线荧光光谱法本标准参照采用国际标准ISO3497:1976（）。1 主题内容与适用范围本标准规定了用X射线荧光光谱法测量首饰金属覆盖层厚度的方法。QB/T 11 3 5 1 9 91 本标准适用于首饰及其他工艺品中金、银等覆盖层厚度的测定（覆盖层与基体为非相同材质）。2 方法提要及原理采用X射线荧光光谱法测量金属覆盖层厚度是通过X射线荧光的产生检测和分析而确定覆盖层厚度的。每种元素的原子都具有其本身强有的电子排列，对于给定的特征X射线，其能量取决于该原F的原子序数，因此，不同的材料将产生不同能量的X射线荧光。通过X射线荧光测厚仪对不同材

2、料发出的X射线荧光进行能量分辨和强度的检测，可以确定材料的特性，从而测定覆盖层的厚度。3仪器和设备3. 1 X射线荧光测厚仪z一套（带自动打印机）。3. 2 包括各镀种的标准样块z套。3. 3 仪器自检的参照标样：块。4 仪器的校准校准是测量样品的先决条件，校准的目的是使被测样品覆盖层的厚度对发射X射线荧光的强度值之间建立准确的关系24. 1 校准模式的选择各类型的X射线荧光测厚仪都具有若干种校准模式，应按覆盖层和基材的类型选用适当的校准模式。4.2 校准模式的输入选定相应的校准模式后，将采用相应的存储器按规程输入校准模式。当采用标准进行校准时，应采用与测试样品完全一致的条件（包括检测孔尺寸，

3、相同覆盖层和基体材料及测量时间等）。在校准程序结束时，将自动进入测试模式。5 影响精度的因素5. 1 计数统计由FX射线光子的产生是在随机情况下进行的，因而在固定时间内发射的光子数量不一定相同，所有放射性测量中都会出现统计误差。这统计误差与计数时间的长短有关。5. 2 测量时间中华人民共和国轻工业部1991-06-04批准1992-01-01实施35 QB/T 1135-1991 为保证达到精度要求，计数时间必须大于10s,5. 3镀层厚度测量的准确度受被测样品的厚度范围影响，在镀层饱和厚度范围内准确度最佳。当超过饱和厚度时准确度急剧下降，X射线荧光的强度随厚度的变化甚徽，因而在此范围内准确度

4、较差其饱和厚度因覆盖层材料不同而异。X射线荧光测厚仪的饱和厚度近似值为下表所规定的范围（见表1）。表IX射线荧光测厚饱和厚度近似值结构上陋，me” 士构上限.m银铜50.8 金铜7. 6 银黄铜50.8 金黄铜7. 6 盘镰7. 6 盘银7 6 5. 4 样品曲率厚度测量在平面上进行，若不可避免地要在幽面上测量厚度时，应选择尺寸为0.lmm的测量孔径。5. 5 测量面积的尺寸测量孔径的尺寸取决于试样的尺寸和形状，为了获得满意的测试结果应选择镀层麦丽有代表性的最大测量面积，而测量孔径的尺寸位与测量面积的大小相适应。5. 6 密度若覆盖层密度与所周校准标样不同，将出现厚度测量中相应的误差。因此可按

5、照密度修正模式输入试样的镀层密度值，此时测试数据将显示出经密度修正后的厚度值。测试完毕可以按照相应程序，将密度修正值去掉。5. 7 表面清洁度测试前清除样品表面所有污垢，如尘土、油脂、锈蚀物、漆以及氧化物等保护层，否则将影响覆盖层厚度的测量a6 测量程序6. 1 校准和操作校准按第4章规定的程序进行，待校准结束后按仪器说明书进行操作。6.2 标样的校准与仪器的调整进行测试前应采用与被测样品具有相同基材和覆盖层的标准进行仪器校准，及时用参照标样进行自检，以保证仪器正常使用。6.3 样品的测试当仪器校准结束后自动进入测试模式。测试点的选择应具有代表性每个样品的测试不得低于三个测试点，以求平均厚度的准确性。6.4打印按动打印键，将测试结果自动打印出来。36 QB/T1135 1991 7准确度在被测镀层的极限厚度范围内，允许差小于10%。附加说明：本标准由轻工业部质量标准司提出，本标准由全国首饰标准化中心归口。本标准由北京市工艺美术研究所负责起草。本标准主要起草人范积芳。37