JJG 889-1995 磁阻法测厚仪检定规程.pdf

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1、ZTZIG 中华人民共和国国家计量检定规程JJG 889-1995 磁阻法测厚仪l1agnetic Resistance Thiness Gauge 1995一02一08发布1995一05一01实施国家技术监督局发布J.JG 889一-1995磁阻法测厚仪检定规程.、.、.、.、.、4、.、.、.、.、.、.、.、.Magnetic Resistance r3 07 OY -OY QO QO G EJ EJ uflu-,.,ftoft Verification Regulation of -0、.、.、f、.、.、.、.、.Thiness Gauge 本检定规程经国家技术监督局于1995年02

2、月08日批准，并自1995年05月01日起施行。归口单位:天津市技术监督局起草单位:天津市计量技术研究所本规程技术条文由起草单位负责解释JJG 889- 1995 本规程主要起草人:王心航(天津市计量技术研究所)孟继恒(天津市计量技术研究所)参加起草人:李玛(天津市技术监督局实验工厂)JJG 889-1995 目录1气J-1drhu期周卢正件法检条方和定定理检检处和和的目求果项要结述定定定概检检检一一囚JJG 889-1995 磁阻法测厚仪检定规程本规程适用于新制造、使用中和修理后的磁阻法测厚仪的检定。一概述磁阻法测厚仪一般用于铁磁基体上非磁性涂层和镀层厚度的测量。其原理是:当仪器测头与被测涂

3、层或镀层接触时，测头即与磁性基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆层的存在，使磁路磁阻增加，磁阻的变化随着被测覆层厚度的大小而变化，仪器能过对磁阻大小的测量，由表头或显示器指示出被测覆层的厚度。仪器基本分为指针型、数字型、智能型三种型式，测量范围一般在(0-10)mm内大小不等，分辨率最高可达0.1m，仪器外形分别参见图1、图2和图3。校准!在钮调苓旋钊叶也Ab，四持边川H土守舍4.国刷一关键开尔源指huh 也图1指针型测厚仪校准键功能放健测头j亨j主!ui.11斗囱厚度llAJIJ薄膜开关山板图2数字型测厚仪图3智能型测厚仪JJG 889-1995 检定项目和检定条件1 检定项目和主要检定用的工具

4、列于表1。2 检定条件2. 1 检定室内温度:(20 1: 5)C 2.2 检定室内湿度:65% 2.3 仪器预热时间:不少于15min 2 . 4 仪器所用电源:AC 220 x (1 + 10 %) v DC 不得超过仪器使用标称电压的1:5%BAT 不低于额定电压10%2.5 外部环境:检定室附近不得有强磁场干扰。表1序号检定项目主要检定工具1 外观2 各部分相互作用3 基体表面粗糙度及平面度表面粗糙度测量仪及0级刀口尺仪器校准厚度片三等量块及光学汁或电4 感仪5 示值变动性标准厚度片及检定台架6 示值误差标准厚度片组及平面基体曲面厚度测量的准确度标准厚度组及磁性圆柱7 面基体8 薄型基

5、体上的测量准确度50 x 50 x 1 mm基体及标准厚度片9 示值稳定度标准厚度片及检定台架注:+表示应检定，-表示可不检定。2 新制造十+ + + + + + 十+ 检定类别使用中修理后+ + + + + + 十+ + + + + + + + + JJG 889-1995 一检定要求和检定方法3 外观3.1 要求3. 1. 1 仪器及附件的外表面应无划痕、锈蚀、起泡、脱落等现象。3. 1.2 仪器及附件上的文字、符号、数值及单位应字迹清晰，铭牌必须标明制造厂名、仪器编号及出厂日期。3.1.3 测头的测量端应无明显磨损痕迹，所有连接线缆应完好无损。3. 1.4 干电池、充电器连接处应有明显极

6、性标志。3.1.5 使用中和修理后的仪器允许有不影响准确度的外观缺陷。3.2 检定方法:目力观察。4 各部分的相互作用4.1 要求4. 1. 1 各操作开关、旋钮、按键、指示灯均能正常工作，准确无误。4. 1.2 各插头、插座及线缆应安装牢固、连接方便。4. 1.3 测头的弹簧套应滑动灵活，不得出现卡滞、爬行。4 . 1. 4 测头置仪器所附基体中心，其外圆至基体边缘的最小距离应大于15mm。4.1.5 仪器表头指针的机械零位应准确并指示平稳;厚度显示器的数字显示应完整、清晰、稳定。4. 1.6 具有统计、打印等功能的仪器应工作可靠，准确无误。4.2 检定方法:试验与观察。5 基体表面粗糙度与

7、平面度5.1 要求:表面粗糙度Ra0.20mj平面度:S;1m。5.2 检定方法5.2.1 表面粗糙度可参照表面粗糙度比较样块检定规程中触针法的检定方法给出基体表面的Ra值。5.2.2 基体表面平面度采用。级刀口尺，用光隙法进行检定。6 仪器校准厚度片6.1 要求:校准厚度片的厚度误差及均匀性误差不应超出表2规定的允许误差。6.2 检定方法:用三等量块和投影光学汁，用绝对法或比较法进行检定。检定时所用测帽的曲率半径不得小于20mm，测杆下降时应通过拨权使测帽轻轻与校准片接触，以防止对校准片的撞击。检定可在校准片有效面积内5个或9个均布位置上进行(但必须含中心位置，并且对无有效面积标记的校准厚度

8、片规定:其有效面积在以中心为圆心半径不得小于10mm的圆内)。检定结果取5次或9次厚度读数的平均值与校准厚度片的标称值之差为厚度误差，取各次厚度读数与厚度平均值的最大差值为校准厚度片的均匀性误JJG 889-1995 差，两者均不应超出检定要求。校准厚度片的受检点如图4所示。(a) 5个受检点(b) 9个受检点图4表2校准厚度片的允许误差仪器类别厚度均匀性A级主0.5m或士1%Hc 士1m或:!:l%HmB级士0.5m或士2%Hc士1m或:!:2%HmC级士0.5m或:!:3%Hc士2m或:!:2%Hm备注Hc -校准厚度片的标称值Hm一一厚度检定的平均值7 示值变动性7.1 要求:见表3规定

9、。7.2 检定方法:将仪器测头夹持在检定台架上，选择最小量程挡位，并选一大于2量程的标准厚度片，用测头对该厚度片重复测量10次，取10次示值中的最大值与最小值之差为示值变动性的检定结果，应符合表3中的规定。此项检定也可用手持方式进行，但若出现微量超差时，应以检定台架操作的检定结果为准。8 示值误差JJG 889-1995 8.1 要求垂直和水平方向均应符合表3的规定。表3仪器类别示值变动性要求示值误差要求A级l%H或0.7m1 (0.7m + 3%H) B级2%H或lm1(1m + 5%H) C级3%H或2m1 (2m + 10% H) 备注H一标准厚度片的厚度值8.2 垂直方向检定方法:首先

10、用标准厚度片按仪器规定的校准方法将仪器校准，然后在测量范围内(或每一量程内)均布35个点为受检点，选择相应厚度及精度x的标准厚度片Hi(i = 1 , 2 , 5)依次检定，每个受检点测3次，取其平均值作为该点的示值hi (i = 1 , 2, 5)。示值误差按下式计算: = h, - H i 各受检点的示值误差均不应超出表3中被检仪器所对应的允许误差要求。8.3 水平方向检定方法:将基体固定在某一垂直面上，测头的测量方向应为水平方向，用标准厚度片按仪器规定的校准方法将仪器校准，然后再选一标准厚度片，用仪器对该片重复测量3次，3次读数的平均值与该标准厚度片标称值之差，应符合表3中被检仪器所对应

11、的示值误差要求。9 曲面厚度测量的准确度9.1 要求:同表3中规定的示值误差要求。9.2 检定方法:仪器选用最小量程挡，用一直径为但omm , Ra0.20m的圆柱面铁基体作为此项检定用的基体，将其平放于V形块的V形槽内，再用标准厚度片在该基体上将仪器校准，然后另选任一标准厚度片对仪器相应受检点测量5次，5次读数的平均值与标准厚度片的标称值之差，即为曲面厚度测量的准确度。对没有规定可测最小曲率半径参数的仪器，可以不作此项检定。10 薄型基体上的测结准确度10.1 要求:不得超出表3中规定的示值误差要求。10.2 检定方法:基体取检定用的50mm X 50 mm X 1 mm (长宽厚)的平面铁

12、基体，在该基体上按仪器规定的方法将其校准，然后选用+20m左右的标准厚度片对仪器相应受检点进行检定，两者之差不得超出该点的示值误差要求。相应精度是指检定用标准厚度片的精度应和8.1条的示值允许误差对!但起来，原则上前后两在梢度之比应在1/3-1/5范围之内。5 JJ G 889-1995 基体元临界厚度值规定的仪器可不作此项检定。11 示值稳定度11. 1 要求:仪器1h内的示值变化不应超出示值误差的绝对值。11.2 检定方法:本项检定应在仪器最小量程挡进行。将仪器校准后，再选用一厚度大于二量程的标准厚度片，对仪器相应受检点进行测量，其示值作为第一次读数，以后每隔15 min记一次读数，连续记

13、录1h，取5次示值中的最大值与最小值之差作为仪器的示值稳定度。四检定结果的处理和检定周期12 经检定符合本规程要求的磁阻法测厚仪填发检定证书，不符合要求的仪器填发检定结果通知书。13 磁阻法测厚仪的检定周期可根据具体使用情况确定，一般不超过1年。6 中华人民共和国国家计量检定规程磁阻法测厚仪JJG 889-1995 国家技术监督局颁布* 中国计量出版社出版北京初乎里面街叩2号邮政编码100013 电话(010)64275360北京市迪鑫印刷厂印刷新华书店北京发行所发行版权所有不得翻印晏880 mm X 1230 mm 16开本印张0.75字数9于字1995年5月第1版2001年10月第2次印刷印数1501- 2500 统一书号155026- 1401 定价:12.00元