JJG 852-1993 中子周围剂量当量测量仪检定规程.pdf
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1、JJJJ函中华人民共和国国家计量检主规程JJG 852-93 中子周围剂量当量测量仪1993年9月22日批准1994年4月1日实施国家技术监督局.阳.4.沙叶,崎崎非呻叶母飞中子周围剂量当量测量仪检定规程ts vmfMUon Regulation of Nmuon:JJG852 93; Ambient Dose Equivalent Iletcr Rqp-49哇.If/I本检定规程经国家技术监督局于1993ir f) n 22日jit准,并自1994年4月1日起施行.归口单位:111因计2平l;:町.1在起草单位z中国l注忏于日;二i元本规辑技术条文由起草单位负责解释.本规挥主要起草人嚣李琳培
2、(中国计量科学研究院用元勤(中国计过科学研究院目录概述. . . . . . . . (1) 一技术要求. . (1) 一检定条件. . . . .( 四检定项目和检定方法.(们五检定结果处理和检定周期.(5 ) 附录附是1名词解释. . . . l . (的附录2有关修正项的计算的附录3检定证书背面内容.(1 JJG 852 93 共11页第1页中子周围到量当量测量仪检定规程?在:规程适用于新制造、使用中和修理后的中于周围剂量当量测量仪的检定.-概述本规手电涉及的中子周向剂量当章:测量仪是用来测阜;由中子辐射卢生的周围剂量当fZ:率的测丑仪器(以下简称仪r),所探测的小子非?如能量小于16M
3、eV ,定皑的fZ:是周围剂情当吃卒,其单位是rf沃特/小时(Sv/们或希沃作/秒(Sv/s) 1ix它们的分数单位.仪器包括探j呢!)都杆子n日录部f!:!:门百分.探白lfl自:11 f义把III!好JlHl (l.! i6 !让探测器(如BF311:比计数臂,3 He IE !:t.计数管或LiT闪rJf:1军理可)!.在其周用的院化仆质和晚收介质.己主Q;但件即仪:13巾lIJ1量;1主本功能毕元,它可以与探测部件装成一体,也可以jJ探l;lj部件分开1J f lt,缆联接.=拉术费求1 件去仪器的外表不nl有影响工作的锈蚀、破损哼j白布1放射性污势.2刻L-tfn cl: ,fJ 仪
4、器的刻眨11川是线性的或对攻的模拟扣示,也可以是数字显二百.FE性刻度的各1I:ri!之间的刻应用于之比不得大于10: 1 ,如果仪器是对数刘度日升为几个日-PJ,刑十;汩的W个Rt程之间应有声:叠部分唔3 r!1 !;t 仪器;如fj电池。飞屯,必须注的在旦示刊件上显示出电;也电II的有效工作范围.,1 仪器参号点和i仪器校il方向标记仪辑扫ittJ部件的外表必须有用于仪器愤iH,r:J奉考点和辐射入射方向的标.Jlll页第2页5 仪器的相对基本误差应小于30% 6 仪器的主扛性应优于20% 二检定条件7 检定实验室及环境JJG 852-93 7.1检定室的空间应尽可能大,在规定的检定条(f
5、,段时中子对探测器响应的贡献应不大于总响应的40% 7.2检起室的环境温度和湿度应在待检仪器的正常工作条件范围内.7.3应尽量减少待测仪器周围包括源和仪器的支架的易使中子散射的物质,特别是含氢的物质.8 中子参考辐射8.1必须用下列几种或其中一种类型的中子归作为中子参考扫射241Am-Be.叫Am-B.Cf或Cf加D,Q(立径为30cm的慢化球).这些中子源的有关数据见费1.8.2旧fNIIi去Jj4:M月J(I中子源必须符合GB4076-83 r规定的技术z.;.(. 8.3中子源的强度必须:jJ国家法定计i尹拌,门椅72.8.4中子源的强度的ffl5fj的:经过测定,相对误差应小于2%.
6、若中子源强度的角分布未经测定,检起时应按照10.9款执行.9 影锥影锥是检定时用来屏蔽中子直接射束进入探!ilJ悍的一种锥r6物体,用它可以确定散射中子对探测器响应的贡献.景:快的干干活尺寸出定于检定环境和中子能量,建议采用附录2第3条所描述的尺寸和组成.四检定项目和检定方法10 枚准因子的确定10.1校准因子的确定应采用8.1款规定的中子:究中的一种或几种) 10.2中子源最好忧在对!1m与天花板之间的巾间高度,其平时位置尽可能接近专中心.10.3将检仪i1iit; :,;汗的多号Jll放亘在与中子源中心相同的高度及确定周田剂量当量半的实际值位贯d上.10.4按仪器规定的入肘方向测量,读m仪
7、器的指示X,(d) , 每个位置上的iijliJht 主政议款1白石小于5,每次的问阳时间至少应大于仪器时间常数的3恬.求出指示恒的平均值E主(d)= Xt(d)/l (1) 1=1 10.5用影锥法扣除散射缸1M10.5.1源和探测器1t虫不变,将影谁放在在源与r1!器之!可,影锥距据约10cm.i卖出指后自Xaj(句,每点的读数次数m应不小于5 ,每次的问隔时间革命应大于仪端时间常数的3倍,求出指示值的乎均值z共1HJ第4页JJG 852-93 立s(d)= X8J(d)/m (2) ,-, 10.5.2按下式求出仪器对在接中子束引起的指示值,X D(d)=X(d).(1-a) (3) 其
8、中a = Xa(d)/X(d).应符合7.1款的规定.10.5.3对于同一规格型号的多台仪稳,在同样参考条件下检定时,可只对其中一台做影惟测量,所得G但fTI适用于骂他各台.10. H据所用参考中子源的强度Q,以及表1巾给出的中子注量一中子网!日刘贯当量转换系数沪,算出直接中予取在仪器测量参考点的相应的中子周围剂量当量率的实际值zX T (d) =卫,.xMxf(8)x f.f (d) (4) .1Je 式rpr1. f (的f A (d)分别为源中心军仪器参考点的有效距离,中于源发射卒各向异性修正因子及直接别束望气衰减修正因子其计算见!;i,j习tn。10 , 7 th 10.5.2项及10
9、.款获得的XD和XT求出校准同子k =XT/X D (5) 10.R对于要求检定的每个量程,f-v.:(r:量租20%至80%i国内的军少问个位节土进行10.3至10.7各款的测量,并算出校准因子,10.9若巾子源发射串的角分布函数已知,应有:与源成90。的方向I.rlllJ 时,若角分布函数未知,贝I在0。和90。两个角度上完成10.4款和110.5.1取所述的X乖jX,的测量,并取平均恒.11 相对基本误差仪烈的件P:程的相对基本误差为本规程规定的检定条件下,由式(3)得到的i!lf i X D租出式(4)得到的实际值Xp之间的相对误差事1 = X n_-.X =-JLV :!_ x 10
10、0% (6) T 12 1E立性12.1用合适的中于源在固定的测量条件下照射仪器,使得仪器白毛指示在L毛最呆放量程(线性输出或最灵敏十进位对数输出.T JG 852-93 共11时另5 llf 上,最大刻度的三分之一到二分之一之间.12.2重复读出仪器的指示值孔,按下式求出这组测量值的申放ilW量相对标准偏差,用于表)J仪器的重复性s!、1(X( _ X) 2 v=J FI 一一二Xl00%(7) x n-1 其中X,为第i次测量值,x为n次测量平均值n应不小于20,两次测量的时间间隔至少要大于仪器时间常数的3倍.五检定结果处理和检定周期13 按本规程检定合格的仪器发给检定证书,险定不合格者发
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