JJG 331-1994 激光干涉比长仪检定规程.pdf
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1、ZTZTG 中华人民共和国国家计量检定规程JJG 331-1994 激光干涉比长仪Laser Interference Comparator 1994一07-12发布1995一01-01实施国家技术监督局发布JJG 331- 1994 激光干涉比长仪检定规程Verification Regulation of Laser Interference Comparator 9 JJG 331-1994 2 ;代替JJG331-1983;本检定规程经国家技术监督局于1994年07月12日批准,并自1995年01月01日起施行。归口单位:中国计量科学研究院起草单位:中国计量科学研究院本规程技术条文由起
2、草单位负责解释JJG 331-1994 本规程主要起草人:蒋顷(中国计量科学研究院)参加起草人:王黎菁(中国计量科学研究院)汪德宝(中国计量科学研究院)JJG 331-1994 目录概述(1 ) 一检定项目和检定条件(1 ) 一检定要求和检定方法(2 ) 四检定结果的处理(6 ) 附录1激光器、测温装置及折射率测量装置的检定要求(7 ) 附录2测量环境下脉冲当量Qn的计算实例 ( 8 ) 附录3各种温度的饱和蒸气压表(9 ) JJG 331-1994 激光干涉比长仪检定规程本规程适用于新制造的、使用中和修理后的激光干涉比长仪的检定。一概述激光干涉比长仪(以下简称比长仪)是用激光波长直接检定线纹
3、尺的工作基准类仪器。它主要用于检定长度至1000 mm的一、二等标准金属线纹尺;一、二等标准玻璃线纹尺,以及不确定度优于一等标准金属尺的基准尺。检定长度小于1000 mm的激光干涉比长仪其被检项目与要求可参照本规程进行。比长仪的准确度可按线纹尺检定结果的总不确定度(置信水平0.99)分为两类:(A) U = (0.06+0.1L)m (B) U = (0.1+0.1L)m 式中:L一一被测长度,m。比长仪主要由He-Ne激光器、干涉仪、机械主体、光电显微镜、温度测量装置与数据处理装置(计算机)等七个部分组成。二检定项目和检定条件1 比长仪的检定项目和主要检定条件如表1所示。表1序检定类别枪定项
4、目主要检定条件非J主新制的修理的使用中l 外观目测+ + 2 激光平行光束的均匀性纸屏+ + + 3 干涉条纹的对比度及输出信号的质量纸屏、二踪示波器+ + + 4 工作台运动直线度0.2自准直仪+ + 5 测量光束与运动方向的一致性专用检具+ + 6 工作台运动速度均匀性频率计+ 十7 光电显微镜平面镜、自准直仪、金+ + 属尺、玻璃尺、町水泡8 测量重复性金属尺、玻璃尺+ + + 比长仪的准确度殷钢尺、石英尺、9 + + + 玻璃尺注:表中+表示检定,一表示可不检定。JJG 331-1994 2 检定比长仪时的环境温度应为20c左右,具体要求见12.2.1项中的表3。三检定要求和检定方法3
5、 外观3.1 要求:新制造的、修理后或使用中的比长仪其导轨均不能有锈蚀与碰伤;应用气浮导轨的比长仪其气源过滤应正常。3 .2 检定方法:手感和目力观察。4 激光平行光束的均匀性4.1 要求:光斑的亮度要均匀。4.2 检定方法:用白色纸屏观察。5 干涉条纹的对比度及输出信号的质量5.1 干涉条纹的对比度5. 1. 1 要求:干涉条纹要亮暗分明。5.1.2 检定方法:用白色纸屏观察。5.2 输出信号的质量5.2.1 要求:干涉条纹经光电转换后的信噪比、1m行程内的幅值变化和位相差的变化,均必须满足比长仪能正常工作的要求。5.2.2 检定方法:二踪示波器实时动态监测。6 工作台运动的直线度6.1 要
6、求:新制的与修理后的比长仪,在1m行程内垂直与水平方向的直线度应小于2/,扭曲小于4气使用中的比长仪上述两项指标分别为矿和5。6.2 检定方法:用0.2自准直仪在工作台的行程内测量,其扭曲用1水平仪测量。7 测量光束与工作台运动方向的一致性7.1 要求:在1m行程内小于5。7.2 检定方法:用一专用检具,它是一个长度近似于工作台行程的圆柱棒,其一端装一平面反射镜,其反射面与圆柱棒的母线相垂直。平面反射镜的对面放置一自准直仪,圆柱棒放置于工作台上的V形块内,用千分表在垂直与水平面内将其母线调整到与导轨运动方向一致,用自准直仪观察平面反射镜上反射回来的十字线像。调整自准直仪使十字线像处于视场中央。
7、然后调整激光束的方向,使激光光点落在自准直仪视场中央,也可用其它相应的方法。调整的不确定度应优于2。8 工作台运动速度的均匀性8.1 要求:工作台运动速度的相对变化不得超过5%。8.2 检定方法:用与干涉仪阻抗匹配的频率计或其它检测仪器。9 光电显微镜2 JJG 331-1994 9.1 外观及相互位置9. 1.1 要求:成像要清晰,视场亮度要均匀,且不能有霉点、脏点、水泡等各种附着物,显微镜升降要灵活,不能有影响调焦的空回。9. 1.2 检定方法:目测和手感。9.2 双狭缝9.2.1 要求:每个狭缝均能根据刻线宽度调整,边缘平直并相互平行。两狭缝在视场内应能清晰看到。9.2.2 检定方法:通
8、过目镜观察狭缝边缘是否平直,合拢时要平行,不应有目力觉察出的缝隙和倾斜现象。9.3 双狭缝与工作台运动方向应垂直9.3.1 要求:在显微镜视场内,观察双狭缝与调整好的线纹尺刻线应平行。9.3.2 检定方法:将一等标准金属线纹尺(或一等标准玻璃线纹尺)按检定要求调整好焦距和方位,通过显微镜观察线纹尺的刻线应与狭缝平行。9 .4 显微镜升降导轨的直线度9.4.1 要求:在显微镜升降范围内不得大于l。9.4.2 检定方法:用准确度不低于10的水泡放置于显微镜上,升降显微镜,待固定后观察水泡的变化。9.5 调整光电显微镜的物像光轴9.5.1 要求:与工作台运动方向垂直不得大于2。9.5.2 检定方法:
9、在安装顶端狭缝前,在狭缝的位置上放置一块十字分划板,绕光电显微镜机械轴旋转,调整十字分划板中心与机械轴重合,用光学显微镜观察。然后,在光电显微镜物方用光学显微镜观察十字分划板的像,同样绕机械轴旋转光电显微镜,修切物镜的修切圆直至十字分划板的中心不晃动为止。9.6 调整光电显微镜的照明光轴9.6.1 要求:照明光轴应与线纹尺尺面垂直。9.6.2 检定方法:安装一支金属线纹尺(或玻璃线纹尺),按检定要求调整好焦距和方位。升降光电显微镜,当刻线稍有离焦时,刻线像不得有左右晃动。9.7 显微镜的机械轴9.7.1 要求:显微镜升降时,不得有绕机械轴的回转。9.7.2 检定方法:在显微镜的某一侧面部位贴附
10、一个反射镜,用自准直仪观察十字线反射像,在升降显微镜或绕机械轴轻微旋转显微镜时,其十字线像不得有晃动。10 比长仪的测量重复性10.1 要求:单次测量的不确定度(置信水平为0.99)U二0.1m10.2 检定方法:取一支刻线质量好的标准金属线纹尺或标准玻璃线纹尺,任取一端的10个毫米间隔,重复测量14次,记录格式如表2所示。3 JJG 331-1994 表2次数间隔/mmIp ( vv 1 2 3 . . . 12 13 14 0-1 11.1 11.2 11.3 . . . . 11. 12 11. 13 11. 14 l pl (VV)1 2- 3 l 2.1 l2.2 l2.3 . .
11、. 2.12 12 . 13 2.14 l p2 (VV )2 . . . . . . 16 - 17 19. 1 9.2 19.3 . . . 19. 12 19. 13 9.14 lp9 (VV )9 18 - 19 110.1 110.2 10.3 . . . 110. 12 10.13 10.14 lp10 (VV) lO Ipl lp2 lp3 , IpIO-一一第1间隔至第10间隔各自测量14次的平均值;(VV)I (VV Jz, . VV)IO一一第1间隔至第10间隔各自残差的平方和。按下列公式算出其测量结果的总不确定度(置信水平0.99):U=3 式中:K一一测量的间隔数,取K
12、=10;n一一每间隔的测量次数,取n= 14; ( VV)i一一)1. ()2. ()10。11 激光器、测温装置及折射率测量装置11.1 要求:参阅附录1。12 比长仪检定线纹尺的总不确定度12.1 要求:见本规程的概述。12.2 检定方法(1) 12.2.1 用殷钢基准尺或一等标准玻璃线纹尺装于工作台上,其检定条件如表3所示。12.2.2 测量基准尺的温度ts并按基准尺的温度线膨胀系数计算其对长度的修正量lt =(20 - ts) L 式中:L一一被测长度。12.2.3 测量空气的折射率4 a.用折射率干涉仪测量,根据其使用说明书操作。b.用爱特伦(Edlen)公式计算:(2) JJG 3
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