NB T 47013.2-2015 承压设备无损检测第2部分 射线检测.pdf
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1、. ICS 77.040.20 826 B 中华人民共和国能源行业标准NB厅47013.2-2015代替JB/T4730.2-2005 承压设备无损检测第2部分:射线检测Nondestructive testing of pressure equipments一Part 2: Radiographic testing 2015-04-02发布2015-09-01实施国家能源局发布-唱. 一NB/T 47013.2-2015 目次前言.221 范围.252 规范性引用文件.253 术语和定义.254 一般要求.265 检测工艺及其选择.306 承压设备熔化焊焊接接头射线检测结果评定和质量分级.4
2、27 承压设备管子及压力管道熔化焊环向焊接接头射线检测结果评定和质量分级.478 检测记录和报告.51附录A(资料性附录)管子-管板角焊缝射线照相技术要求.52附录B(规范性附录)工业射线胶片系统的特征指标.57附录c(资料性附录)黑度计(光学密度计)定期核查方法.58附录D(资料性附录)暗室安全照射时间确定.59附录E(资料性附录)典型透照方式示意图.但附录F(资料性附录)环向对接焊缝透照次数确定方法.67附录G(规范性附录)焦点尺寸计算方法.74附录H(规范性附录)几何不清晰度(Ug)计算方法.75附录1(资料性附录)滤光板.76附录J(规范性附录)定位标记的放置原则.77附录K(资料性附
3、录)底片硫代硫酸盐离子浓度测量方法.80附录L(规范性附录)对比试块的型式和规格.8121 NB/T 47013.2-2015 目IJ吕本标准NB/T47013 100 kV - 150kV) X射线d铅0.02 - 0.15 0.02 - 0.15 2 x 0.02 - 2 x 0.10 ( 150 kV - 250kV) X射线d铅0.02 - 0.20 0.02 - 0.20 2 x 0.02 - 2 x 0.10 ( 250 kV - 500kV ) Tm170 铅不用或:;0.03不用或运0.03Yb169 d 铅0.02 - 0.15 0.02 - 0.15 2 x 0.02 -
4、2 x 0.10 A级0.02- 0.20 A级0.02- 0.20 2xO.10 Se75 铅AB级、B级AB级、B级2 x 0.10 0.10 - 0.20 a 0.10-0.20 A级0.02- 0.20 A级0.02- 0.20 2 x 0.10 Irl92 铅AB级、B级AB级、B级2 x 0.10 0.10 _ 0.20 a 0.10 - 0.20 钢或铜0.25 - 0.70 0.25 - 0.70 0.25 Co60 b 铅(A级、AB级)0.50 - 2.0 0.50 - 2.0 2xO.10 X射线钢或铜0.25 - 0.70 0.25 - 0.70 0.25 ( 1MeV
5、 - 4MeV) 铅0.50 - 2.0 0.50 - 2.0 2 x 0.10mm或不用(A级、AB级)铜、钢运1.00.25 铜、钢或钮运1.0X射线钮运0.500.25 ( 4MeV - 12MeV ) 铅(A级、AB级)0.50 - 1.0 0.50 - 1.0 2xO.10mm或不用a如果AB级、B级使用前屏:;0.03mm的真空包装胶片,应在工件和胶片之间加0.07mm-0.15mm厚的附加铅屏。b采用Co60射线源透照有延迟裂纹倾向或标准抗拉强度下限值Rm注540MPa材料时,AB级和B级应采用钢或铜增感屏。c双胶片透照技术应增加使用中屏。d采用X射线和Yb169射线源时,每层中
6、屏的厚度应不大于前屏厚度。4. 2. 7 像质计4.2.7. 1 底片影像质量采用线型像质计或孔型像质计测定。通用线型像质计和等径线型像质计的型号和规格应符合JB/T7902的规定,孔型像质计型号和规格应满足GB/T23901.2的规定。4.2.7.2 像质计的材料代号、材料和不同材料的像质计适用的工件材料范围可按表2的规定执行,像质计材料的吸收系数应尽可能的接近或等同于被检材料的吸收系数,任何情况下不能高于被检材料的吸收系数。28 可. 一一一NB/T 47013.2-2015 表2不同材料的像质计适用的材料范围像质计材料代号Al Ti Fe Ni Cu 像质计材料工业纯铝丁卒业纯铁碳素钢银
7、-铭合金3#纯铜适用材料范围铝,铝合金钦,钦合金钢镇-银合金铜、铜合金4. 2. 8 暗室安全照射时间确定胶片应在胶片制造商所推荐的安全灯光条件下进行暗室处理,暗室安全照射时间的确定方法可参考附录D进行。4.3 检测技术等级4.3.1 射线检测技术分为三级:A级一一低灵敏度技术;AB级一一中灵敏度技术;B级一一高灵敏度技术。4. 3. 2 射线检测技术等级选择应符合相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求,同时还应满足合同双方商定的其他技术要求。承斥设备焊接接头的射线检测,一般应采用AB级射线检测技术进行检测。对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的焊接接头,可采用B级技术进行检测。4.
8、 3. 3 当检测中某些条件不能满足AB级(或B级)射线检测技术的要求时,经合同双方商定,在采取有效补偿措施(例如选用更高类别的胶片)的前提下,若底片的像质计灵敏度达到了AB级(或B级)射线检测技术的规定,则可认为按AB级(或B级)射线检测技术进行了检测。4.3.4 承压设备在用检测中,检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时,经合同双方商定,在采取有效补偿措施(例如选用更高类别的胶片)后可采用A级技术进行射线检测,但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。4.4 检测工艺文件4.4.1 检测工艺文件包括工艺规程和操作指导书。4.4.2 工艺规程除满足NB/T47013.1的要求外,还
9、应规定下列相关因素的具体范围或要求;如相关因素的变化超出规定时,应重新编制或修订工艺规程:a) 适用范围中的结构、材料类别及厚度;b)射线源种类、能量及焦点尺寸;c) 检测技术等级;d)透照技术;e) 透照方式;f) 胶片型号及等级;g)像质计种类;h)增感屏和滤光板型号(如使用);i ) 暗室处理方法或条件;j ) 底片观察技术。4.4.3 应针对具体检测对象根据标准和工艺规程编写操作指导书,其内容除满足NB/T47013.1的要求外,至少还应包括:a) 编制依据;b)适用范围:被检测工件的类型(形状、结构等)、尺寸范罔(厚度及其他几何尺寸)、所用29 NB/T 47013.2-2015 材
10、料的种类;c) 检测设备器材:射线源(种类、型号,焦点尺寸)、胶片(牌号及其分类等级)、增感屏(类型、数量和厚度)、像质计(种类和型号)、滤光板、背散射屏蔽铅板、标记、胶片暗室处理和观察设备等;d)检测技术与工艺:采用的检测技术等级、透照技术(单或双胶片),透照方式(源-工件胶片相对位置)、射线源、胶片、曝光参数、像质计的类型、摆放位置和数量,标记符号类型和放置、布片原则等;e) 胶片暗室处理方法和条件要求;f) 底片观察技术(双片叠加或单片观察评定);g)底片质量要求:几何不清晰度、黑度、像质计共敏度、标记等;h)验收标准;i ) 操作指导书的验证要求。4.4.4 首次使用的操作指导书应进行
11、工艺验证,以验证底片质量是否能达到标准规定的要求。验证可通过专门的透照试验进行,或以产品的第一批底片作为验证依据。在这两种情况下,作为依据的验证底片应做出标识。4.5 辐射安全防护4.5.1 辐射防护应符合GB18871、GBZ117和GBZ132的有关规定。4.5.2 现场进行X射线检测时,应按GBZ117的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。检测工作人员应佩带个人剂量计,并携带剂量报警仪。4.5.3 现场进行y射线检测时,应按GBZ132的规定划定控制区和监督区、设置警告标志,检测作业时,应围绕控制区边界测定辐射水平。检测工作人员应佩带个人剂量计,并携带剂量报警仪。5 检测工艺及其选择5
12、. 1 检测时机5. 1. 1 检测时机应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求,同时还应满足合同双方商定的其他技术要求。5.1.2 除非另有规定,射线检测应在焊接接头制造完工后进行,对有延迟裂纹倾向的材料,至少应在焊接完成24h后进行。5.2 检测区5.2.1 检测区宽度应满足相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求,同时还应满足合同双方商定的其他技术要求,对于非电渣焊焊接接头,一般应满足以下规定:a) 对于对接焊缝,检测区包括焊缝金属及相对于焊缝边缘至少为5mm的相邻母材区域;b)对于管座角焊缝,检测区包括焊缝金属及相对于焊缝边缘至少为5mm的安放式接管相邻母材区域或插人式主管(或筒
13、体、封头、平板等)相邻母材区域。5.2.2 对于电渣焊焊接接头,其检测区宽度可通过实际测量热影响区确定,或由合同双方商定。5.3 表面要求在射线检测之前,焊接接头的表面应经目视检测并合格。表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像,否则应对表面作适当修整。30 飞,.-NB/T 47013.2-2015 5.4 胶片选择5.4.1 A级和AB级射线检测技术应采用。类或更高类别的胶片,B级射线检测技术应采用C4类或更高类别的胶片。5.4.2 采用y射线和高能X射线进行射线检测时,以及对标准抗拉强度下限值Rm540MPa高强度材料射线检测时,应采用C4类或更高类别的胶片。5.5 透照布置
14、5.5.1 胶片透照技术本部分允许以下两种胶片透照技术:a) 单胶片透照技术使用单张胶片。X射线(运100kV)和Tm170射线源只允许采用单胶片透照技术。b)双胶片透照技术使用两张分类等级相同或相近的胶片。5.5.2 透照方式5.5.2.1 应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。在可以实施的情况下应优先选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。典型的透照方式参见附录E。5.5.2.2 安放式和插入式管座角焊缝应优先选择源在外透照方式。插入式管座角焊缝源在内透照方式时,应优先选择射线源放置在支管轴线上的透照布置。5.5.3 透照方向透照时射线束中心一般应垂直指向
15、透照区中心,并应与工件表面法线重合,需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。5.5.4 一次透照长度:a)一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。不同级别射线检测技术和不同类型焊接接头的K值应符合表3的规定。通过K值确定的整条环向焊接接头所需的透照次数可参照附录F的曲线图确定;b)采用射线源在内偏心透照(F0.12时,相隔120。或60。透照3次。垂直透照重叠成像时,一般应相隔120。或60。透照3次。按照上述规定进行多次透照时,底片上被检测区黑度满足5.16.1的区域为有效评定区,相邻底片的有效评定区的重叠应保证覆盖被检测区的整个体积范围,如最少曝光次数不能满足100%覆盖要求,则应增加曝光次
16、数。5.5.6.3 特殊情况由于结构原因不能按5.5.6.2的规定的间隔角度多次透照时,经合同双方商定,可不再强制限制5.5.6.2规定的间隔角度,但应采取有效措施尽量扩大缺陷可检出范围,同时应保证底片评定范围内黑度和灵敏度满足要求,并在检测报告中对有关情况进行说明。5.6 射线能量5.6.1 在保证穿透力的前提下,X射线照相应选用较低的管电压。在采用较高管电压时,应保证适当的曝光量。图l规定了不同材料、不同透照厚度允许采用的最高X射线管电压。5.6.2 对截面厚度变化大的承压设备,在保证灵敏度要求的前提下,允许采用超过图l规定的X射线管电压。但对钢、铜及铜合金、镇及镇合金材料,管电压增量不应
17、超过50kV;对铁及铁合金材料,管电压增量不应超过40kV;对铝及铝合金材料,管电压增量不应超过30kV。5. 6. 3 Y射线源和高能X射线适用的透照厚度范围应符合表4的规定。5.6.4 采用源在内中心透照方式,在保证像质计灵敏度达到5.16.2要求的前提下,允许y射线最小透照厚度取表4下限值的1/2。32 NB/T 47013.2一2015500 400 300 v v 1/ o / W多旷/v ., . v . v v-. / .-.I-r L-3 . .-i.-o -.,. _. 4 .-1-+-阳200 ,且、国1001!p 地70革60:g:; 50 罢4030 20 1 0 l
18、2 3 4 5 6 7 8 9 10 20 30 40 50 60 70 100 透照)lf度W/mm说明:1一一铜及铜合金,镇及银合金;2一一钢;3一一钦及铁合金;4一一铝及铝合金。图1不同透照厚度允许的X射线最高透照管电压5.6.5 采用其他透照方式,在采取有效补偿措施并保证像质计灵敏度达到5.16.2要求的前提下,经合同双方商定,A级,AB级技术的Ir192源的最小透照厚度可降至10mm,Se75源的最小透照厚度可降至5mm。表41射线源和能量lMeV以上X射线设备的透照厚度范围(钢、铜、镇合金等)射线源透照厚度W/mmA级,AB级B级Tm170 :S; 5 三三5Yb169 a ;.1
19、 - 15 二2- 12 Se75b 二,10- 40 ;. 14 - 40 Ir192 ;.20 - 100 ;.20 - 90 Co60 ;.40 - 200 ;.60 - 150 X射线(1MeV - 4MeV) ;.30 - 200 ;. 50 - 180 X射线( 4 MeV - 12MeV) ;.50 ;.80 a对于铝和钦,A级和AB级透照厚度为:102.5时,透过底片评定范围内的亮度应不低于1Ocd/m2 0 5.16 底片质量5. 16. 1 黑度底片黑度应采用黑度计(光学密度计)进行测量,不同胶片透照技术和底片观察技术对应的黑度范围如下:5. 16. 1. 1 单胶片透照技
20、术,单底片观察评定,底片评定范围内的黑度D应符合下列规定:A级:1.5运D运4.5;AB级:2.0:三D:.三4.5;B级:2.3运D:.三4.5。5. 16. 1. 2 双胶片透照技术,双底片叠加观察评定,评定范围内的黑度D应符合2.7运D运4.5的规定。38 注1:双底片叠加评定时,黑度范围超过4.5的局部区域,如果单底片黑度范围符合5.16.1.1的规定时,可以对该区域进行单底片评定。注2:采用同类胶片时,在有效评定区内每张底片上相同点测量的黑度的差应不超过0.5。注3:用于双底片叠加评定的任何单底片的黑度应不低于1.3。注4.应同时观察、分析和保存每张底片。NB/T 47013.2-2
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