GB T 6462-2005 金属和氧化物覆盖层 厚度测量 显微镜法.pdf
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1、ICS 25.220.20 A 29 中华人民不日+l: ./、GB 国国家标准GB/T 6462-2005/ISO 1463: 2003 代替GB/T61162-1986 金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法Metallic and oxide coatings-Measurement of coating inckness-Microscopical method (lSO 1463: 2003 , IDT) 2005-06-23发布中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会2005-12-01实施发布G/T 6462-2005/ISO 1463: 2003 目次前言.皿
2、1 范围-2 规范性引用文件. 3 术语和定义4 原理.5 影响测量不确定度的因素. 6 横断面的制备27 测量.38 测量的不确定度39 试验报告附录A(资料性附录)关于横断面制备和测量的指南附录B(资料性附录)横断面的斜度和齿状结构覆盖层的测量.6 附录c(资料性附录)室温下使用的典型的浸蚀剂8参考文献. I GB/T 6462-2005/ISO 1463: 2003 目lJ1=1 本标准等同采用ISO1463: 2003(金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法(英文版)。本标准等同翻译ISO1463:2003。为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:a) 本国际标准一词改为本标准;b) 该国
3、一词改为国家;c) 用小数点七代替作为小数点的逗号fzd) 删除国际标准的前言。本标准代替GB/T6462-1986 (金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法。与GB/T 6462-1986相比主要变化如下:一-标准名称改为金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法h增加了测量方法的适用范围(第1章); 一一一增加了规范性引用文件(第2章); 一一增加了局部厚度定义(第3章); 一-增加了附录B。本标准的附录A、附录B、附录C为资料性附录。本标准由中国机械工业联合会提出。本标准由全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会CSAC/TC57)归口。本标准负责起草单位:武汉材料保护研究所、宁波永新光学股份
4、有限公司。本标准主要起草人:张德忠、曾丽珠、陈晓帆、王成。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:一一-GB/T6462一1986。m山GB/T 6462-2005/ISO 1463: 2003 金属和氧化物覆盖层厚度测量显微镜法1 范围本标准规定了运用光学显微镜检测横断面,以测量金属覆盖层、氧化膜层和袖瓷或玻璃搪资覆盖层的局部厚度的方法。警告:应用本标准可能涉及到危险的材料、操作和装置的使用。本标准没有提出使用过程中的任何健康危害和安全问题。在运用本标准前,使用者有责任根据国家或当地的规定制定合适的健康和安全条例,并采取相应的措施。2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准
5、的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GB/T 12334 金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则(idtISO 2064) 3 术语和定义GB/T 12334确立的以及下列术语和定义适用于本标准。局部厚度local thickness 在参比面内进行规定次数厚度测量的平均值。4 原理从待测件上切割一块试样,镶嵌后,采用适当的技术对横断面进行研磨、抛光和浸蚀。用校正过的标尺测量覆盖层横断面的厚度。注:有经验的金相
6、学家对这些技术很熟悉,对于经验不足的操作者,第5章和附录A中给出了一些指南。5 影响测量不确定度的因素5.1 表面粗糙度如果覆盖层或覆盖层基体表面是粗糙的,那么与覆盖层横断面接触的一条或两条界面线是不规则的,以致不能精确测量(见A.5)。5.2 横断面的斜度如果横断面不垂直于待测覆盖层平面,那么测量的厚度将大于真实厚度。例如:垂直度偏差100将产生1.5%的误差。注:附录B中B.l提供了关于倾斜横断面的指南。5.3 覆盖层变形镶嵌试样和制备横断面的过程中,过高的温度和压力将使软的或低熔点的覆盖层产生有害变形;在制备脆性材料横断面时,过度的打磨也同样会产生变形。5.4 覆盖层边缘倒角如果覆盖层横
7、断面边缘倒角,即覆盖层横断面与边缘不完全平整,采用显微镜测量则得不到真实厚度。不正确的镶嵌、研磨、抛光和浸蚀都会引起边缘倒角,因此在镶嵌之前,待测试样常要附加镀层,这GB/T 6462-2005/ISO 1463: 2003 样可使边缘倒角减至最小。(见A.2)5.5 附加镀层在制备横断面时,为了保护覆盖层的边缘,以避免测量误差,常在待测试样上附加镀层。在附加镀层前的表面准备过程中,覆盖层材质的除去将导致厚度测量值偏低。5. 6 浸蚀适当的浸蚀能在两种金属的界面线上产生细而清晰的黑线;过度的浸蚀会使界面线不清晰或线条变宽,使测量产生误差。5. 7 遮盖不适当的抛光或附加镀覆软金属会使一种今国将
8、若在另一种金属上,造成覆盖层和基体之间的界面线模糊。为了减轻遮盖的影响?确备金属镀层的膏阳,直至厚度测量(见A.3和A.5)出现重现,或附加镀覆较硬的金属。5.8 放大率对于待测的任何一句视野为覆盖层厚度的1重复校正号或0.1%中较5. 11 对位测微计目镜移动始终朝同-方呻5.12 股大率的一致放大率在整个视同-位置进行校准和测5. 13 透镜的质量图像不清晰将产生测量不注:有时,可用单色光束提高图像清5. 14 目镜的方位选择放大率时应使显微镜事准与操作者的人离为2mm时,误差光轴中心,并且在视野的保证目镜的准线在对线时移动的过程中与覆盖层横断面的界面线垂直。例如:偏离100,其误差为1.
9、5%。5.15 镜筒的长度镜筒长度的变化会引起放大率的变化,若此变化发生在校准和测量之间,则测量不准。目镜在镜筒内重新定位时,改变目镜镜筒焦距时,以及在进行显微镜微调时,注意避免镜筒长度发生变化。6 横断面的制备制备、镶嵌、研磨、抛光、漫蚀试样要求为:2 G/T 6462-2005/ISO 1463: 2003 a) 横断面垂直于覆盖层;b) 横断面表面平整,其图像的整个宽度应在测量时所取的放大率下同时聚焦;c) 由于切割和制备横断面所引起的变形材质要去掉;d) 覆盖层横断面上的界面线仅由外观反差就能明显地确定或由一条易于分辨的细线确定。注:第5章和附录A中给出了详细指南。一些典型的浸蚀剂列于
10、附录Co7 测量7.1 应适当注意第5章和附录A中所列的各种因素。7.2 用验证或校准过的载物台测微计校准注:附录B给出了横断面的斜8 测量的不确定度0.8m的绝对测量在良好的条件下,9 试验报告试验报告NU 本标b) 待测、c) 测量1) d) f) 可量装置。点测量。面帘陆的方法都应加以选择,使之内。本方法能得到上翻量点分布的长度;3 GB/T 6462-2005/ISO 1463: 2003 附录A(资料性附录)关于横断面制备和测量的指南A.l 引言试样的制备和覆盖层厚度测量很大程度取决于个人技术,并且适用的技术多种多样。仅规定采用某一技术是不合理的,要包含所有适用的技术也是不现实的。本
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