GB T 6394-2002 金属平均晶粒度测定法.pdf
《GB T 6394-2002 金属平均晶粒度测定法.pdf》由会员分享,可在线阅读,更多相关《GB T 6394-2002 金属平均晶粒度测定法.pdf(27页珍藏版)》请在麦多课文档分享上搜索。
1、ICS 77. 040. 30 H 24 中华人民共和国国家标准GB/T 6394-2002 金属平均晶粒度测定方法Metal-methods for estimating the average grain size 2002-12-31发布2003-06-01实施中华人民共和国发布国家质量监督检验检疫总局GB/T 6394-2002 前言本标准修改采用ASTME1l2一1996(测定平均晶粒度试验方法。本标准自实施之日起,YB/T 5148-1993(金属平均晶粒度测定方法作废。本标准根据ASTME1l2-1996重新起草。为了方便比较,在资料性附录D中列出了本国家标准条款和ASTME1l
2、2-1996标准条款的对照览表。由于我国法律要求和工业的特殊需要,本标准在采用ASTME1l2-1996标准时进行了修改。这些技术性差异用垂直单线标识在它们所涉及的条款的页边空白处。在附录D中给出了技术差异及其原因一览表以供参考。本标准与YB/T5148二1993相比主要变化如下:修改各系列评级图适用范围的说明;一一将晶粒显示方法作为附录编写,增加模拟渗碳法和网状铁素体法,删去珠光体法,并分奥氏体晶粒形成及显示两部分叙述;一一-删去截点法中表4a、表4b和图3;增加了6非等轴晶试样的晶粒度气一一增加了7含两相或多相及组元试样的晶粒度。本标准的附录A、附录B、附录C为规范性附录,附录D为资料性附
3、录。本标准由原国家冶金工业局提出。本标准由全国钢标准化技术委员会归口。本标准主要起草单位:抚顺特殊钢(集团)有限责任公司、冶金工业信息标准研究院。本标准主要起草人:曾文涛、来燕、谷强、刘忠平。I G/T 6394-2002 引本标准规定了金属材料平均晶粒度的基本测量方法。由于纯粹以晶粒几何图形为基础,与金属或含金本身无关。因此,这些基本方法也可用来测量非金属材料中晶粒、晶体和晶胞的平均尺寸。如果材料的组织形貌接近于某一个标准系列评级图,可使用比较法。测定平均晶粒度常用比较法,也可用截点法和面积法。但是,比较法不能用来测量单个晶粒。E GB/T 6394-2002 金属平均晶粒度测定方法1 范围
4、1. 1 本标准规定了金属组织的平均晶粒度表示及评定方法。这些方法也适用于晶粒形状与本标准系列评级图相似的非金属材料。这些方法主要适用于单相晶粒组织,但经具体规定后也适用于多相或多组元的试样中特定类型的晶粒平均尺寸的测量。1.2 本标准使用晶粒面积、晶粒直径、截线长度的单峰分布来测定试样的平均晶粒度。这些分布近似|正态分布。本标准的测定方法不适用于双峰分布的晶粒度。I1.3 本标准的测量方法仅适用平面晶粒度的测量,也就是试样截面显示出的二维晶粒,不适用于试样三维晶粒,即立体晶粒尺寸的测量。1.4 本标准仅作为推荐性试验方法,它不能确定受检材料是否接收或适合使用的范围。2 术语和定义下列术语和定
5、义适用于本标准。2. 1 晶粒grain 晶界所包围的整个区域,即是二维平面原始界面内的区域或是三维物体内的原始界面内所包括的体积。对于有孪生界面的材料,孪生界面忽略不计。2.2 晶粒度grain size 晶粒大小的量度。通常使用长度、面积、体积或晶粒度级别数来表示不同方法评定或测定的晶粒大小,而使用晶粒度级别数表示的晶粒度与测量方法和计量单位无关。2.3 晶粒度级别数grain-size number 2.3. 1 显微晶粒度级别数Gmicro-grain size number G 在100倍下645.16mm2面积内包含的晶粒个数N与G有如下关系:N = 2G-l 2.3.2 宏观晶粒
6、度级别数Gmmacro-grain size number Gm 在1倍下645.16mm2面积内包含的晶粒个数N与Gm有如下关系:N = 2Gm-1 2.4 符号本标准采用的符号见表1所示。1 qB/T 6394一2002表1符号及其说明符号名称及说明单位G 显微晶粒度级别数Gm 宏观晶粒度级别数M 观测所用的放大倍数Mh 标准评级图基准放大倍数Q 非基准放大倍数下评定显微晶粒度的修正系数Qm 非基准放大倍数下评定宏观晶粒度的修正系数A 测量网格面积mm2 L 测量网格的长度口1日1N内测量网格内的晶粒数(MX)N变与测量网格相交或相切的品粒数(MX)N 晶粒个数(MX)NA 测量网格上单位
7、面积内的晶粒个数(MX)I/mm2 n. 试样检测面上每平方毫米内的晶粒数(1X)I/mm2 P 测量网格与晶界相交截点数(MX)PL 测量网格上单位长度截点数(MX)l/mm 1 试样检测面上每毫米内平均截点数(1X)l/mm l 试样检测面上每毫米截点数l/mm 且晶粒平均截面积(1X)mm2 d 晶粒平均直径(1X)口1m晶粒平均截距(1X)mm n. 每平方毫米内的平均晶粒数I/mm2 n.! 非等轴晶纵向面上放大1倍时每平方毫米内平均晶粒数I/mm2 n 非等轴晶横向面上放大1倍时每平方毫米内平均晶粒数I/mm2 n.p 非等轴晶法向面上放大1倍时每平方毫米内平均晶粒数I/mm2 p
8、u 非等轴晶纵向面上放大1倍时每毫米内平均截点数l/mm Pit 非等轴晶横向面上放大1倍时每毫米内平均截点数l/mm p!p 非等轴晶法向面上放大l倍时每毫米内平均截点数l/mm N 测量网格与基相()晶粒相交截的晶粒个数l/mm 基相()晶粒平均截距m口1Vv, 基相()晶粒的体积分数AA 基相()晶粒的面积分数AI 非等轴晶粒伸长率(或纵向平面各向异性系数)3 使用概述3. 1 本标准规定了测定平均晶粒度的基本方法:比较法、面积法和截点法。3. 1. 1 比较法:比较法不需计算任何晶粒、截点或截矩。与标准系列评级图进行比较,评级图有的是标准挂图、有的是目镜插片。用比较法评估晶粒度时一般存
9、在一定的偏差(:l:O.5级)。评估值的重现性与再现性通常为士1级。3.1.2 面积法:面积法是计算已知面积内晶粒个数,利用单位面积内晶粒数NA来确定晶粒度级别数G。该方法的精确度是所计算晶粒数的函数。通过合理计数可实现:l:O.25级的精确度。面积法的测定GB/T 6394-2002 结果是无偏差的,重现性与再现性小于:J:0.5级。面积法精确度关键在于晶粒界面明显划分晶粒的计数。3. 1.3 截点法:截点法是计算已知长度的试验线段(或网格)与晶粒界面相交截部分的截点数,利用单位长度截点数PL来确定晶粒度级别数G。截点法的精确度是计算的截点或截矩的函数,通过有效的统计结果可达到士0.25级的
10、精确度。截点法的测量结果是无偏差的,重现性和再现性小于士0.5级。对同一精度水平,截点法由于不需要精确标计截点或截矩数,因而较面积法测量快。3.2 对于等轴晶组成的试样,使用比较法,评定晶粒度既方便又实用。对于批量生产的检验,其精度已足够了。对于要求较高精度的平均晶粒度的测定,可以使用面积法和截点法。截点法对于拉长的晶粒组成试样更为有效。3.3 不能以标准评级图为依据测定单个晶粒。因为标准评级围的构成考虑到截平面与晶粒兰维排列关系,显示出晶粒从最小到最大排列分布所反映出有代表性的正态分布结果。所以不能用评级图来测定单个晶粒。3.4 测定晶粒度时,首先应认识到晶粒度的测定并不是一种十分精确的测量
11、。因为金属组织是由不同尺寸和形状的三维晶粒堆积而成。即使这些晶粒的尺寸和形状相同,通过该组织的任一截面(检验面)上分布的晶粒大小,将从最大值到零之间变化。因此,在检验面上不可能有绝对尺寸均匀的晶粒分布,也不能有两个完全相同的检验面。3.5 如有争议时,截点法是所有情况下仲裁的方法。3.6 不能测定重度冷加工材的平均晶粒度。如有需要,对于部分再结晶合金和轻度的冷加工材料可视作非等轴晶组成。3. 7 在显微组织中晶粒尺寸和位置都是随机分布。因此,只有不带偏见地随机选取三个或三个以上代表性视场测量平均晶粒度才有代表性。所谓代表性即体现试样所有部分都对检验结果有所贡献,而不是带有遐想地去选择平均晶粒度
12、的视场。只有这样,测定结果的准确性和精确度才是有效的。3.8 不同观测者的测量结果在预定的置信区间内,有差异是允许的。4 取样4. 1 测定晶粒度用的试样应在交货状态材料上切取。试样的数量及取样部位按相应的标准或技术条件规定。4.2 切取试样应避开剪切、加热影响的区域。不能使用有改变晶粒结构的方法切取试样。4.3 推荐试样尺寸为:圆形(直径):10 mm12 mm;方形(边长): 10 mm X 10 mm 4.4 晶粒度试样不允许重复热处理。4.5 渗碳处理用的钢材试样应去除脱碳层和氧化层。5 晶粒度测定方法5. 1 比较法比较法是通过与标准系列评级图对比来评定平均晶粒度。5. 1. 1 比
13、较法适用于评定具有等轴晶粒的再结晶材料或铸态材料。5. 1. 2 使用比较法评定晶粒度时,当晶粒形貌与标准评级图的形貌完全相似时,评级误差最小。因此,本标准有下列四个系列标准评级图1): a) 系列图片1:无孪晶晶粒(浅腐蚀)100倍;b) 系列图片II:有孪晶晶粒(浅腐蚀)100 倍;1)标准系列评级图请与冶金工业信息标准研究院联系。3 0.35%钢的试样在8600C:l: 100C 加热,至少保温30min,然后空冷或水冷。在此范围内碳含量较高的碳钢和碳含量(质量分数)超过O.40%的合金钢需调整冷却方法,以便在奥氏体晶界上析出清晰的铁素体网。在此种情况下,建议试样在硬化加热的温度保持必要
- 1.请仔细阅读文档,确保文档完整性,对于不预览、不比对内容而直接下载带来的问题本站不予受理。
- 2.下载的文档,不会出现我们的网址水印。
- 3、该文档所得收入(下载+内容+预览)归上传者、原创作者;如果您是本文档原作者,请点此认领!既往收益都归您。
下载文档到电脑,查找使用更方便
5000 积分 0人已下载
下载 | 加入VIP,交流精品资源 |
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- GB 6394 2002 金属 平均 晶粒 测定法
