GB T 5994-2003 电子设备用固定电容器 第4-1部分;空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E.pdf

《GB T 5994-2003 电子设备用固定电容器 第4-1部分;空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《GB T 5994-2003 电子设备用固定电容器 第4-1部分;空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E.pdf（12页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、GBjT 5994-2003jIEC 60384-4-1 ,2000 前士-同本标准等同采用IEC60384-4-1 , 2000 QC 300301(电子设备用固定电容器第4-1部分=空臼详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E)(英文版)。为了便于使用，对于IEC60384-4-1，2000还作出了下列编辑性修改z删除IEC60384-4-1，2000的前言。本标准与GBjT5994-1986相比主要变化如下=上限类别温度由最低70C提高为最低85C，同时增加了105C，电子设备用固定电容器是系列国家标准，下面列出了这些国家标准的预定结构及其对应的IEC标准zGBjT 2693-2001(电

2、子设备用固定电容器第1部分z总规范)(idtIEC 60384-1 ,1999) , GBjT 7332-1996(电子设备用固定电容器第2部分2分规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酶膜介质直流固定电容器)(idtIEC 60384-2 ,1 982) , GBjT 7333一1996(电子设备用固定电容器第2部分z空白详细规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酶膜介质直流固定电容器评定水平E)(idtIEC 60384-2-1 ,1 982) , GB/T 14121-1993(电子设备用固定电容器第3部分z分规范片状钮固定电容器)(idtIEC 60384-3 ,1989) , GB/T 14122-1993

3、(电子设备用固定电容器第3部分:空白详细规范片状钮固定电容器评定水平E)(idtIEC 60384-3-1 , 1989) , GBjT 5993-2003(电子设备用固定电容器第4部分分规范固体和非固体电解质铝电容器(IEC 60384-4 ,1 998 , IDT) , GB/T 5994-2003(电子设备用固定电容器第4-1部分空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E)(IEC60384-4-1 , 2000 , IDT) , GB/T 7213-2003(电子设备用固定电容器第15部分.分规范非固体和固体电解质钮电容器160 V:在考虑中充电时间:0.5s 放电时间:0.5s 电容

4、量外观检查电容量样本大小和合格判定数(注3)p 注1:试验项目和性能要求的条款号引自GB/T5993-2003第一章。性能要求(注1)无可见损伤和元电解质漏出AC/C10%(与4.20.1条测量值相比)注2，检查水平IL)和合格质量水平(AQL)选用IEC410，计数检查抽样方案和程序。注3，表中gp周期(月数)n样本大小，合格判定数(允许不合格品数)D破坏性的IL 检查水平1 IIEC 410 AQL 合格质量水平l 注4当详细规范中指明在电容器上采用的压力释放装置时。该装置预定作用的效果(如轻微的着色或退色，轻微的湿润等等)不能认为是泄露和(或)可见损伤。然而渗漏是不允许的。注5，B1分组试验为非破坏性试验，一般情况下高温贮存不适用。若进行高温贮存试验，是对电容器进行重新老化并对接下来的连续批进行该项试验。a 螺纹引出端或其他设计焊接用引出端不适用。由详细规范规定。b 如试验在Bl分组中己进行不适用。, 5B组仅适用于25C和10C的下限类别温度的电容器。d 如适用。