GB T 5202-2008 辐射防护仪器α、β和α／β（β能量大于60keV)污染测量仪与监测仪.pdf

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1、ICS 13280F 84 固园中华人民共和国国家标准GBT 5202-2008IEC 60325：2002代替GBT 5202-1985辐射防护仪器 仅、p和仅p(p能量大于60 keY)污染测量仪与监测仪Radiation protection instrumentation-Alpha，beta andalphabeta(beta energy60 keV)contamination meters and monitors20080卜22发布(IEC 60325：2002，IDT)2008-090 1实施中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局学寿中国国家标准化管理委员会仅19前言1范围2

2、规范性引用文件3术语和定义4单位一5仪器分类6一般特性61探测装置62易于去污一63密封一64报警阈65仪器指示值一66有效测量范围67显示68机械冲击-69电子设备的调整和维护附件7一般试验方法71试验72概述一73本底74统计涨落8电气特性81统计涨落82响应时间83响应时间与统计涨落之间的关系84报警阈漂移85(便携式仪器的)预热时间试验86分辨时间87过载保护88工作坪(仅对于探测装置)89阈值(仅对于探测装置)9辐射特性91概述92仪器效率93探测器表面的响应变化94相对固有误差95表面发射率响应随辐射能量的变化96对其他电离辐射的响应目 次GBT 5202-20081EC 6032

3、5：2002I1l24：055556666666777888999O0l11ll2234GBT 5202-2008IEC 60325：200297本底计数率10环境影响101环境温度102相对湿度-103电源104电磁兼容性11贮存12文件121合格证书表1参考条件和标准试验条件表2标准试验条件下进行的试验表3改变影响量的试验L三b圬M玛珀加n趴刖 吾GBT 5202-2008IEC 60325：2002本标准等同采用IEC 60325：2002辐射防护仪器a、p和a邝(p能量60 keV)污染测量仪和监测仪(英文版)。为了便于使用，本标准对1EC 60325：2002做了下列编辑性修改：删除

4、国际标准的前言；在“2规范性引用文件”中用采用国际标准的我国标准代替对应的国际标准，以GBT49606代替IEC 60050(393)：1996和IEC 60050(394)：1995，删去了在正文中未出现的标准；删去1031和103111中有关交流电源不符合国情的内容；一按照汉语习惯对一些编排格式进行了修改(例如：注的后面加“：”、一些列项说明的后面将“。”改为“；”；用小数点符号“”代替国际标准中的小数点符号“，”；由于68已规定“机械冲击”的内容，故删去“112机械冲击”，同时删去“111概述”；表3“口辐射”一栏中的“37 MBq”与963的第2段“370 kBq”不符，改为370 k

5、Bq；表3“预热时间(便携式仪器)”一栏中的最后一行“872”与标准正文不符(正文中的872是过载保护的试验方法)改为“852”；表3“电源”一栏将频率中的“+1 Hz3 Hz”改为“47 Hz 51 Hz”，与标准正文lO3113的表述一致；一表3“辐射发射”一栏中的“1 Vm”与10461的“01 Vm”不符，改为01 Vm。本标准代替GBT 5202-1985n、口和rB表面污染测量仪与监测仪。本标准与GBT 5202一1986相比主要变化如下：a) 标准名称改为辐射防护仪器 a、p和ap(p能量大于60 keV)污染测量仪与监测仪；b)增加了“仪器分类”一章；c)在“环境影响”一章中增

6、加了“电磁兼容性”的内容，包括对“静电放电”、“射频电磁场”、“由脉冲群和射频感应的传导骚扰”、“浪涌”、“电压暂降和短时中断”和“辐射发射”的要求和试验方法。本标准由中国核工业集团公司提出。本标准由全国核仪器仪表标准化技术委员会归口。本标准起草单位：深圳市计量质量检测研究院、中核集团西安核仪器厂。本标准主要起草人：李名兆、沈忠义、周迎春、梁平。本标准于1985年7月首次发布。1范围GBT 5202-2008IEC 60325：2002辐射防护仪器8、p和,xp(p能量大于60 keV)污染测量仪与监测仪本标准适用于直接测量或直接探测发射a和或0核素的表面污染测量仪和监测仪，其至少包括：探测装

7、置(包括计数管、闪烁探测器或半导体探测器等)，它可以固定连接或由软电缆连接，或者组成一单独的装置；一测量装置。一些测量仪和监测仪由探测装置和测量装置组成，在能将探测装置与仪器分开的情况下，可单独使用探测装置。为了满足本标准，要求所有包括探测装置和测量装置的仪器符合本标准要求，或探测装置和测量装置分别符合本标准相关部分要求。注：对于后一种使用方式经证明符合本标准的要求，但是不能就此推断其他特殊仪器的组合配置也符合标准。后一种使用方式，允许用户使用不同制造厂生产的装置进行组合配置。本标准适用于：一一n表面污染测量仪；a表面污染监测仪；一一G表面污染测量仪；0表面污染监测仪；a0表面污染测量仪；-c

8、,a表面污染监测仪。后两种设备能够同时确定a和B污染，并分别显示测量结果：一n(p，a邝)表面污染测量仪：包括一个或多个辐射探测器和相关装置或基本功能单元。在检查表面污染时，用来测量a(p、a邝)表面发射率；a(B，aB)表面污染监测仪。本标准也适用于那些有特殊用途的仪器和为测量特殊性质表面而设计的仪器。但标准的某些要求需根据这些仪器的特殊要求进行修改或补充。如果一个仪器能实现多种功能，则仪器需满足这些不同功能的所有要求。如果仪器以一种功能为主，兼有其他功能，则仪器需满足主要功能的所有要求，并尽可能满足其他功能的要求。本标准不适用于测量或探测最大能量小于60 keV p粒子的辐射监测仪或测量仪

9、。本标准的目的是规定标准要求和给出一些适用方法的实例，还规定了一般特性、般试验条件和方法、辐射特性、电气安全、环境特性以及a、p及ap污染测量仪和监测仪的合格证书。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB 156-2007标准电压(IEC 60038：2002，MOD)GBT 242351995电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击(idt

10、 IEC 60068227：1987)GBT 496061996核科学技术术语核仪器仪表1GBT 5202-2008IEC 60325：2002GBT 12128 1989 用于校准表面污染监测仪的参考源 G发射体和a发射体(ISO 8769：1986NEQ)GBT 165111996电气和电子测量设备随机文件(idt IEC 61187：1993)GBT 176262-2006 电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC 610004 2：2001IDT)GBT 1762632002，IDT)GBT 1762646L00044：1995)2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰

11、度试验(IEC 61000431998电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验(idt IEC6BT 1762651999 电磁兼容试验和测量技术浪涌(冲击)抗扰度试验(idt IEC 61000 45：1995)GBT 176266 1998电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度(idt IEC6100046：1996)GBT 1762611 1999 电磁兼容试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验(idt IEC 61000411：1994)EJT 12041 2006电离辐射测量探测限和判断阈的确定第1部分：忽略样品处理影响的计数测量(ISO 1

12、19291：2000，IDT)ISO 7503(所有部分)表面污染评价3术语和定义GBT 49606-1996确立的以及下列术语和定义适用于本标准。31有效测量范围effective range of measurement满足本标准要求的测量仪或监测仪的被测量数值范围。32源的表面发射率surface emission rate of a sourceq2单位时间内从源的前表面发射高于某一能量的给定类型的粒子数。33源效率source efficiencye3单位时间内从源的前表面或其窗口发射高于某一能量的给定类型的粒子数(表面发射率)与单位时间内从源(对于薄源)或其饱和层厚度(对于强源)内

13、产生或释放的同一类型粒子数之比。34高效率源high efficiency source粒子能量大于59 keY(包括反散射粒子)、效率大于25的源(这一定义适用于最大能量大于150 keV的B发射体)。35小面积源small area source活性表面积最大线性尺寸不超过l cm的源。36表面发射率响应 surface emission rate response仪器效率instrument efficiency2GBT 5202-2008IEC 60325：2002在制造厂规定的条件(探测器灵敏面积、源的活性面积和源与探测器之间的距离)下，配置在仪器上的探测器表面发射率响应(效率)是探

14、测到的粒子数(例如经本底修正的单位时间内的计数)与在相同时间间隔内由辐射源前表面发射的同一类型粒子数之比(表面发射率的约定真值)。37(测量装置的)响应时间response time(of a measuring assembly)从被测量发生阶跃变化后到输出信号的变化第一次达到最终值的某给定百分数(通常为90)时所需的时间。注：对于积分测量装置，响应时间是指示值一阶导数或斜率平衡值的90。38探测器的灵敏面积sensitive area of the detector由制造厂规定的探测器面积，对小面积源的探测效率超过最大效率的50。39总等效厚度total equivalent thickn

15、ess指从污染表面正常发射的(n或8)粒子达到探测器灵敏体积所需穿过的厚度，通常以单位面积的质量表示。注：厚度包括空气中的距离加上探测器窗的厚度，有时还包括为防止污染探测器窗而设置的保护屏厚度。310指示值误差indication error在测量点上，一个量的指示值M与该量的约定真值M。之差，以MM。表示。311响应responseR监测仪或测量仪的指示值与其约定真值之比：R一篇312指示值相对误差relative error of indicationJ以百分数表示的被测量指示值误差与该量的约定真值之比：J一丛萨100313相对固有误差relative intrinsic error在规定

16、的参考条件下，受到规定的参考辐射照射时，仪器指示值的相对误差。314变异系数coefficient of variationV一组n次测量值(z，)的标准偏差(s)与其算术平均值(；)之比(y)，关系式如下：v一：专士妻c。：一_)2 z znl鲁315单位面积表面发射率的探测限detection limit of the surface emission rate per unit area单位面积表面发射率按照EJT 12041给出的方法导出。GBT 5202-2008EC 60325：2002注：如果有计数率和适当的计数时阄，应使用简化的公式计算探测下限计数率。在时问已经预选、本底计数率

17、已知的情况下，使用以下简化的公式：R一(址。+女-邓)凰(i1十i1)式中：R。探测下限的净计数率；R。本底计数率；t。本底计数的预选时间；tn测量的预选时间；h第一类误差风险正态分布的分位数；kl-p第二类误差风险正态分布的分位数。例如，n一口一005，(岛一。)一(毛一j)一i646R。一(1645+1645)R。(丢+寺)对特定核素的表面发射率探测极限变为：DL一瓦：R蕊式中：S(叫d小，表面发射率响应(见36)；A探测装置的灵敏面积。单位面积的表面发射率应以S叫cm_2为单位表示。316量的约定真值conventionally true value of a quantity一个量的最

18、佳估计值。注：此值通常由一个次级或初级标准确定或溯源，或由一台经次级或初级标准校准的参考仪器来确定。317探测装置detection assembly至少包括探测器的装置。318测量装置measurement assembly显示被测污染水平的装置。319n、B或p表面污染监测仪alpha，beta or alphabeta surface contamination meter包括一个或多个辐射探测器和相关部件或基本功能单元的仪器，在检查表面污染时用于分别测量n(口、a13)表面发射率。320n、B或B表面污染监测仪alpha，beta or alphabeta surface contam

19、ination monitor具备给出易于察觉的报警方式(通常为可视和或可听)的n(p、a0)活度测量仪，在检查表面污染时指示单位表面积的表面发射率超过了可调整的预定值。4单位4在本标准中，使用国际单位制(sI)单位及其倍数和分数单位。也可以使用以下非国际单位制单位时间：年(a)、天(d)、小时(h)、分钟(min)能量：电子伏(eV)(1eV=16021019J)注：辐射量和剂量测定的定义在GBT 49606 1996中给出。GBT 5202-2008IEC 60325：20025仪器分类按照其状态，仪器可分为：探测装置；测量装置；一体的污染测量仪或监测仪。按照其使用方式，测量装置和一体的污

20、染测量仪或监测仪可分为：移动式仪器；便携式仪器。按照其使用的电源类型，测量装置和一体的污染测量仪或监测仪可分为使用交流电源的仪器；使用原电池或二次电池的仪器。按照辐射的类型，探测装置和一体的污染测量仪或监测仪可分为：a污染测量仪或监测仪；一一口污染测量仪或监测仪；一一nB污染测量仪或监测仪。6一般特性61探测装置探测装置的设计应使探测器的灵敏面积距检测表面的距离小于5 mm(n探测器)和小于10 mm(13探测器)。如果探测器的灵敏面积表面装有保护网格，由制造厂规定网格的标称透过率。保护网格的厚度应尽量将所有角度入射的屏蔽降到最低(以避免准直效应)。应规定探测装置的总面积和灵敏面积。如果探测器

21、要求使用计数气体，制造厂应说明气体的类型和所需流量。当将仪器效率储存在存储器中时，应使用多个合适的测量装置进行检查，以保证各种因子不受测量装置的影响。62易于去污仪器的结构应使其易于去污。例如，建议仪器采用光滑无孔、没有裂缝的外表面。至少在使用测量装置的情况下，还可以选择将装置放在较薄且柔性的机套中，这样既使用方便又容易去污，并且机套配备透明的部分，便于仪器读数。63密封对于室外使用的仪器，制造厂应说明所采取的防潮措施。64报警阈本条仅适用于监测仪。监测仪应有含一个或多个报警阔值的必备电路。报警阈值的数目由制造厂和用户协商确定。报警阈值应按可调整范围的百分数给出或按显示的单位给出。设计的每一个

22、报警阈允许通过测试信号、放射源或者信号输入电路方便地进行操作确认。应规定可调整范围，报警阈值在这一范围内的任意一点都可作调整。通过任何方法在超过范围限值以外设定报警阈均不会报警。如果设有静噪功能，当报警条件终止时，应能自动复位至静噪状态。操作者应不易进入报警阈值的调整(例如，需操作钥匙开关或保护密码)。对于移动式和固定式仪器，至少有一组由触发单元控制的电触点用于外部报警，在正常工作条件下电触点随时可用。对于便携式仪器，是否配备报警输出电触点，由用户和制造厂协商确定。GBT 5202-2008IEC 60325：200265仪器指示值651污染测量仪除了可见的计数率指示以外，还应提供带有静音功能

23、的计数率声响指示。在噪声水平较高的场合使用时应配置耳机。具有数字显示的仪器应能检查显示的所有位数均正确。应防止校准控制旋钮进行未经授权的调整。652监测仪除了上述提到的计数率声响指示以外，在污染超过某一预置值时，仪器应给出声响指示或灯光指示。虽然声响指示可以由产生计数率声响指示的相同变换器产生，但两者应有明显差别。653以活度表示的指示值当指示值以活度或单位面积活度表示时，为了使该指示值有效，应明确指明能量范围或核素。当指示值可能以活度或单位面积活度表示时，假定表面发射率与活度之比为05，实际上由于反散射的原因或更多是由于参考源和样品之间的自吸收不同，这一比值并不定总是05。一个切实可行的解决

24、办法是使用一个参考源代表被监测的污染表面(近似于自吸收和反散射)。如果这种方法不可行，假设的对所测表面类型的响应与对参考源响应之比应符合ISO 7503并由制造厂规定。66有效测量范围对于线性刻度的仪器，有效测量范围应是每一量程的10100。对于对数刻度的仪器，有效测量范围应是最低有效十进位位的13到满刻度。对于数字显示的仪器，有效测量范围应是从第二个最低有效数字开始到满刻度。制造厂应说明每一量程的有效测量范围。对于多量程仪器，相邻量程的有效测量范围之间应有重叠。对于数字及指数显示(例如，z、，10“)的仪器，尾数应至少有两位数字(例如，1o99)，并且制造厂应规定有效测量范围(例如，1010

25、1 S“99101 s_1)。为了符合本标准，使用这种显示方式的仪器应满足数字刻度仪器的要求。最灵敏量程的最大读数所对应的计数率至少为1 S。在这种情况下，对小于4 s“的计数率，可能不满足有关统计涨落(见81)和响应时间(见82)的要求，具有积分功能的仪器有利于低计数率的测量。67显示仪器的指示值应以单位时间计数表示，或在被监测表面发射率与单位时间的计数之问建立关系并满足本标准要求的情况下，指示值可以使用活度或单位面积活度表示。68机械冲击便携式仪器应能承受来自各个方向的机械冲击而不损坏，峰值加速度为300 mS，时间间隔为18 ms，冲击波形为半正弦波(见GBT 242351995)。69

26、 电子设备的调整和维护附件除了必要的说明书和维修手册以外，所有仪器还应配备有足够多的易于接近的检验点，以便调整和确定故障的位置，同时在必要时还要有维修附件(如印刷电路扩充板、跨接引线)和专用维修工具。应有防止未经授权进入仪器调整功能的措施。7一般试验方法71试验711质量鉴定试验为了证明设计的充分性，同时证明设备在正常状态、运行条件和预计运行事件下均能满足制造厂和用户商定的技术要求，在该设备有代表性的样本上进行的试验。注：为了验证满足说明书的要求应进行质量鉴定试验。质量鉴定试验分为型式试验和例行试验。6GBT 5202-2008IEC 60325：20027111型式试验在产品有代表性的一个或

27、多个样本上进行的符合性试验。7112 常规试验在制造过程中或完工后对每台仪器进行的试验，以确定其是否符合某种准则。712验收试验为了向客户证明仪器满足其说明书规定要求的合同试验。72概述除了在922和932中规定的试验为常规试验以外，下述条款列举的所有试验均为型式试验。然而，经制造厂与用户协商，这些试验可作为验收试验。除非另有规定，在仪器的有效测量范围内，应满足相应试验的要求。721基本原则72，11标准试验条件标准试验条件见表1。本标准规定的试验可按是否在标准试验条件下进行分类。7212标准试验条件下进行的试验在标准试验条件下进行的试验见表2，表2给出了试验特性、要求(指示值的允许变化范围)

28、和规定试验方法的相应条款号。7213 随影响量变化进行的试验这些试验用于确定影响量变化所带来的影响，表3给出了每个影响量的变化范围和随之发生的仪器指示值变化限值。为了检验表3中任一影响量变化的影响，所有其他的影响量应保持在表1给出的标准试验条件的限值以内，除非在有关的试验中另有说明。为了简化每个主要影响量单独变化的试验，只需进行有关固有误差的常规试验。只有当规定的常规试验不足以给出具有代表性的指示值时，才需试验仪器的其他方面性能随影响量的变化。722指示值随影响量变化的允许限值分别取每一个影响量，而其他影响量均保持在表1给出的范围内，确定仪器正常工作范围，在该范围内指示值变化应保持在制造厂说明

29、的限值以内。除非制造厂与用户协商确定，制造厂给出的限值不应超过表3中规定的数值。应确定与参考条件中有关数值的变化。这些试验用于抽样检验，选择的抽样样品数量由制造厂和用户协商确定。723参考核素7231 n发射体参考核素为“1Am或”Pu。7，232 B发射体除了用于测量能量小于200 keV 8粒子的探测装置以外，参考核素为”c1或2“T1。制造厂应说明使用的核素。如果探测装置用于测量最大能量小于200 keV的口粒子，参考核素为“C。73本底应使用一种合适的方法(可能包括计算)从观测到的信号中扣除仪器指示的本底。如果仪器能够通过扣除本底计数率得到净计数率，那么制造厂应明确说明使用的方法及其不

30、确定度。74统计涨落对于任何使用辐射的试验，如果单独由辐射随机性引起的统计涨落在其允许的指示值变化中占有显著份额，那么为了验证该项试验是否满足要求，就应取足够多的读数，以保证能够有足够的精密度估7GBT 5202-2008IEC 60325：2002算这些读数的平均值。为保证这些读数在统计上是相互独立的，相邻两次读数之间的时间间隔应至少为响应时间的三倍。8 电气特性81统计涨落仅适用于测量仪和监测仪。811 要求由于a、8粒子发射的随机性，污染测量仪的指示值在平均值上下波动。由于这种随机波动的影响，指示值的变异系数应小于02。这一要求适用于超过相应于下列指示值的任何污染水平：线性刻度的仪器：最

31、灵敏量程最大刻度的13；对数刻度的仪器：最低有效刻度的三倍；数字显示的仪器：最小有效数字的10倍。不排除选择时间常数的可能性，但并不是所有时问常数都满足这些要求。在这种情况下，制造厂应说明时间常数符合这一要求。812试验方法用一个放射源照射仪器，在最灵敏量程最大刻度的l312之问(线性刻度的仪器)或最灵敏十进位位(对数刻度仪器)给出一个指示值，或在第二个最低有效数字(数字显示的仪器)中给出一个数字指示值。以适当的时间间隔至少取20个读数。为了使这些读数在统计上是相互独立的，所选时间间隔应不小于测量装置响应时间的三倍。确定所取读数的平均值和变异系数。变异系数应在811的限值以内。82响应时间适用

32、于测量仪、监测仪和测量装置。821要求响应时间应按下述方法确定：被测污染突然发生变化，如果指示的辐射增加，则指示值在7 s内达到下述公式的数值；如果指示的辐射减少，则在10 s内达到下述公式的数值：nnM+嵩MfM)式中：M，初始指示值；M，一最终指示值。制造厂应说明响应时间。822试验方法既可以使用合适的放射源对测量仪和监测仪进行本项试验，也可以通过将一个合适的电信号输入到测量装置的输入端进行本项试验。对于线性刻度的仪器，在试验的量程上，初始计数率和最终计数率之差应至少是最大读数的12(由于响应时间实际上是随灵敏度的降低而减小，所以通过试验较低的量程就能满足这一技术要求)。对于对数刻度的仪器

33、，最终计数率和初始计数率应至少相差10倍。较低的计数率不应超过最低有效十进位位的13。应进行增加或减少计数率指示值的测量。在使用电信号方法的情况下，输入的电信号应符合上述要求。对于增加计数率的试验，首先以较高的计数率照射仪器并记录指示值Mr。8GBT 5202-2008IEC 60325：2002然后，再以较低的计数率照射仪器，照射时间要足以使指示值眠达到稳定并记录这一指示值。最后，尽可能快地把计数率改变为相应于指示值Mr的计数率，并测量达到821公式给出数值所需的时间。以同样方法进行减少计数率的试验，只是将Mr和M对应的计数率互换。83响应时间与统计涨落之间的关系响应时间与统计涨落的变异系数

34、是两个相关特性，在81和82中给出了可接受的限值。对于高污染水平，建议只要可能，当统计涨落满足规定的限值时，应减少响应时间。如果响应时间不大于1 S已能满足8I和82规定的限值，最好减少统计涨落，而不是将响应时间降至1 s之内。对于那些不能满足上述要求的最低污染水平，制造厂应说明合适的变异系数和响应时间的数值。84报警阈漂移适用于监测仪和具有报警功能的测量装置。841要求对于通过脉冲发生器确定报警阈(触发阈)的仪器，如果达到报警阈值的80，持续时间8 h，不触发报警。如果达到报警阈值的120，应在10 S内触发报警。842试验方法对于设有不同报警阈值的仪器，应在对数刻度仪器或数字刻度仪器的每个

35、合适的十进位位上进行试验，在根据设置的量程来设置报警阈的情况下，应在线性刻度仪器的每个合适的量程上进行试验。由于辐射发射的随机性，应使用产生均匀间隔脉冲的脉冲发生器进行试验，而不使用探测器。设L为试验点的报警阈值，x为相应于L的脉冲率(根据制造厂提供的数据)。应满足下列条件：在未启动报警的情况下，使用08 X的脉冲率。将报警阈值设置在L，8 h内应不触发报警。在未启动报警的情况下，使用12 X的脉冲率并保证在10 s内触发报警。这一试验应在时间间隔T到2丁内至少要重复四次(T至少为6 h)。85 (便携式仪器的)预热时间试验851测量仪和监测仪至少提前4 h关闭仪器，用合适的放射源照射探测器。

36、然后打开仪器，并在打开仪器后的20 s120 S内每隔5 S记录一次读数。在打开仪器15 rain后，至少记录10个读数并取平均值作为指示值的“最终值”。最终值与在曲线上60 S和120 S读数值的相对变化应在表3规定的限值以内。852测量装置对于本项试验，为了给出只触发装置设定阈值(小于触发水平的1I倍)和在装置量程内某一计数率的脉冲，应提供一个脉冲发生器，同时还要求有一个高压仪表监测供给探测器的高压。就像探测器一样，脉冲发生器将给装置提供信号。还应由制造厂规定最大负载时所施加的高压来监测探测器的高压。应配有关闭装置的试验附件，在试验开始之前4 h应关闭装置。如果必要，本项试验可能进行高压稳

37、定性和阈值稳定性两次试验。打开装置，并在打开装置后的60 s120 S内每隔10 S记录一次装置和高压仪表的读数。以打开装置15rain后记录的读数作为最终值。打开装置1 min以后，装置的读数应在最终值的】o以内；打开装置2 rain以后，装置读数应在最终值的5以内。打开装置1 rain以后，高压仪表的读数应在最终值的2以内；打开装置在2 rain以后，高压仪表的读数应在最终值的1以内。在装置采用盖革计数器的情况下，在1 rain和2 rain时，高压稳定性可放宽至士5。(盖革计数器不需要高度稳定的高压。)9GBT 5202-2008IEC 60325：200286分辨时间861测量仪和监测

38、仪使用双脉冲发生器来确定测量仪和监测仪的分辨时间。两个脉冲之间的时问是可变的和已知的。脉冲宽度大约是仪器分辨时间的110，两个脉冲初始间隔时间大约是分辨时间的10倍。脉冲的频率应使仪器在量程的前半部分给出指示值，同时脉冲上升时间约占脉冲持续时间的I10。在试验中注意观察仪器的指示值，减少脉冲间隔时间，直到指示值为初始值的75。在这一点上的脉冲间隔时间就是分辨时问。应对所有量程重复进行本项试验。862探测装置对于本项试验，要求有分辨时间好于探测装置的计数设备(如果需要，可以按863规定的对测量装置的方法进行试验)。使用由制造厂规定的探测装置进行下述测量：一一本底计数率Ms；由放射源给出一个计数率

39、M。该计数率尽可能高，但小于探测器计数率范围的10；一由该放射源和在其附近放置一个具有大致相同活度的第二个放射源产生的计数率M12；一移走第一个放射源，只保留第二个放射源产生的计数率M：。分辨时间由以下公式给出：M1+M 2一M】zM bM：+M：一(M：+A：)制造厂应说明超过1“s的分辨时间。863测量装置对于本项试验，要求有一个双脉冲发生器，它发出两次脉冲之问的时间间隔是可变的。双脉冲发生器给出可以触发测量装置的脉冲。设置的双脉冲重复频率应在略低于满刻度处产生一个读数。应缓慢减少两个脉冲之问的时间间隔，直到读数略有降低。在这一点上，脉冲触发沿之间的延迟就是装置的分辨时间。对于线性刻度的测

40、量装置，应对每个测量量程进行测量。864探测和测量一体装置的量程限制当测量装置的最大量程(以s_1表示)和探测装置的分辨时间(以S表示)的乘积超过o1时，不应使用探测和测量一体装置。在不能修正分辨时间时，无论是探测装置产生更长的时间还是测量装置产生更长的时间，这一限制仅适用于测量装置。如果能够通过手动或自动进行适当的分辨时间修正，就可以符合上述要求。87过载保护871要求用大于相应于指示值最大量程活度的放射源照射仪器，仪器的指示值保持在满刻度以外。对于具有一个以上刻度量程的仪器，这项要求适合于每一个量程。使用放射源照射，仪器应在5 s之内指示过载，移走放射源后，指示值在30 s之内应恢复正常。

41、在使用保持满刻度方法的情况下，它与实际测量的计数率无关。在任何量程上达到满刻度读数以后，就可以使用这些方法。872试验方法用活度至少lo倍于每个刻度量程满刻度偏转或活度相当于106 s_1的放射源(取两者中较大的)照射测量仪和监测仪1 rain，以此试验来确定是否符合要求。这一要求应适合于每一个刻度量程。移走过载放射源5 rain后，性能应恢复正常(见921)。测量装置的制造厂应规定满足要求的方法以及适用的探测装置的类型和范围。】oGBT 5202-2008IEC 60325：2002例如，当使用带盖革计数器的探测装置时，应同时试验高压电流断开的范围和盖革计数器；对使用带闪烁计数器的探测装置，

42、应同时试验不同的高压电源断开的设置点、适用的倍增极电流的范围以及闪烁计数器。盖革计数器探测装置的制造厂应规定由高压提供给探测装置的最小电流，此时计数率是：芬甄丽丽闪烁计数器的制造厂应规定倍增极分压器的阻抗和总阻抗的变化。88工作坪(仅对于探测装置)探测装置与合适的计数设备连接，应使用”cl放射源(对于B探测器)或“1 Am放射源(对于n探测器)照射探测装置。由制造厂规定探测装置的高压，记录计数率。探测装置的高压变化士3，计数率的变化应不超过15。由于电压变化可能造成本底值的变化，但本底信号的变化应小于50。在探测装置用于低能0测量的场合，应使用“C放射源进行试验，而不使用”cl。89 阈值(仅

43、对于探测装置)探测装置与合适的计数设备连接，应使用“Cl放射源(对于0探测器)或“1Am放射源(对于a探测器)照射探测装置。由制造厂规定探测装置的高压，记录计数率。脉冲触发阈值变化10，计数率的变化应不超过土2。在探测装置用于低能口测量的场合，应使用“c放射源进行试验，而不使用”cl。9辐射特性91概述为了确定仪器的辐射特性，制造厂应说明探测器正面到所用试验源活性表面之间的距离。92仪器效率921 要求仪器效率(见36)是一项常规试验，应对每一台仪器进行试验。制造厂应在合格证书中说明仪器对于合适的参考核素的表面发射率响应。922测量仪器效率的方法使用合适的放射源，按9221的规定进行试验。在其

44、他情况下，按9222的规定进行试验。9221 应使用可以照射到探测器整个灵敏面积的高效率源来测量探测装置的仪器效率。源的表面发射率分布是均匀的，在任意10 cm2范围内，每单位面积表面发射率与总面积每单位面积表面发射率之差不大于6，测量不确定度为1倍口(见GBT 12128 1989)。试验源的表面发射率约定真值应是已知的，并且误差小于10。9222如果源的面积不能满足9221的要求，可以使用比探测器灵敏面积小的源。在这种情况下，应使用该源在不同的位置依次进行多次测量，测量时应覆盖探测器的每一部分，但相邻区域不能重叠。923试验方法本项试验适用于探测装置、一体的污染监测仪和测量仪。9231探测

45、装置使用922规定的方法和由制造厂规定输入特性(阈值、上升时间、阻抗等)的计数设备和高压，对规定的放射性核素测量表面发射率响应。表面发射率响应应在制造厂规定数值的20以内。9232污染监测仪和测量仪表面发射率响应应在制造厂规定数值的25以内。11GBT 5202-2008IEC 60325：200293探测器表面的响应变化931 要求使用小面积源来检查探测装置整个面积上响应的一致性。探测装置对小面积源的响应(在检查时通常位于表面)随源相对于探测器的位置和网格的透射特性而变化。在本项试验中，响应应大于所出现的最大响应的一半。制造厂应说明：探测器响应随源相对于探测器窗位置的变化。制造厂应规定源和探

46、测器窗之间的距离，理想距离为3mm4mm；一一保护网格的透射特性。932试验方法应将探测器的灵敏面积分为近似相等的若干部分。每一部分的线性尺寸尽可能接近25 mm。例如，尺寸为z(mm)乘以y(mm)的矩形灵敏区面积，每一部分的面积是署(mm)乘以署(turn)，其中：25mz25(m+1) 和 25nY25(”+1)m和”是正整数。圆形探测器应根据探测器的半径r来分区。每一部分由r一25a和r一25(n+1)确定，其中n一0或整数，r一25(n+1)是正数。每个圆环面积分为n个扇区，其中：25n2“(r一25a)25(n+1)剩余在中心的小圆，其半径为25 i_nITI或更小的情况下，它作为一个单独附加的面积。否则，将其分为三个独立的扇区。应尽可能将参考核素的小面积源置于靠近每一部分的中心并测量响应。对于很大的探测装置(灵敏面积超过625 cm2)，分成小面积的数量可以降到100，每一部分的面积尽可能相同。94相对固有误差941要求在标准试验条件下，仪器对有关参考核素的指示值相对固有误差E在整个有效测量范围内应不超过士25(对于测量仪和监测仪