GB T 4074.7-2009 绕组线试验方法.第7部分 测定漆包绕组线温度指数的试验方法.pdf

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1、ICS 2906010K 12 a囵中华人民共$-n国国家标准GBT 40747-2009IEC 60 1 72：1 987绕组线试验方法第7部分：测定漆包绕组线温度指数的试验方法Winding wires-Test methods-Part 7：Test procedure for the determinationof the temperature index of enamelled winding wires(IEC 60172：1987，Test procedure for the determination of thetemperature index of enamelled

2、 winding wires，IDT)2009-03-19发布 200912-01实施丰瞀职紫瓣警糌瞥翼发布中国国家标准化管理委员会仪19前言1范围及规范性引用文件2 目的3术语和定义4试验方法提要5试样6老化温度7试验电压及其施加方法-8计算9试验报告附录A(规范性附录)计算回归线的方法附录B(规范性附录)相关系数一目 次GBT 40747-2009IEC 60172：1987I12333456747刖 舌GBT 40747-2009IEC 60172：1987GBT 4074绕组线试验方法分为八个部分：第1部分：一般规定；第2部分：尺寸测量；第3部分：机械性能；第4部分：化学性能；第5部分

3、：电性能；第6部分：热性能；第7部分：测定漆包绕组线温度指数的试验方法；第8部分：测定漆包绕组线温度指数的试验方法快速法。本部分为GBT 4074的第7部分。本部分等同采用IEC 60172：1987测定漆包绕组线温度指数的试验方法第30版(英文版)和第1号修改单(1997年)。为便于使用，本部分做了下列编辑性修改：删除了IEC 60172：1987的前言和引言；用小数点“”代替作为小数点的逗号“，”；将IEC 60172：1987前言中的“规范性引用文件”调整为12。本部分的附录A、附录B为规范性附录。本部分由中国电器工业协会提出。本部分由全国电线电缆标准化技术委员会(SACTC 213)归

4、口。本部分起草单位：上海电缆研究所、铜陵精达特种电磁线股份有限公司、上海申茂电磁线厂、广东蓉胜超微线材股份有限公司、福州大通机电有限公司、露笑科技股份有限公司、佛山市威奇电工材料有限公司、无锡市锡洲电磁线厂、长沙鑫雄仪器科技有限公司、浙江长城电子科技集团有限公司、上海裕生特种线材有限公司、宁波金田电工材料有限公司、浙江洪波线缆股份有限公司、浙江宏磊铜业股份有限公司。本部分主要起草人：李福、郑守国、刘明福、刘贵忠、刘冰、鲁小均、林志雅、陈惠民、张李晶、潘建忠、徐进法、任京湘、姚桂华、张家化、董千里、曹恒泰、魏浙强。本部分为首次制定。GBT 40747-2009IEC 60172：1987绕组线试

5、验方法第7部分：测定漆包绕组线温度指数的试验方法1范围及规范性引用文件11范围根据IEC 602161：1987，本试验方法规定了评定漆包和薄膜绕包圆、扁线温度指数的试验方法。本试验方法不适用于纤维绝缘线或无机纤维薄膜绕包线。12规范性引用文件下列文件中的条款通过GBT 4074的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。GBT 61091 2008漆包圆绕组线第1部分：一般规定(IEC 6031701：

6、2005，IDT)GBT 61092 2008漆包圆绕组线 第2部分：155级聚酯漆包铜圆线(IEC 603173：2004，IDT)GBT 610932008漆包圆绕组线第3部分：120级缩醛漆包铜圆线(IEC 6031712：1990，IDT)GBT 610942008漆包圆绕组线第4部分：130级直焊聚氨酯漆包铜圆线(IEC 603174：2000，IDT)GBT 61095 2008漆包圆绕组线第5部分：180级聚酯亚胺漆包铜圆线(IEC 603178：1997，IDT)GBT 610962008漆包圆绕组线第6部分：220级聚酰亚胺漆包铜圆线(IEC 603177：1997，IDT)

7、GBT 610972008漆包圆绕组线第7部分：130 L级聚酯漆包铜圆线(IEC 6031734：1997，1DT)GBT 61099 2008漆包圆绕组线 第9部分：130级聚酰胺复合直焊聚氨酯漆包铜圆线(IEC 60317-19：2000，IDT)GBT 610910一20082000，IDT)GBT 6109112008(IEC 60317-21：2000，IDT)漆包圆绕组线第10部分：155级直焊聚氨酯漆包铜圆线(IEC 6031720漆包圆绕组线 第11部分：155级聚酰胺复合直焊聚氨酯漆包铜圆线GBT 6109122008漆包圆绕组线第12部分：180级聚酰胺复合聚酯或聚酯亚胺

8、漆包铜圆线(IEC 60317-22：2004，IDT)GBT 610913 2008漆包圆绕组线第13部分：180级直焊聚酯亚胺漆包铜圆线(IEC 6031723：2000，IDT)GBT 610914 2008漆包圆绕组线第14部分：200级聚酰胺酰亚胺漆包铜圆线(IEC 6031726：1990，IDT)GBT 6109152008 漆包圆绕组线 第15部分：130级自粘性直焊聚氨酯漆包铜圆线(IEC 60317-2：2000，IDT)1GBT 40747-2009IEC 60172：1987GBT 610916 2008(IEC 6031735：2000，IDT)Gt3T 610917

9、2008(IEC 60317-36：2000，IDT)GBT 610918 2008(IEC 6031737：2000，IDT)漆包圆绕组线 第16部分：155级自粘性直焊聚氨酯漆包铜圆线漆包圆绕组线 第17部分：180级自粘性直焊聚酯亚胺漆包铜圆线漆包圆绕组线 第18部分：180级自粘性聚酯亚胺漆包铜圆线GBT 610919 2008漆包圆绕组线亚胺漆包铜圆线(IEC 6031738：2000，IDT)GBT 610920 2008漆包圆绕组线包铜圆线(IEC 6031713：1997，IDT)GBT 610921 2008漆包圆绕组线42：1997，IDT)CBT 61092246：199

10、7，IDT)GBT 6109232001，IDT)GBT 70951GBT 70952IDT)G13T 70953一IDT)GBT 709541990IDT)GBT 7095547：1997，IDT)第19部分：200级自粘性聚酰胺酰亚胺复合聚酯或聚酯第20部分：200级聚酰胺酰亚胺复合聚酯或聚酯亚胺漆第21部分：200级聚酯一酰胺一亚胺漆包铜圆线(IEC 603172008漆包圆绕组线第22部分：240级芳族聚酰亚胺漆包铜圆线(IEC 603172008漆包圆绕组线第23部分：180级直焊聚氨酯漆包铜圆线(IEC 60317512008漆包铜扁绕组线第1部分：一般规定(IEC 6031702

11、：2005，IDT)2008漆包铜扁绕组线第2部分：120级缩醛漆包铜扁线(IEC 6031718：20042008漆包铜扁绕组线第3部分：155级聚酯漆包铜扁线(IEC 6031716：19902008漆包铜扁绕组线第4部分：180级聚酯亚胺漆包铜扁线(IEC 60317282008漆包铜扁绕组线第5部分：240级芳族聚酰亚胺漆包铜扁线(IEC 60317GBT 70956 2008漆包铜扁绕组线第6部分：200级聚酯或聚酯亚胺聚酰胺酰亚胺复合漆包铜扁线(IEC 60317-29：1990，IDT)GBT 70957 2008漆包铜扁绕组线第7部分：130级聚酯漆包铜扁线GBT 23310

12、2009 240级芳族聚酰亚胺薄膜绕包铜扁线(IEC 6031744：1997，IDT)GBT 233112009 240级芳族聚酰亚胺薄膜绕包铜圆线(IEC 60317-43：1997，IDT)IEC 602161：1987确定电气绝缘材料耐热性能的指南第1部分：老化过程和试验结果评定IEC 602163：1980确定电气绝缘材料耐热性能的指南第3部分：计算方法IEC 6045535：1989电气绝缘用无溶剂树脂基反应性化合物规范第3部分：单项材料规范第5页：不饱和聚酯基浸渍树脂IEC 6046432：1989有溶剂电气绝缘漆规范第3部分：单项材料规范第2页：热固性浸渍漆2 目的本试验方法旨

13、在通过空气和大气压力下电气强度的变化来确定漆包和薄膜绕包(裸线或漆包线)圆线、扁线的温度指数。温度指数的确定与IEC 602161：1987相一致。试样可以是未浸渍或经浸渍剂浸渍的。对于浸渍试样，该试验可同时评定线绝缘和浸渍漆的相容性。因此，可以比较不同组合的温度指数。注：按本试验方法得到的数据可为设计者和开发工程师提供进一步评定绝缘系统和设备试验并选择绕组线的资料。2GBT 40747-2009IEC 60172：19873术语和定义31温度指数temperature index温度指数是对相对热寿命的测量值，是与按附录A中公式(A6)计算并从热寿命曲线上查到的20 000 h所对应的摄氏温

14、度数()所对应的数值。32试样失效时间specimen failure time在老化温度下引起试样耐电压试验失效的老化小时数(见81)。33失效时间time to failure按82规定，从一个老化温度下的一组试样的各失效时间计算得到的失效小时数。4试验方法提要使符合第5章规定的一组试样经受一个试验周期的试验。这个试验周期包括第6章规定的老化期和其后第7章规定的室温耐电压试验。重复这样的试验周期直到足够数量的试样失效为止，然后按第8章的规定计算失效时间。试验在三个或更多的温度点进行，按84计算回归线。在热寿命图纸上按老化温度的函数关系绘出失效时间值。回归线与纵坐标20 000 h寿命线的交

15、点所对应的温度(以摄氏度表示)即代表被试绕组线的温度指数。5试样51试样的制备511导体标称直径0800 mm到及包括1500 mm漆包圆线注：对于漆包圆线，为避免试样受伤，经验表明，选用0800mm到及包括1500mm试样便于操作和试验。a)将一段长约400 mm的漆包圆线对折后在图1所示的设备上扭绞成125 mm的线对。扭绞时施加在线对上的力(质量)和扭绞数见表I。表1试样的扭绞数和受力导体标称直径施加于线对的力N125 mm距离内扭绞数大于 小于或等于010 025 085 33025 035 170 23035 050 340 16050 075 700 12075 105 1350

16、8105 I50 2700 6I50 215 5400 4215 350 10800 3b)按图2所示制备隔片。可用陶瓷或有机硅玻璃纤维层压板这类热稳定的绝缘材料作隔片。隔片上标以适当的识别字母或数字。c)在一成型架上将试样定形，成型架的结构见图3。将一试样放人成型架，在扭绞对平行的两线端放上隔片，再将其推到图4所示的成型架的端面。将两线端弯成平行以使隔片固定在正确的位置。成型架使试样更均一化。如果使用试样架，则可不用隔片。3GBT 40747-2009IEC 60172：1987d)应在两处(不应在一处)切断试样扭绞端的端环，以使切开的两端具有最大的间距。如图5所示。为使两极足够分开而需弯动

17、扭绞端或非扭绞端时，应避免剧烈弯曲或损伤绝缘。为确保一批试样性能均匀，建议对所有试样按三倍于表3规定值的试验电压进行1 s耐电压试验。薄膜绕包圆线、扁线和漆包扁线适合于任何尺寸的圆线、扁线，但为了便于成型，建议选取尺寸时应尽量使样品成型时用小的弯曲力。高强度的线在制备试样时将导致线与线表面接触处的损伤。从线盘上取两根长度为250 mm的较直线样。在每根线样的一端除去10 mm15 mm的绝缘层作为电极。每根线样在如图9所示的模型中成形，直线部分约150 mm，然后制成两端均张开的线样。将两根成形的线样并排放置，然后用玻璃丝紧密地绕在线样中心直线部分，如图10所示。应使两线样的中心部分紧密接触。

18、捆绑后，远端部的弯曲部分是分开的。在试验前或浸渍前对试样进行退火处理可去除应力和裂纹，对于某些材料可得到合适的试样。e)试验前试样应进行交流1 000 V的耐电压试验。52浸渍漆经验表明，符合GBT 610916109232008、GBT 70951709572008、GBT 23310一2009、GBT 23311 2009的绝缘线和符合IEC 6045535：1989或IEC 6046432：1989的绝缘浸渍漆在热老化过程中可能会互相影响。与未浸渍的漆包线、薄膜绕包线试验寿命相比，浸渍漆和漆包线、薄膜绕包线绝缘层之间的相互作用，可能增加或减少浸渍漆和漆包线、薄膜绕包线组合体的相对寿命。因

19、此，对于浸渍试样，本试验方法可以提供绝缘浸渍漆和漆包线、薄膜绕包线组合体的热寿命指标。如需浸渍处理，应遵循如下步骤：将试样垂直浸泡在浸渍漆中(6010)s(见注)，然后以大约1 mms的速度匀速从浸渍漆中取出，横放滴干10 min15 rain，而后按制造厂的建议或协议水平放置固化。如果需浸渍多次，则浸渍、滴干和固化试样需垂直颠倒方向连续处理。注：对于高粘度或触变性程溃漆，需改变处理方法。53试样数量试验结果的准确度很大程度上取决于每个老化温度下的试样数量，如果每个老化温度试样结果分散性大，为实现可接受的准确度就需要较多的试样数量。经验表明，21个非浸渍试样和11个浸渍试样通常能得到具有允许公

20、差的平均寿命，至少应用11个试样。54试样架541 511规定的试样已经发现，单独操作扭绞试样会产生早期失效，因此建议将试样放人图6所示的试样架内。宜将试样架设计成可保护扭绞试样免于遭受外部机械损伤和扭曲。其结构应能使扭绞的两端头伸出试样架，如图7所示，以便为耐电压试验进行电气连接。试样架宜至少容纳11个试样以减少操作时问。542 512规定的试样将试样悬挂在烘箱中，无需托架。6老化温度本章给出了试样的推荐老化温度。表2给出了推荐的每周期老化温度和时间。一个试验周期包括一个老化期和室温耐电压试验(2030)。应将试样直接放人烘箱或从烘箱内取出，无需控制加热和冷却速度。试验前将烘箱加热到规定的温

21、度。4o2她DDo曲5GBT 40747-2009IEC 60172：1987将试样放在一强迫通风烘箱内老化。烘箱应能使试样保持在选定的老化温度，温度波动小于2。选定老化时间，使试样在每个温度达到失效时间之前经受约10个周期的老化。从经受平均小于8个周期或大于20个周期的试样得到的热寿命值可能不可靠，不宜用来预估漆包线的温度等级。因此，为保证平均失效周期数在上述范围内，对某个老化温度，可选择比表中规定的长些或短些的老化时间。试样按某个特定的周期老化后，可以适当增加或减少周期时间以控制达到失效时间所要求的周期数。试样宜至少老化于三个温度，最好四个温度。最低的老化温度宜能产生大于5 000 h失效

22、时间。产生小于100 h失效时间的老化温度一般认为太高。各老化温度之间相差不宜超过20。由试验结果推断的温度指数的准确度随老化温度接近绝缘使用时温度而增加。最低老化温度不应比漆包线预估温度指数高25。表2推荐的老化时间(天周期8)老化温度 预估温度指数105109 120130 150159 180189 200209 220229 240249320 13lO 2300 1 4290 2 7280 l 4 14270 2 7 28260 1 4 14 49250 2 7 28240 4 14 49230 1 7 28220 2 14 49210 1 4 28200 2 7 49190 1 4

23、 14180 2 7 28170 4 14 49160 7 28150 14 49140 28130 49120注：表2中的推荐值与IEC 60216中的不同，但已经发现更适合于漆包线。8一个周期包括一个老化期和其后的一个耐电压试验。7试验电压及其施加方法施加的电压应为交流电压，标称频率50 Hz或60 Hz，近似正弦波形，峰值系数在2(15)(即134148)范围内。试验变压器至少应具有500VA的额定功率，并应提供在试验条件下波形基本不畸变的电流。当5mA或大于5mA的电流流经高压回路时，过电流装置应动作，以检查试样是否失效。试验电源应具有当供出检测电流大于或等于5 mA时最大10的电压降

24、。从烘箱中取出试样，冷却至室温。对于511规定的试样，按表3规定施加电压；对于512规定的试样，按表4规定施加电压。5GBT 40747-2009IEC 60172：1987表3漆包圆线试验电压绝缘厚度 绝缘厚度电压(有效值) 电压(有效值)V V大于 小于或等于 大于 小于或等于 0015 300 0050 0070 700o015 0024 300 0070 0090 1 0000024 0035 400 0090 0130 1 2000035 0050 500表4薄膜绕包圆线、扁线和漆包扁线试验电压绝缘厚度 绝缘厚度电压(有效值) 电压(有效值)V V大于 小于或等于 大于 小于或等于0

25、035 0050 300 O100 0115 7000050 0065 375 0115 0130 7500065 0080 450 O130 0140 8000080 0090 550 0140 0150 8500090 0100 650施加在试样上的试验电压应持续约1 s。施加时间较短是为了降低电晕及介质疲劳的影响。应注意避免试样机械损伤。剔除耐电压试验失效的试样，其余试样放回烘箱作另一次老化试验。8计算81试样失效时间取试样到耐电压试验失效时的老化总小时数和失效前一周期老化总小时数的中间点作为一个老化温度下某个试样的失效时间。这是假设试样可能在最后一个老化周期进行到一半时失效，因此，试样

26、失效时间即为失效时的总小时数减去最后一个老化周期小时数的二分之一。82失效时间可通过中位数值或对数平均值来计算一个老化温度一组试样的失效时间。对很多材料，中位数值在统计上是有效的。多数情况下，使用中位数值会大大缩短试验时间，因为一旦得到了中位数值就可以停止试验了。当使用中位数值时，按下述计算失效时间：如果一组试样总数为71，则该组试样的失效时间为：a)如果n为奇数，等于第(n+1)2个试样的失效时间(见81)；b)如果n为偶数，等于n2个试样和(n+2)2个试样失效时间的平均值(见81)。例如，如果n一12，则该组试样的失效时间等于第六个和第七个试样失效时间的平均值。如果采用中位数值计算失效时

27、间，为方便起见，建议试样总数为奇数，这样可简化计算。当使用对数平均值时，则该组试样的失效时间等于各试样失效时间(见81)对数之和除以试样总数n所得平均值的反对数。83数据的线性为避免不准确的外推(见84)，应按附录B计算相关系数，以衡量线性度。如果相关系数r等于或大于095，则有充分根据认为数据是线性的，试验结果的数据点接近于一条直线。若相关系数小于095，认为是非线性的，宜在比之前的最低试验温度还低的温度下进行一个附加试验。新的温度点可以比之前的最低试验温度低10，在重新计算温度指数和相关系数时，可从最高的6GBT 40747-2009IEC 60172：1987试验温度开始，删除一个温度点

28、，使新的温度点参与计算。如果漆包线、薄膜绕包线或浸渍后的漆包线、薄膜绕包线热老化过程为一种化学反应，则数据是线性的。非线性可能表明：a)在试验期间不同温度上有两种或两种以上具有不同活化能(斜率)的化学反应起支配作用；或者：b)取样方式和(或)试验过程引入误差。非线性数据不宜用来外推。84计算及绘制热寿命图和温度指数在纵坐标标有时间的对数、横坐标标有绝对温度的倒数的图纸上绘制失效时间(见82)一老化温度图，即为热寿命图。按附录A中的一级回归计算法估算2 000 h和20 000 h的老化温度，在坐标图上通过这两点绘出回归线。这条回归线则表示漆包线、薄膜绕包线的热寿命(见图8)。漆包线、薄膜绕包线

29、温度指数是回归线与20 000 h线交点所对应的摄氏温度的数值。温度指数无需标明摄氏度。如果需要对试验结果作进一步统计分析，可参见IEC 602163：1980。9试验报告试验报告应包括下述信息：1)漆包线漆或薄膜绕包线用薄膜的品种或型号，等级和导体种类(例如铜、铝等)2) 浸渍漆的品种或型号及浸渍工艺；3) 每个老化温度下每组试样的失效时间；4)通过各失效时间值的一级回归线的图；5)温度指数(TI)。图1制作试样用装置GBT 40747-20091EC 60172：19878材料：硅有机琏璃层压板图2 隔片单位为毫米单位为毫米厂“5的骶鬟压酣 ：i叫曩注：架内槽口圆角按图示。图3扭绞对成型架

30、材料：铝1)将隔GBT 40747-2009IEC 60172：1987图4安装在成型架内的试样图5已切开端环并成型后的试样在两处切开端环91052104104103GBT 40747-2009IEC 60172 1 1987时恒 h对教 列度、温度160 170 180 190 200 210 220 230 240 250 260手(1 0-2 K_1)023 0 22 0 21 020 019图8热寿命图温度指数GBT 40747-2009IEC 60 172：1 98712a)固定样板b)话动样板(尺寸同a)I 型 一a固定样板的固定螺丝；b一活动样板的固定螺丝(样板应可自由滑动)；c

31、夹具装置杠杆的固定螺丝(样板应可自由滑动)。c)底板单位为毫米复合板胚料厚125 nm酚醛漫渍纤维板图9弯曲大规格电磁线用夹具(绝缘试验用试样)d)夹具装置杠杆r_lll引lllGBT 40747-200911EC 60 172：1987附录A(规范性附录)计算回归线的方法本附录旨在提供一种快速绘制寿命数据回归线的方法。本方法可用于各种试验温度下的任何数目的试验结果。如果需要更确切的温度指数，建议按IEC 602163进行详细分析。已经公认，许多绝缘以一种符合公式(A1)的方式老化：LAeBT (A1)式中：L绝缘寿命，单位为小时(h)；T绝对温度，单位为开尔文(K)；A，B每种绝缘所固有的常

32、数；e自然对数之底。通过取对数，使公式(A1)表示成一线性方程：gLIgA+(19e)7B设：ylgLd=lgAx一亍1brlge)B则：Yd+bX (A3)因此，把通过高温试验得到的数据，绘制在tgL对1T的坐标图纸上，就得到一条直线，再外推这条直线到低温。然而，由于对数图的特性，通过试验结果得到的坐标点划一最佳表观直线的方法无法得到准确的外推，所以，为得到更好的准确性和一致性，应采用更严密的方法。使用最小二乘法，可从得到的试验数据求出常数n和b，其公式如下： n一学a一甓爱芝罟式中：x一1T试验温度的倒数，K。(日+273)-1)；N失效时间个数；YlgL是失效时间的对数；N个值的和。若已

33、知回归线的常数n和斜率b，任何要求的寿命值所对应的温度可按下式计算；Y一口+bX (A3)Ti1一南 “A3a)20 ooo h所对应的温度()(温度指数)一i百彘GBT 40747-2009IEC 60172：19872 000 h所对应的温度()一i百矗二i一273 (A7)为简化公式(A4)公式(A7)中所用试验数据的处理过程，建议采用下面举例中的计算步骤(见表A1和表A2)：1) 如表A2所示在温度()栏列出一组试样的试验温度；2)在第2栏和第3栏列出已换算成绝对温度的各试验温度的倒数(x一1T)和倒数的平方(X21r)(见表A1)；3) 在第4栏，列出每组试样的失效时间L(h)，在第

34、5栏列出第4栏中各值的对数值(ylgL)；4)在第6栏，列出x与y之积；5)计算第2、3、5和6栏的和(用表示)并分别填人各栏的底格内；6)在计算单内标出失效时间个数N；7) 用第5步和第6步得到的值，依次计算6(公式(A5)和n(公式(A4)，常数a永远是负数；8)用常数a和b计算20 000 h对应的温度(公式(A6)和2 000 h对应的温度(公式(A7)，用表示；9) 在lgL对1T的坐标图纸上绘出根据第8步得出的两个温度点，并通过这两点绘制回归线；lO)在同一坐标图纸上绘出各温度和其对应的失效时间L的坐标点。表A1常用的试验温度()和相应的绝对温度(K)及其倒数和倒数的平方值(见表A

35、2)日 T X一1T X21T2 目 T X一1T X21T2 K K一1 K一2 K K一1 K一2105 378 264 55010 3 6998 6810 6 200 473 2114 1610-3 4 469 69106125 398 2512 56103 6312 97X10 6 220 493 2028 4010 3 4 114 40106130 403 2481 39X10 3 6157 29X106 225 498 2008 03103 4032 19106140 413 2421 3110 3 5862 7310一6 240 513 1949 3210-3 3799 84X1

36、0 6150 423 2364 07X10 3 5588 81X106 250 523 1912 0510 3 3655 9210 6165 438 2283 11X103 5212 57X106 260 533 1876 17X103 3 520 0210 6175 448 2232 14X103 4982 46Xi06 280 553 1808 3210 3 3270 01X10 6180 453 2207 5110 3 4873 08X10 6 300 573 1745 20X10 3 3045 73X106185 458 2183 41X10-3 4767 26X10 B 320 59

37、3 1686 34X10 3 2843 7410 5190 463 2159 83103 4664 85X10 6表A2计算举例温度X一1T Xz一1邗L hy一19L Xy一(19L)T170 2257 73X10-3 5095 5710-6 5 600 374819 8460 92103185 2183 41X10 3 4767 2610 6 2 600 3414 97 7456 27X103200 2114 1610-3 4469 6910 6 1 500 3176 09 6714 7810一3215 2049 1810 3 41991410 6 640 280618 5750 37X1

38、0 3 8604 09103 18531 66X106 13145 43 28382 3410 3N一4一一x2一(一- 4慧2i6一3i804gXlO一313145 43f4 413NX)2 4 18 531 66 10 8 604 09Xi0 X 8 604 09X10a=y寻x=1314543-44138604 0910-_6 206 1020 ooo h所对应的温度=y兰口273=4301；+416320610 273=1472 000 h所对应的温度=yb口 273=33。1。4+4163206 10 273=191GBT 40747-2009IEC 60172：198716100

39、00050 00020 00010 000 2 000电精叠 l ooo500200100502010、L、147一20 000小时、191一2 000d时一绘出直线，根据实际数值绘出坐标点(数据是假设的)。lOO 110 120 130 140 150 160 180 200 220 240 260 280温度c(K)本图宜包含与绝缘材料和绝缘结构相关的全部必要信息。图A1 根据计算举例(表A2)绘制的回归线附录B(规范性附录)相关系数GBT 40747-2009IEC 60172：1987相关系数r是变量间线性相关程度的量度。当r一10时，变量问完全线性相关；当r一0时变量问线性不相关。相关系数应按下式计算：NXY一(X)(Y)Nx2一(x)2ENyz一(y)2式中x、y、N释义见附录A。附录A的表A2中计算举例的相关系数r一0996。