GB T 4074.2-2008 绕组线试验方法.第2部分 尺寸测量.pdf

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1、I29.060.01 K 12 道昌中华人民共和国国家标准GB/T 4074.2-2008/IEC 60851-2: 1997 代替GB/T4074.2一19992008-04-23发布绕组线试验方法第2部分:尺寸测量Winding wires-Test methods 一Part 2: Determination of dimensions (lEC 60851-2: 1997, IDT) 中华人民共和国国家质量监督检验检瘟总局中国国家标准化管理委员会2008-12-01实施发布GB/T 4074.2-2008/IEC 60851-2: 1997 - _._ 目U画GB/T 4074-200

2、8 0.45 GB/T 4074.2-2008/IEC 60851-2: T997 绕组线试验方法第2部分:尺寸测量测力CN)Pb / mm) = 调座直径(mm)o. 01P0. 16 0., 160.063 mm 阳60圄1锥棒表2导体直径测量测量方法电阻尺寸单位为毫米条文号GB/ T 4074.5-2008中第3章3.2. 1. 1 注:如果供需双方同意，导体标称直径大于0.063mm小子或等于1.000 mrn的绕组线也可采用电阻测量法.3. 2. 1. 1. 1 导体标称直径大于0.063mm小于革等于0.200mm 在一根校直试样上相距各1m的三个位置上，用不损伤导体的任何方法除去

3、绝缘层，各测一次导体直径。记录三个测量值，取其平均值作为导体直径。3.2. 1. 1. 2 导体标称直径大于0.200mm 在一根校直试样上，用不损伤导体的任何方法除去绝缘层，在沿导体圆周均分的三个位置上各测量一次裸导体直径。记录三个测量值，取其平均值作为导体直径。3. 2. 1. 2 扁缉用不损伤导体的任何方法在按3.2.5.2规定的三个位置上除去绝缘层，在每个位置各测量一次宽边和窄边尺寸。记录三个宽边和窄边尺寸测量值，取其平均值分别作为导体宽边和培边尺寸。3.2.2 导体不圆庭2 导体不圆度为在导体每个截面上按3.2.1.1规定测量的任何两个导体直径读数的最大差值。记录导体不圆度，, 扫.

4、GB/T 4074.2-2008/IEC 60851-2: 1997 3.2.3 扁缉圄角为了做好本试验，应制备绝缘线的截面，并在足够放大倍数下测量。将三根校直扁线试祥在不影响绝缘性能的适当树脂中进行浇铸，固化后，树脂的颜色应与绝缘的颜色呈反差.沿垂直于扁线轴线方向切断嵌在固化树脂中的三根扁线试样，用适当的方法仔细研磨抛光截面.在能正确判断圆角圆度的造当放大倍数下检查抛光表面。记录导体圆弧及与平面连接情况，任何毛和i、粗糙和凸缘亦应记录。3.2.4 绝缘厚度绝缘厚度是外形尺寸与导体尺寸之差.3.2. 4. 1 圆缉按3.2.1.1和3.2.5.1的规定测量外径和导体直径，二者之差即为绝缘厚度。

5、3. 2.4.2 扁绕按3.2.1.2和3.2.5.2的规定测量扁线宽边外形尺寸和导体宽边尺寸，二者之差即为窄边绝缘厚度z测得的扁线窄边外形尺寸和导体窄边尺寸之差即为宽边绝缘厚度。3.2. 5 外形尺寸3.2. 5. 1 圄缉3.2.5. 1. 1 导体标称直径小于或等于0.200mm 在一根校直试样相距各1m的三个位置上，各测一次外径。记录三个测量值，取其平均值作为外径.3.2.5. 1.2 导体标称直径大于0.200mm 在一根校直试样相距1m的两个位置上，每个位置沿绝缘线圆周均分测量三次外径。记录六个测量值，取其平均值作为外径.在有关产品标准中，导体直径测量方法采用表2规定的方法。3.2

6、.5. 2 扁缉在一根校直试样相距至少100mm的三个位置上，每个位置各测量一次宽边和军边外形尺寸.若试样外形尺寸比千分尺测杆直径大，则应在试样表面中间和边缘各测一次;若两个测量值不同，应取较大值.记录三个宽边和窄边外形尺寸的测量值，取其平均值分别作为宽边外形尺寸和窄边外形尺寸.3.2.5.3 束缉注z下述测量方法测得的是实际有用的值，而不是精确的外径.束线外径为卷绕在锥捧上的柬线层宽度除以卷绕圈数。束线应以一定张力紧雷卷绕在如图1所示的锥捧上，张力CN)为束线各导体标称截面租CmmZ)之和的65倍囚外径小于或等于0.5m血的柬线的卷绕宽度应不小于10mm，外径大于0.5mm的束线的卷绕宽度应不小于20mm，测量精度应为0.5mm. 测量一次。记录外径，并修约到0.01mm. 3.2.6 藩包圆缉自粘层厚度自粘层厚度是自粘性穰包钱外径与除去自粘层后的漆包线外径的差值。自粘性器包线外径应按3.2.5. 1测量，用需剂或其他任何合适的试剂以及不损伤底漆的任何方法除去自粘层后再次测量其外径，其差值即为自粘层厚度。