GB T 3658-2008 软磁材料交流磁性能环形试样的测量方法.pdf
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1、ICS 7704099H 21中华人民 共和,、7I。H缮酉国国家标准GBT 3658-20081990、GBT 5026 1985软磁材料交流磁性能环形试样的测量方法Methods of measurement of acmagnetic propertiesof magnetically soft materials(IEC 604046:2003,Methods omeasurement of the magnetic properties ofmagnetically soft metallic and powder materials at 20 Hzto 200 kHz by th
2、e use of ring specimens,MOD)200810-10发布 200905-0 1实施宰瞀粥鬻瓣警餐警瞥鐾发布中国国家标准化管理委员会擞19GBT 3658-2008前占1 范围2规范性引用文件-3通则31试样32绕组4温度测量5伏一安法测定磁导率和磁化衄线6用功率表测定比总损耗-7用数字阻抗电桥测量磁性能8用数字方法测量磁性能一9再现性10测试报告附录A(资料性附录)附录B(资料性附录)附录C(资料性附录)附录D(资料性附录)附录E(资料性附录)目 次本标准章条编号与IEC 604046:2003章条编号对照本标准与IEC 604046:2003技术性差异及其原因为使附加损
3、耗降至最低而对绕组和所用仪器的要求正弦波形的数字控制方法修正的海氏电桥测量方法111l223568O024567刚 罱GBT 3658-2008本标准修改采用IEC 60404 6:2003(磁性材料 第6部分:软磁金属材料和粉末冶金材料20 Hz至200 kHz频率范围磁性能的环形试样测量方法(英文版)。为了方便比较,在附录A中列出了本标准章条编号和IEC 604046:2003章条编号的对照览表。考虑到我国国情,本标准在采用1EC 604046:2003时进行了修改。这些技术性差异用垂直单线标识在它们所涉及的条款的页边空白处。在附录B中给出了技术性差异及其原因的一览表以供参考。对于IEC
4、604046:2003,本标准做了下列编辑性修改:“本部分”(指IEC 60404第2部分)一词改为“本标准”;用小数点“”代替作为小数点的逗号“,”;删除国际标准的前言;规范性引用文件按对应的国家标准作了变更;重新编排图片的位置。本标准代替GBT 3658 l 990(软磁合金交流磁性能测量方法和GBT 5026 1985(软磁合金振幅磁导率测量方法。本标准与GBT 3658 1990和GBT 5026 1985相比,主要内容变化如下:按国际标准重新编排结构;扩展原标准的测试频率范围;试样尺寸由原标准的固定尺寸改为对外径和内径比的要求;增加功率表测定比总损耗的方法;增加用数字方法测量磁性的内
5、容;增加附录A、附录B、附录c、附录D和附录E。本标准的附录A、附录B、附录c、附录I)和附录E均为资料性附录。本标准由中国钢铁工业协会提出。本标准由全国钢标准化技术委员会归口。本标准起草单位:宝山钢铁股份有限公司、东北特钢集团大连精密合金有限公司、冶金工业信息标准研究院。本标准芒要起草人:周星、胡志远、李和平、冯超、任翠英、史永辉、么莹。本标准代替历次版本的发布情况:GBT 3658 1983、GgT 3658 1990;GBT 5026 1 985。1 范围软磁材料交流磁性能环形试样的测量方法GBT 3658-2008本标准规定了除电工钢和软磁铁氧体以外的材料在20Hz至20kHz频率范围
6、的交流磁性能的测试方法。本标准涉及的材料包括:在IEC 604048 6中列出的特殊合金;IEC 60404 89中列出的压制、烧结、金属注射成型元件;铸件以及软磁复合材料。本标准的目的是明确用环形试样测试软磁材料磁性能的通则和技术细节。对于粉末状材料,要通过适当挤压的方法制成环形试样。对软磁材料的直流磁性能应按照IEC 60404 4的环形试样测量方法进行。软磁元件的磁特性测定应按照IEC 62044 3:2000进行。检测一般应在(235)的环境温度下进行,测试前环形试样应先退磁。经供需双方协商,检测也可在其他温度范围内进行。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条
7、款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否i口使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。GBT 3655用爱泼斯坦方圈测量电工钢片(带)磁性能的方法(GBT 3655 2008,IEC 604042:1 996,Methods of measurement of the magnetic properties of electrical steel sheet and strip by meansof an Epstein frame,IDT)IEC 604044软磁材料第4
8、部分:软磁材料直流磁性能的测量方法1EC 6040486磁性材料第8-6部分:单项材料的技术条件软磁金属材料IEC 604048 9磁性材料第8 9部分:单项材料的技术条件烧结软磁材料IEC 620443:2000 软磁材料制磁芯测量方法 第3部分:高磁化场下的磁性能3通则测量是在绕有一个或两个绕组的环形试样的闭合磁路下进行。31试样试样应采用以下不同方式制成横截面为矩形的环形试样:a) 薄带或线材绕成时钟弹簧形的铁芯;b) 冲压、激光切割或光化学蚀刻成环样的叠片;c)粉末压制并烧结,金属注射成型或铸造。对于粉末材料,如果通过金属注射成型或压制(及可能的加热)制作环形试样,应按照材料生产方的建
9、议进行,以达到粉末材料的最佳磁性能。对于所有类型的试样,在热处理之前,应去除毛刺和锐边。对于软磁合金,应将环形试样装在可拆分成两部分的环形盒子内;对于无绝缘层的试样,在叠装试样时应采用适当的绝缘措施。对于高磁导率材料,最好将环形试样装在可拆分成两部分的环形盒子内。盒子尺寸应与试样精密配合,避免在材料中产生应力。1GBT 3658-2008试样尺寸的外径与内径的之比应不大于14,最好小于125。对于厚度小于015 mm的带材,应沿轧制方向取宽度为10 iTlm的条,经涂绝缘层后卷绕成环样。对于固体和粉末压制材料,试样的尺寸,即环形试样的外径、内径以及高度,应采用合适的并经过校准的量具测量,量具的
10、准确度应为002 tuna或更好。相关尺寸应在试样的不同位置测量,并计算出平均值。试样的横截面积应按式(1)计算: A一掣!式中:A 试样的横截面积,单位为平方米(m2);D 试样的外径,单位为米(m);d 试样的内径,单位为米(m); 试样的高度,单位为米(m)。注:对于锻材等特殊试样,横截面积可用公式(2)确定。对叠片或绕制铁芯环样,试样的横截面积应由质量、密度和环样内外径的值计算。质量应采用合适的并经过校准的仪器称量,称量准确度应为士01或更好。密度应为由生产方提供的材料约定密度。横截面积应按式(2)计算:m一(D+d)式中:m 试样的质量,单位为千克(kg);p 材料的密度,单位为千克
11、每立方米(kg,m3)。对于磁场强度计算所需的试样平均磁路长度按式(3)确定 。一”掣式中:lm 试样的平均磁路长度,单位为米(m)。32绕组(2)(3)绕组数量和匝数取决于所使用的测量设备和方法。对于比总损耗的测量,通常要求有一个初级绕组和一个次级绕组。此时,次级绕组应尽可能紧密地绕在试样上以减小绕组下空气间隙的影响。所有绕组应均匀地绕在试样的整个周长上。对于频率高于工频的测量,应注意避免电容和其他效应相关的影响。参见附录c的论述。应注意确保在绕线过程中不要损坏电线的绝缘,避免绕线与试样短路。应采用合适的交流绝缘电阻测量仪进行电气检查,确保绕组与试样之间没有直接连接。4温度测量当对试样的表面
12、温度有要求时,应在试样上粘附一个经过校准的非磁性热电偶(如T型热电偶)进行测量。如果试样是封装好的,应在封套上制一个孔,注意不要损伤试样,并使热电偶与磁芯材料牢固接触。如果这点不可能做到,则应将热电偶粘附在封套上并在测试报告中说明。热电偶应与合适的经过校准的数字电压表连接,以测量其输出电压,通过热电偶对照表得出相应的温度。如果磁化后发现试样的温度随时间变化,磁性能的测量应在达到供需双方协定的温度或时间后进行。如果要在高温下测量,应将试样置人烤箱,并在要求的温度下进行。注:一个次要并较小的与时间相关的磁驰豫效应也可能影响磁性能。对于本标准涉及的材料类型,该效应通常被温度变化所掩盖。但是,如果该磁
13、驰豫效应变得明显,允许试样在给定的磁通密度或磁场强度下停留一段预定的时问后进行最终的测量。25伏一安法测定磁导率和磁化曲线GBT 3658-200851概述环样测量方法通常在20 Hz至20 kHz的频率范围使用,更高的使用频率将受限于所用仪器的性能。注1:如果有合适的经过校准的仪器,频率上限可延伸到1 MHz。注2:直流测量应按照1EC 60404 4描述的环样方法进行。注3:在高磁化状态和频率接近直流至10 MHz甚至更高范围,对取自产品的磁芯进行损耗和有效磁导率的测量方法由IEC 620443:2000的6 2和63给出。52设备和连接521设备连接环样应绕上一初级绕组N,和一次级绕组N
14、z(见32并参见附录c)。设备应按图1的电路进行连接。在测量过程中,交流电源的输出端电压和频率的各自偏差小应超过设定值的02,频率计准确度为01或更好。交流电源应与一个在测量频率范围内准确度为o2或更好的无感精密电阻器及环样的初级绕组N串联,电阻器两端连接一只高输入阻抗(通常大于1 Mn)准确度为10或更好的有效值或峰值电压表,以测量磁化电流。 电源(通常是一个振荡信号发生器和功率放大器);A 测量磁化电流的有效值或峰值电流表,或和一个精密电阻器配接的有效值或峰值电压表;Hz 频率计;N, 初级绕组;N:一次级绕组;OSC 示波器;V 平均值电压表;v2 有效值电压表。图1环样方法的电路示意图
15、次级电路包括两个与次级绕组N。并联的电压表。其中一个电压表(Vz)测量有效值;另一个电压表(v。)测量整流后的平均值,但有时以有效值换算得到,应使用高输入阻抗(通常大于1 ME)准确度为ilo或更好的电压表。注:次级电压的波形应使用示波器确认,保证只含有基波成分。522次级电压或磁化电流的波形为了获得可比较的测量值,测量前应明确是保持次级电压还是保持磁化电流为正弦波,即波形系数为1111土1。对后一种情况,需要在磁化电路中串联一个无感电阻器。注1:无感电阻器的时间常数要低,以确保波形在规定的范围内。注2:元感电阻器可以是用于测量磁化电流的同一电阻器。注3:正弦波形的控制可以通过数字方式实现(参
16、见附录D)。在频率为20 Hz至20 kHz的范围内,次级电压的波形系数可通过与次级绕组连接的两个具有高阻抗的电压表来测定。其中一个电压表测量电压的有效值,另一个测量次级电压整流后的平均值。然3GBT 3658-2008后波形系数由有效值与平均值的比率确定。注:为获得最佳的功率传输,可能需要优化初级绕组的匝数使其与电源的输出阻抗相匹配。由式(4)确定:ZJL (4)式中:z 电源的输出阻抗,单位为欧姆(n);一电源的输出角频率,单位为弧度每秒(s_1);L 环形试样的初级绕组的有效电感,单位为亨利(H),由式(5)计算得出:L一盟挈坐 一(5)f“式中:M 初级绕组的匝数;A 试样的横截面积,
17、单位为平方米(m2);脚 磁性常数410,亨利每米(Hm);“ 试样的相对磁导率;l。 试样的平均磁路长度,单位为米(m)。如果相对磁导率未知,可按照5 3和5 4对磁场强度和磁通密度进行初步测定,再按照55计算相对磁导率。53磁场强度的测定测量所需的磁场强度由式(6)计算:(6)式中:H 磁场强度,单位为安培每米(Am);N, 试样上初级绕组的匝数;, 磁化电流,单位为安培(A);z。 试样平均磁路长度,单位为米(m)。通常,磁场强度的幅值由测量出的有效磁化电流再乘以2求出。对于正弦磁化电流,求出的是峰值磁场强度的修正值。对于正弦磁通密度,求出的是等效的峰值磁场强度,比给定的磁化电流的数值小
18、。测定峰值磁场强度的另一种方法是使用峰值电流表或峰值电压表和精密电阻器。测量前,应对试样进行退磁,从一个不小于矫顽力10倍的磁场强度值开始,缓慢减小磁化电流的相应幅值至零。退磁电流的频率应不大于将使用的测量频率。54磁通密度的测定次级电压应采用平均值电压表v。测量,磁通密度由式(7)计算:luz l一4fABN z (7)式中:L,:| 次级电压整流后的平均值,单位为伏(V);, 频率,单位为赫兹(Hz);A试样的横截面积,单位为平方米(m2);白磁通密度的峰值,单位为特斯拉(T);N: 次级绕组的匝数。由于试样和次级绕组之间有空气间隙,可能需要对磁通密度进行修正,其大小取决于磁场强度的高低和
19、试样与次级绕组横截面积的比值。磁通密度峰值的修正值B由式(8)得出: 白一B,胁自立掣(8)A式中:B 7磁通密度峰值的测量值,单位为特斯拉(T);42。 磁性常数410 7,单位为亨利每米(Hm);自 磁场强度的峰值,单位为安培每米(Am);Ao 次级绕组的横截面积,单位为平方米(m2);A一试样的横截面积,单位为平方米(m2)。55有效幅值磁导率和相对幅值磁导率的测定对于磁场强度和磁通密度的相应值,有效幅值磁导率应由式(9)计算亩s一=2 o,2H而相对幅值磁导率则由式(10)计算:B2ai雨GBT 3658-2008(9)式中:P。 有效幅值磁导率(用于正弦磁通密度);。 相对幅值磁导率
20、(用于正弦磁场强度);脚一 磁性常数410 7,单位为亨利每米(Hm);B 磁通密度的峰值,单位为特斯拉(T);H一磁场强度的有效值,单位为安培每米(Am);H一磁场强度的峰值,单位为安培每米(Am)。56磁化曲线的测定如53所述,应对试样进行退磁,然后逐步增火磁化电流,即可获得磁场强度和磁通密度的相应值并绘制出磁化曲线。6用功率表测定比总损耗61测量原理k斟2 件 电源(通常是一个振荡信号发生器和功率放大器);HF 频率计;N。 初级绕组;N。 次级绕组;Osc 示波器;w 功率表;V, 平均值电压表;V:有效值电压表。图2功率表方法的电路示意图测量原理与GBT 3655描述的内容相似,此处
21、仅用环样代替爱泼斯坦方圈,并要求使用的仪器能在需要的频率下进行测量。比总损耗的测量应在正弦磁通密度的条件下进行。对一些试样,可能需要通过模拟或数字技术的方法控制磁化电流的波形(参见附录D),以确保维持正弦的磁通密度。装置与5GBT 3658-2008试样绕组应按图2的电路进行连接。注:在高磁化状态和频率接近直流至lO MHz甚至更高范围,进行比总损耗和幅值磁导率的测量方法由IEC 620443:2000的62和63给出。611平均值电压表V,次级电压整流后的平均值应使用经校准的平均值电压表测量。次级回路中的负载应尽可能小(参见附录c)。因而要求使用具有高输入阻抗的(通常大于1 Mn)准确度为1
22、0或更好的电压表。注:此类仪表通常以整流的平均值乘以1111来分度。612有效值电压表V。应使用具有高输入阻抗的(通常大于1 Mn)准确度为1o或更好的有效值电压表测量。次级回路中的负载也应尽可能小,最好也使用一个电子式电压表(参见附录c)。613功率表w应使用准确度为o5或更好的功率表。其电雎同路的直流电阻为50 nV以上,并至少应为其电抗的5 000倍(参见附录c)。614比总损耗的测量试样应按照53进行退磁。然后增大初级绕组N,的电流,直到电压表V,(显示整流后的平均电压)的电压值与由公式(7)计算得出的磁通密度相对应。记录两个电压表v。和v:的测量值,按照521计算并确认次级波形的波形
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