IEC 60112 CORR 2-2003 Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid insulating materials Corrigendum 2《固体绝缘材料的比较起痕指数和耐.pdf

《IEC 60112 CORR 2-2003 Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid insulating materials Corrigendum 2《固体绝缘材料的比较起痕指数和耐.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《IEC 60112 CORR 2-2003 Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid insulating materials Corrigendum 2《固体绝缘材料的比较起痕指数和耐.pdf（51页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、CE1 601 12 (Quatrime dition - 2003) IEC 601 12 (Fourth edition - 2003) Mthode de dtermination des indices de rsistance et de tenue au cheminement des matriaux isolants solides Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid insulating materials CORRIGENDUM 2 P

2、age 16 7.3 Solutions dessai A la page 18, Solution B: Premier alina, troisime ligne Au lieu de: . de sulfonate di-isobutylnaphtalne de sodium, . B lire: . de sulfonate di-butylnaphtalne de sodium, . B Page 17 7.3 Test solutions On page 19, Solution B: First paragraph, second line instead of: “ . of

3、sodium-di-so-butyl naphthalene- sulfonate . ” read: “ . of sodium-di-butyl naphthalene sulfonate . ” Octobre 2003 October 2003 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-

4、CE1 601 12 (Quatrime edition - 2003) IEC 601 12 (Fourth edition - 2003) Mthode de dtermination des indices de rsistance et de tenue au cheminement des matriaux isolants solides Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid insulating materials CORRIGENDUM 1

5、Page 2 SOMMAIRE Au lieu de: Lire: Figure B.l Figure 1 Figure B.2 Figure 2 Figure B.3 Figure 3 Figure B.4 Figure 4 7.1 Electrodes Page 14 Premire alina, quatrime ligne Au lieu de : Figure B.l Lire : Figure 1 Deuxime alina, troisime ligne Au lieu de : Figure B.2 Lire : Figure 2 Page 16 Deuxime alina,

6、premire ligne Au lieu de : Figure B.3 Lire : Figure 3 Troisime alina, quatrime ligne Au lieu de : Figure B.3 Lire : Figure 3 Page 3 CONTENTS Instead of: Read: Figure B.l Figure 1 Figure B.2 Figure 2 Figure B.3 Figure 3 Figure B.4 Figure 4 7.1 Electrodes Page 15 First paragraph, fourth line Instead o

7、f: Figure B. 1 Read: Figure 1 Second paragraph, third line Instead of: Figure B.2 Read: Figure 2 Page 17 Second paragraph, first line Instead of: Figure B.3 Read : Figure 3 Third paragraph, fourth line Instead of: Figure B.3 Read: Figure 3 Juin 2003 -1 - June 2003 Copyright International Electrotech

8、nical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-CE1 60112 (Quatrime edition - 2003) IEC 601 12 (Fourth edition - 2003) 7.2 Circuit dessai Page 16 Premier alina, cinquime ligne Au lieu de : Figure B.4 Lire : Fig

9、ure 4 Deuxime alina, troisime ligne Au lieu de : Figure B.4 Lire : Figure 4 Page 34 Dplacer les Figures B.l B.4 lire : Figures 1, 2, 3 et 41, avant lAnnexe A. (Note : Les figures sont normatives et ne font pas partie de lAnnexe B) Figures Au lieu de : Figure B.l Lire : Figure 1 Au lieu de : Figure B

10、.2 Lire : Figure 2 Page 36 Figures Au lieu de : Figure B.3 Lire : Figure 3 Au lieu de : Figure B.4 Lire : Figure 4 7.2 Test circuit Page 17 First paragraph, fifth line Instead of: Figure B.4 Read: Figure 4 Second paragraph, third line Instead of: Figure B.4 Read: Figure 4 Page 35 Move Figures B.l -

11、B.4 read: Figures 1, 2, 3 et 41, before Annex A. (Note: The figures are normative and do not belong to Annex B) Figures Instead of: Figure B. 1 Read: Figure 1 Instead of: Figure B.2 Read: Figure 2 Page 37 Figures Instead of: Figure B.3 Read: Figure 3 Instead of: Figure B.4 Read: Figure 4 Juin 2003 -

12、2- June 2003 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-NORME CE1 IEC INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD 60112 Quatrime dition Fourth edition 2003-01 PUBLICATION FONDA

13、MENTALE DE SCURIT BASIC SAFETY PUBLICATION Mthode de dtermination des indices de rsistance et de tenue au cheminement des matriaux isolants solides Method for the determination of the proof and the comparative tracking indices of solid insulating materials Numro de rfrence Reference number CEIIIEC 6

14、01 12:2003 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-Numrotation des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. A

15、insi, la CE1 34-1 devient la CE1 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros d?dition 1 .O, 1 .I et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorpora

16、nt l?amendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CE1 Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin qu?il reflte l?tat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cett

17、e publication, y compris sa validit, sont dispo- nibles dans le Catalogue des publications de la CE1 (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets l?tude et l?avancement des travaux entrepris par le comit d?tudes qui a labor cette publica

18、tion, ainsi que la liste des publications parues, sont galement disponibles par l?intermdiaire de: Site web de la CE1 (m) Catalogue des publications de la CE1 Le catalogue en ligne sur le site web de la CE1 (www.iec.chlcatln-f.l-ttnn) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux crit

19、res, comprenant des recherches textuelles, par comit d?tudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications rempla- ces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues

20、(www.iec.ch/JP.htm) est aussi disponible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus d?informations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec

21、 le Service clients: Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidated versions of its publications. For example, e

22、dition numbers 1 .O, 1 .I and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC publications is kept under constant review by

23、 the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. Information on the subjects under consideratio

24、n and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (m) Catalogue of IEC publications The on-line catalogue on the IEC web site (www.iec.ch/catls-e.htm) enable

25、s you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On- line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC Just Published This summary of recently issued publi

26、cations (www.iec.chiJP.htm) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assistance, please contact the Customer Service Centre: Email: TI: +41

27、22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 O0 Email: custsewiec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 O0 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-NORME CE1 IEC INTERNATIONAL

28、E INTERNATIONAL STANDARD 60112 Quatrime dition Fourth edition 2003-01 PUBLICATION FONDAMENTALE DE SCURIT BASIC SAFETY PUBLICATION Mthode de dtermination des indices de rsistance et de tenue au cheminement des matriaux isolants solides Method for the determination of the proof and the comparative tra

29、cking indices of solid insulating materials O IEC 2003 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized in any utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun pro

30、cd, form or by any means, electronic or mechanical, including lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les photocopying and microfilm, without permission in writing from microfilms, sans laccord crit de lditeur. the publisher. Intemational Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO

31、 Box 131, CH-I211 Geneva 20, Switzerland Telephone: +41 22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 O0 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch R CODE PRIX Commission Electrotechnique Internationale PRICE CODE International Electrotechnical Commission Pourpnx, voir catalogue en vigueur For pnce, see current cat

32、alogue MeXflyHaPOflHaR 3neKTpOTeXHWIeCKaR KOMMCCMR Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-2- 60112 O CEI:2003 SOMMAIRE AVANT-PROPOS . 4 1 Domaine dapplication 2 Refer

33、ences normatives 3 Termes et dfinitions IO , 4 5 6 7 8 9 10 11 Principe . 12 Eprouvette . 12 Conditionnement de lprouvette . 14 6.1 Conditionnement environnemental 14 6.2 Etat de la surface de lprouvette . 14 Appareillage dessai 14 7.1 Electrodes 14 7.2 Circuit des 16 7.3 Solutions dessai . . 16 7.4

34、 Dispositif de distribution des gouttes . 18 7.5 Plate-forme support dprouvette . 18 7.6 Installation du montage dlectrode . 18 Procdure dessai de base . 20 20 8.1 Generalites . 8.2 Prparation . .20 8.3 Procdure dessai . .22 Dtermination de lrosion .22 Dtermination de lindice de tenue au cheminement

35、 (ITC) . 22 10.1 Procdure .22 10.2 Rapport dessai . .24 Dtermination de lindice de rsistance au cheminement (IRC) 24 24 11 .I Generalites . 11.2 Dtermination de la tension maximale des 100 gouttes 24 11.3 Dtermination de la tension de tenue maximale des 50 gouttes . 26 , ., , ., 11.4 Rapport . . .28

36、 Annexe A (informative) Liste des facteurs qui devraient tre pris en compte par Annexe B (informative) Choix de matriaux constituant les lectrodes . 34 ., les comites de produits . 32 Bibliographie .38 Figure B.l - Electrode 34 Figure B.2- Disposition de Ilectrode/lprouvette . Figure B.4 - Exemple d

37、e circuit dessai . 34 Figure B.3 - Exemple type de montage dlectrode et de support dprouvette . 36 . 36 Copyright International Electrotechnical Commission Provided by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-60112 O IEC:2003 -3- CO

38、NTENTS FOREWORD 5 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 Scope 9 Normative references 9 Terms and definitions 11 Principle 13 Test specimen . 13 Test specimen conditioning . 15 6.1 Environmental conditioning . 15 6.2 Test specimen surface state . 15 Test apparatus 15 7.1 Electrodes 15 7.2 Test circuit 17 7.3 Test

39、solutions . 17 7.4 Dropping device 19 7.5 Test specimen support platform 19 7.6 Electrode assembly installation . 19 Basic test procedure 21 8.1 General 21 8.2 Preparation 21 8.3 Test procedure 23 Determination of erosion . 23 Determination of proof tracking index (PTI) . 23 10.1 Procedure . 23 10.2

40、 Report 25 Determination of comparative tracking index (CTI) 25 11 . 1 General 25 11.2 Determination of the 100 drop point 25 11.3 Determination of the maximum 50 d 27 11.4 Report 29 . Annex A (informative) List of factors that should be considered by product committees . 33 Annex B (informative) El

41、ectrode material selection 35 Bibliography . 39 Figure B.l . Electrode . 35 Figure B.2 . Electrode / specimen arrangement . 35 Figure B.3 . Example of typical electrode mounting and specimen support 37 37 Figure B.4 . Example of test circuit Copyright International Electrotechnical Commission Provid

42、ed by IHS under license with IECNot for ResaleNo reproduction or networking permitted without license from IHS-,-,-4- 60112 O CEI:2003 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE MTHODE DE DTERMINATION DES INDICES DES MATRIAUX ISOLANTS SOLIDES DE RSISTANCE ET DE TENUE AU CHEMINEMENT AVANT-PROPOS La CE

43、1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les dom

44、aines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementale

45、s et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations . Les dcisions ou accords officiels de la CE1 concernant les q

46、uestions techniques reprsentent, dans la mesure du possible un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. Les documents produits se prsentent sous la forme de recommandations internationales. Ils sont publis comme n

47、ormes, spcifications techniques, rapports techniques ou guides et agrs comme tels par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CE

48、1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CE1 et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. La CE1 na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Norme internationale peuvent faire lobjet de droits de pr