YD T 1320-2004 光密集波分复用器-去复用器 技术要求和试验方法.pdf

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1、ICS 33.180.20M33Y11中华人民共和国通信行业标准YD/T 1320-2004光密集波分复用器/去复用器技术要求和试验方法Technical requirements and tests methods of optical DenseWavelength Division Multiplexer/demultiplexer2004-07-16发布2005-01-01实施中华人民共和国信息产业部发布YD/T 1320-2004目次前言111范围。一12规范性引用文件.13术语和定义、缩略语.14技术要求。5试验方法。6检验规则.147标识、包装、运输和贮存.。.15附录A(规范性

2、附录)ITU-T G.694.1 DWDM栅格标称中心频率.16附录B(规范性附录)ITU-T G.692附录A标称中心频率18附录C(资料性附录)ITU-T G.692附录A 8/32波道标称中心频率.19丫DIT1320-2004前言本标准修改采用IEC61753-2-2-1998用于非环境控制的纤维光学DWDM器件性能规范草案的部分内容，YDN-1999光波分复用系统总体技术要求(暂行规定)、YD/I 1060-2000光波分复用系统(WDM)技术要求一32 x 2.5Gb/s部分及YD/T 1143-2001光波分复用系统(WDM)技术要求一16 X IOGb/s, 32 X IOGb

3、/s部分对DWDM器件的性能要求。并结合我国器件研制和生产的实际情况而制定。本标准中试验方法修改采用规定。GR-1221-CORE (2001), GR-1209-CORE(1999)相关部分的本标准附录A、附录B为规范性附录，附录C的为资料性附录。本标准由中国通信标准化协会提出并归口。本标准由武汉邮电科学研究院起草、信息产业部电信研究院参加。本标准主要起草人:梁臣桓许远忠胡强高张佰成刘军YD/T 1320-2004光密集波分复用器/去复用器技术要求和试验方法1范围本标准规定了密集型波分复用器/去复用器(以下简称DWDM器件)的相关定义、分类、技术要求、试验方法、检验规则及标识、包装、运输和贮

4、存要求。本标准适用于密集波分复用器件。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版本均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB 2828-1987逐批检查技术抽样程序及抽样表适用于连续批的检查)GB 2421-1989电工电子产品基本环境试验规程总则GB/T 15972.4-1998光纤总规范第4部分:传输特性和光学特性试验方法YD/P 1065-200(单模光纤偏振模色散试验方法ITU-T G.692 (20

5、02)具有光放大器的多波道系统光接口ITU-T G.694.1 (2002) WDM应用的谱栅格:DWDM频率栅格Telcordia GR-1221-CORE (1999)无源光器件可靠性保证总规范Telcordia GR-1209-CORE (2001)无源光器件总规范3术语和定义、缩略语3.1缩略语下列缩略语适用于本标准。WDM Wavelength Division Multiplexer波分复用器CWDM Coarse Wavelength Division Multiiplexer粗波分复用器DWDM Dense Wavelength Division Multiplexer密集波分

6、复用器MUX Multiplexer复用器DMUX Demultiplexer去复用器AWG Array Waveguide Grating阵列波导光栅DC Directivity方向性II, Insertion Loss插人损耗RL Return Loss回波损耗PF Passband Flames:通带平坦度PDL Polarization Dependent Loss偏振相关损耗CD Chromatic Dispersion色散PAM Polarization Mode Dispersion偏振模色散YD/T 1320-20043.2术语和定义下述术语和定义适用于本标准3.2)波分复用器

7、(MUX)法复用器(DMUX) Optical Wavelength Muldiplexer (MUX) /Demuttiplex (DMUX)WDM器件:一种波长选择性分支器件(用于WDM传输系统)，光信号根据信号的波长在两个预设的端口间传递。波分复用器(MUX)和波分去复用器(DMUX)通常都称作“WDM器件”，因为通常同样器件既可用于复用通道，也可用于去复用通道。波分复用器:具有两个或多个输人端口和一个输出端口的分支器件，每个输人端口的光波长限定在一个预选的波长范围内，输出端口的光是来自输人端口的光的复合，如图la)所示。波分去复用器:一种执行与波分复用器相反运作的器件，输人为由两个或多

8、个波长范围的光构成的光信号，每个端口的输出是不同的预选波长范围的光信号，如图1b)所示。石.舫瓜图1a)波分复用器图1b)去复用器3.2.2密集波分复用器(DWDM) Dense Wavelength Division Multiplexer波长间隔蕊1000GHz的波分复用器为密集波分复用器。目前典型应用的波长间隔为2000Hz,100GHz, 50GHzo3.2.3 T -作波长范围Operation Wavelength Range围绕标称工作波长凡而规定的从A in。到3i-:的波长范围，在这个波长范围内DWDM器件能够按照规定的性能工作。3.2.4中心频喇波长Central Freq

9、uency/WavelengthDWDM器件的中心频率破长是特定通道的标称中心频率/波长，它的定义如图3所示。其中心频率破长系列见附录A、附录Bo3.2.5通道间隔Channel Spacing通道间隔是指相邻通道间标称中心波长/中心频率的间隔。对各种标称中心波长的间隔见1TU-TG.694.1 (2002)建议。通道间隔必须是12.5GHz, 25GHz, 50GHz, 100GHz的整数倍，非均匀间隔也是允许的。3.2.6通带宽度Passband Width通带宽度又称通道带宽，为单个通道的通带宽度。按照ITU-TG.692建议，DWDM器件的通道宽2YD/T 1320-2004度必须大于

10、通道间隔的1/5。其定义如图5所示。3.2.7通道插入损耗(IL) Channel Insertion loss插人损耗是DWDM器件的输出端口和输人端口之间的光功率之比，单位是dB，定义为:IL=一101og (PO/P,)式中:P,一一-是输人到输人端口的光功率;PO是从输出端口接收到的光功率。注:对于WDM器件，它是nXnXk对数转换矩阵的一个元素aiow口这里i是输人端口序数，o是输出端口序数，w是端口i或。相关联的波长序数，n是输人加输出端口的总数，k是对数转矩阵的波长总数。对于DWDM和CWDM器件，它应该被规定为图5所示的通道频率(或波长)范围内最大插人损耗和最小插人损耗口通常取

11、通道内最大插人损耗作为DWDM器件该通道的插人损耗，各通道中最大的插人损耗作为DWDM器件的插入损耗.3.2.8回波损耗(RL) Return loss回波损耗是从DWDM器件的输人端口返回的光功率与输人光功率的比例，单位是dB。定义为:RL=一I0log (P,码)式中:Pi一一是输人到输人端口的光功率:P,是从同一个输人端口接收到的返回光功率。3.2.9偏振相关损耗(PDL) Polarization Dependent loss偏振相关损耗是指对于所有偏振态由于偏振态的变化产生的插人损耗的最大变化值，以dB表示。3.2.10色散(CD) Chromatic Dispersion在通带内，

12、不同群速率信号通过DWDM器件所产生的群时延，单位是ps/nmo3.2.11偏振模色散(PMD) Polarization Mode Dispersion在工作波长范围内，由于通过DWDM器件光信号的两个正交任意偏振态之间所产生的最大群时延差，用PS表示。3.2.12通带平坦度(PF) Passband Flatness通带平坦度也称为通道内起伏，是表征通道平坦度的参数。它是指在通道带宽范围内通道插人损耗的起伏，单位是dB。其定义如图5所示，定义为:PF=IL_-ILo式中:IL-通道通带内最大插入损耗。IL-通道通带内最小插人损耗。3.2.13通道插入损耗均匀性Channel IL Unif

13、ormity通道插人损耗均匀性是指各通道间插人损耗的最大值和最小值的差，用dB表示。3.2.14方向性(DC) Directivity用来衡量器件定向传输特性的参数，也称“近端隔离度”。它是指复用器在正常工作时，其输人一侧非输人光一端的输出光功率与输人光功率(被测波长)的比值，单位是dB。定义为:DCjj=一10logPJ /P; (dB)式中:3YD/7 1320-2004P;为输人光功率，单位mw;乃为输人一侧非输人光端口的输出光功率，单位Mw.3.2.15相邻通道隔离度Adjacent Channel Isolation通道隔离度是DWDM器件的一个关键性指标。相邻通道隔离度是指在某一特

14、定通道上该通道输出光功率对相邻通道输出光功率的抑制比，单位是dB.如图7所示，右相邻通道隔离度为右边相邻子通道内的最小插人损耗与本通道(通道A)在通带内的最大插损之差(即图中“隔离度对B“):左相邻通道隔离度为左边相邻通道通带内的最小插人损耗与本通道在通带内的最大插损之差。相邻通道隔离度为右相邻通道隔离度和左相邻通道隔离度中的最差者。3.2.16非相邻通道隔离度Non-adjacent Channel Isolation非相邻通道隔离度是指某一特定通道上输出光功率对非相邻的其它通道输出光功率的抑制比，用dB表示。一般，非相邻通道的通道间隔是相邻通道间的两倍(或两倍以上)，而非相邻通道隔离度比相

15、邻通道隔离度要高得多。如图7所示的“隔离度对C“，非相邻通道隔离度为所有非相邻通道的通带内的最小插人损耗与本通道在通带内的最大插人损耗之差3.2.17波长热稳定性Wavelength Thermal Stability波长热稳定性是表征DWDM器件通道中心波长在规定的工作温度范围内随温度变化而产生的漂移量/变化量，通常表示为每单位温度()的波长漂移量，即nm/。3.2.18插入损耗热稳定性Insertion Loss Thermal Stability插人损耗热稳定性是表征DWDM器件通道插人损耗在规定的工作范围内随温度变化而产生的变化量，通常表示为每单位温度()的插人损耗变化量，即dB/0C

16、 a技术要求4.1分类按器件的工作机理通常有5类:一-介质膜滤波型:阵列波导光栅(AWG)型;-一一光纤光栅十环形器型;一一衍射光栅型;一一全光纤熔锥型。4.2 DWDM器技术要求a) 2000Hz通道间隔DWDM器件性能参数如表1所示。表1 200G日z通道间隔DWDM器件性能参数参数单位指标通道数4816中心波长nm附录B-0.5dB通带宽度nm)0.5通带平坦度dB;-住5YD/T 1320-2004表1(续)2000Hz通道间隔DWDM器件性能参数参数单位指标通道插人损耗dB2.53.5通道插人损耗均匀性dB1.0相邻通道隔离度JdB325非相邻通道隔离度dB330波长热稳定性nn/C

17、50.(洲2插人损耗热稳定性dB/C簇0.008偏振相关损耗dB 30波长热稳定性nm/0C,0.001插人损耗热稳定性dB/0C蕊0.008偏振相关损耗dBs0.15 40dB ;一最大允许输入光功率:+20dBm .丫D/f 1320-20045.3.5回波损耗测试仪回波损耗测试仪要求如下:-_作波长:1310nm. 1550nm;测试范围:0-75dB;一一测试精度:1 1.OdB(绝对精度)、10.4dB(相对精度)。5.3.6高低温试验箱高低温试验箱要求如下:工作温度范围:-40-+120C;温度波动:士20C ;温度变化率:20C/nun.5.3.7恒温恒湿试验箱恒温恒湿试验箱要求

18、如下:工作温度范围:-40-+1200C ;一一很度波动:士20C;温度变化率:20C/min;高温高湿:700C, 70%RH,95%RH;-一低温低湿:10C , 20%RH,20%RH;-一湿度波动:士1%RH士3%RHo5.3.8振动垂直振动系统要求如下:一一扫频方式:线性或指数;扫频速率:线性。.001一100Hz/s;指数0.001一100oct/min;额定激振力:2940N (300k9f);，一额定空载加速度:980WS2;一一空载频率范围:5 -4000Hz;额定速度:110cm/s;一一最大位移:25nm(峰一峰);连续工作:8h。5.4测f方法5.4.1通道中心波长、波

19、长热稳定性、0.5dB通道宽度测A1)测试原理及系统框图如图2所示。温度试验箱图2通带中心波长、波长热稳定性、通带宽度测试方框图YD/T 1320-20042)测试仪表一一袋品度试验箱;-宽带光源:光谱分析仪3)测试步骤a)如图2所示将器件的公共输人端与宽光源输出端连接。b)将器件的每个输出端分别接入光谱分析仪的输人端测得每个输出端通道中心波长和一O.SdB通带宽度。中心波长A。是以光谱仪扫描波形最高点为顶点向下0.5dB得到的x,和Ax的平均值，如图3所示。表达式为:入。=(汪右+兀左)/2nm-0.5dB通道宽度为:!At,-3s卜nm频率1波长一不-一几一724)l凡瓜犷_麦_图3中心波

20、长a。定义C)将器件放人温度试验箱进行一50C -650C温度循环，每个测试点恒温30min后进行测量，测得各通道的波长热稳定性。波长热稳定性:将器件放人高温试验箱，进行一50C -650C温度循环，将循环中各通道波长的最大变化值除以70，即为该器件的波长热稳定性5.4.2通道插入损耗、插入损耗热稳定性、通带平坦度和通道插入损耗均匀性测f1)测试原理及系统框图如图4所示。ant度试验菊图4通道插入损耗、插入损耗热稳定性、通带平坦度和通道插入损耗均匀性测试框图YDIT 1320-20042)测试仪表一-书孟度试验箱;可调激光器;一一-A功率计。3)测试步骤a)将光源输出端接人功率计，存储光源输人

21、功率为参考功率。b)将器件的公共输人端与光源输出端连接。C将器件的每个输出端分别接人到功率计，使光源输出对应波长的激光，测得每个输出端的插人损耗和通道插人损耗，按定义计算通带平坦度，如图5所示。d)将器件放人温度试验箱进行一5 *C -65 0C温度循环，测得各通道插人损耗，每个测试点恒温30min后进行测量，将循环中各通道插人损耗的最大变化量除以70，即为该器件的通道插人损耗热稳定性。频率尹波长通道最小插人损翼通道最大插入损耗A-:注;通带宽度是以rr0波长为中心左右O.xx nm(对于50GHz O.xx=0.05;对于1000Hz, O.xx=0.10:对于2000Hz,O.xx=0.2

22、5)。通道插人损耗、通带平坦度、通道隔离度等指标均以通带为依据。图5通带宽度、通带插入摄耗、通带平坦度定义5.4.31)相邻通道隔离度和非相邻通道隔离度测t测试原理及系统框图如图6所示图6相邻通道隔离度和非相邻通道隔离度测试框图2)测试仪表可调谐激光器;功率计。YDIT 1320-20043)测试步骤a)将光源输出端接人功率计，存储光源输人功率为参考功率。b)将器件的公共输人端与光源输出端连接。c)将器件的每个输出端分别接人到功率计，使光源输出对应波长的激光，耗，按定义计算出相邻通道隔离度和非相邻通道隔离度，如图7所示。OdB通道A通道s通道c测得每个输出端的插人损频卿波长损隔离度对任武Y#X

23、II一_二_:_二_二竺竺工_:_:_二二兰卜入，卜l通带月一一一一一卡儿和厅通带斗一一一一争为o-1通带呼一一一一一卜图7相邻通道隔离度、非相邻通道隔离度定义示图5.4.4偏振相关损耗测f1)测试原理及系统框图如图S所示。圈8偏振相关损耗测试框2)测试仪表可调谐激光器光源;光功率计;偏振控制器。3)测试步骤a)将光源输出端接人到功率计，存储光源输人功率为参考功率。b)将器件的公共输人端与偏振控制器输出端连接，可调谐激光器输出端与偏振控制器输人端连接。c)将器件的每个输出端分别接人到功率计，使光源输出对应波长的激光，并使偏振控制器随机改变激光的偏振态，测得每个输出端的偏振相关损耗。5.4.5偏

24、振模色散测f偏振模色散测量的基准法为“邦加球法”uYD/T 1320-2004I)测试原理及系统框图测试原理及系统框图见YD/T 1065-2000中的“邦加球法”。2)测试步骤a)按系统图连接好测试系统;b)设置扫描波长为DWDM器件的第一个输出口对应的波长;c)启动测试，并使偏振控制器随机改变激光的偏振态，记录F该端口对应乍波长带宽内最大偏振模色散值。d)重复b), c)步骤，分别设置DWDM器件所对应的波长，记录下所有偏振模色散值，其中最大值为该DWDM器件的偏振模色散指标。注5.4.65.4.6.1I)偏振模色散也可采用其它替代法，如侧量结果有争议时，以邦加球法为基准。回波损耗测t基准

25、法(方向棍合器法)测试原理及系统框图如图9所示。招合器图9回波损耗测试框图2)测试仪表可调谐激光器;一一-50150藕合器;光功率计。3)测试步骤a)测量藕合器端口1到端口2得插人损耗记为IL12,测量祸合器端口2到端口3得插入损耗记为IL23;b)将可调谐激光器调至相应输出波长又，直接接人到光功率计存储光源输人功率为参考功率;c)将藕合器如图9接人光路，激光器接祸合器端口L藕合器端口2接DWDM器件对应波长为A1的端口，其余端口接无回损终端，藕合器端口3接人功率计，测得插人损耗值IL13od)该端口对应亢1的回波损耗值RL由下式计算:RIrIL13-IL12-IL23 (dB)e)重复以上3

26、个步骤b), c), d)，保证每个输人端口均有相应波长的光源输人，测量并计算所有端口所有回波损耗值，则所有回波损耗的最小值即为此器件的回波损耗指标。5.4.6.2替代法产品的出厂常规测量可采用替代法，替代法目前有“回波损耗测量仪直接测量”等方法。具体测量程序见仪表使用说明书。12YD/r 1320-20045.4.7方向性测t测试原理及系统框图如图10所示。图10方向性测试框图2)测试仪表可调谐激光器;光功率计。3)测试步骤a)将光源调至相应输出波长，输出端接人到功率计，存储光源输人功率为参考功率。b)将光源相应波长光输人到对应的DWDM输人端。c)将器件的其他输人端分别接人到功率计，测得每

27、个输人端的相关插人损耗。d)重复以上a), b), c)步骤，使每个输人端口均有相应的光源输人，所记录下的所有插人损耗，其中最小值即为此器件的方向性指标。5.4.8色散测且色散测量按GB/f 15972.4-1998的8 c)微分相移法规定进行，其中试样为DWDM器件。5.5可靠性试验产品可靠性试验包括机械完整性试验和环境温度耐久性试验，按Telcordia GR-1209-CORE (2001)-,GR-1221-CORE(1999)标准规定进行。具体要求如表5所示。表5可靠性试验要求机械完整性试验试验项目名称试验条件试验方法批内允许不合格品率(%)允许样本数(只)允许失效数(只)合格判据(

28、损耗变化量)(dB)机械冲击5次每方向，6个方向(3个坐奄7轴I 5000，脉冲宽变:lmsGR-1221-CORE6.2.1201100.5机械振动20G 20Hz-2000Hz. 4min/每循环，X. Y. Z 3个方向，4循环/每轴向。GR-1221-CORE6.2.220110热冲击o T=100“C (0-+100“C)，转换时间: 1 Os，极限点持续时间:35min, 15次循环。GR-1221-CORE6.2.320110光缆扭曲.涂敷光纤、紧套缓冲光纤1松散缓冲型、加强型光缆:0.45kg, 10个循环GR-1209-CORE5.4.3.220110YDIT 1320-20

29、04表5(续)可靠性试验要求机械J少夕乙整性试验试验项目名称试验条件试验方法批内允许不合格品率(%允许样本数(只)允许失效数(只)合格判据(损耗变化量)(dB)光缆侧拉.涂敷光纤、紧套缓冲光纤0.23kg, 900, 5s. 2个方向。松散缓冲型、加强型光缆:0.45kg, 900, 5sGR-1209-CORE5.43320110蕊05光纤光缆保持力，涂敷光纤、紧套缓冲光纤:0.45kg, 5s 3个轴向。松散缓冲型、加强型光缆:1.Okg 5s, 3个轴向GR-1209-CORE5.4.3.420110环境温度耐久性试验高温贮存(干燥)(85士2)或最大贮存温度，湿度:40%RH, 200

30、0hGR-1221-CORE6.2.420110高温贮存(潮湿)或湿热(非密封)(75士2)/(90%士5%)RH或(85士2)/(85%士5%) RH, 500hGR-1221-CORE6.2.520110低温贮存(-40+5)或最低贮存温度，2000hGR-1221-CORE 6.2.62011温度循环-40一(+7012)，转换时间lmin:极限点持续时间:315min, 100次循环GR-1221-CORE6.2.720110注I:本可靠性试验均取DWDM器件单元组件。注2:从正常生产的产品批中随机抽取22个样品，分成两组，每组Il个，分别进行机械完整性试验和环境温度耐久性试验。每项试

31、验不需进行在线监控，只需进行试验前后插人损耗变化量的观察记录，根据数据判定合格是否。注3:试验项目全部完成后，试验样品的光学性能满足表4中要求为合格，否则为不合格*:250P m尾纤器件不作此3项试验6检验规则DWDM器件由质量检验部门按本标准要求检验合格并发给合格证后方可出厂。6.1检验分类检验分出厂检验和型式检验。6.2出厂检验分为日常检验和抽样检验两种6.2.1日常检验该检验对生产的全部产品进行检验，其检验数据应随同产品提交给用户，DWDM器件日常检验的项目是:插人损耗、相邻通道隔离度、非相邻通道隔离度、中心波长、0.5dB通常宽度、回波损耗和偏振相关损耗。检验方法见本标准5.4中相关测

32、量方法。6.2.2抽样检验由质量部门从一个生产批的产品或几个生产批(这些生产批是在基本相同的材料、工艺、设备等条YD/T 1320-2004件制造)的产品中按一定比例抽取完整的产品或样品进行检验。抽样检验项目试验方法与6.2.1条相同。抽样按GB 2828-1987规定，评定等级IL- 11、允许质量等级AQL-O.1.(表5为型式检验抽样)6.3型式检验DWDM器件有下列情况之一时，进行型式检验，型式检验项目按5章中的测量和可靠性试验项目规定进行。a)新产品或老产品转厂生产的试制定型鉴定;b)正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时;c)正常生产时，24个月后，应周期性进

33、行型式检验;d)产品长期停产后，恢复生产时:e)出厂检验结果与上次型式检验有较大差别时;f)国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。7标识、包装、运输和贮存7.1标识7.1.1产品上应有产品名称、型号规格、编号等标识。7.2包装产品应用内包装，用盒子包装好，包装内应有产品性能性能测试单和品质保证单，包装盒上应标有产品名称、型号规格、生产厂家和执行标准号。7.3运输当产品需要长途运输时，需用木箱或硬纸箱做外包装，在箱上写明不能抛甩、碰、压，应有防雨防潮标志，以免损坏产品。7.4贮存产品应放置在贮存温度范围以内的非暴露环境中。YD/T 1320-2004ITU-T G.694.1表凡1附录A(规范

34、性附录)DWDM栅格标称中心频率DWDM栅格标称中心频率通道间隔近似标称中心波长 (nm)12.5GHz25GHz50GHz1000Hz和以上195.93751530.04195.9250195.925巧30.14195.91251530.24195.9000195.900195.90195.9巧30.33195.8875巧30.43195.8750195.875巧30.53195.86251530.63195.8500195.850195.851530.72195.83751530.82195.8250195.825巧30.92195.8125巧31.02195名刀195.800195.80

35、195名巧31.12195.7875巧31.21195.7750195.775巧31.31195.76251531.41195.7500195.750195.751531.51195.73751531.印195.7250195.725巧31.7019571251531.80195.7000195.700195.7019571531.90195.68751532.00195.6750195.6751532.091956625巧32.1916丫D/T 1320-2004表Al(续)DWDM栅格标称中心频率通道间隔近似标称中心波长 (nm)12.5GHz25GHz50GHz100GHz和以上193.

36、2375巧51.42193.2250193.925巧51.52193.2125巧51.62193.2000193.900193.2019321551.72193.18751551.82193.1750193.2251551.92193.1625巧52.02193.1500193.200193.15巧52.12193.13751552.22193.1250193.1751552.32193.11251552.42193.1000193.100193.10193.1巧52.52193.08751552.62193.0750193.075巧52.73193.0625巧52.83193刀500193.

37、050193.051552.93193.03751553.03193.0250193.0251553.13193.0125巧53.23193.0000193以)193.00193.0巧53.33193.98751553.43193.9750192.975巧53.5319396251553.6317YD(f 1320-2004附录B(规范性附录)ITU-T G.692附录A标称中心频率表B.1给出以193.1THz为参考频率最小波道间隔为1000Hz的标称中心频率。应注意，“c”值(光速度)用作频率和波长间的变换时，其值为2.99792458X 10m/s表B.1标称中心频率/标称中心波长标称中

38、心频率(THz)标称中心波长(nm)标称中心频率(THz)标称中心波长(nm)196.1巧28.77194乃巧45.32196刀巧29.55193.9巧46.12195.9巧30.33193.8巧46.92195名巧31.12193.7巧47.72195.7巧31.90193石1548.51195石巧32.68193.5巧49.32195.5巧33.47193.4巧50.12195.4巧34.25193.3巧50.92195.31535.04193.2巧51.72195.2巧35.82193.11552.52195注巧36.61193刀1553.33195.01537.40192.9巧54.1

39、3194夕巧38.19192.8巧54.94194.8巧38.981927巧55.75194.7巧39.77192.6巧56.55194.61540.56192.5巧57.36194.5巧41.35192.41558.17194.4巧42.14192.3巧58.98194.3巧42.941922巧59.79194.2巧43.73192.11560.61194.11544.53注表末端点值仅作例证，可以预期未来的多波道系统会超出表中所示的频率范围。18丫DIT1320-2004附录C(资料性附录)ITU-T G.692附录A 8/32波道标称中心频率YDN 120-1999推荐的8波道DWDM系

40、统的标称中心频率2标称中心波长见表C.1.裹C.1 8波道标称中心频率2标称中心波长标称中心频率(THz)标称中心波长(nm)193.5巧49.32193.3巧50.92193注巧52.52192.9巧54.13192.71555.75192.5巧57.36192.31558.9819211560.61YDN 120-1999推荐的32波道DWDM系统中心频率/标称中心波长有两种选择方案:一种是连续的频带，见表C.2;另一种是分别在两个频带内分离频带分配，见表C.3a表C.2 32波道连续频带标称中心频喇标称波长序号中心频率(THz)波长(nn)l192.11560.612192.21559.

41、793192.31558.984192.41558.175192.5巧57.366192.6巧56.55719271555.758192.81554.949192.9巧54.1310193刀巧53.3311193.1巧52.52121932巧51.721319331550.9214193.4巧50.1215193.5巧49.3216193.61548.5117193.71547.7219丫Dfr1320-2004表c.2 (续)32波道连续频带标称中心频率r标称波长序号中心频率(THz)波长(nm)18193名巧46.9219193.9巧46.1220194刀巧45.3221194.1巧44.

42、532219421543.7323194.3巧42.9424194.4巧42.1425194.5巧41.3526194石巧40.562719471539.7728194.8巧38.9829194.91538.1930195.01537.4031195.11536.6132195.2巧35.82表C.3 32波道分离频带标称中心频率r标称中心波长序号频带中心频率(THz)波长(nm)192.11560.61192.21559.79192.31558.98192.41558.17192.5巧57.36192.61556.55红19271555.75192名1554.94192.91554.1319

43、3.0155333带193.11552.5210-1119321551.721933巧50.9212一13193.4巧50.12193.5巧49.32193.61548.5114-巧-620YDfr 1320-2004表C.3(续)32波道分离频带标称中心频率尹标称中心波长序号频带中心频率(THz)波长(nm)17蓝带194.5巧41.35194.61540.561819194.71539.7720194.8巧38.9821194.9巧38.1922195刀巧37.4023195.1巧36.6124195.2巧35.8225195.31535.04261954巧34.2527195.5巧33.4728195石巧32.6829195.7巧31.9030195.8巧31.1231195.9巧30.3332196.0巧29.5521