SJ T 10195-1991 中,小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件.pdf

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1、SJ中华人民共和国电子行业标准s,i /,r 10195-10196-91中、小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件和测试方法1991一05-28发布1991一12-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子行业标准中、小规模数字集成电路静态参数测试仪通用技术条件SJ/T 10195一91主题内容与适用范围本标准规定了中、小规模数字集成电路静态参数测试仪(以下简称IC测试仪)的技术要求、试验方法及检验规则等。本标准适用于采用加压测流法和加流测压法测试数字IC静态参数的测试仪器，是IC侧试仪产品设计、生产、使用及制定IC测试仪产品标准的共同技术依据。弓I用标准GB191GB

2、 1002GB 4793GB 6587. 1GB 6587_ 2GB 6587. 3GB 6587.4GB 6587. 5GB 6587.6GB 6587.7GB 6587. 8GB 6592GB 6593GB 6833GB 9813GB 11463GB/T 13166GB 11465SJ/T 10196SJ 946SJ 2259包装储运图示标志单相插头、插座型式基本参数与尺寸电子测量仪器安全要求电子测量仪器环境试验总纲电子测量仪器温度试验电子测量仪器湿度试验电子测量仪器振动试验电子测量仪器冲击试验电子测量仪器运输试验电子测量仪器基本安全试验电子测量仪器电源颇率与电压试验电子测量仪器误差的一般

3、规定电子测量仪器质量检验规则电子测量仪器电磁兼容性试验规范微型数字电子计算机通用技术条件电子测量仪器可靠性试验方法电子测量仪器设计余量与模拟误用试验电子测量仪器热分布图中、小规模数字集成电路静态参数测试仪测试方法。电子测量仪器电气、机械结构基本要求电子测量仪器随机技术文件的编制中华人民共和国机械电子工业部1991-05-28批准1991一12-01实施SJ/T 10195-913术语11静态参数staic parameter静态参数即IC的直流参数。如功耗电流lcc,输入电流l,输出高电平Vox、输出低电平VOL等。3.2驱动电平driving level驱动电平指施加到被测IC非测试管脚的测

4、试条件电平(高电平或低电平)。3.3加压测流voltage force/current measure(VFIM)加压测流是IC静态电流参数的一种测试方法，它是对IC被测管脚施加规定的电压，同时测试该管脚的电流。如功耗电流lcc的测试就是采用加压测流法。3.4加流测压current force/voltage measure(IFVM)加流测压是IC静态电压参数的一种测试方法，它是对IC被测管脚施加规定的电流，同时测试该管脚的电压。如输出高、低电平Vox, VOL的测试就是采用加流测压法。3.5加压源voltage force source加压测流法中产生施加电压的电压源。16加流源curre

5、nt force source加流测压法中产生施加电流的电流源。1 7 IC电源IC Power supplyIC;电源指IC测试仪中提供给被测IC器件的VCC,VDD,VEE电源。产品分类按测试IC类型分类。TTL中、小规模数字集成电路静态参数测试仪;b. ECL中、小规模数字集成电路静态参数测试仪;。，MOs中、小规模数字集成电路静态参数测试仪;d. HTL中、小规模数字集成电路静态参数测试仪;e.中、小规模数字集成电路静态参数测试仪(即测试IC类型多于一种的IC测试仪)。其它方法分类如按其它方法分类应在产品标准中规定。技术要求5. 1测试对象5. 1.1 IC测试仪可测IC的类型如TTL

6、,ECL,MOS,HTL等应在产品标准中规定。5. 1. 2 IC测试仪可测IC的封装形式应在产品标准中规定。5. 1. 3 IC测试仪最大可测管脚数应在产品标准中规定。5.2测试参数IC测试仪可测参数应在产品标准中规定。5. 3主控制器IC测试仪若使用计算机作为主控制器、则应在产品标准中规定:a.计算机类型;一2一Sl/T 10195-91b.使用软件:操作系统、应用软件、测试语言;c.存储器容量;d.配置的接口种类、名称。5.4电压表指标5.4.1电压测量范围、电压量程、分辨力及误差应在产品标准中规定。5.4.2各量程误差应按公式(1)表示:、=+(a%RD+bVFS) .(1)式中RD电

7、压表的读数值;FS电压表量程的满度值;a误差的相对项系数;b误差的固定项系数。5. 5电流表指标5. 5.1电流测量范围、电流量程、分辨力及误差应在产品标准中规定。5. 5.2各量程误差应按公式(2)表示:、一士(a%RD+b%FS) .(2)式中:RD电流表的读数值;FS电流表量程的满度值;a误差的相对项系数;b-误差的固定项系数。5.6加压源5.6. 1额定电压范围、电压分档、分辨力、误差、最大输出电流应在产品标准中规定。5.6.2各档误差应按公式(3)表示:AVF=士(a%SET+b%FS十cIo) (3)式中:SET电压的设定值;F“S各档的满度值;a误差的相对项系数;b误差的固定项系

8、数;c电流项系数;Io加压源的输出电流。5.了加流源5.了.1额定电流范围、电流分档、分辨力、误差及开路电压值应在产品标准中规定。5.7.2各档误差应按公式(4)表示:，=士(a%SET十b纬FS+dVo) (4)式中:SET电压的设定值;F“S各档的满度值;a误差的相对项系数;b误差的固定项系数;一3一SJ/T 10195-91d电压项系数;Va加流源的输出电压。8 IC电源指标在产品标准中应规定:a.电源分组及每组电源额定电压范围;b.每组电源最大额定电流;c.电压分档及分辨力;d.允许误差e. IC电源电压误差按公式(5)表示。As二士(a%SET +b%F式中:SET电压的设定值;F“

9、5各档的满度值;a误差的相对项系数;b误差的固定项系数。f. IC电源测流误差按公式(6)表示:ASP=士(a%SET十b%FS) .(5)5). (6)式中:SET电压的设定值;F5各档的满度值;a误差的相对项系数;b误差的固定项系数。5.9驱动电平电源在产品标准中应规定:a.电源分组及每组电源额定电压范围;b.每组电源最大额定电流;c电压分档及分辨力;d.允许误差;e.驱动电平电源误差按公式(7)表示。A-=士(a %SET+b%FS) (7)式中:SET电压的设定值;F“S各档的满度值;a误差的相对项系数;b-误差的固定项系数。5.10预热时间及消耗功率预热时间及消耗功率应在产品标准中规

10、定。5.11供电电源供电电源应符合GB 6587. 8的有关规定，在产品标准中应给出供电电源种类，额定电压、频率及允许误差。s,l/T 10195-915. 12电源线及电源连接器IC测试仪应使用单相三芯不可重接电源线，接电网端的插头型式应符合GB 1002的要求。5.13外观、结构要求及功能正常性5. 13.1外观要求IC测试仪外观应无锈蚀、裂纹、涂覆层剥落等损伤，文字、标志应清晰，控制机构应灵活，紧固部件无松动，机壳无变形、起泡、开裂，灌注物无溢出现象。5.13.2结构要求IC测试仪的结构要求应符合SJ 946的有关规定，且必须在产品标准中规定下列内容:a.结构形式:便携式、台式、立式等;

11、b.外形尺寸:(IXbXh),mm;c，质量:应给出IC测试仪的质量。5.13.3功能正常性IC测试仪的功能正常性要求，应在产品标准中规定。5.14环境要求5.14.1在产品标准中应标明IC测试仪所属的环境组别，并应符合GB 6587. 1的要求。5.14.2用计算机做主控制器的IC测试仪也应符合GB 9813的要求。5.巧安全要求IC测试仪安全要求应符合GB 4793的规定。5.16基本安全要求IC测试仪属于I类安全仪器，基本安全要求应符合GB 6587. 7的规定。51了可靠性要求IC测试仪的平均无故障工作时间(MTBF)值应在产品标准中规定。518电磁兼容性要求电磁兼容性要求应符合GB

12、6833的规定。5.19热分布要求IC测试仪热分布图应符合GB 11465的规定。5.20设计余量与模拟误用要求IC测试仪的设计余量与模拟误用要求应符合GB 6587. 1及GB/T 13166的规定。仅在产品设计阶段的早期进行试验5.2，其它本标准中未作规定的技术要求可在产品标准中规定。6试验方法6，试验程序与要求6.1.1试验程序环境、机械等试验顺序按GB 6587. 1的规定进行。6.1.2试验要求进行性能特性的检验时，IC测试仪应处于完整状态。在不打开机箱的情况下进行。6.2性能特性测试5一SJ/T 10195-91性能特性的测试应按SJ/T 10196的规定进行。6.3环境试验6.3

13、-1温度试验a按照GB 6587. 2的规定进行温度试验;b.在完成极限条件下限温度试验后，应将电源电压降至198V，电源频率降至47. 5Hz进行电源频率与电压试验;c在完成极限条件上限温度试验后，应将电源电压升至242V，电源频率升至52. 5Hz进行电源频率与电压试验。6. 3.2湿度试验应按照GB 6587. 3的规定进行湿度试验和基本安全试验。6，3-3振动试验应按照GB 6587. 4的规定进行振动试验。6.3-4冲击试验应按照GB 6587.5的规定进行冲击试验。6.3.5运输试验应按照GB 6587. 6的规定进行运输试验.6.3-6基本安全试验应按照GB 6587. 7的规定

14、进行基本安全试验。6.3-7电源频率与电压试验应按照GB 6587. 8的规定进行电源频率与电压试验。64安全试验应按照GB 4793的规定进行安全试验。6.5可靠性试验应按照GB 11463的规定进行可靠性试验。66电磁兼容性试验应按照GB 6587. 1和CUB 6833的规定进行电磁兼容性试验.6了热分布试验应按照GB 11465的规定进行热分布试验6.8设计余量与模拟误用试验应按照GB/T 13166的规定进行设计余量与模拟误用试验。6.9测试项目各项试验过程需测试的性能特性见表1和表2,6.10测试设备产品标准中应提供测试性能特性所需用的设备清单及技术要求，其精度应符合GB 6592

15、的规定。检验规则).检验项目及要求检验项目a. IC测试仪的检验按GB 6593中规定进行;6一SJ/T 10195-91b. IC测试仪的检验项目见表3,7.1.2检验要求IC测试仪带有可更换的插入单元，附加装置时，它们应做为一个整体进行鉴定检验和质量一致性检验。了2检验分类7-2-1鉴定检验鉴定检验通常分为设计定型鉴定检验和生产定型鉴定检验。7-2-2质量一致性检验质量一致性检验是对成批或连续生产的产品进行一系列的检验。质量一致性检验分为A,B,C,D,E,F六组。氏阮A组主要性能特性检验(包括外观、基本安全试验);B组非主要性能特性的检验;C组环境试验(气候和机械)、电源频率与电压试验;

16、D组电磁兼容试验、特殊环境试验;E组可维修性检验;F组可靠性检验。SJ/T 10195-91表1鉴定检验测试的特性指标注:“.”必测项目;“0”选测项目。一8一sJ/T 10195-91表z质量一致性检验测试的特性指标注“.”必测项目;“0”选侧项目。9一SJ厂T10195一91表3检验项目舀口少于万一一检验项目鉴宁粉聆检验方法A组B组c组l1)组E组F组议甘王广1外观检查.一.一i别/丁1o196规定进行2基本安全试验.按GB65s7.7规定进行3安全要求.按GB4793规定进行4主要性能特性按SJ/Tlo196规定进行O非主要性能特性.l6温度试验.按GB6587.2规定进行7一.湿度试验

17、l.按GB6587.3规定进行8振动试验.按GB6587.4规定进行9一冲击试验l.声一一.按GB6587.5规定进行101运输试验i.按GB65s?.6规定进行11电源频率与电压试验.按GB65878规定进行l2电磁兼容性试验.一。0按GB6s33规定进行13特殊环境试验0lO按产品标准或协议进行14可维修性试验O.O待定15可靠性试验.按GBll峨63规定进行16热分布试验.0按GBll465规定进行17设计余量与模拟误用试验.O按GB/T13166规定进行注:“.”必检项目;“0”选检项目。10SJ/T10195一91项目表3中1一5表3中6一11表3中1213表3中14表3中1517表

18、4畏鉴定检验的抽样与合格判据竺生兰粤一_-习合格判据允许1一2个缺陷由15项检验合格品中抽取2台由1一5项检验合格品中抽取2台由15项检验合格品中抽取1台按表3相应标准中的要求抽取符合相应标准要求表5质量一致性检验的抽样与合格判据组别抽样数量抽样要求合格判据A全数全数逐台不合格品数(5B按照GB65”中表3表4抽取A组合格品中按GB6593中要求AQI镇6.5，5一3C按照GB6593中表3表4抽取从A组、B组合格品中l按GB6593中要求AQL提255一1D妻1台E1台Fl按GBll463中5.3条抽取了.3抽样方法、数量与合格判据试验样机的抽样方法、数量与合格判据见表4和表5，并应符合GB

19、6593的规定。7.4检验实施IC测试仪产品的质量检验必须在质量检验部门的组织下进行。8标志、包装、运精、贮存81标志8.1.1产品标志应符合sJ946中有关规定。81.2产品包装箱外表面必须标志以下内容:a.制造厂的名称、商标;b.产品的名称、型号;c.装箱年、月;d.毛重;包装箱外形尺寸;其它符合GB191的有关包装贮运的图示标志。已L8。28.2垫。B.2包装产品装箱前应罩上防尘罩，并用胶带将开品封牢。产品装箱后，应用成型泡沫塑料衬包装箱在2级流通中应能有效地保护产品不受损伤。SJ/e 10195-918. 3运输包装好的产品可以用汽车、火车、飞机、轮船等任何运输工具运输。产品在运输过程

20、中，必须小心轻放，严禁淋雨、强烈日照，并避免倒置和侧放。8.4贮存8.4. 1对仓库的要求存放产品的仓库应保持干燥，无酸、无碱及腐蚀性气体，无强列的机械振动、冲击，无强磁场作用和日光照射，不允许存放在紧靠地面、四壁和屋顶的位置，存放的环境条件要求应在产品标准中规定。8.4.2贮存期限IC测试仪贮存期限超过一年时，一般应从包装箱中取出，通电复检合格后再放到仓库中。9随机文件和备件、附件出厂产品必须具备说明书和装箱单，其编制要求应符合SJ 2259的规定。随产品出厂的备件、附件及工具的种类和数量应详细列于说明书和装箱单内，供用户验收。10保修期产品保修期必须在产品标准中规定.在保修期内凡用户遵守运输、贮存和使用规则.而质量低于产品标准规定的产品，制造厂应负责无偿修复或更换。附加说明:本标准由北京无线电仪器厂负责起草。本标准主要起草人:郑启增、孟庆英、吴政德。