SJ T 10085-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54H74／CT74H74型双上升沿D触发器 .pdf

《SJ T 10085-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54H74／CT74H74型双上升沿D触发器 .pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《SJ T 10085-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54H74／CT74H74型双上升沿D触发器 .pdf（16页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、L -i中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 1004210048-91SJ/T 10078.10086-91电子元器件详细规范半导体集成电路TTL电路(一)1991一04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CT54H74/CT74H74型双上升沿D触发器(有预置端、清除端)SI/T 10085-91Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuitCT54H74/CT74H74 dual D-t

2、ype positive edge-triggred flip-flopwith preset and clear本规范规定了半导体集成电路CT54H74/CT74H74型双上升沿D触发器(有预置端、清除端)质量评定的全部内容。本标准符合GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求.中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施204SJ/T 10085-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成

3、电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 10085-91CT54H74/CT74H74型双上升沿D触发器详细规范订货资料:见本规范第7章。机械说明简要说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:GB 7092D型5.3条及5.3.1条J型5.4条及5.4.1条P型5.5条及5.5.1条F型5.1条及5.1.1条双极型触发器半导体材料:硅封装:空封、非空封逻辑图、功能表:见本规范第11章。品种:引出端排列:IRoID1(PlsQ!Q乙NDv2R,2DZCP2 Sp2OZ0拭0700C (C)一55-1250C (M)陶瓷直插(D)CT54H74MD黑瓷直插Q)CT74H74CJCT

4、54H74MD塑料直插(P)CT74H74CP多层陶瓷扁平(F)CT54H74MF引出端符号名称见本规范11.4条.标志:按GB 4589. 1第2. 5条及本规范第6章。质量评定类别，A,，B，C一205一SJ/T 10085-914极限值(绝对.大颇定值)若无其他规定，适用于全工作温度范围。条款号参致符号数值单位最小最大4.1工作环境温度54T.6一5512507074刁2贮存温度T.恤一651504.3电源电压V+7v4.4输入电压V,5.5v4.5多发射极晶体管输入端间的电压V.5.5v5电工作条件和电特性电特性的检睑要求见本规范第8章。5.1电工作条件若无其他规定，适用于全工作温度范

5、围。条款号参数符号数值单位最小最大5.1.1电源电庄54V+4. 55. 5v4. 755. 25745.1.2输入高电平电压Va2v5.1.3输入低电平电压V,0.8v5.1.4输出高电平电流I.一lmA5.1.5输出低电平电流Io120.A5.1.6脉冲宽度CP=H1w15nsCP=L13.525RD或乳=L5.1.7建立时间D= H-CP个e吕亡L10ns15D= L-C P个5.1.8保持时间名H5n3一206一SJ/T 10085-915-2电特性若无其他规定，适用于全工作温度范围.条款号特性和条件，符号规范值单位试验最小最大5.2.1输出高电平电压V-=最小V,。二2VVu.=0.

6、8V Iox=一1.AVox2.4VA35.2.2输出低电平电压V-=最小V,x=2VVa=MV Io,.=20mAVot0.4VA35.2.3墉入钳位电压V。二最小I,n =-8mAv一1.5VA35.2.4输人高电平电流v。=最大Vm=2.4VD1f50尸AA3150RD100So100CP5.2.5输入低电平电流v。=最大Vu =0.4VDIx一2.AA3一4RD一2蕊-4CP5.2.6最大翰入电压下的输入电流v二二最大V=5.5V1,1.AA35.2.7输出短路电流V-二最大lo,一40一100m人A35.2.8电撅电流V。二最大输出端开路(平均每个触发器)541-21mAA32574

7、5.2.9最高工作频率负=25pF R,-280QT.mb=25C V-=5Vfm.35MHzA45.2.10传输时间CL=25pF Rc=280117.mb=25C Vcc=5VSo-QSo-Qt凡“20nSA4t-一30R.-QR.-QIPLH20t-30CP-Q IIItriHIStPHL一一207一SJ/T 10085-91注:1) Vcc为最小或最大，按本规范第5.1.1条.6标志器件上的标志示例:认证合格标表适用叻引出。尸下卜口一9916侧适甲位商标曰一-州卜CT74H74CP.型号质盆评定类别植胜批识别代码若受器件尺寸限制时，允许将“检验批识别代码”、“质t评定类别”标在器件背面

8、。了订货资料若无其他规定，订晌器件至少需要下列资料:8.产品型号;b.详细规范编号;c.质R评定类别，d.其他。8试验条件和检验要求抽样要求:根据采用的质I评定类别，参照GB/T 12750第9章的有关规定.A组检验的抽样要求分组AQLI类1类ILAQL11AQLAll0.65I0.65A2l0.1I0.1A3I0.15I0.15A3aS41.0S41.0A36S41.0S41.0A4S41.0S41.0208SJ/T 10085-91B组,C组和D组检验的抽样要求分组LTYU百类I类人BCB115151515C120202020C2b15151515C31515几515B4 C4101010

9、10B5 CS10101010C620202020C715151515BS CS105710C9155715Cll20202020B2120101015C2320 I1520C242010-一，1520O8105710A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6.6条)检验或试验引用标准条件若无其他规定，Temb= 25 L(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值Al分组外部目检GB 4589. 1,第4.2.1.1条标志清晰，表面无损伤和气孔A2分组25下的功能验证按本规范5. 2. 1条,5.2.2条和11. 3条按本规范5. 2.1条、5. 2.2条和11.

10、 3条A3分组25下的静态特性G13 3439半导体集成电路TT1，电路测试方法的基本原理按本规范5. 2. 1条至5.2.8条和10.1条按本规范5. 2. 1条至5.2.8条209一SJ/T 10085-91A组逐批(续)检脸或试验引用标准条件若无其他规定，T.b=25 C(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值A3a分组最高工作温度下的静态特性GB 3439T.-b按本规范4.1条规定的最大值。条件同A3分组同A3分组A3b分组最低工作温度下的静态特性GB 3439T.b按本规范4.1条规定的最小值.条件:同A3分组同A3分组A4分组25下的动态特性GB 3439按本规范5.2.

11、9条和5. 2. 10条按本规范5.2. 9条和5.2.10条B组逐批标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6. 6条)条件检验或试验引用标准若无其他规定.7.mb=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值Bl分组尺寸GB 4589. 1,4.2.2条及附录B按本规范第1章B4分组可焊性GB 4590半导体集成电路机械和气候试验方法2.5条按方法b(槽焊法)按2.5.6条B5分组温度快速变化a.空封器件随后进行:电测t密封:细检漏GB 4590,3. 1条GB 4590,3. 11条或3.12条温度按本规范第4. 2条规定循环次数:10次t一5min同A2、

12、人3分组恢复21,按规定同A2,A3分组粗检漏b.非空封和环氧封的空封器件随后进行:外部目检稳态湿热GB 4590,3.13条按规定GB 4590,3. 1条GB 4589. 1,4.2. 1. 1条GB 4590,3.7条温度按本规范第4. 2条规定循环次数:10次=5min按规定严格度A时间24h同A2,A3分组同A1分组电侧t同A2,A3分组210s,1 /T 10085- 91B组一一逐批(续)检验或试验引用标准B8分组电耐久性(168h)最后侧t(同A2,A3和A4分组)GB 4590,4.7条条件【若无其他规定，了amb一“5 *C一M GB 4589. 1 T, 4. 1 5&

13、)7r-按本规范咭条规定的最大值，其他按本规范10.3条检验要求规范值同A2,A3和A4分组同A2,A3和A4分组B21分组高压熬汽(D)(非空封器件)最后测t(同A2和人3分组)GB 4590,4-5条时间:24h同A2和A3分组CRRL分组就B4,B5,B8和B21分组提供计数检查结果.C组周期标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6. 6条)检验或试验引用标准条件若无其他规定，lamb=25r(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值C1分组尺寸GB 4589.1,4.2.2条及附录B按本规范第1章C2b分组最高和最低工作温度下的动态特性GB 3439温度按本规

14、范第4.1条同A4分组规范值为A4分组最大值的1.5倍，最小值的0.8倍C3分组引线强度拉力(D)弯A (D)GB 4590.2.1条GB 4590， 2. 2条外加力的值按2.1条表1外加力的值按2. 2条表2按2.1.5条无损伤C4分组耐焊接热(D最后测t(同A3分组)GB 4590,2.6条按方法1(260C榴焊)同A3分组同人3分组一211一SJ/T 10085-91C组周期(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定，Tev,b= 25C(见GB 4589. 1第，条一检验要求规范值C5分组”温度快速变化(D)(非空封和环氧封的空封器件)随后进行外部目检椒态湿热电侧t(同A3分组)GB

15、4590,3.1条GB 4589.1.4.2. 1.1条GB 4590,3.7条TA=一65C了e= 150C循环次数500 t -5nun严格度A时间:2411同A3分组同A1分组同A3分组C6分组曰稳态加速度(D)(空封器件)最后测t(同A3分组)GB 4590,2. 10条加速度:按规定同A3分组同A3分组C7分组稼态湿热(D)z空封器件b.非空封器件最后测t(同A2,A3分组)GB 4590,3.6条GB 4590,3.7条严格度D: 56d严格度A，时间10001 j一同A2,A3分组C8分组电耐久性(10001)最后测盆(同B8分组)GB 4590,4.7条同B8分组同B8分组同B

16、8分组C9分组高温贮存最后测t(同B8分组)GB 4590,3. 3条温度按7s,8 (mxx )时间:10001,同118分组同B“分组Cil分组标志耐久性GB 4590,4.3条按方法2,溶液:A型 按GB 4590,4.3.2条一C23分组抗溶性(D)(非空封器件)GB 4590,4.4条按GB 4590,4. 4. 2条按GB 4590,4.4.2条一212一sJ/r 10085-91C组一一周期(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定，7amb=2SC(见GB 4589. 1第4. 1条)检验要求规范值C24分组易燃性(D)(非空封器件)GB 4590,4.1条按GB 4590,4.

17、1. 2条按GB 4590,4.1.2条CRRL分组就C26,C3,C4,C5,C6,C7,C8,C9,C11,C23和C24分组提供计数检查结果.注l)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次.9 D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行，其后每年进行一次。1条件检验或试验引用标准若无其他规定，7.b=25(见GB 4589. 1第4. 1条)检验要求规范值D8分组电耐久性(D)GB 4590第4. 7条最后测量(同B8分组)0类200011夏类:30001,其他同B8分组同BS分组同B8分组附加资料1静态特性的测量静态特性的测量按GB2动态特性的测量2. 1动态特性的侧量按2.2负载线路nU卜

18、日月.卫月.3439半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理。GB 34390101010咋2804接被汉1输出端250F213sJ/T 10085-9110.3电耐久性试验线路Vm=3V f,=l00kHz几=50kHz Vcc=5V R=280524.5Vf,f,45V11型号说明11.1逻辑符号214sJ/T 10085-9111-2逻辑图(112)11.3功能表翰入蕊R CP DQOL H X XHLH L X X1, HL L X XHH，H H个HH LH H个L1H个、IQ。Qo注:1)当乳_获。同时回复到H状态时，输出不确定，215sJ/T 10085-9111.4引出端符号

19、名称引出端符号1CY_2CY1D_2D1Q,2Q.1Q,2QIk-12获n1氏,2S.名称时钟输入端数据输入端输出端直接复位端(低电平有效)直接置位端(低电平有效)一216一SJ/T 10085-91附录A筛选(补充件)I类器件:生产厂自行规定筛选条件。，类器件:筛选项目和条件如下:等级A等级B等级C内部目检GB 459046条高温稳定GB 45903.3条，150C、 96h温度快速变化GB 4590 3. 1条，一65-150C .10次稳态加速度，GB 45902.10条密封，GB 45903.12条和3.13条老化前电测量同A3分组剔除不合格品老化GB 459047条，T,m6最大、2

20、40h老化后电测量同A3分组，易9除不合格品.若不合格品率大于5%，则该批拒收.内部目检GB 45904.6条高温稳定GB 45903.3条，150C , 48h温度快速变化GB 4590 3.1条，一65.150C 110次稳态加速度”GB 45902.10条密封，GB 45903.12条和3.13条老化前电测量同A3分组易叮除不合格品老化GB 45904.7条，T,mn最大、168h老化后电测量同A3分组，剔除不合格品.若不合格品率大于5%.则该批拒收。注:1)不适用于非空封器件。217SJ/T 10085-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由北京八七八厂负责起草。218