SJ T 10083-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路,CT54161／CT74161型4 位二进制同步计数器 .pdf

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1、L -i中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 1004210048-91SJ/T 10078.10086-91电子元器件详细规范半导体集成电路TTL电路(一)1991一04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CT54161 /CT74161型4位二进制同步计数器(异步清除)SJ/T 10083-91Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuitCT54161/CT74161 4-bit syn

2、chronous binary counter (direct clear)本规范规定了半导体集成电路CT54161 /CT74161型4位二进制同步计数器(异步清除)质量评定的全部内容.本标准符合GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T 12750(半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施175SJ/T 10083-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T

3、10083-91CT54161/CT74161型4位二进制同步计数器详细规范订货资料:见本规范第7章。机械说明简要说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:GB 7092D型5.3条及5.3.1条J型5.4条及5.4.1条P型5.5条及5. 5.1条F型5.1条及5.1.1条双极型计数器半导体材料:硅封装:空封、非空封逻辑图、功能表见本规范第11章。品种:引出端排列:拭0-70C (C)一55-125C (M)陶瓷直插(D)CT54161MD黑瓷直插(J)CT74161CJCT54161MJ塑料直插(P)CT74161CP多层陶瓷扁平(F)CT54161MFCT,G NDVC

4、0QaQIQ2QJCTTLDcRcP饥DI叭仇引出端符号名称见本规范11.5条。标志:按GB 4589. 1第2.5条及本规范第6章。质里评定类别.I A,.B, I C一176一5,1/T 1008391极限值(绝对最大额定值)若无其他规定，适用于全工作温度范围。条款号参数一符号数值单位最小最大4.1工作环境温度547.b一55125740704.2贮存温度T.啥一651504.3电源电压uc7v4.4输入电压v,5，5v4.5多发射极晶体管输入端间的电压VI15. 5V5电工作条件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。电工作条件若无其他规定，适用于全工作温度范围.条款号参数符号数值单位最

5、小最大5.1.1电源电压54v.4. 55.5V4.755. 25745.1.2输入高电平电压V.2v5.1.3输入低电平电压v0.8V5.1.4输出高电平电流lox一800尸A5.1.5输出低电平电流Ion16mA5.1.6脉冲宽度CPt.25nS20CR5.1.7建立时间CT, CT,tai,20ns20uLn255.1.8保持时间Dt“0ns5.2电特性若无其他规定。适用于全工作温度范围.177SJ/T 10083-91条欲号特性和条件们符号规范值单位试验最小最大5.2.1输出高电平电压V,=最小v，二2VVa=0.8V lax-一8OOpAV ox2.4vA35.2.2输出低电平电压V

6、+=最小V,x=2VVm=0.8V Io,.=16mAVoL0.4v人35.2.3输入钳位电压Vcc=最小1;二一12mAVIK一15VA35.2.4输入高电平电流v c(=最大V二2.4VCY CT -rI.80产AA340其他输人5.2.5输入低电平电流Vc。二最大V,=0.4VCY CT,1一3.2.AA3其他输入一1.65.2.6最大输入电压下的输入电流Vcc最大叭=5.5V1,1.AA35.2.7输出短路电流V+=最大54los一20一57mAA3t一18一57745.2.8电源电流V-二最大输出端开路其他输入端接地5411 CH85mAA3947454入以91101745.2.9最

7、高工作频率Ci=15pF R-4000V-二5V Tamb=25Cfm.25MHzA45.2.10传输时间Cc=15pF R,.=400日7:mb=25C Vcc=5VCY-CO斤,日35A4介H135CY-Q(LD=H)tr,.H20I,-23CF-Q(LD=1.)幻.IH25nS幻、川29CI,-COtr,.n:】1sCR-Qt.-38flS注:1) Vca为最小或最大，按本规范第5.1.1条.一178一S,/T 10083-91标志器件上的标志示例:“适时异犷口gldS9M1i9一厂七一口。拓制造单位商标-一一一-弓-CT74161 CP口_型号质盘评定努明往脸批R剧代码若受器件尺寸限制

8、时，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。订货资料若无其他规定，订购器件至少需要下列资料a.产品型号;b.详细规范编号;c.质量评定类别;d.其他。试验条件和检验要求抽样要求:根据采用的质童评定类别，参照GB/T 1275。第9章的有关规定。A组检验的抽样要求分组AQLn类，类11AQI11.AQ1.A1砚.I0.65皿0. 65A2互0.1U0. 1A300. 1500. 15A3.S41.0S41.0A3bS41-0S41.0A4S41.0S41.0179SJ/T 10083-91B组、C组和D组检验的抽样要求分组LTPDl类，类ABCB1151515ISC1202020

9、20C2b15151515C315151515B4 C410101010B5 CS10101010C620202020C715151515B8 CS105710C9155715C1120202020B2120101015C2320101520C2420101520D8105710一180SJ/T 10083-91A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其他规定，T.b=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值Al分组外部目检GB 4589. 1,第4.2.1.1条标志清晰，表面无损伤和气孔A2分组25下的功能验证按本规范5

10、.2.1条、5.2.2条和11.3条按本规范5.2.1条、5.2.2条和11.3条A3分组25下的静态特性GB 3439半导体集成电路TTL电路测试方法的荃本原理按本规范5.2.1条至5.2.8条和10.1条按本规范5. 21条至5.2.8条Ma分组最高工作温度下的静态特性GB 3439T.mb按本规范4.1条规定的最大值。条件:同A3分组同A3分组A36分组最低工作温度下的静态特性CB3439T.mb按本规范4. 1条规定的最小值。条件同A3分组同A3分组A4分组25下的动态特性GB 3439按本规范5. 2. 9条和5.2.10条按本规范5.2. 9条和5.2.10条B组逐批标有(D)的试

11、验是破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6.6条)检脸或试脸引用标准条4若无其他规定，T,mb= 25 C(见GB 4589.1第4.1条)检脸要求规范值B1分组尺寸GB 4589. 1.4.2.2条及附录B按本规范第1章B4分组可焊性GB 4590半导体集成电路抓械和气候试验方法2. 5条按方法b(槽焊法)按2.5.6条181Sd/T 10083-91B组逐批(续)非空封和环氧封的空封器件循环次数:10次A =5min随后进行外部目检稳态湿热GB 4589.1,4. Z. 1. 1条按规定同AI分组GB 4590,3.7条电测t严格度A时间:241,同A2,A3分组同A2,A3分组B8分

12、组电耐久性(16811)最后测t(同A2,A3和A4分组)GB 4590,4?条Y-b按本规范4. 1条规定的.大值，其他按本规范10.3条同AZ,A3和A4分组同A2,A3和A4分组B21分组高压燕汽(D)(非空封器件)最后测t(同A2和A3分组)GB 4590,4.5条严格度C时间2411同A2和A3分组同A2和A3分组CRRL分组就B4,B5,B8和B21分组提供计数检查结果。182SJ /T 10083-91C组周期标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其他规定，Tamb=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值C1

13、分组尺寸GB 4589.1,4.2.2条及附录B按本规范第1章C2b分组最高和最低工作温度下的动态特性GB 3439温度按本规范第4.1条同A4分组规范值为A4分组最大值的1.5倍，最小值的0.8倍C3分组引线强度拉力(D弯曲(DGB 4590，2.1条GB 4590，2. 2条外加力的值按2.1条表1外加力的值按2. 2条表2按2.1.5条无损伤C4分组耐焊接热(D)最后测t(同A3分组)GB 4590,2.6条按方法1(260C槽焊)同A3分组同A3分组C5分组”温度快速变化(D)(非空封和环氧封的空封器件)随后进行外部目检稳态湿热电测t(同A3分组)GB 4590,3.1条GB 4589

14、.1,4.2.1.1条GB 4590,3.7条TA=一65C T.= 150C循环次数500 1, = 5min严格度A时间:241,同A3分组同A1分组同A3分组C6分组，患态加速度(D)(空封器件)最后测t(同A3分组)GB 4590.2. 10条加速度按规定同A3分组同A3分组183s,t/T 10083-91C组周期(续)检脸或试验引用标准条件若无其他规定.T.mb=25 IC(见GB 4589.1第4. 1条)检验要求规范值C7分组称态湿热(D)e.空封器件b.非空封器件最后测t(同A2,A3分组)GB 4590,3.6条GB 4590,3.7条严格度D, 56d严格度A.时间.10

15、001,同A2,A3分组同A2,A3分组C8分组电耐久性(10001,).后侧t(同B8分组)GB 4590,4.7条同B8分组同B8分组同BS分组C9分组商温贮存最后侧t(同B8分组)GB 4590,3.3条温度按7;, (-x)时间:10001,同B8分组同B8分组Cll分组标志耐久性GB 4590,4.3条按方法2，溶液A型按GB 4590,4. 3. 2条C23分组抗溶性(D)(非空封器件)GB 4590,4.4条按GB 4590,4.4.2条按GB 4590.4.4.2条C24分组易撼性(D)(非空封器件)GB 4590,4. 1条按GB 4590,4.1. 2条按GB 4590.

16、4. 1. 2条CRRL分组就C2b,C3,C4,CS,C6,C7,C8,C9,C11,C23和C24分组提供计数检查结果。注:1)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次.9 n组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进行.其后每年进行一次。184sJ/T 10083-91检验或试脸引用标准条件若无其他规定，T,mt= 25C(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值D8分组电耐久性(D)最后测t(同B8分组)GB 4590第4. 7条，类20001,，类30001,其他同B8分组同BB分组同B8分组10附加资料10.1静态特性的测量静态特性的测量按GB 3439C半导体集成电路TTL电路测试方

17、法的基本原理。10.2动态特性的测量10-2.1动态特性的测量按GB 3439,10.2.2负载线路ve。40051接桩侧输出端185sJ/T 10083-9110.3电耐久性试验线路Vm=3V fa=l00kHz f,=50kHz九=25kHz fa=12. SkH. Vcc=5V R=400531补1，型号说明11门逻辑符号CR(1)LDICT*(1151C0门曰一QQQDalD,(D,是D,(6 )(11)Q3186SJ/T 10083-9111.2逻辑图11.3功能表输CR LDU1r CTr CY Da D, D, 1),Qo QL Ld, d,数持持LdJLdo计保保X击太KX山X

18、XXdJKXX氏XXxxXXHXXXHXLHHLHHHH H x L x x x X入187S1/T 10083-91一1.一1.1-一-一-一-一-一-一-一一-一-一-一一一-一-一-一一.一.-:.一井0，DOQcTQOQI仇仇cO11.411.5波形图D,CPCT,清除置致引出端符号名称引出端符号 名称进位输出端coCP时钟输入端(上升沿有效)CR异步清除输入端(低电平有效)Crr一计数控制端一计数控制端0o-D,;卞行数据输入端QoyQ,输出端188SJ/T 10083- 91附录A筛选(补充件)I类器件:生产厂自行规定筛选条件。，类器件:筛选项目和条件如下:等级A等级B等级C内部G

19、B 45904.6条目一高温稳定GB 45903.3条，1SOC、 96h温度快速变化3.1条，,10次称态加速度，GB 45902.10条奋一哥下万一-一一一不一石舀不x.一一一门牛州10 tx-150C,bOz10密GB 45903.12条和封3.13条密封，GB 45903.12条和3.13条量老了老化前电测量同A3分组别除不合格品.240h老化后电测量同A3分组，月If除不合格品。若不合格品率大于5%，则该批拒收.展一r F $, i0i IR一一I同A3分组.一剔除不合格品.一若不合格品率大于15%，则该批拒收.注:1)不适用于非空封器件.189s,J/T 10083-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由北京八七八厂负责起草。本标准主要起草人:孙人杰.190