SJ T 10081-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54153／CT74153型双4选1数据选择器.pdf

《SJ T 10081-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54153／CT74153型双4选1数据选择器.pdf》由会员分享，可在线阅读，更多相关《SJ T 10081-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CT54153／CT74153型双4选1数据选择器.pdf（15页珍藏版）》请在麦多课文档分享上搜索。

1、L -i中华人民共和国电子工业行业标准SJ/T 1004210048-91SJ/T 10078.10086-91电子元器件详细规范半导体集成电路TTL电路(一)1991一04-08发布1991一07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CT54153/CT74153型双4选1数据选择器S!/T 10081-91Detail specification for electronic componentsSemiconductor integrated circuitCT54153/CT74153 dual 4-line to 1-

2、line data selectors本规范规定了半导体集成电路CT54153/CT74153型双4选1数据选择器质量评定的全部内容。本标准符合GB 4589. 1N半导体器件分立器件和集成电路总规范和GB/T工2750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施146sJ/T 10081-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB 4589. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 10081-91CT54153/CT74153型双4选1

3、数据选择器详细规范订货资料:见本规范第7章。1机械说明外形依据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:GB 7092DM 5.3*J 5.3.1sJIM 5.45.4.1PM9 5.5*A5.5.1F IM 5.1-j4R)5.1.1引出端排列:1听乙，代 YCcI ST，亡250 2 STID.“314 n4_ID,UJ2D,ID亡5门2D,ID.a门2DlY广7Inn2D7GNDU8 9J2Y引出端符号名称见本规范11. 4条。标志:按GB 4589. 1第2. 5条及本规范第6章。2简要说明双极型选择器半导体材料:硅封装:空封、非空封逻辑图、功能表见本规范第11章。品种了0-70

4、C (C)一55 125 (M)陶瓷直插(D)CT54153MD黑瓷直插(J)CT74153CJCT54153MJ塑料直擂(P)CT74153CP曰I Iti21_23 14q13512f II71nIa s多层陶瓷扁平(F)CT54153MF3质量评定类别.，i A.，B.，C147SJ/T 10081-914极限值(绝对最大额定值)若无其他规定，适用于全工作温度范围。条款号参数符号数值单位!最小最大4.1工作环境温度54Tamb一55125070744.2贮存温度了、1.一651504.3电源电压Vcc7v4.4输入电压V,5. 5v4.5多发射极晶体管输入端司的电压Vn515v5电工作条

5、件和电特性电特性的检验要求见本规范第8章。5.1电工作条件若无其他规定，适用于全工作温度范围。条款号参数符号数值一一单位v一一vv最小最t,习几丁5一州4.55.1.1电源电压54V1174一，4. 75 ,2325I一一一一_。一司5.1.2输入高电平电压V, I5.1.3输人低电平电压 v了。H5.1.4输出高电平电流一二。00刃尸A5.1.5输出低电平电流log- 16mA5.2电特性若无其他规定，适用于全工作温度范围。规范值全整竺一赢4tlRf+0T CE 一少 A d,万:_Er f:.l犷川全_一Z. 4一一土_试验一一A3二_148SJ/T10081一91续表条款号特性和条件)一

6、符号规范值一位试验最小最大5.2.2输出低电平电压V。=最小叭1!ZVVu=0.8V1(以=飞6mA!V)一一VA35.2，3输入钳位电压Vcc=最小JI、二一12mAt_Vl一1.5VA35.2.4输入高电平电流VI.=聂士V川=2.4V11日40科AA352.5输入低电平电流V二摄士V，=0Vltl一16mAA35.2.6最大输入电压下的输入电流，产_击昌4户、产_:丫尹八1mAA352.7r(月兀尸、r【JJ，输出短路电流V.=荟十万歹!的m人A3群5.2.8电谋电流Vc。=最大输出端开路其他输入端接二1(10蓄mAA374Rn地传输时间C走公15PFR去今4O0n了邢山=25V以=SV

7、l-1)Yn吕tl性_卜l8AYtJ，Hl23自，tH34八H上341。一30注1)v。为最小或最大，按本规范第弓1.1条。6标志器件上的标志示例认证合格标淑适用时口弓。出。习甘二口CT74153CP89】6一型号质州平定获资业制造单位商标检验批识别代码149SJ/e 10081一91若受器件尺寸限制时，允许将“检验批识别代码”、“质量评定类别”标在器件背面。7订货资料若无其他规定，订购器件至少需要下列资料:a.产品型号;b.详细规范编号;c.质量评定类别;d.其他。8试验条件和检验要求抽样要求:根据采用的质量评定类别，参照GB/T 12750第9章的有关规定。A组检验的抽样要求分组AQL“类

8、I类ILAQL1I.AQIA1亚0.65狂065A2百0.1习0.1A3刃0. 15刃0. 15A3aS41.0541.0人3bS41.0S41.0A4S41.0S41.0B组、C组和D组检验的抽样要求分组l: IPU.类，类ABCBI15151515C120202020C2b15151515C315l51515B4 C410101010B5 C510101010CG20202020C715151515B8 C810口710C9155715150一SJ/T 10081-91续表分组LTYUA类.类ABCC1120202020B21201O1015C2320101520C2420101520D8

9、105710A组逐批全部试验均为非破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6. 6条)检验或试验引用标准条件若无其他规定，7-b= 25 C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值A1分组外部目检GB 4589. 1.4.2.1.1条标志清晰，表面无损伤和气孔A2分组25下的功能验证按本规范5. 2. 1条,5.2.2条和11. 3条按本规范5. 2.1条、5. 2. 2条和11.3条A3分组25下的静态特性GB 3439半导体集成电路Tri，电路测试方法的基本原理l按本规范5. 2. 1条至5. 2. 8条和10. 1条按本规范5. 2. 1条至5.2.8条A3u分组最高工作温度下

10、的静态特性T b按本规范4. 1条规定的最大值。条件:同A3分组同A3分组同A3分组A3b分组最低工作温度下的静态特性G13 3439T.mb按本规范4. 1条规定的最小值.条件:同A3分组A4分组25下的动态特性GB3439按本规范5.29条按本规范5.2.9条151s.J/r 10081-91B组逐批标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6. 6条)检验或试验引用标准条件若无其他规定7;.,b= 25C,(见GB 4589. 1第4. 1条)检验要求规范值Bl分组尺寸GB 4589. 1,4.2.2条及附录B按本规范第1章B4分组可焊性GB 4590半导体集成电路机械和

11、气候试验方法2.5条按方法b(槽焊法)按25.6条BS分组温度快速变化a.空封器件随后进行:电测量密封细检漏粗检漏b.非空封和环氧封的空封器件随后进行:外部目检稳态湿热电测量GB 4590,3. 1条GB 4590,3. 11条或3.12条GB 4590,3. 13条GB 4590,3.1条GB 4589.1.4. 2. 1. 1条GB 4590,3.7条温度按本规范4. 2条规定循环次数10次t二5mm同A2,A3分组恢复211按规定按规定温度按本规范第42条规定循环次数:10次h = 5mm按规定严格度A时I旬:2411同A2,A3分组同A2,A3分组同A1分组同A2,A3分组B8分组电耐

12、久性(16811)最后测量(同A2,A3和*;31t。一lGB 4590.4. 7 3Jc一一厂一一一7S,b按本规范4. 1条规定的最一大值。其他按本规范10. 3条一A A-, A3。A4 5?41同A2, A3和A4分组最后测盆(同A2和A3分组)同A2 ,A A3分组同A2和A3分组CRRL分组就134.135,138和1321分组提供汁数检查结果152一SJ/T 10081-91C组周期标有(D)的试验是破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其他规定，T,mb=250(见GB 4589. 1第4. 1条)检验要求规范值C1分组尺寸GB 4589.

13、1,4.2.2条及附录B按本规范第1章C2b分组最高和最低工作温度下的动态特性GB 3439温度按本规范4.1条同A4分组规范值为A4分组最大值的1. 5倍，最小值的0.8倍C3分组引线强度拉力(D)弯曲(D)GB 4590,2. 1条GB 4590,2.2条外加力的值按2.1条表外加力的值按2. 2条表按2.1.5条无损伤一卡一C4分组耐焊接热(D)最后测t(同A3分组)GB 4590,2. 6条按方法1(2600槽焊)同A3分组CS分组，温度快速变化(D)斗n!.一S1GB 4590,3.1条l认=一650 7x=150C循环次数:500 q=5nun(非空封和环氧封的空封器件)同AI分组

14、严格度A时1旬:246同A3分组同A3分组加速度:按规定同A3分组同A3分组153sJ/T 10081-91C组周期(续)检验或试验引用标准条件若无其他规定Tomb= 25 0C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值C7分组稳态湿热(D)空封器件b非空封器件最后测盆(同A2,A3分组)GB 4590,3.6条GB 4590,3.7条严格度D:56d严格度A，时IM 10001,同A2,A3分组同A2,A3分组C8分组电耐久性(10006)最后测t(同B8分组)GB 4590.4. 7条一同BS分组同B8分组同B8分组C9分组高温贮存最后测量(F1 B8分组，GB 4590,3.3条

15、一一一温度按7.,砂max)时间10001,同BS分组同B8分组Cll分组标志耐久性GB 4590,4.3条按方法2，溶液:A型按GB 4590,4.3.2条C23分组抗溶性(D)(非空封器件)GB 4590,4.4条按GB 4590,4.4.2条按GB 4590,4.4.2条C24分组易嫩性(D)(非空封器件)GB 4590.4.1条按GB 4590.4. 1. 2条按GB 4590,4.1. 2条CRRL分组就C2b,C3,C4,CS,CG,C7,C8,C9,C11,C23,和C24分组提供计数俭查结果。注1)连续三次通过后，周期可放宽为一年一次.9 D组D组检验应在鉴定批准之后立即开始进

16、行，其后每年进行一次。154SJ %T 10081-91检验或试验引用标准检验要求规范值D8分组电耐久性(D)条件若无其他规定，了，一、一25一(见GB 4589. 1第4. 1条)1-一下-GB 4590第4. 7条最后测t(同B8分组)u类200011，类300011其他同B8分组同BS分组同B8分组附加资料1静态特性的测量静态特性的测量按GB 3439半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理2动态特性的测量2.1动态特性的测量按GB 34392.2负载线路1010101010VII4000接被测输出端10.3电耐久性试验线路V.=3V fo=l00kHz f二50kHz f,=25kH

17、z f,二12. 5kllz V,= 5V 2=4008155SJ/T 10081一91万vu万v1,11型号说明11.1逻辑符号156SJ/T 10081-9111.2逻辑图11.3功能表LH只X人养XXLHLLLL114引出端符号名称引出端符号名称In。一11J, . 2IX- 21) _土_AA,数据输入端选择输入端1 ST.2 STIY.2Y七_一一选通输入端(低电平省效)数据输出端一157一s,l/T 10081-91附录A筛选(补充件)1类器件生产厂自行规定筛选条件。，类器件筛选项目和条件如下:等级A等级B等级C一内部目检!G廿45904.6条高温稳定GB 45903.3条，150

18、C .961,温度快速变化GB 4590 3. 1条一65.150C10次稳态加速度”GB 45902.10条密封，GB 45903.12条和3. 13条老化前电测量同A3分组易叮除不合格品老化GB 4590峨.7条Temb最大、2401,老化后电测量同A3分组，剧除不合格品。若不合格品率大于5%.则该批拒收.注1)不适用于非空封器件.内部目检GB 45904.6条高温稳定GB 45903.3条，150C , 481,温度快速变化GB 4590 3.1条一65-150C10次稳态加速度”GB 45902.10条密封，GB 45903.12条和3.13条老化前电测量同A3分组剔除不合格品老化GB 45904.7条Temb最大、16811老化后电测t同A3分组，剧除不合格品。若不合格品率大于5环，则该批拒收.158SJ/T 10081-91附加说明:本标准由全国集成电路标准化分技术委员会提出。本标准由北京八七八厂负责起草。本标准主要起草人:孙人杰。i59