SJ 10257-1991 电子元器件详细规范 半导体集成电路CD3220CP型带ALC双前置放大器.PDF
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1、SJ中华人民共和国电子工业行业标准sJ/T 1025710261-91sJ /T 10263.10265-91电子元器件详细规范半导体集成电路音响电路(一)1991一们一12发布1992-01-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范半导体集成电路CD3220CP型带ALC双前置放大器Detail specification for electronic componentSemiconductor integrated circuit-type CD3220CP dualpreamplifier with ALCSd/T 10257-91本规范
2、规定了半导体集成电路音响电路CD3220CP型带ALC双前置放大器质量评定的全部内容。本规范符合GB 4559. 1半导体器件分立器件和集成电路总规范及GB/T 12750半导体集成电路分规范(不包括混合电路)的要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-11-12批准1992;01-01实施一1一SJ/T 10257-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的依据:GB 4589.1半导体器件分立器件和集成电路总规范及GB/T 12750半导体架成电路分规范(不包括混合电路)SJ/T 10257-91CD3220CP型带ALC双前置放大器详细规范订货资料:见本规范第7章。1机械说明外形依
3、据:GB 7092半导体集成电路外形尺寸。外形图:按GB 7092第5. 5.1条P14S3.引出端排列:(:ND门下人厂干,、OUT上_2 131 120UTICOMP LJ 3 12一2COMPIIN_匕4 11门21N_IIN,乞_5 10121N.IOUT.-“,.人川cLweoU万02UT.-IN-匕78Dc引出端符号名称:见本规范第11章。标志:按GB 4589. 1第2.5条及本规范第6章。2简要说明双极型音响集成电路半导体材料:硅封装:非空封应用:主要在音响设备中作录音及放音放大用。品种:霍2 1I: I(. $一20-75C(C)一塑料双列五IAi(P)CD3220CP3质量
4、评定类别I类参考数据录音时推荐工作条件V.,:513V,R,.680f1,一2一SJ/T 10257-914极限值(绝对最大额定值)若无其它规定,Iamb=25 C条款号参数符号数值单位最小最大4.1电源电压V14V4.2功耗(T.mb蕊40)P600mW4.3工作环境温度了、mb一20754.4贮存温度I“ia一401254.5ALC晶体管允许电流JALC3.5.A5电特性电特性的检验要求见本规范第8章。若无其它规定,T.-二25C , V二二SV,f=1kHz,R,.=10kO(放音),R,_二680f1(录音)。条款号特性和条件符号规范值单位试验最小典型最大5.1静态电流1-4. 510
5、mAA35.2最大输出电压(放音)TND=1Vom0.91.2VA45.3全谐波失真度(放音)Vo=0. 5V了IID0.1%1.0纬A45.4通道隔离度(放音R=2.2kS2,Vo=775mVCSR4050d匕A45.5输人噪声电压(放音)R,=2. 2k0,通带20Hz 20kHzV.1.0一下ZOyVA45.6ALC控制范围(录音)V,=O. 775mVR,c3545dBA45.7ALC平衡度(录音)V,=77. 5.VR,.c02Od吕人45.8ALC失真度(录音)V,=77. 5mVT!(DA,X0.5%2.0纬A43一SJ/T 10257-91标志器件上的标志示例:型号CD3220
6、CP引出端识别标志质量评定类别制造厂商标检验批识别代码订货资料a.产品型号;b.详细规范编号;c质量评定类别;d.其它.试验条件及检验要求抽样要求:根据质量评定类别,按GB/T 12750第9章的规定。A组检验的抽样要求分组人Ql.n类检查水平(11.)AQI.A1u0.65人3皿0.15人4S41.0B组、G组和D组检验的抽样要求分组LTYU皿类B115C120C315B4 C410一4一s,J/r 10257-91续表分组LTYD压类BS CS10C715BS CS D810C915C1120A组逐批所有试验均为非破坏性的(见GB 4589. 1第3.6.6条)检验或试验引用标准条件若无其
7、它规定,T.mb=25C(见GB 4589.1第4.1条)检验要求规范值Al分组外部目检GB 4589. 1第4.2.1.1条标志清晰,无表而损伤和气孔A3分组25下的静态特性GB 7500半导体集成音响电路音频前登放大器测试方法的基本原理按本规范第511条及10.1条按本规范第5.1条A4分组25下的动态特性GB 7500按本规范第5.2条至第5.9条及10.1条按本规范第512至第5,8条B组逐批标有(D)的试验为破坏性的(见GB 4589. 1第3. 6.6条)检验或试验引用标准条件若无其它规定.T,mb=25C(见GB 4589. 1第4.1条)检验要求规范值Bl分组尺寸GB 4589
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