ISO 22033-2011 Nickel alloys - Determination of niobium - Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method《镍合金 铌的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法》.pdf
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1、Alliages de nickel Dosage du niobium Mthode par spectromtrie dmission atomique plasma induit par haute frquence Nickel alloys Determination of niobium Inductively coupled plasma/atomic emission spectrometric method ISO 2011 Deuxime dition 2011-09-01 ISO 22033 NORME INTERNATIONALE Numro de rfrence IS
2、O 22033:2011(F)ISO 22033:2011(F)DOCUMENT PROTG PAR COPYRIGHT ISO 2011 Droits de reproduction rservs. Sauf prescription diffrente, aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie e
3、t les microfilms, sans laccord crit de lISO ladresse ci-aprs ou du comit membre de lISO dans le pays du demandeur. ISO copyright office Case postale 56 CH-1211 Geneva 20 Tel. + 41 22 749 01 11 Fax + 41 22 749 09 47 E-mail copyrightiso.org Web www.iso.org Publi en Suisse ii ISO 2011 Tous droits rserv
4、sISO 22033:2011(F)Sommaire Page Avant-propos .iv 1 Domaine dapplication . 1 2 Rfrences normatives 1 3 Principe 1 4 Ractifs 2 5 Appareillage 3 6 Prlvement et prparation des chantillons 4 7 Mode opratoire . 4 7.1 Prise dessai . 4 7.2 Prparation de la solution dessai, T Nb4 7.3 Optimisation du spectrom
5、tre . 5 7.4 Analyse prliminaire de la solution dessai . 5 7.5 Prparation des solutions talons dencadrement, K l,Nbet K h,Nb5 7.6 Mesurage des solutions dessai 6 8 Expression des rsultats . 6 8.1 Mthode de calcul . 6 8.2 Fidlit 6 8.3 Justesse . 7 9 Rapport dessai 7 Annexe A (normative) Contrle des pe
6、rformances dun spectromtre dmission atomique plasma induit par haute frquence 9 Annexe B (informative) Longueurs donde suggres et interfrences spectrales possibles pour la dtermination du niobium par spectromtrie dmission atomique plasma induit par haute frquence . 11 Annexe C (informative) Informat
7、ions relatives au programme dessais .12 ISO 2011 Tous droits rservs iiiAvant-propos LISO (Organisation internationale de normalisation) est une fdration mondiale dorganismes nationaux de normalisation (comits membres de lISO). Llaboration des Normes internationales est en gnral confie aux comits tec
8、hniques de lISO. Chaque comit membre intress par une tude a le droit de faire partie du comit technique cr cet effet. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec lISO participent galement aux travaux. LISO collabore troitement avec la Commission lectr
9、otechnique internationale (CEI) en ce qui concerne la normalisation lectrotechnique. Les Normes internationales sont rdiges conformment aux rgles donnes dans les Directives ISO/CEI, Partie 2. La tche principale des comits techniques est dlaborer les Normes internationales. Les projets de Normes inte
10、rnationales adopts par les comits techniques sont soumis aux comits membres pour vote. Leur publication comme Normes internationales requiert lapprobation de 75 % au moins des comits membres votants. Lattention est appele sur le fait que certains des lments du prsent document peuvent faire lobjet de
11、 droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. LISO ne saurait tre tenue pour responsable de ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et averti de leur existence. LISO 22033 a t labore par le comit technique ISO/TC 155, Nickel et alliages de nickel, sous-comit SC 3, Analyse du nick
12、el, du ferro-nickel et des alliages de nickel. Cette deuxime dition annule et remplace la premire dition (ISO 22033:2005), dont elle constitue une rvision mineure. ISO 22033:2011(F)iv ISO 2011 Tous droits rservsNORME INTERNATIONALE ISO 22033:2011(F)Alliages de nickel Dosage du niobium Mthode par spe
13、ctromtrie dmission atomique plasma induit par haute frquence 1 Domaine dapplication La prsente Norme internationale spcifie une mthode par spectromtrie dmission atomique plasma induit par haute frquence, pour le dosage du niobium entre 0,1 % et 10 % (fraction massique), dans les alliages de nickel.
14、2 Rfrences normatives Les documents de rfrence suivants sont indispensables pour lapplication du prsent document. Pour les rfrences dates, seule ldition cite sapplique. Pour les rfrences non dates, la dernire dition du document de rfrence sapplique (y compris les ventuels amendements). ISO 648:2008,
15、 Verrerie de laboratoire Pipettes un volume ISO 1042:1998, Verrerie de laboratoire Fioles jauges un trait ISO 3696:1987, Eau pour laboratoire usage analytique Spcification et mthodes dessai ISO 5725-1:1994, Exactitude (justesse et fidlit) des rsultats et mthodes de mesure Partie 1: Principes gnraux
16、et dfinitions ISO 5725-2:1994, Exactitude (justesse et fidlit) des rsultats et mthodes de mesure Partie 2: Mthode de base pour la dtermination de la rptabilit et de la reproductibilit dune mthode de mesure normalise ISO 5725-3:1994, Exactitude (justesse et fidlit) des rsultats et mthodes de mesure P
17、artie 3: Mesures intermdiaires de la fidlit dune mthode de mesure normalise 3 Principe Mise en solution dune prise dessai dans un mlange dacide chlorhydrique, dacide nitrique et dacide phosphorique, puis vaporation jusqu mission de fumes blanches avec un mlange dacide phosphorique et dacide perchlor
18、ique. Ajout dacide fluorhydrique et, ventuellement, dun lment talon de rfrence interne, puis dilution de la solution un volume connu. Nbulisation de la solution dans un spectromtre dmission atomique plasma induit par haute frquence et mesurage de lintensit de la lumire mise par le niobium et, le cas
19、 chant, de la lumire mise simultanment par llment talon de rfrence interne. Le Tableau 1 fournit des exemples de longueurs donde de mesure pour le niobium. La mthode fait appel un talonnage tabli sur la base dune quasi-identit de la composition des solutions dtalonnage et de la solution chantillon e
20、t dun encadrement entre 0,75 % et 1,25 % (fractions massiques) de la teneur suppose en niobium dans lchantillon analyser. La concentration de chacun des autres lments prsents dans lchantillon doit donc tre connue approximativement. Si ces concentrations ne sont pas connues, lchantillon doit tre anal
21、ys par le biais dune mthode semi-quantitative. Lavantage du mode opratoire prsent ici est que toutes les interfrences possibles de la matrice seront automatiquement compenses, ce qui lui confre une grande exactitude. Cela est particulirement crucial lorsquil sagit dinterfrences spectrales qui peuven
22、t tre trs importantes dans le cas de compositions hautement allies. Toutes les interfrences possibles doivent tre maintenues un niveau minimal. De ce fait, il est fondamental que le spectromtre utilis rponde aux critres de performance spcifis dans la mthode pour les longueurs donde de mesure retenue
23、s. ISO 2011 Tous droits rservs 1Les longueurs donde de mesure 309,41 nm et 316,34 nm ont fait lobjet dune tude approfondie (voir Annexe B). Les interfrences les plus importantes qui existent sont reportes dans le Tableau B.1. Si lutilisation dautres longueurs donde de mesure est envisage, un examen
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