IEC 62153-4-5-2006 Metallic communication cable test methods - Part 4-5 Electromagnetic compatibility (EMC) - Coupling or screening attenuation - Absorbing clam.pdf

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1、 NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62153-4-5Premire ditionFirst edition2006-03Mthodes dessai des cbles mtalliques de communication Partie 4-5: Compatibilit lectromagntique (CEM) Affaiblissement dcran ou de couplage Mthode de la pince absorbante Metallic communication cables test metho

2、ds Part 4-5: Electromagnetic compatibility (EMC) Coupling or screening attenuation Absorbing clamp method Numro de rfrence Reference number CEI/IEC 62153-4-5:2006 Numrotation des publications Depuis le 1er janvier 1997, les publications de la CEI sont numrotes partir de 60000. Ainsi, la CEI 34-1 dev

3、ient la CEI 60034-1. Editions consolides Les versions consolides de certaines publications de la CEI incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la

4、publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Informations supplmentaires sur les publications de la CEI Le contenu technique des publications de la CEI est constamment revu par la CEI afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs cette publication, y compris sa

5、 validit, sont dispo-nibles dans le Catalogue des publications de la CEI (voir ci-dessous) en plus des nouvelles ditions, amendements et corrigenda. Des informations sur les sujets ltude et lavancement des travaux entrepris par le comit dtudes qui a labor cette publication, ainsi que la liste des pu

6、blications parues, sont galement disponibles par lintermdiaire de: Site web de la CEI (www.iec.ch) Catalogue des publications de la CEI Le catalogue en ligne sur le site web de la CEI (www.iec.ch/searchpub) vous permet de faire des recherches en utilisant de nombreux critres, comprenant des recherch

7、es textuelles, par comit dtudes ou date de publication. Des informations en ligne sont galement disponibles sur les nouvelles publications, les publications remplaces ou retires, ainsi que sur les corrigenda. IEC Just Published Ce rsum des dernires publications parues (www.iec.ch/online_news/justpub

8、) est aussi dispo-nible par courrier lectronique. Veuillez prendre contact avec le Service client (voir ci-dessous) pour plus dinformations. Service clients Si vous avez des questions au sujet de cette publication ou avez besoin de renseignements supplmentaires, prenez contact avec le Service client

9、s: Email: custserviec.ch Tl: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 Publication numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. For example, IEC 34-1 is now referred to as IEC 60034-1. Consolidated editions The IEC is now publishing consolidat

10、ed versions of its publications. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Further information on IEC publications The technical content of IEC

11、publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to this publication, including its validity, is available in the IEC Catalogue of publications (see below) in addition to new editions, amendments and corrigenda. I

12、nformation on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is also available from the following: IEC Web Site (www.iec.ch) Catalogue of IEC publications The on-line catalog

13、ue on the IEC web site (www.iec.ch/searchpub) enables you to search by a variety of criteria including text searches, technical committees and date of publication. On-line information is also available on recently issued publications, withdrawn and replaced publications, as well as corrigenda. IEC J

14、ust Published This summary of recently issued publications (www.iec.ch/online_news/justpub) is also available by email. Please contact the Customer Service Centre (see below) for further information. Customer Service Centre If you have any questions regarding this publication or need further assista

15、nce, please contact the Customer Service Centre: Email: custserviec.ch Tel: +41 22 919 02 11 Fax: +41 22 919 03 00 . NORME INTERNATIONALECEIIECINTERNATIONAL STANDARD 62153-4-5Premire ditionFirst edition2006-03Mthodes dessai des cbles mtalliques de communication Partie 4-5: Compatibilit lectromagntiq

16、ue (CEM) Affaiblissement dcran ou de couplage Mthode de la pince absorbante Metallic communication cables test methods Part 4-5: Electromagnetic compatibility (EMC) Coupling or screening attenuation Absorbing clamp method Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue IEC 2006

17、 Droits de reproduction rservs Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans laccord crit de lditeur. No part of this pub

18、lication may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying and microfilm, without permission in writing from the publisher. International Electrotechnical Commission, 3, rue de Varemb, PO Box 131, CH-1211 Geneva 20, SwitzerlandTelephone: +41

19、22 919 02 11 Telefax: +41 22 919 03 00 E-mail: inmailiec.ch Web: www.iec.ch CODE PRIX PRICE CODE T Commission Electrotechnique InternationaleInternational Electrotechnical Commission 2 62153-4-5 CEI:2006 SOMMAIRE AVANT-PROPOS 6 1 Domaine dapplication.10 2 Rfrences normatives .10 3 Termes et dfinitio

20、ns 10 4 Principes de la mthode dessai10 5 Mesure .12 5.1 Equipement .12 5.1.1 Gnralits 12 5.1.2 Exigences du symtriseur 16 5.2 Echantillon en essai.16 5.2.1 Longueur du cble contrl16 5.2.2 Prparation de lchantillon en essai 16 5.3 Procdure dtalonnage .24 5.3.1 Affaiblissement du montage de mesure24

21、5.3.2 Perte dinsertion des absorbeurs30 5.4 Montage dessai 32 5.4.1 Vrification du montage dessai36 5.5 Force de traction sur le cble.36 5.6 Procdure de mesure 38 6 Expression des rsultats dessai .40 6.1 Expression 40 6.2 Compte rendu dessai40 6.2.1 Gnralits 40 6.2.2 Evaluation des rsultats dessai p

22、our laffaiblissement de couplage de cbles symtriques (informatif) 42 6.2.3 Exemples.42 7 Exigences.46 Bibliographie.48 Figure 1 Mesure des ondes de surface au niveau de lextrmit la plus proche de lchantillon.14 Figure 2 Terminaison dun cble symtrique blind.18 Figure 3 Prparation de lchantillon en es

23、sai (cbles symtriques et multiconducteurs)20 Figure 4 Adaptation dimpdance pour Z150 24 Figure 6 Montage dtalonnage.26 Figure 7 Terminaison pendant talonnage 28 Figure 8 Mesure de la perte dinsertion dun absorbeur .30 Figure 9 Exemple de connexions dcran pour mesurer un cble paire torsade blinde32 6

24、2153-4-5 IEC:2006 3 CONTENTS FOREWORD.7 1 Scope.11 2 Normative references11 3 Terms and definitions .11 4 Principles of the test method.11 5 Measurement13 5.1 Equipment .13 5.1.1 General .13 5.1.2 Balun requirements17 5.2 Test sample.17 5.2.1 Tested cable length .17 5.2.2 Preparation of test sample

25、.17 5.3 Calibration procedure 25 5.3.1 Attenuation of the measuring set-up.25 5.3.2 Insertion loss of the absorbers .31 5.4 Test set-up 33 5.4.1 Test set-up verification.37 5.5 Pulling force on cable 37 5.6 Measuring procedure .39 6 Expression of test results41 6.1 Expression 41 6.2 Test report.41 6

26、.2.1 General .41 6.2.2 Evaluation of test results for the coupling attenuation of balanced cables (informative) .43 6.2.3 Examples.43 7 Requirement.47 Bibliography49 Figure 1 Measurement of surface waves at the near end of the sample.15 Figure 2 Termination of a screened symmetrical cable19 Figure 3

27、 Preparation of test sample (symmetrical and multi conductor cables) 21 Figure 4 Impedance matching for Z150 25 Figure 6 Calibration set-up .27 Figure 7 Termination during calibration.29 Figure 8 Measurement of the insertion loss of an absorber .31 Figure 9 Example of screen connections for screened

28、 twisted pair cable measurement.33 4 62153-4-5 CEI:2006 Figure 10 Montage dessai pour la mesure dextrmit la plus proche de cble symtrique 34 Figure 11 Mesure des ondes de surface au niveau de lextrmit la plus proche de lchantillon.34 Figure 12 Mesure des ondes de surface au niveau de lextrmit la plu

29、s loigne de lchantillon.36 Figure 13 Disposition de blindage pour une mesure dextrmit la plus loigne .38 Figure 14 Exemple de mesure dun cble symtrique cran papier.42 Figure 15 Exemple de mesure dun cble symtrique correctement blind 44 Figure 16 Exemple de mesure dun cble coaxial correctement blind

30、44 Figure 17 Erreur de mesure frquente dun cble symtrique46 Figure 18 Erreur de mesure frquente dun cble symtrique46 Tableau 1 Caractristiques des performances du symtriseur (30 MHz 1 GHz) 16 62153-4-5 IEC:2006 5 Figure 10 Test set-up for near end measurement of symmetrical cable .35 Figure 11 Measu

31、rement of surface wave at near end of sample 35 Figure 12 Measurement of surface wave at far end of sample.37 Figure 13 Shielding arrangements for a far end measurement 39 Figure 14 Example measurement of a foil screen symmetrical cable .43 Figure 15 Example measurement of a well screened symmetrica

32、l cable45 Figure 16 Example measurement of a well screened coaxial cable45 Figure 17 Frequent measurement error of a symmetrical cable .47 Figure 18 Frequent measurement error of a symmetrical cable .47 Table 1 Balun performance characteristics (30 MHz to 1 GHz)17 6 62153-4-5 CEI:2006 COMMISSION LEC

33、TROTECHNIQUE INTERNATIONALE _ MTHODES DESSAI DES CBLES MTALLIQUES DE COMMUNICATION Partie 4-5: Compatibilit lectromagntique (CEM) Affaiblissement dcran ou de couplage Mthode de la pince absorbante AVANT-PROPOS 1) La Commission Electrotechnique Internationale (CEI) est une organisation mondiale de no

34、rmalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CEI a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI entre autres activits

35、publie des Normes internationales, des Spcifications techniques, des Rapports techniques, des Spcifications accessibles au public (PAS) et des Guides (ci-aprs dnomms “Publication(s) de la CEI“). Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le suj

36、et trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CEI collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux

37、organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CEI concernant les questions techniques reprsentent, dans la mesure du possible, un accord international sur les sujets tudis, tant donn que les Comits nationaux de la CEI intresss sont reprsents dans chaque comit dtudes. 3) Les Publications

38、de la CEI se prsentent sous la forme de recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux de la CEI. Tous les efforts raisonnables sont entrepris afin que la CEI sassure de lexactitude du contenu technique de ses publications; la CEI ne peut pas tre tenue responsabl

39、e de lventuelle mauvaise utilisation ou interprtation qui en est faite par un quelconque utilisateur final. 4) Dans le but dencourager luniformit internationale, les Comits nationaux de la CEI sengagent, dans toute la mesure possible, appliquer de faon transparente les Publications de la CEI dans le

40、urs publications nationales et rgionales. Toutes divergences entre toutes Publications de la CEI et toutes publications nationales ou rgionales correspondantes doivent tre indiques en termes clairs dans ces dernires. 5) La CEI na prvu aucune procdure de marquage valant indication dapprobation et nen

41、gage pas sa responsabilit pour les quipements dclars conformes une de ses Publications. 6) Tous les utilisateurs doivent sassurer quils sont en possession de la dernire dition de cette publication. 7) Aucune responsabilit ne doit tre impute la CEI, ses administrateurs, employs, auxiliaires ou mandat

42、aires, y compris ses experts particuliers et les membres de ses comits dtudes et des Comits nationaux de la CEI, pour tout prjudice caus en cas de dommages corporels et matriels, ou de tout autre dommage de quelque nature que ce soit, directe ou indirecte, ou pour supporter les cots (y compris les f

43、rais de justice) et les dpenses dcoulant de la publication ou de lutilisation de cette Publication de la CEI ou de toute autre Publication de la CEI, ou au crdit qui lui est accord. 8) Lattention est attire sur les rfrences normatives cites dans cette publication. Lutilisation de publications rfrenc

44、es est obligatoire pour une application correcte de la prsente publication. 9) Lattention est attire sur le fait que certains des lments de la prsente Publication de la CEI peuvent faire lobjet de droits de proprit intellectuelle ou de droits analogues. La CEI ne saurait tre tenue pour responsable d

45、e ne pas avoir identifi de tels droits de proprit et de ne pas avoir signal leur existence. La Norme internationale CEI 62153-4-5 a t tablie par le sous-comit 46A: Cbles coaxiaux, du comit dtudes 46 de la CEI: Cbles, fils, guides dondes, connecteurs, composants passifs pour micro-onde et accessoires

46、. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: FDIS Rapport de vote 46A/789A/FDIS 46A/812/RVD Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de la prsente norme. 62153-4-5 IEC:2006 7 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISS

47、ION _ METALLIC COMMUNICATION CABLE TEST METHODS Part 4-5: Electromagnetic Compatibility (EMC) Coupling or screening attenuation Absorbing clamp method FOREWORD 1) The International Electrotechnical Commission (IEC) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechni

48、cal committees (IEC National Committees). The object of IEC is to promote international co-operation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, IEC publishes International Standards, Technical Specifications, Technical R