IEC 60748-4-1-1993 Semiconductor devices integrated circuits part 4 interface integrated circuits section 1 blank detail specification for linear digital-to-ana.pdf

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1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-4-1 QC 790303 Premire dition First edition 1993-1 1 Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Partie 4: Circuits intgrs dinterface - Section 1 : Spcification particulire cadre pour les convertisseurs linaires numriques-analogiques Semicon

2、ductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits - Section 1 : Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC) Numro de rfrence Reference number CEIAEC 748-4-1 1993 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 s

3、ont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamendem

4、ent 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfirmation de la publication

5、 sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs des questions ltude et des travaux en cours entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Cite web de la CEI* Catalogu

6、e des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Disponible la fois au 4te web), de la CEI* et comme priodique imprim Bulletin de la CE1 Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE

7、1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes dusage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consultera la CE1 60027: Symboles littraux 2 utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le

8、matriel. Index, rele ve et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse .site web). sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publications Con

9、solidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1 .O, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incorporating amendment i and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publ

10、ication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects under consi

11、deration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogue)* Ava

12、ilable both at the IEC web site and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to I EC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for

13、 general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web site address on title page.

14、 NORME I NTE RN AT I ON ALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-44 QC 790303 Premire dition First edition 1993-1 1 Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Partie 4: Circuits intgrs dinterface - Section 1 : Spcification particulire cadre pour les convertisseurs linaires numriques-analogiques S

15、emiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits - Section 1 : Blank detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC) O CE1 1993 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reprod

16、uite ni utilise sous quelque forme que soil et par aucun pro- cd, lectronique ou mcanique. y compris !a photocopie et les microfilms. sans Iaocord Crii de lditeur. No part of this publication may be reproduced or utied in any form or by any means, electronic or danical, including phot-ying and micro

17、film, without permission in writing from the publisher. Bureau Central de la Commission Electrotechnique Internationale 3. rue de Varemb Genve, Suisse S Commission Electrotechnique Internationale CODE PRIX International Electrotechnical Commission PRICE CODE MewyHapomaR KTPOTXHHCR HOMHCCHR Pourpnx,

18、voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- 748-4-1 O CEI:1993 CO MM ISS I ON LECTROT ECH N IQU E I NTE RNATION ALE DIS 47A( BC)267 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS - Circuits intgrs - Rapport de vote 47A(BC)281 Partie 4: Circuits intgrs dinterface - Section 1 : Spcification particulir

19、e cadre pour les convertisseurs linaires numriques-analogiques AVANT-PROPOS 1) La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser

20、la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de Ilectronique. A cet effet, la CEI, entre autres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comits dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress pa

21、r le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales. en liaison avec la CEI, participent galement aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lOrganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre l

22、es deux organisations. 2) Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques. prpars par les comits dtudes OU sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets

23、examins. 3) Ces dcisions constituent des recommandations internationales publies sous forme de normes, de rapports techniques ou de guides et agres comme telles par les Comits nationaux. 4) Dans le but dencourager Iunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de fao

24、n transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de la CE1 et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. 5) La CE1 na fix aucune proc

25、dure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. La Norme internationale CE1 748-4-1 a t tablie par le sous-comit 47A: Circuits intgrs, du comit dtudes 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Cett

26、e norme est une spcification particulire cadre pour les convertisseurs linaires numriques-analogiques dans le domaine du systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques (I ECQ) . Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dess

27、us donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. 748-4-1 O IEC:i 993 -3- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION DIS 47A(C0)267 SEMICONDUCTOR DEVICES - Integrated circuits - Report on voting 47A( CO) 28 1 Part 4: Interface integrated circuits - Section 1 : Blank det

28、ail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC) FOREWORD 1) The IEC (International Electrotechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote interna

29、tional cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the sub

30、ject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with condition

31、s determined by agreement between the two organizations. 2) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by technical committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international co

32、nsensus of opinion on the subjects dealt with. 3) They have the form of recommendations for international use published in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. 4) In order to promote international unification, IEC National

33、 Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their national and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. 5) The IEC provides

34、no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in conformity with one of its standards. International Standard IEC 748-4-1 has been prepared by sub-committee 47A: Integrated circuits, of I EC technical committee 47: Semiconductor dev

35、ices. This standard is a blank detail specification for linear digital-to-analogue converters (DAC) in the field of the IEC Quality Assessment for Electronic Components (IECQ). The text of this standard is based on the following documents: Full information on the voting for the approval of this stan

36、dard can be found in the report on voting indicated in the above table. -4- 748-4-1 O CE111 993 Le numro QC qui figure sur la page de couverture de la prsente publication est le numro de la spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques (IECQ). Les publications s

37、uivantes de la CE1 sont cites dans la prsente norme: CE1 68-2-1 7: 1978, CE1 747-1: 1983, CE1 747-10: 1991, CE1 748-1: 1984, CE1 748-4: 1987, CE1 748-1 1: 1990, CE1 748-11-1: 1992, CE1 749:1984, CE1 QC 001002: 1986. Essais denvironnement - Deuxime partie: Essais - Essai Q: Etanchit Amendement 4 (199

38、1) Dispositifs semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intgrs - Premire partie: Gnralits Dispositifs semiconducteurs - Dixime partie: Spcification gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Premire partie: Gnralits Amendeme

39、nt 1 (1991) Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Quatrime partie: Circuits intgrs dinterface Amendement 1 (1991) Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Onzime partie: Spcification intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs lexclusion des circuits hybrides Dispositifs s

40、emiconducteurs - Circuits intgrs - Onzime partie - Section un: Examen visuel interne pour les circuits intgrs semiconducteurs lexclusion des circuits hybrides Dispositifs semiconducteurs - Essais mcaniques et climatiques Amendement 1 (1991) Rgles de procdure du systme CE dassurance de la qualit des

41、composants lectroniques (IECQ) Amendement 1 (1992) 748-4-1 O IEC:1993 -5- The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ). The following IEC publications are quoted in this standard: I

42、EC 68-2-17: 1978, IEC 747-1: 1983, IEC 747-10: 1991, IEC 748-1: 1984, IEC 748-4: 1987, IEC 748-1 1: 1990, IEC 748-1 1-1: 1992, IEC 749:1984, IEC QC 001002: 1986, Environmental testing - Part 2: Tests - Test Q: Sealing Amendment 4 (1991) Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuit

43、s - Part 1: General Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integra fed circuits Serniconductor devices - Integrated circuits - Part 1: General Amendment l(l991) Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 4: Interface integrated circuits Amendment 1 (1

44、991) Semiconductor devices - Integrated circuits - Part i 1: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 17 - Section 1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid c

45、ircuits Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Amendment 1 (1991) Rules of procedure of the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ) Amendment 1 (1992) 748-4-1 O CEI:1993 -6- DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS - Circuits intgrs - Partie 4: Circuits intgrs dinterf

46、ace - Section 1 : Spcification particulire cadre pour les convertisseurs linaires numriques-analogiques INTRODUCTION Le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques fonctionne conformment aux statuts de la CE1 et sous son autorit. Le but de ce systme est de dfinir les procdures das

47、surance de la qualit de telle faon que les composants lectro- niques livrs par un pays participant comme tant conformes aux exigences dune spcif ication applicable soient galement acceptables dans les autres pays participants sans ncessiter dautres essais. Cette spcification particulire cadre fait p

48、artie dune srie de spcifications particulires cadres concernant les dispositifs semiconducteurs; elle doit tre utilise avec les publi- cations suivantes de la CEI: 747-1 O/QC 700000: Dispositifs semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intgrs - Dixime partie: Spcification gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. 748-1 l/QC 7901 00: Dispositifs a semiconducteurs. Circuits intgrs - Onlieme partie: Spcification intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs a lexclusion des hybrides. Renseignements nc