IEC 60748-3-1-1991 Semiconductor devices integrated circuits part 3 analogue integrated circuits section 1 blank detail specification for monolithic integrated .pdf

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1、NORME CE1 INTERNATIONALE IEC 7481311 QC 790202 Premire dition First edition INTERNATIONAL STANDARD 1991 -07 Dispositifs semiconducteurs Circuits intgrs Troisime partie: Circuits intgrs analogiques Section un - Spcification particulire cadre pour les amplificateurs oprationnels intgrs monolithiques S

2、emiconductor devices Integrated circuits Part 3: Analogue integrated circuits Section one - Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers Numro de rfrence Reference number CEVIEC 748-3-1: 1991 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE

3、1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication de base incorporant lamen

4、dement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la presente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de reconfir- mation de la publi

5、cation sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs L des questions a ltude et des travaux en c-Urs entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dessous: Site webs de la CE

6、I Catalogue des publications de la CE1 Publie annuellement et mis a jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Burietin de la CE1 Disponible la fois JU site web. de la CEI et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se rep

7、ortera la CE1 60050: Vocabulaire Elecfro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes d cage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consulter2 la CE1 60027: Symboles littraux a utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisa

8、bles sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse 4te web. sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Consolidated publicati

9、ons Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1 and 2. Validity of t

10、his publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Information on the subjects und

11、er consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site Catalogue of IEC publications Published yearly with regular updates (On-line catalogu

12、e) Available both at the IEC web site and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphitai symbols, and letter symbols and signs approved by the IE

13、C for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 6041 7: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. See web site address on title p

14、age. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-3-1 QC 790202 Premire dition First edition 1991-07 Dispositifs semiconducteurs Circuits intgrs Troisime partie: Circuits intgrs analogiques Section un - Spcification particulire cadre pour les amplificateurs oprationnels intgrs monolithiqu

15、es Serliiconductor devices Integrated circuits Part 3: Analogue integrated circuits Section one - Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers 0 CE1 1991 Droitc de reproduction rservs - Copyright - ail rights resewed Aucune partie de cette publication ne peut eire repr

16、oduite ni No part of this publication may be reproduced or utilized utilise sous quelque forme que ce Soit et par aucun procd. in any form or by any means, electronic or mechanical. lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les including photocopying and miaofilm. without permission microf

17、ilms, sans raccord crit de Iditeur. in writing from the publisher Bureau central de la Commission Electrotechnique, Internationale 3, rue de Varemb Geneve Suisse Tlfax: +41 22 919 0300 e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.ch Commission Electrotechnique Internationale International Electro

18、technical Commission MemnwaponiiaR Jnetmpoexliecaf HOMHCCHR O Q CODE PRIX PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur For price. see current catalogue -2- COMMISSION LECTROTECHNIQUE Rgle des Six Mois 47A( BC)244 748-3-1 CE1 INTERNATIONALE Rapport de vote 47A(BC) 254 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS C

19、ircuits intgrs Troisime partie: Circuits intgrs analogiques Section un: Spcification particulire cadre pour les amplificateurs oprationnels intgrs monolithiques AVANT-PROPOS Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comits dgtudes o sont

20、reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunif

21、ication internationale, la CE1 exprime le voeu que tous les Comits nationaux adoptent dans leurs rgles nationales le texte de la recommandation de la CEI, dans la mesure OU les conditions nationales le permettent. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la rgle nationale correspondante

22、 doit, dans la mesure du possible, tre indique en termes clairs dans cette dernire. La prsente norme a t tablie par le Sous-Comit 47A: Circuits intgrs, du Comit dtudes no 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Le rapport de vote indiqu dan

23、s le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Le numro QC qui figure sur la page de couverture de la prsente publication est le numro de spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques (IECQ) 748-3-1 O IEC -3-

24、 Six Months Rule 47A(C0)244 INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Report on Voting 47A(C0)254 SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Part 3: Analogue integrated circuits Section one: Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers FOREWORD 1) The formal decisions o

25、r agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. 2) They have the form of recommenda

26、tions for international use and they are accepted by the National Committees in that sense. 3) In order to promote international unification, the IEC expresses the wish that all National Committees should adopt the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditi

27、ons will permit. Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the latter. This standard has been prepared by Sub-Committee 47A: Integrated circuits, of IEC Technical Committee No. 47: Semiconductor devices. The

28、 text of this standard is based on the following documents: Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the Voting Report indicated in the above table. The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Qualit

29、y Assessment System for Electronic Components (IECQ). -4- Lec publications suivantes de la CE1 sont cites dans le prsent norme: Publications nos 68-2-1 7 (1 978): 747-1 (1983): 747-10 (1991): 748-1 (1984): 748-1 1 (1990): 749 (1984): QC 001002 (1986): 748-3-1 OCEI Essais d?environnement. Deuxime par

30、tie: Essais - Essai Q: Etanchit. Dispositifs semiconducteurs. Dispositifs discrets. Premire partie: Gnralits. Dispositifs semiconducteurs. Dixime partie: Spcification gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Premire partie: Gnralits.

31、 Dispositifs semiconducters. Circuits intgrs. Onzime partie: Spcifi- cation intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs l?exclusion des circuits hybrides. Dispositifs semiconducteurs. Essais mcaniques et climatiques. Rgles de procdure du systme CE1 d?assurance de la qualit des composants l

32、ectroniques (IE). 748-3-1 O IEC -5- The following IEC publications are quoted in this standard: Publications Nos. 68-2-1 7 (1 978): 747-1 (1983): 747-10 (1991): 748-1 (1984): 748-1 1 (1 990): 749 (1984): QC 001002 (1986): Environmental testing. Part 2: Tests - Test Q: Sealing. Semiconductor devices.

33、 Discrete devices. Part 1 : General. Semiconductor devices. Part 1 O: Generic specification for discrete de- vices and integrated circuits. Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1 : General. Semiconductor devices - Integrated circuits. Part 11 : Sectional specifica- tion for semiconductor

34、 integrated circuits excluding hybrid circuits. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Rules of Procedure of the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ). -6- 748-3-1 O CE1 DISPOSITIFS A SEMICONDUCTEURS Circuits intgrs Troisime partie: Circuits intgrs anal

35、ogiques Section un: Spcification particulire cadre pour les amplificateurs oprationnels intgrs monolithiques INTRODUCTION Le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques fonctionne conformment aux statuts de la CE1 et sous $on autorit. Le but de ce systme est de dfinir les procdure

36、s dassurance de la qualit de telle faon que les composants lectro- niques livrs par un pays participant comme tant conformes aux exigences dune spcifi- cation applicable soient galement acceptables dans les autres pays participants sans ncessiter dautres essais. Cette spcification particulire cadre

37、fait partie dune srie de spcifications particulires cadres concernant les dispositifs semiconducteurs; elle doit tre utilise avec la publi- cation suivante de la CEI: 747-1 O/QC 700000 (1 991 ): Dispositifs semiconducteurs. Dixime partie: Spcification gnrique pour les dispositifs discrets et les cir

38、cuits intgrs. Renseignements ncessaires Les nombres indiqus entre crochets sur cette page et la page suivante correspondent aux indications suivantes qui doivent tre portes dans les cases prvues cet effet. Identification de la spcification particulire l 2 3 4 Identification du composant 5 Fonction p

39、rincipale et numro de type, par exemple circuit intgr micro- processeurs 68 000. 6 Renseignements sur la construction typique (matriaux, technologie principale) et le botier. Si le dispositif a plusieurs types de produits drivs, les diffrences doivent tre indiques, par exemple les particularits des

40、caractristiques dans le tableau comparatif. Nom de lorganisme National de Normalisation sous lautorit duquel la spcifica- tion particulire est tablie. Numro IECQ de la spcification particulire. Numros de rfrence et ddition des spcifications gnrique et intermdiaire. Numro national de la spcification

41、particulire, date ddition et toute autre infor- mation requise par le systme national. Pour les dispositifs sensibles aux charges lectrostatiques, les prcautions nces- saires observer doivent tre ajoutes dans la spcification particulire. 748-3-1 O IEC -7- SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Pa

42、rt 3: Analogue integrated circuits Section one: Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers INTRODUCTION The IEC Quality Assessment System Electronic Components is operated in accordance with the statutes of the IEC and under the authority of the IEC. The object of th

43、is system is to define quality assessment procedures in such a manner that electronic components released by one participating country as conforming with the requirements of an applicable specification are equally acceptable in all other participating countries without the need for further testing.

44、This blank detail specification is one of a series of blank detail specifications for semi- conductor devices and shall be used with the following IEC Publication: 747-1 O/QC 700000 (1 991 ): Semiconductor devices. Patt 1 O: Generic specification for discrete devices and integrated circuits. Require

45、d information Numbers shown in brackets on this and the following pages correspond to the following items of required information, which shall be entered in the spaces provided. Identification of the detail specification l 2 3 4 Idenfification of the component 5 The name of the National Standards Or

46、ganization under whose authority the detail specification is issued. The IECQ number of the detail specification. The numbers and issue numbers of the Generic and Sectional specifications. The national number of the detail specification, date of issue and any further infor- mation, if required by th

47、e national system. Main function and type number, e.g. microprocessor integrated circuit 68 000. 6 Information on typical construction (materials, main technology) and the package. If the device has several kinds of derivative products, the differences should be indicated, e.g. features of the chara

48、cteristics in the comparison table. If the device is electrostatic sensitive, a caution statement shall be added in the detail specification. -8- 748-3-1 OCEI 7 Dessin dencombrement, identification des bornes, marquage et/ou rfrence aux documents correspondants pour les encombrements. 8 Catgorie dassurance de la qualit conformment au paragraphe 2.6 de la spcifi- cation gririque. 9 Donnes de rfrence. Les articles indiqus entre crochets sur les pages suivantes de cette norme sont destins guider le rdac- teur de la spcificatio