IEC 60748-2-4-1992 Semiconductor devices integrated circuits part 2 digital integrated circuits section four family specification for complementary MOS digital .pdf

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1、NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-2-4 QC 7901 04 Premire dition First edition 1992-01 Dispositifs semiconducteurs Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits in tgrs numriques Section quatre - Spcification de famille pour les circuits intgrs numriques MOS complmentaires, sries 4 O

2、00 B et 4 O00 UB Semiconductor devices I nt eg rated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section four - Family specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4 O00 B and 4 O00 UB Numro de rfrence Reference number CEIAEC 748-2-4: 1992 Numros des publications Depuis l

3、e ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes a partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de

4、 base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements re

5、latifs a la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs d des questions ltude et des travaux en c-Urs entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans

6、 les documents ci- dessous: Site web de la CEI* Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis a jour rgulirement (Catalogue en ligne) Buietin de la CE1 Disponible la fois 3u dte web, de la CEI et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne

7、 la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique Internafional (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes d cage gnrai approuvs par la CEI, le lecteur consulterl la CE1 60027: Symboles littraux a utiliser en lectrotechnique,

8、la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse 4te web sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in

9、 the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorp

10、orating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC c

11、atalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yea

12、rly with regular updates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and

13、letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 6041 7: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols fo

14、r diagrams. * See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-2-4 QC 7901 04 Premire dition First edition 1992-01 Dispositifs semiconducteurs Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits in tgrs numriques Section quatre - Spcification de famille pour les circu

15、its intgrs numriques MOS complmentaires, sries 4 O00 B et 4 O00 U8 Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Dig tal integrated circuits Section four - Family specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4 O00 B and 4 O00 UB 0 CE1 1992 Drofis de reproduction rservs

16、 - Copyright - alt rights reserved Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni UtiliSee sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms, sans raccord mit de rediteur. No part of this publication may be reproduced

17、or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical. including photocopying and microfilm. without permission in writing from the publisher Bureau centrai de la Commission Electrotechnique. internationale 3, rue de Varemb Genve Suisse Tlfax: +41 22 919 0300 e-mail: inmailiec.ch IEC web

18、 site http:/lwww.iec.ch Commission Electrotechnique Internationale international Electrotechnical Commission MewyHapoAHaR 3neirrpoexrecna HOMHCCHR O N CODE PRIX PRICE CODE Pour prix. voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- 748-2-4 O CE1 Rgle des Six Mois COMMISSION LECTROTECHN

19、IQUE INTERNATIONALE Rapport de voie DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section quatre - Spcification de famille pour les circuits intgrs numriques MOS complmentaires, sries 4 O00 B et 4 O00 UB AVANT-PROPOS 1) Les dcisions ou accords officiels de la

20、GEI en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comits dEtudes o sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. 2) Ces dcisions constituent des recommandations internati

21、onales et sont agres comme telles par les Comits nationaux. 3) Dans le but dencourager lunification internationale, la CE1 exprime le voeu que tous les Comits nationaux adoptent dans leurs rgles nationales le texte de la recommandation de la GEI, dans la mesure O les conditions nationales le permett

22、ent. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la rgle nationale correspondante doit, dans la mesure du possible, tre indique en termes clairs dans cette dernire. La prsente norme a t tablie par le Sous-Comit no 47A: Circuits intgrs, et par le Comit dEtudes no 47 de la CEI: Dispositifs s

23、emiconducteurs. Cette norme est une spcification de famille pour les circuits intgrs numriques MOS complmentaires, sries 4 O00 B et 4 O00 UB. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: 47A(BC)194 47A(BC)174 47(BC)1050 Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute info

24、rmation sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Le numro QC qui figure sur la page de couverture de la prsente publication est le numro de spcification dans le Systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques (IECQ). Les publications suivantes de la CE1 sont cites dans la

25、 prsente norme: Publications no9 747-1 (1 983): Dispositifs semiconducteurs - Dispositifs discrets. Premire partie: Gnralits. Amendement 1 (1991). 747-1 O (1 991): Dispositifs semiconducteurs. Dixime partie: Spcification gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. 748-2 (1 985): Di

26、spositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Deuxime partie: Circuits intgrs numriques. Amendement 1 (1991). 748-1 1 (1 990): Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Onzime partie: Spcifica- tion intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs lexclusion des circuits hybrides. 749 (1 984)

27、: Dispositifs semiconducteurs - Essais mcaniques et climatiques. Amendement 1 (1991). 748-2-4 O IEC -3- Six Months Rule INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION Report on Voting SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section four - Family specification for com

28、plementary MOS digital integrated circuits, series 4 O00 B and 4 O00 UB I 47A(C0)174 47(C0)1050 FOREWORD 47A(C0)194 I 1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein are rep

29、resented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense. 3) In order to promote international unification, the IEC express

30、es the wish that all National Committees should adopt the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit. Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the l

31、atter. This standard has been prepared by Sub-Committee No. 47A: Integrated circuits, and by the IEC Technical Committee No. 47: Semiconductor devices. This standard is a family specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4 O00 B and 4 O00 UB. The text of this standard is

32、 based on the following documents: Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the Voting Report indicated in the above table. The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Quality Assessment System for E

33、lectronic Components (IECQ). The following IEC publications are quoted in this standard: Publications Nos. 747-1 (1983) Semiconductor devices - Discrete devices. Part 1 : General. Amendment l(l991). 747-10 (1 991): Semiconductor devices, Part 10: Generic specification for discrete devices and integr

34、ated circuits. 748-2 (1 985): Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits. Amendment 1 (1991). 748-1 1 (1990): Semiconductor devices, Integrated circuits. Part 11 : Intermediate specifi- cation for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits. 749 (

35、1 984): Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Amendment l(l991). -4- 748-2-4 O CE1 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section quatre - Spcification de famille pour les circuits intgrs numriques MOS complmentaires, sries 4 O00

36、 B et 4 O00 UB INTRODUCTION Le Systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques fonctionne conformment aux statuts de la CE1 et sous son autorit. Le but de ce systme est de dfinir les procdures dassurance de la qualit de telle faon que les composants lectroniques livrs par un pays part

37、icipant comme tant conformes aux exigences dune spcif ication applicable soient galement acceptables dans tous les autres pays participants sans ncessiter dautres essais. Cette spcif ication de famille fait partie dune srie de spcif ications particulires cadres concernant les dispositifs semiconduct

38、eurs; elle doit tre utilise avec les publications suivantes de la CEI: 747-1 O/QC 700000: Dispositifs semiconducteurs. Dixime partie: Spcification gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. 748-1 1 /QC 7901 00: Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Onzime partie: Spcificat

39、ion intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs lexclusion des circuits hybrides. Renseignements ncessaires Les nombres placs entre crochets sur cette page et les pages suivantes correspondent aux indications suivantes qui doivent tre portes dans les cases prvues cet effet. Identification

40、de la spcification particulire i Nom de lorganisme National de Normalisation sous lautorit duquel la spcification particulire est tablie. 2 Numro IECQ de la spcification particulire. 3 Numros de rfrence et ddition des spcifications gnrique et intermdiaire. 4 Numro national de la spcification particu

41、lire, date ddition et toute autre information requise par le systme national. Identification du composant 5 6 Fonction principale et numro de type. Renseignements sur la construction typique (matriaux, technologie principale) et le boit er. Si un dispositif possde plusieurs types de produits drivs,

42、ces diffrences doivent tre indiques, par exemple les particularits des caractristiques dans un tableau comparatif. Pour les dispositifs sensibles aux charges lectrostatiques, les prcautions nces- saires observer doivent tre ajoutes dans la spcification particulire. 748-2-4 O I EC -5- SEMICONDUCTOR D

43、EVICES Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section four - Family specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4 O00 B and 4 O00 UB INTRODUCTION The IEC Quality Assessment System for Electronic Components is operated in accordance with the statutes of th

44、e IEC and under the authority of the IEC. The object of this system is to define quality assessment procedures in such a manner that electronic components released by one participating country as conforming with the requirements of an applicable specification are equally acceptable in all other part

45、icipating countries without the need for further testing. This family specification is one of a series of blank detail specifications for semiconductor devices and shall be used with the following IEC publications: 747- 1 O/QC 700000 : Semiconductor devices. Part IO: Generic specification for discre

46、te devices and integrated circuits. 748-1 1lQC 7901 00: Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 1 1: Sectional speci- fication for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits. Required information Numbers shown in brackets on this and the following pages correspond to the fo

47、llowing items of required information, which should be entered in the spaces provided. Identification of the detail specification l 2 3 4 The name of the National Standards Organization under whose authority the detail specification is issued. The IECQ number of the detail specification. The numbers

48、 and issue numbers of the generic and sectional specifications. The national number of the detail specification, date of issue and any further information required by the national system. Identification of the component 5 Main function and type number. 6 Information on typical construction (materials, the main technology) and the package. If the device has several kinds of derivative products, those differences shall be indicated, e.g. feature of characteristics in the comparison table. If the device is sensitive to electrostatic char