IEC 60748-2-3-1992 Semiconductor devices integrated circuits part 2 digital integrated circuits section 3 blank detail specification for HCMOS digital integrate.pdf

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1、NORME CE1 IEC 748-2-3 INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD QC 7901 30 Premire dition First edition 1992-01 Dispositifs semiconducteurs Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section trois - Spcification particulire cadre pour les circuits intgrs numriques HCMOS (sries 54/74 HC, 5

2、4/74 HCT, 54/74 HCU) Semiconductor devices I nt egrat ed circuits Part 2: Digital integrated circuits Section three - Blank detail specification for HCMOS digital integrated circuits (series 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU) Numro de rfrence Reference number CEIAEC 748-2-3: 1992 Numros des publication

3、s Depuis le ler janvier 1997, les publications de la CE1 sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la public

4、ation de base, la publication de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseigne

5、ments relatifs la date de reconfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs 2 des questions a ltude et des travaux en c-Urs entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouv

6、ent dans les documents ci- dessous: Site web8 de la CEI Catalogue des publications de la CE1 Publie annuellement et mis a jour rgulirement (Catalogue en ligne)* Bufietin de la CE1 Disponible la fois JU 4te web, de la CEI et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce q

7、ui concerne la terminologie gnrale, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique International (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes d sage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consulterL la CE1 60027: Symboles littraux a utiliser en lectro

8、technique, la CE1 6041 7: Symboles graphiques utilisables sur le matriel. Index, relev et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. Voir adresse -site web, sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a de

9、signation in the 60000 series. Consolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1.0, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base public

10、ation incorporating amendments 1 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available

11、in the IEC catalogue. Information on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site Catalogue of IEC publications Pu

12、blished yearly with regular updates (On-line catalogue). Available both at the IEC web site and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical sy

13、mbols, and letter symbols and signs approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 6041 7: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical

14、 symbols for diagrams. * See web site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 74812-3 QC 790130 Premire dition First edition 1992-01 Dispositifs semiconducteurs Circuits intgrs Deuxime partie: Circuits intgrs numriques Section trois - Spcification particulire cadre

15、 pour les circuits intgrs numriques HCMOS (sries 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU) Semiconductor devices Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section three - Blank detail specification for HCMOS digital integrated circuits (series 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU) 0 CE1 1992 Droits de

16、 reproduction rservs - Copyright - all rights resewed Aucune partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd, lectronique ou mcanique, y compris la photocopie et les microfilms. sans raccord crit de Iditeur. No pari of this publication

17、may be reproduced or utilized in any form or by any means, electronic or mechanical, including photmpying and microfilm. without pernilSSion in writing from the publisher Bureau central de la Commission Electrotechnique, Intemationale 3. rue de Varemb Genve Suisse Tlfax: +41 22 919 0300 e-mail: inma

18、iliec.ch IEC web site http:/www.iec.ch Commission Electrotechnique internationale CODE PRIX M International Electrotechnical Commission PRICE CODE MewyHaponHaR 3nenpoexsecna XOMHCCHR Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- 748-2-3 O CE1 Regle des Six Mois 47A(BC)190

19、 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE Rapport devote Procdure des Deux Mois Rapport devote 47A(BC)215 47A(BC)211 47A( BC)24 1 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Circuits intgrs Deuxime partie - Circuits intgrs numriques Section trois - Spcification particulire cadre pour les circuits intgrs numriques

20、HCMOS (sries 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU) AVANT-PROPOS Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par des Comits tudes O sont reprsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord

21、 international sur les sujets examins. Ces dcisions constituent des recommandations internationales et sont agres comme telles par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification internationale, la CE1 exprime le voeu que tous les Comits nationaux adoptent dans leurs rgles nationales le t

22、exte de la recommandation de ia GEI, dans la mesure O les conditions nationales le permettent. Toute divergence entre la recommandation de la CE1 et la rgle nationale correspondante doit, dans la mesure du possible, tre indique en termes clairs dans cette dernire. La prsente norme a t tablie par le

23、Sous-Comit 47A: Circuits intgrs, et par le Comit dEtudes no 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Cette norme est une spcification particulire cadre pour les circuits intgrs numriques HCMOS, sries 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU. Le texte de cette norme est issu des documents suivants: Les rappo

24、rts de vote indiqus dans le tableau ci-dessus donnent toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Le numro QC qui figure sur la page de couverture de la prsente publication est le numro de la spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniq

25、ues (IECQ). 748-2-3 O IEC -3- Six Months Rule 47A(CO) 190 I NT E R NATI ON AL E LECTROTEC H N I CAL COM M ISS I ON Report on Voting Two Months Procedure Report on Voting 47A(C0)215 47A(C0)211 47A(C0)241 SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Part 2: Digital integrated circuits Section three - Bla

26、nk detail specification for HCMOS digital integrated circuits (series 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU) FOREWORD 1) The formal decisions or agreements of the IEC on technical matters, prepared by Technical Committees on which all the National Committees having a special interest therein are represente

27、d, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. 2) They have the form of recommendations for international use and they are accepted by the National Committees in that sense. 3) In order to promote international unification, the IEC expresses the

28、wish that all National Committees should adopt the text of the IEC recommendation for their national rules in so far as national conditions will permit. Any divergence between the IEC recommendation and the corresponding national rules should, as far as possible, be clearly indicated in the latter.

29、This standard has been prepared by Sub-Committee 47A: Integrated circuits, and IEC Technical Committee No. 47: Semiconductor devices. This standard is a blank detail specification for HCMOS digital integrated circuits, series 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU. The text of this standard is based on the

30、following documents: Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the Voting Reports indicated in the above table. The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Quality Assessment System for Electronic Com

31、ponents (IECQ). -4- Les publications suivantes de la CE1 sont cites dans la prsente norme: Publications nos 68-2-17 (1978): 617-12 (1991): ): 1: 747-10 (199 748-2-2 (199 748-11 (1990): 749 (1 984): QC O01002 (1986): 748-2-3 O CE1 Essais denvironnement. Deuxime partie: Essais - Essai Q: Etanchit. Sym

32、boles graphiques pour schmas. Douzime partie: Oprateurs logiques binaires. Dispositifs semiconducteurs. Dispositifs discrets. Dixime partie: Sp- cification gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Deuxime partie: Circuits intgrs numr

33、iques. Section deux - Spcification de famille pour les circuits intgrs numriques HCMOS sries 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU. Dispositifs semiconducteurs. Circuits intgrs. Onzime partie: Spci- fication intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs lexclusion des circuits hybrides. Dispositifs

34、 semiconducteurs. Essais mcaniques et climatiques. Amendement 1 (1991). Rgles de procdure du systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectriques (IECQ). 748-2-3 O I EC -5- The following IEC publications are quoted in this standard: Publications Nos. 68-2-17 (1978): 617-12 (1991): 747-10 (19

35、9 ): 748-2-2 (199 ): 748-1 1 (1990): 749 (1984): QC 001002 (1986): Environmental testing. Part 2: Tests - Test Ci: Sealing. Graphical symbols for diagrams. Part 12: Binary logic elements. Semiconductor devices. Discrete devices. Part 1 O: Generic specification for discrete devices and integrated cir

36、cuits. Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 2: Digital integrated circuits. Section two - Family specification for HCMOS digital integrated circuits, series 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU. Semiconductor devices. Integrated circuits. Part 11 : Sectional speci- fication for semiconductor i

37、ntegrated circuits excluding hybrid circuits. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Amendment l(1991). Rules of Procedure of the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ). -6- 748-2-3 O CE1 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS Circuits intgrs Deuxime partie: Circui

38、ts intgrs numriques Section trois - Spcification particulire cadre pour les circuits intgrs numriques HCMOS, (sries 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU) INTRODUCTION Le systme CE1 d?assurance de la qualit des composants lectroniques fonctionne conformment aux statuts de la CE1 et sous son autorit. Le but

39、 de ce systme est de dfinir les procdures d?assurance de la qualit de telle faon que les composants lec- troniques livrs par un pays participant comme tant conformes aux exigences d?une spcification applicable soient galement acceptables dans tous les autres pays parti- cipants sans ncessiter d?autr

40、es essais. Cette spcification particulire cadre fait partie d?une serie de spcifications particulires cadres concernant les dispositifs semiconducteurs; elle doit tre utilise avec la publication suivante de la CEI: 747-1 O/QC 700000: Dispositifs semiconducteurs. Dixime partie: Spcification gn- rique

41、 pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs. Renseignements ncessaires Les nombres placs entre crochets sur cette page et les pages suivantes correspondent aux indications suivantes qui doivent tre portes dans les cases prvues cet effet. Identification de la Spcification particulire I Nom

42、de l?organisme National de Normalisation sous l?autorit duquel la spcification particulire est tablie. 2 Numro IECQ de la spcification particulire. 3 Numros de rfrence et d?dition des spcifications gnrique et intermdiaire. 4 Numro national de la spcification particulire, date d?dition et toute autre

43、 information requise par le systme national. Identification du composant 5 (61 Fonction principale et numro de type. Renseignements sur la construction typique (matriaux, technologie principale) et le botier. Si un dispositif possde plusieurs types de produits drivs, ces diffrences doivent tre indiq

44、ues, par exemple les particularits des caractristiques dans un tableau comparatif. Pour les dispositifs sensibles aux charges lectrostatiques, les prcautions ncessai- res observer doivent tre ajoutes dans la spcification particulire. 748-2-3 O I EC -7- SEMICONDUCTOR DEVICES Integrated circuits Part

45、2: Digital integrated circuits Section three - Blank detail specification for HCMOS digital integrated circuits (series 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU) INTRODUCTION The IEC Quality Assessment System for Electronic Components is operated in accordance with the statutes of the IEC and under the author

46、ity of the IEC. The object of this system is to define quality assessment procedures in such a manner that electronic components released by one participating country as conforming with the requirements of an applicable specification are equally acceptable in all other participating countries withou

47、t the need for further testing. This blank detail specification is one of a series of blank detail specifications for semi- conductor devices and shall be used with the following IEC publication: 747-1 O/QC 700000: Semiconductor devices. Part 1 O: Generic specification for discrete devices and integ

48、rated circuits. Required information Numbers shown in brackets on this and the following pages correspond to the following items of required information, which should be entered in the spaces provided. Identification of the detail specification I 2 3 4 The name of the National Standards Organization under whose authority the detail specification is issued. The IECQ number of the detail specification. The numbers and issue numbers of the generic and sectional specifications. The national number of the detail specification, date of issue and any f