IEC 60748-2-10-1994 Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2 Digital integrated circuits section 10 Blank detail specification for integrated circui.pdf

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1、NORME CE1 INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD IEC 748-2-1 O QC 7901 07 Premire ciition First edition 1994-1 2 Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Partie 2: Circuits intgrs numriques - Section 1 O: Spcification particulire cadre pour les mmoires circuits intgrs lecture-criture fonctionn

2、ement dynamique Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits - Section 1 O: Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories Numro de rfrence Reference number CEIIIEC 748-2-1 O: 1994 Numros des publications Depuis le ler janvier 1997,

3、 les publications de la CE! sont numrotes partir de 60000. Publications consolides Les versions consolides de certaines publications de la CE1 incorporant les amendements sont disponibles. Par exemple, les numros ddition 1.0, 1.1 et 1.2 indiquent respectivement la publication de base, la publication

4、 de base incorporant lamendement 1, et la publication de base incorporant les amendements 1 et 2. Validit de la prsente publication Le contenu technique des publications de la CE1 est constamment revu par la CE1 afin quil reflte ltat actuel de la technique. Des renseignements relatifs la date de rec

5、onfir- mation de la publication sont disponibles dans le Catalogue de la CEI. Les renseignements relatifs i des questions ltude et des travaux en c-Urs entrepris par le comit technique qui a tabli cette publication, ainsi que la liste des publications tablies, se trouvent dans les documents ci- dess

6、ous: Site web de la CEl Catalogue des publications de la CE1 Publi annuellement et mis jour rgulirement (Catalogue en ligne)“ Bufietin de la CE1 Disponible la fois JU site web), de la CEI* et comme priodique imprim Terminologie, symboles graphiques et littraux En ce qui concerne la terminologie gnra

7、le, le lecteur se reportera la CE1 60050: Vocabulaire Electro- technique Intemational (VEI). Pour les symboles graphiques, les symboles littraux et les signes d sage gnral approuvs par la CEI, le lecteur consulter2 la CE1 60027: Symboles littraux A utiliser en lectrotechnique, la CE1 6041 7: Symbole

8、s graphiques utilisables sur le matriel. Index, releve et compilation des feuilles individuelles, et la CE1 60617: Symboles graphiques pour schmas. * Voir adresse 4te web sur la page de titre. Numbering As from 1 January 1997 all IEC publications are issued with a designation in the 60000 series. Co

9、nsolidated publications Consolidated versions of some IEC publications including amendments are available. For example, edition numbers 1 .O, 1.1 and 1.2 refer, respectively, to the base publication, the base publication incor- porating amendment 1 and the base publication incorporating amendments 1

10、 and 2. Validity of this publication The technical content of IEC publications is kept under constant review by the IEC, thus ensuring that the content reflects current technology. Information relating to the date of the reconfirmation of the publication is available in the IEC catalogue. Informatio

11、n on the subjects under consideration and work in progress undertaken by the technical committee which has prepared this publication, as well as the list of publications issued, is to be found at the following IEC sources: IEC web site* Catalogue of IEC publications Published yearly with regular upd

12、ates (On-line catalogue)* Available both at the IEC web site and as a printed periodical IEC Bulletin Terminology, graphical and letter symbols For general terminology, readers are referred to IEC 60050: International Electrotechnical Vocabulary (IEV). For graphical symbols, and letter symbols and s

13、igns approved by the IEC for general use, readers are referred to publications IEC 60027: Letter symbols to be used in electrical technology, IEC 60417: Graphical symbols for use on equipment. Index, survey and compilation of the single sheets and IEC 60617: Graphical symbols for diagrams. * See web

14、 site address on title page. NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STANDARD CE1 IEC 748-2-1 O QC 790107 Premire dition First edition 1994-1 2 Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Partie 2: Circuits intgrs numriques - Section 1 O: Spcification particulire cadre pour les mmoires circuits intgr

15、s lecture-criture fonctionnement dynamique Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits - Section 1 O: Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories 0 CE1 1994 Droits de reproduction rservs - Copyright - all rights reserved Aucune

16、partie de cette publication ne peut tre reproduite ni utilise sous quelque forme que ce soit et par aucun procd. lectronique ou mcanique y compris la photocopie et les microfilms. sans raccord crit de Iditeur. No part of this publication may be reproduced or utilized in any form or by any means, ele

17、ctronic or mechanical. induding photocopying and microfilm. without permission in writing from the publisher Bureau central de la Commission Electrotechnique, Inte,rnationale 3, rue de Varemb Geneve Suisse Tlfax: +41 22 919 0300 e-mail: inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.ch Commission Electrote

18、chnique Internationale International Electrotechnical Commission O MeWYHaFOAHaU 3newTPOTeXHHW?CWU HOMHCCHU CODEPRIX s PRICE CODE Pour prix, voir catalogue en vigueur For price, see current catalogue -2- 748-2-1 O O CE111 994 DIS 47A(BC)295 COMMISSION LECTROTECHNIQUE INTERNATIONALE Rapport de vote 47

19、A( BC)298 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS - Circuits intgrs - Partie 2: Circuits intgrs numriques - Section 10 - Spcification particulire cadre pour les mmoires circuits intgrs lecture-criture fonctionnement dynamique AVANT-PROPOS La CE1 (Commission Electrotechnique Internationale) est une organisation

20、mondiale de normalisation compose de lensemble des comits lectrotechniques nationaux (Comits nationaux de la CEI). La CE1 a pour objet de favoriser la coopration internationale pour toutes les questions de normalisation dans les domaines de llectricit et de llectronique. A cet effet, la CEI, entre a

21、utres activits, publie des Normes internationales. Leur laboration est confie des comites dtudes, aux travaux desquels tout Comit national intress par le sujet trait peut participer. Les organisations internationales, gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec la CEI, participent gale

22、ment aux travaux. La CE1 collabore troitement avec lorganisation Internationale de Normalisation (ISO), selon des conditions fixes par accord entre les deux organisations. Les dcisions ou accords officiels de la CE1 en ce qui concerne les questions techniques, prpars par les comits dtudes o sont rep

23、rsents tous les Comits nationaux sintressant ces questions, expriment dans la plus grande mesure possible un accord international sur les sujets examins. Ces dcisions constituent des recommandations internationales publies sous forme de normes, de rapports techniques ou de guides et agres comme tell

24、es par les Comits nationaux. Dans le but dencourager lunification internationale, les Comits nationaux de la CE1 sengagent appliquer de faon transparente, dans toute la mesure possible, les Normes internationales de la CE1 dans leurs normes nationales et rgionales. Toute divergence entre la norme de

25、 la CE1 et la norme nationale ou rgionale correspondante doit tre indique en termes clairs dans cette dernire. La CE1 na fix aucune procdure concernant le marquage comme indication dapprobation et sa responsabilit nest pas engage quand un matriel est dclar conforme lune de ses normes. La prsente nor

26、me a t tablie par le sous-comit 47A: Circuits intgrs, et par le comit dtudes 47 de la CEI: Dispositifs semiconducteurs. Cette norme est une spcification particulire cadre pour les mmoires circuits intgrs a lecture-criture fonctionnement dynamique. Le texte de cette norme est issu des documents suiva

27、nts: Le rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayant abouti lapprobation de cette norme. Le numro QC qui figure sur la page de couverture de la prsente publication est le numro de la spcification dans le systme CE1 dassurance de la qualit des composants

28、lectroniques (IECQ). 748-2-10 O IEC:1994 -3- INTERNATIONAL ELECTROTECHNICAL COMMISSION SEMICONDUCTOR DEVICES - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits - Section 10 - Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories FOREWORD The IEC (International Electr

29、otechnical Commission) is a worldwide organization for standardization comprising all national electrotechnical committees (IEC National Committees). The object of the IEC is to promote international cooperation on all questions concerning standardization in the electrical and electronic fields. To

30、this end and in addition to other activities, the IEC publishes International Standards. Their preparation is entrusted to technical committees; any IEC National Committee interested in the subject dealt with may participate in this preparatory work. International, governmental and non-governmental

31、organizations liaising with the IEC also participate in this preparation. The IEC collaborates closely with the International Organization for Standardization (ISO) in accordance with conditions determined by agreement between the two organizations. The formal decisions or agreements of the IEC on t

32、echnical matters, prepared by technical committees on which all the National Committees having a special interest therein are represented, express, as nearly as possible, an international consensus of opinion on the subjects dealt with. They have the form of recommendations for international use pub

33、lished in the form of standards, technical reports or guides and they are accepted by the National Committees in that sense. In order to promote international unification, IEC National Committees undertake to apply IEC International Standards transparently to the maximum extent possible in their nat

34、ional and regional standards. Any divergence between the IEC Standard and the corresponding national or regional standard shall be clearly indicated in the latter. The IEC provides no marking procedure to indicate its approval and cannot be rendered responsible for any equipment declared to be in co

35、nformity with one of its standards. This standard has been prepared by sub-committee 47A: Integrated circuits, and IEC technical committee 47: Semiconductor devices. This standard is a blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories. The text of this standard is based o

36、n the following documents: Report on voting Full information on the voting for the approval of this standard can be found in the report on voting indicated in the above table. The QC number that appears on the front cover of this publication is the specification number in the IEC Quality Assessment

37、System for Electronic Components (IECQ). -4- Les publications suivantes sont cites dans la prsente norme: 748-2-1 O O CEI:1994 CE1 68-2-1 7 (1978): CE1 134 (1961): CE1 617-12 (1991): CE1 747-10 (1991): CE1 748-2 (1985): CEI 748-1 1 (1990): CE1 749 (1984): Essais denvironnement - Deuxime partie: Essa

38、is - Essai Q: Etanchit Systmes de valeurs limites pour les tubes lectroniques et les dispositifs semiconducteurs analogues Symboles graphiques pour schmas - Douzime partie: Oprateurs logiques binaires Dispositifs semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits intgrs - Dixime partie - Spcificatio

39、n gnrique pour les dispositifs discrets et les circuits intgrs Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Deuxime partie: Circuits intgrs digitaux Amendement no 1 (1991). Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Onzime partie: Spci- fication interm4diaire pour les circuits intgrs semicon

40、ducteurs lexclusion des circuits hybrides Dispositifs semiconducteurs - Essais mcaniques et climatiques Amendement no 1 (1991) Amendement no 2 (1993) 748-2-1 O O IEC:1994 -5- The following publications are quoted in this standard: IEC 68-2-17 (1978): IEC 134 (1961): IEC 617-12 (1991): IEC 747-10 (19

41、91): IEC 748-2 (1985): IEC 748-11 (1990): IEC 749 (1984): Environmental testing - Part 2: Tests - Test Q: Sealing Rating systems for electronic tubes and valves and analogous semi- conductor devices Graphical symbols for diagrams - Part 12: Binary logic elements Semiconductor devices - Discrete de v

42、ices and integrated circuits - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2: Digital integrated circuits Amendment No. 1 (1991). Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11: Sectional speci- fication for se

43、miconductor integrated circuits excluding hybrid circuits Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Amendment No. 1 (1991) Amendment No. 2 (1993) -6- 748-2-1 O O CEI:1994 DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS - Circuits intgrs - Partie 2: Circuits intgrs numriques - Section 10 - Spcificatio

44、n particulire cadre pour les mmoires circuits intgrs lecture-criture fonctionnement dynamique INTRODUCTION Le systme CE1 dassurance de la qualit des composants lectroniques fonctionne conformment aux statuts de la CE1 et sous son autorit. Le but de ce systme est de dfinir les procdures dassurance de

45、 la qualit de telle faon que les composants lec- troniques livrs par un pays participant comme tant conformes aux exigences dune spcif ication applicable soient galement acceptables dans les autres pays participants sans ncessiter dautres essais. Cette spcification particulire cadre fait partie dune

46、 srie de spcifications particulires cadres concernant les dispositifs semiconducteurs; elle doit tre utilise avec les publications suivantes: CE1 747-1 O/QC 700000: Dispositifs a semiconducteurs - Dispositifs discrets et circuits in- tgrs - Dixime partie: Spcification gnrique pour les dispositifs di

47、screts et les circuits intgrs CE1 748-1 I/QC 7901 00: Dispositifs semiconducteurs - Circuits intgrs - Onzime partie: Spcification intermdiaire pour les circuits intgrs semiconducteurs lexclusion des circuits hybrides. Renseignements ncessaires Les nombres placs entre crochets sur cette page et les p

48、ages suivantes correspondent aux indications suivantes qui doivent tre portes dans les cases prvues cet effet la page suivante de cette spcification. Identification de la spcification particulire i Nom de lOrganisme National de Normalisation sous lautorit duquel la spcification particulire est tablie. 2 Numro IECQ de la spcification particulire. 3 Numros de rfrence et ddition des spcifications gnrique et intermdiaire. 4 Numro national de la spcification particulire, date ddition et toute autre